加圧検査法の英語

給湯装置の水漏れ検査方法、配管内加圧方法および水漏れ検査治具、ならびに圧力センサの判別方法例文帳に追加

METHOD OF INSPECTING WATER LEAKAGE IN WARM WATER SUPPLY, METHOD OF PRESSURIZING IN PIPING, WATER LEAKAGE INSPECTING JIG AND METHOD OF IDENTIFYING PRESSURE SENSOR - 特許庁

この液晶パネル検査方法は、検査用電極３２に電圧を印加する工程を含む。例文帳に追加

The method for inspecting the liquid crystal panel comprises a step for applying voltage to the electrode 32 for inspection. - 特許庁

感圧センサーの感知能力の低下や、加圧空気の供給不良を早期に発見できる漏洩検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a leak inspecting method for finding lowering of the sensing ability of a pressure sensitive sensor, and nonconforming supply of pressurized air in an early stage. - 特許庁

この加圧方法によれば、シート１の加圧場所を自由に選択することが可能であり、「慣らし」、「キャリブレーション」、「製品検査」の各工程で実施することができる。例文帳に追加

This pressing method allows pressed positions of the seat 1 to be freely selected and can be carried out in each of the processes, 'conditioning', 'calibration', and 'product test'. - 特許庁

圧縮空気で加圧する方法により防水コネクタのダミー栓挿入忘れ検査を行なった場合に、その検査のために防水コネクタのダミー栓が抜け易くなることを防止する。例文帳に追加

To prevent a waterproof connector dummy plug from unintentionary pulled out after a dummy plug insertion negligence inspection of the waterproof connector by a method of pressurizing by compressed air. - 特許庁

半導体ウェハの検査方法は、 半導体チップとなるチップ領域が形成されたウェハを準備する工程と、 前記ウェハをプロービングによって検査する第１プローブ検査と、 平坦面を有する加圧部材によって、前記ウェハの電極を押圧する工程と、 前記ウェハをプロービングによって検査する第２プローブ検査と、を含む。例文帳に追加

The inspection method of the semiconductor wafer includes a process of preparing the wafer with a chip region formed which will become a semiconductor chip, a first probe inspection to inspect the wafer by probing, a process of pressing an electrode of the wafer by a pressurization member having a flat plane, and a second probe inspection to inspect the wafer by probing. - 特許庁

半導体ウェハの検査方法は、 半導体チップとなるチップ領域が形成されたウェハを準備する工程と、 前記ウェハをプロービングによって検査する第１プローブ検査と、 平坦面を有する加圧部材によって、前記ウェハの電極を押圧する工程と、 前記ウェハをプロービングによって検査する第２プローブ検査と、を含む。例文帳に追加

The inspection method of a semiconductor wafer includes a process of preparing a wafer formed with a chip region which will become a semiconductor chip, a first probe test for inspecting the wafer by probing, a process of pressing the electrode of the wafer by a pressurization member having a flat plane, and a second probe test for inspecting the wafer by probing. - 特許庁

本発明は、液晶表示パネル内の導電性異物を、高電圧の印加により検出する液晶表示パネル検査方法及びその検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method for inspecting a liquid crystal display panel and an inspection device therefor to detect conductive foreign matters in a liquid crystal display panel by applying high voltage. - 特許庁