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x-heightsとは 意味・読み方・使い方
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「x-heights」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 20件
In concrete, for example, heights α and β of the edge of the toner supply port are set to α>β as shown in Fig., heights X and Y of a toner supply port guide 7 are set to X>Y, and so on.例文帳に追加
具体的には、例えば図6に示すようにトナー補給口の縁8のα、βの高さをα>β、トナー補給口ガイド7のX、Yの高さをX>Yとなる構成が挙げられる。 - 特許庁
The detector may be provided with a constitution in which two semiconductor detection elements are provided for one wiring board at different heights in the direction of the X-axis.例文帳に追加
また、検出器は一つの配線基板に2つの半導体検出素子をX軸方向に高さを異ならせて設ける構成としてもよい。 - 特許庁
The contact ends have steps on a z-axis (at different heights) and a step in one x-axis or y-axis direction from the bottom ends.例文帳に追加
接点端は、z軸(異なる高さで)に段をなし、かつ底部端からx又はy方向の少なくとも1方向に段をなす。 - 特許庁
Weight is conducted with heights capable of generating mutual interferences of the head units as the degrees of interferences for every coordinates of the allocated operating ranges R(x).例文帳に追加
割り当てられた稼動範囲R(x)の座標毎に、ヘッドユニット同士の干渉の生じ得る高さを干渉度として重み付けする。 - 特許庁
Floors 11-14 of the floors 11-15 are specific floors positioned at different heights with respect to any landings S of the X-shaped stairs 30.例文帳に追加
フロア11〜15のうちフロア11〜14は、X階段30のいずれの踊場Sに対しても異なる高さに位置する特定フロアである。 - 特許庁
Then the work W is appropriately moved in the X-Y plane by means of a translation device 44, and the heights values of the three points are re-measured.例文帳に追加
再び、並進装置44によってワークWをXY面内で適宜移動させ、ワークW上の3点について高さに関する計測値を得る。 - 特許庁
Coordinates of a point Q(X, Y) of an irradiation point are measured, angles of the x-direction and the y-direction at the respective points on the measuring face 17 therefrom are calculated to find micro heights, using also x-directional and y-directional width data.例文帳に追加
照射点である点Q(X、Y)の座標を測定し、そこから、測定面17の各点における、x方向やy方向の角度を計算し、x方向・y方向の幅データも用いて微小な高さを求める。 - 特許庁
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「x-heights」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 20件
Alternatively, the X-ray CT equipment is provided with a means for transmitting the X rays emitted from an X-ray source through the object to be measured and acquiring the tomographic image, and a means for positioning the X-ray source at two or more different heights of the object to be measured, emitting the X rays and acquiring a single arbitrary tomographic image.例文帳に追加
又は、X線源から放出されるX線を計測対象物に透過させ断層像を得る手段と、該計測対象物の少なくとも二つの異なる高さに前記X線源を位置させ、前記X線を放出させて、任意の単一の前記断層像を得る手段とを備える。 - 特許庁
The X-ray CT equipment is provided with a means for transmitting X rays at two or more different heights of the measured object and acquiring a single arbitrary tomographic image.例文帳に追加
X線CT装置であって、該計測対象物の少なくとも二つの異なる高さに前記X線を透過させて任意の単一の前記断層像を得る手段を備える。 - 特許庁
Or the X-ray CT equipment is provided with a means for transmitting the X rays emitted from an X-ray source through the object to be measured and acquiring the tomographic image, and a means for acquiring tomographic image data at a third height between a first height and a second height of the object to be measured, based on tomographic image data at the first and second heights.例文帳に追加
或いは、X線源から放出されるX線を計測対象物に透過させ断層像を得る手段と、該計測対象物の第一の高さ位置及び第二の高さ位置の断層像データに基づき、両者の高さの間の第三の高さ位置の断層像データを得る手段とを備える。 - 特許庁
By a display processing part 16 installed at the processing means 13, the peak value of the X-ray transmission level to be output from the X-ray detector 9 is displayed on a region D1 by bars R1 to Bn whose heights correspond to the X-ray transmission level in a plurality of places in the longitudinal direction of the specimen 2.例文帳に追加
処理手段13に設けられる表示処理部16は、X線検出器9から出力されるX線透過レベルのピーク値を被検査物2の長さ方向の複数箇所でX線透過レベルに対応した高さのバーB1〜Bnで領域D1に表示する。 - 特許庁
A control unit 11 checks heights H and SID of an X-ray detector 5 and an X-ray tube 1 currently set by height sensors 3h, 2h and a distance sensor 2l, searches a database stored, and checks whether the heights H and SID are ordered and match a photography part to be photographed this time.例文帳に追加
制御部11は、現在設定されているX線検出器5とX線管1の高さHおよびSIDを、高さセンサ3h、2hおよび距離センサ2lで確認し、保存しているデータベースを検索して、前記高さHおよびSIDがオーダーされ今回撮影する撮影部位に適合しているかチェックする。 - 特許庁
Respective semiconductor chips 1A and 1B are polygons having a pair of opposing tops 10 and 11, and are formed by making their heights X and respective forming angles θ constant and making their widths Ya and Yb different.例文帳に追加
各半導体チップ1A、1Bは、相対向する一対の頂点10、11を有する多角形で、高さXと各なす角θを一定で、幅Ya、Ybを異ならせて形成されている。 - 特許庁
The protrusion portions 1-5 are uniform in heights (Z-directional length) and the thicknesses (Y-directional length), but widths (X-directional length) thereof are formed optionally in response to a dimension of a micro sample piece S, or the like.例文帳に追加
突状部分1〜5は、高さ(Z方向の長さ)及び厚さ(Y方向の長さ)は一律であるが、幅(X方向の長さ)は微小試料片Sの寸法などに応じて任意に形成することができる。 - 特許庁
When the landings S of the X-shaped stairs 30 positioned at the heights closest to the specific floors 11-14 are defined as specific landings, the landings S1, S3, S4, S6 are the specific landings.例文帳に追加
X階段30の踊場Sのうち特定フロア11〜14に最も近い高さに位置するものを特定踊場とすると、踊場S1、S3、S4、S6は、特定踊場となる。 - 特許庁
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