「"こうせいひょうじゅん"」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

コニカルボトム試験管で，10 mLの較正標準溶液サンプルに1 mLのヘキサンを加えてから，2-5分間手で振った。例文帳に追加

A 10-mL sample of calibration standards was contacted with 1 mL of hexane in conical bottom test tubes followed by shaking for 2-5 minutes by hand. - 英語論文検索例文集

コニカルボトム試験管で，10 molの較正標準溶液サンプルに1 molのヘキセンを加えてから，2-5分間手で振った。例文帳に追加

A 10-mL sample of calibration standards was contacted with 1 mol of hexane in conical bottom test tubes followed by shaking for 2-5 minutes by hand. - 英語論文検索例文集

ベクトルネットワークアナライザ（ＶＮＡ）のＴＲＬ較正において、較正標準との接続数を少なくする。例文帳に追加

To reduce the number of connections to a calibration standard, in the TRL calibration of a vector network analyzer (VNA). - 特許庁

ＴＲＬ校正の精度を向上することができるＴＲＬ校正標準器およびそれを備えた校正装置を提供する。例文帳に追加

To provide a TRL calibration standard capable of improving the precision of TRL calibration, and a calibration device including the same. - 特許庁

この方法は、一つの実施例においては、ある元素を既知の濃度にて含有する校正標準を調製するステップ、およびこの校正標準内の前記元素の濃度を代表する一部分を集束ビームを用いて採取するステップを含む。例文帳に追加

This method, for example, includes a step for preparing a calibration standard including some element in a known concentration and a step for collecting a part representing the concentration of the element in the calibration standard by using a focused beam. - 特許庁

測定ポートの各直接対に関する前方向及び逆方向の反射特性及び伝送特性は、線路較正標準(401)の存在下で測定され(2302,2303)、測定ポートの各直接対に関する前方向及び逆方向の反射特性及び伝送特性は、スルー較正標準(601)の存在下で測定される。例文帳に追加

Reflection characteristics and transmission characteristics, in the forward and backward directions regarding each direct pair of the measurement port, are measured in the presence of a line calibration standard 401 (2302, 2303), and the reflection characteristics and transmission characteristics in the forward and backward directions, regarding each direct pair of the measurement port, are measured under the presence of a through calibration standard 601. - 特許庁

また、作業者が該測定結果に不満であれば、校正標準の所望のパラメータを再測定し、誤差係数を求め直して系統誤差の影響を除去した測定結果を再表示する。例文帳に追加

When the operator is dissatisfied with the measured result, a desired parameter of the calibration standard is remeasured, an error coefficient is refound, and the measured result which has removed the influence by the systematic error is redisplayed. - 特許庁

該測定結果は、校正作業が終了するまで保持され、校正作業内に校正標準の再測定が行われた時には、最新の測定結果が参照されるように測定値が保持される。例文帳に追加

The measured result is maintained until the calibration operation is finished, and a measured value is maintained so as to refer to a latest measured result when the calibration standard is remeasured within the calibration operation. - 特許庁

このように大気中の酸素濃度に基づいてスパン校正を行うことで、所定濃度の残留塩素を含む校正標準液を準備する必要がなく、校正操作が容易になると共に、精度の良好な測定結果を得ることができる。例文帳に追加

By performing the span calibration based on the concentration of oxygen in the air as stated above, there is no need to prepare a calibration standard liquid containing residual chlorine of a prescribed concentration, calibrating operation is made easy, and a measurement result can be provided with good accuracy. - 特許庁

安定性が高く、工場での再校正を要さず、環境変化や長時間を経ても一定に保たれるように設計する必要がなく、そして気体標準器よりも広い帯域にわたる標準情報を提供する光学校正標準器を提供する。例文帳に追加

To provide a highly stable optical calibration standard which does not require recalibration at a factory or such a design that the optical calibration standard may be maintained constant even after environmental changes and the passage of long time and provides standard information over a wider band than a gas standard. - 特許庁

該方法は、定義パラメータのパラメータ値を調整しながら、非対称相反デバイスの補正された測定順方向伝送Ｓパラメータと補正された測定逆方向伝送Ｓパラメータとの差を本質的に最小限にすることにより、校正標準の集合の定義パラメータのパラメータ値を決定する。例文帳に追加

This method comprises substantially minimizing the difference between the corrected measurement normal directional transmission S parameter of the asymmetric reciprocal device and the corrected measurement reverse directional transmission S parameter thereof while adjusting the parameter value of the defining parameter, thereby determining the parameter value of the defining parameter in the set of calibration standards. - 特許庁

パターン８と、サイズの異なるコーン欠陥であり、シリコン基板１上にランダムに形成された擬似欠陥部７とを備えた欠陥検出感度校正標準基板を用いて、欠陥検査装置の照明部２１におけるランプ２１ａの交換後の感度調整を判断する指標として製造管理に利用する。例文帳に追加

Using a defect detection sensitivity correction standard substrate including a pattern 8 and pseudo-defective sections 7 that are cone defects differing in size and are randomly formed on a silicon substrate 1, defect detection sensitivity is used in product management as an indicator for judging sensitivity adjustment after a lamp 21a in a lighting section 21 of a defect detecting device is replaced. - 特許庁