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せんいえっくすせんげんの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 17



例文

X線源システム及びX線位相イメージングシステム例文帳に追加

X-RAY SOURCE SYSTEM AND X-RAY PHASE IMAGING SYSTEM - 特許庁

X線用線源格子、X線位相コントラスト像の撮像装置例文帳に追加

SOURCE GRATING FOR X-RAYS, AND IMAGING APPARATUS FOR X-RAY PHASE CONTRAST IMAGE - 特許庁

X線源と被検体との間に配置され、X線位相イメージングに用いられるX線用線源格子である。例文帳に追加

This radiation source grid for X-rays is arranged in between the X-ray source and an analyte to be used for X-ray phase imaging. - 特許庁

このX線源(100)を作動させてX線(120)を前記物体(130)の中及び周囲に向ける。例文帳に追加

The x-ray source (100) is operated to direct x rays (120) through and around the object (130). - 特許庁

例文

X線システム(14)は、検出器(22)により検出されるX線(17)を発生するX線源(15)を含む。例文帳に追加

The X-ray system 14 includes an X-ray source 15 for generating X-rays 17 which are detected by a detector 22. - 特許庁


例文

CTシステム(10)は、ガントリ(12)の開口部(48)を通るX線(16)を投射するX線源(14)を含む。例文帳に追加

A CT system (10) includes an X-ray source (14) to irradiate X rays (16) through a gantry (12) aperture (48). - 特許庁

X線異物検査装置1は、X線を出射する1つのX線源2と、そのX線が入射する2つ一組のX線エリアカメラ31,32と、被検査物50を搬送するコンベア40を有している。例文帳に追加

This X-ray foreign matter inspection device 1 has one X-ray source 2 for emitting X-ray, a pair of two X-ray area cameras 31, 32 receiving the X-ray, and a conveyor 40 for conveying the inspection object 50. - 特許庁

X線等の放射線による位相イメージングにおいて、X線源等の放射線源による振動が起因して、得られる放射線位相コントラスト画像の画質が低下することを防止する。例文帳に追加

To prevent a quality of a radiological phase contrast image from being deteriorated due to vibration caused by a radiation source such as an X-ray source when performing a phase imaging by radiation such as X-rays. - 特許庁

X線等の放射線による位相イメージングにおいて、X線源などの放射線源を空冷することによって生じる放射線源の振動に起因して、得られる放射線位相コントラスト画像の画質が低下することを防止する。例文帳に追加

To prevent the deterioration of the image quality of an obtained radiation phase contrast image caused by the vibration of a radiation source generated by air-cooling of the radiation source such as an X-ray source in phase imaging by radiation such as X-rays etc. - 特許庁

例文

イメージング・システム(10、60)は、X線源(12)と、放出されたX線(16、20)を検出して対応する電気信号を発生するように構成されているX線検出器(22)を含んでいる。例文帳に追加

Imaging systems (10, 60) include: an X-ray source (12); and an X-ray detector (22) for detecting radiated X-rays (16, 20) to generating corresponding electric signals. - 特許庁

例文

被検体18が内包する放射線源18Aが発生する放射線18Bによって標準試料12の第1の透過画像を得、次に、X線源11から照射されるX線19によって、標準試料12の第2の透過画像を得る。例文帳に追加

A first transmission image of a standard sample 12 is acquired by a radiation 18B generated from a radiation source 18A involved in an analyte 18, and then, a second transmission image of the standard sample 12 is acquired by an X-ray 19 irradiated from an X-ray source 11. - 特許庁

試料容器101は、X線が透過する材質でできた1つ以上の壁面を有し、壁面105に1次X線104が照射されるようにX線源103が配置されている。例文帳に追加

A sample container 101 has one wall surface or more formed from a material for transmitting the X rays. - 特許庁

フォトンカウンティング動作による超高感度半導体放射線イメージャーと低出力高エネルギーX線源を用いた低被爆のX線検査装置を提供する。例文帳に追加

To provide a low exposure X-ray inspection device employing a super-sensitivity semiconductor radiation imager by photon counting operation and a low output high energy X-ray source. - 特許庁

放射線源18Aによる標準試料12の第1の吸収特性に対し、X線19の強度を変化させることによって、標準試料12の、第1の吸収特性と合致する第2の吸収特性を得、この際のX線19の強度に基づいて、放射線源18Aの種類を同定する。例文帳に追加

By changing intensity of the X-ray 19 according to a first absorption characteristic of the standard sample 12 by the radiation source 18A, a second absorption characteristic of the standard sample 12 agreeing with the first absorption characteristic is acquired, and the kind of the radiation source 18A is identified based on the intensity of the X-ray 19 at that time. - 特許庁

本発明の炭素繊維は、木タールを原料とし、線源にCuKαを用いた粉末X線回折パターンにおいて、2θ=26°付近と2θ=44°付近に回折線を有することを特徴とする。例文帳に追加

The carbon fiber is obtained from wood tar as a raw material and has diffraction lines in the vicinity of 2θ=26° and in the vicinity of 2θ=44° in a powder X-ray diffraction pattern using CuKα as a radiation source. - 特許庁

第2波長を取り出すには、多層膜ミラー102の反射面を第2放物線100に沿うように湾曲させ、その焦点位置にX線源の焦点Fを配置する。例文帳に追加

When the X ray of the second wavelength is extracted, a reflection face of the multilayer mirror 102 is curved along a second parabola 100, and the focal spot F of the X-ray source is positioned at the focal position of the reflection face. - 特許庁

例文

分散型X線源(48)は、実質的に直線状の線分(72)、実質的に円弧状の線分(78)、曲線状の線分(80)又は実質的に非平面状の表面(86)として構成された複数の放出点(74)からX線(56)を放出するように構成されており、検出器(20)は、検出器(20)に入射するX線(18)に応答して複数の信号を発生するように構成されている。例文帳に追加

The detector (20) generates a plurality of signals in response to the X-rays (18) which are made incident to the detector (20). - 特許庁

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