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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > "analog characteristics"に関連した英語例文

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"analog characteristics"を含む例文一覧と使い方

該当件数 : 12



例文

To provide a means for measuring the analog characteristics of a signal by applying binary sampling.例文帳に追加

2値サンプリングを適用して信号のアナログ特性を測定する手段を提供する。 - 特許庁

The method of analyzing the failure in the semiconductor integrated circuit device includes storing defects and analog characteristics correlated with the defects in a database, detecting a fail bit in a first wafer, measuring analog characteristics of the fail bit in the first wafer, and identifying which defect has caused the fail bit by comparing the measured analog characteristics with the stored analog characteristics.例文帳に追加

互いに相関関係のある欠陥とアナログ特性とをデータベースに保存し、第1ウエハ内の不良ビットを探し出し、第1ウエハ内の不良ビットのアナログ特性を測定し、該測定されたアナログ特性とデータベースに保存されたアナログ特性とを比較して、不良の原因となった欠陥を判別することを含む不良分析方法。 - 特許庁

The circuit block influencing the variation in analog characteristics includes a reference voltage source, a voltage-dividing resistor, an error amplifier or the like.例文帳に追加

また前記アナログ特性の変動に影響する回路ブロックとは、基準電圧源、分圧抵抗、あるいは誤差増幅器などである。 - 特許庁

A circuit 200 counting 0 or 1 in the binary sampling of a signal can measure the analog characteristics of a signal.例文帳に追加

信号の2値サンプリングにおいて0または1をカウントする回路(200)は、信号のアナログ特性を測定することができる。 - 特許庁

例文

To provide a digital/analog converter circuit, a solid-state image sensor and an image capturing apparatus for improving analog characteristics of a lamp waveform in a reference signal.例文帳に追加

参照信号におけるランプ波形のアナログ特性を改善するデジタル−アナログ変換回路、固体撮像素子及び撮像装置を提供する。 - 特許庁


例文

To provide a method of manufacturing a semiconductor integrated circuit capable of shortening the time for inspection by making analog characteristics for the product specifications highly accurate.例文帳に追加

本発明は、製品仕様としてのアナログ特性を高精度にすることができ、検査工程の時間を短縮することができる半導体集積回路の製造方法を提供するものである。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device improving analog characteristics, further improving the degree of freedom of a design and inhibiting the increase of a substrate area.例文帳に追加

アナログ特性の向上が図られた上で、設計の自由度を向上させ、基板面積の増加が抑制された半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To provide a television (TV) signal receiving tuner which receives a digital TV signal and an analog TV signal, and obtains desired analog characteristics when the analog TV signal is received.例文帳に追加

デジタルテレビジョン信号およびアナログテレビジョン信号の受信が可能であってアナログテレビジョン信号の受信時に所望のアナログ特性を得ることができるテレビジョン信号受信チューナを提供する。 - 特許庁

To provide a data processor including an external bus interface function which can easily set delay in clock-synchronized data reading from a plurality of external devices having different analog characteristics of external interfaces respectively, has high adaptability and can quickly switch delay time.例文帳に追加

外部インタフェースのアナログ特性が異なる複数の外部デバイスに対するクロック同期のデータリードにおける遅延設定が容易で融通性も高く、遅延時間の切換えを高速に行なうことができる外部バスインタフェース機能を備えたデータプロセッサを提供する。 - 特許庁

例文

To provide an interface board testing device and an interface board testing method which can test an interface board in a short period of time, and obtain an appropriate test result independently of analog characteristics of a member stored in a slot.例文帳に追加

短時間でインタフェースボードを試験することができ、かつ、スロットに格納される部材のアナログ特性に依存せず、適切な試験結果を得ることができるインタフェースボード試験装置及びインタフェースボード試験方法を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a random number generator capable of varying the timing of an access to a circuit for periodically updating values by physical properties and, accordingly, capable of assuring that random numbers of excellent quality can be provided, a special physical device must not be installed, and the analog characteristics of the device must not be observed.例文帳に追加

周期的に値を更新する回路へのアクセスタイミングを、物理的な性質で変動させることができ、したがって、良質の乱数が得られることを保証することができ、しかも、特殊な物理デバイスを設ける必要がなく、また、そのアナログ特性を観測する必要がない乱数生成器を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

例文

In the semiconductor device in which a member different to a first IC chip 1 is laminated and mounted on the IC chip 1 including an analog circuit, a circuit block influencing variation in analog characteristics among components of the analog circuit is arranged in a region 13 separated from an end (edge) of the member by a predetermined distance.例文帳に追加

アナログ回路を含む第1のICチップ1上に該第1のICチップ1とは異なる部材を積層して実装する半導体装置において、アナログ回路の構成要素のうちアナログ特性の変動に影響する回路ブロックを、前記部材の端部(エッジ)から一定の距離離れた領域13に配置する。 - 特許庁

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