test statisticsとは 意味・読み方・使い方

Selective test data log method related to one embodiment includes a step for monitoring test data generated by a plurality of devices to prepare statistics on test data, and a step for selectively adjusting tester which generated test data, in response to the statistics on test data to correct test data logged by the tester on a plurality of devices.例文帳に追加

一実施形態に係る選択的テストデータログ方法は、複数のデバイスにより生成されたテストデータをモニタしテストデータに関する統計を生成することと、テストデータに関する統計に応答して、テストデータを生成したテスタを選択的に調整し、複数のデバイスについてテスタがログするテストデータを修正することとを含む。 - 特許庁

This is a selective test data log system, equipped with codes for monitoring test data generated by a plurality of devices to prepare statistics on test data and codes for selectively adjusting tester which generated test data, in response to the statistics on test data to correct test data logged by the tester on a plurality of devices.例文帳に追加

選択的テストデータログシステムであって、複数のデバイスにより生成されたテストデータをモニタしテストデータに関する統計を生成するためのコードと、テストデータに関する統計に応答して、テストデータを生成したテスタを選択的に調整し、複数のデバイスについてテスタがログするテストデータを修正するためのコードとを備える。 - 特許庁

Related statistics and quality specifications are compared from the plurality of quality specifications and statistics, and an indication relating to a success or failure of the test is performed from the result of the comparison.例文帳に追加

これら複数の品質規定及び統計から、関連した統計及び品質規定を比較し、この比較結果から試験の合格又は不合格に関する表示を行う。 - 特許庁

Lagrange multiplier (LM) test statistics are derived for testing a linear moving average model against an asymmetric moving average model.発音を聞く 例文帳に追加

ラグランジュ乗数（LM）検定統計を、線形移動平均モデルを非対称移動平均モデルに対して検定するために導出する。 - コンピューター用語辞典

The traffic receiver may report test statistics indicative of the number of complete datagrams received and the number of incomplete datagrams received.例文帳に追加

トラフィックレシーバは、受信された完全なデータグラムの数および受信された不完全なデータグラムの数を示す検査統計を報告し得る。 - 特許庁

Example: If a test specifies two threads and three invokes per thread, and if the test takes 15 seconds for the 6 invocations, then the statistics report an average of 2.5 seconds each.発音を聞く 例文帳に追加

例: テストで 2 つのスレッドとスレッドごとに 3 回の呼び出しを指定し、テストがそのスレッドの 6 回の呼び出しで 15 秒かかるとすると、統計ではそれぞれ平均 2.5 秒と報告されます。 - NetBeans

The semiconductor test device 100 measures the matching time of each DUT and performs processing calculating test efficiency values at each matching time by performing processing which takes the statistics of the distribution of the yield of DUT in a function test of a prescribed time out of multiple times.例文帳に追加

半導体試験装置１００では、複数回実行されるうちの所定回目のファンクションテストにおいて、各ＤＵＴのマッチ時間を計測し、ＤＵＴの収量の分布を統計する処理を行い各マッチ時間ごとに試験効率値を算出する処理を行う。 - 特許庁