「半解析」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

不良解析が容易な半導体装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device which facilitates failure analysis. - 特許庁

半導体集積回路の故障解析方法例文帳に追加

METHOD FOR ANALYZING FAILURE IN SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

半導体集積回路の動作解析方法例文帳に追加

METHOD FOR ANALYZING OPERATION OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

混晶半導体膜の組成変調構造解析法例文帳に追加

ANALYTIC METHOD FOR COMPOSITION MODULATED STRUCTURE OF MIXED CRYSTAL SEMICONDUCTOR FILM - 特許庁

半導体装置の裏面解析用基板例文帳に追加

SUBSTRATE FOR ANALYZING REVERSE SIDE OF SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

半導体チップの故障解析方法例文帳に追加

METHOD OF ANALYZING FAULT OF SEMICONDUCTOR CHIP - 特許庁

半導体装置の不良解析方法例文帳に追加

METHOD FOR ANALYZING DEFECT OF SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

半導体欠陥解析システムおよび方法例文帳に追加

SYSTEM AND METHOD FOR ANALYZING DEFECT OF SEMICONDUCTOR - 特許庁

半導体集積装置及びその解析装置例文帳に追加

SEMICONDUCTOR INTEGRATING APPARATUS AND ANALYZER THEREOF - 特許庁

不良観察画像を用いた半導体デバイスの不良の解析を確実かつ効率良く行うことが可能な半導体不良解析装置、不良解析方法、及び不良解析プログラムを提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor failure analysis device, a failure analysis method, and a failure analysis program capable of analyzing failure in a semiconductor device using a failure observation image reliably and efficiently. - 特許庁

半導体デバイスの不良の解析を確実かつ効率良く行うことが可能な半導体不良解析装置、解析方法、及び解析プログラムを提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor failure analyzing device wherein a failure analysis of a semiconductor device is reliably and efficiently carried out, and an analyzing method, and an analyzing program. - 特許庁

半導体不良解析方法及び半導体不良原因絞込み方法例文帳に追加

METHOD OF SEMICONDUCTOR DEFECT ANALYSIS AND METHOD FOR SPECIFYING CAUSES OF SEMICONDUCTOR DEFECTS - 特許庁

半導体装置の不良解析システムおよび半導体装置の製造方法例文帳に追加

DEFECT ANALYSIS SYSTEM OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

半導体装置の評価方法及び半導体装置の解析装置例文帳に追加

EVALUATING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND ANALYSING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

半導体記憶装置における不良解析方法及び半導体記憶装置例文帳に追加

DEFECT ANALYZING METHOD IN SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE - 特許庁

半導体積層装置及び半導体積層装置の解析方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR LAMINATING DEVICE AND ANALYZING METHOD THEREOF - 特許庁

半導体装置とその製造方法、及び半導体装置の不良解析方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS MANUFACTURE, AND METHOD FOR ANALYZING FAILURE THEREOF - 特許庁

タイミングウィンドウの重なりを調査する解析条件の増加によるクロストークの影響の解析に要する時間の増大を抑制する半導体集積回路の解析装置及び解析方法を提供する。例文帳に追加

To provide an analysis device for a semiconductor integrated circuit which restrains increase in time required for analyzing the influence of crosstalk caused by increase in analysis conditions when overlapping of timing windows is investigated, and also provide an analysis method for a semiconductor integrated circuit. - 特許庁

半導体集積回路の基板ノイズ解析方法、半導体集積回路および半導体集積回路の基板ノイズ解析装置例文帳に追加

SUBSTRATE NOISE ANALYSIS METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND SUBSTRATE NOISE ANALYSIS DEVICE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

半導体不良解析方法、半導体不良解析優先順位決定システム及びそれを用いた半導体装置の製造方法例文帳に追加

METHOD OF ANALYZING SEMICONDUCTOR FAILURE, SYSTEM OF DETERMINING PRIORITY OF SEMICONDUCTOR FAILURE ANALYSIS, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR APPARATUS USING THE SAME - 特許庁

微小な不良箇所を精度良く特定できる半導体解析装置、半導体解析方法及び半導体装置の製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor analyzer which can accurately specify a microscopic defective position, and to provide a method of analyzing a semi conductor and a method of manufacturing a semiconductor device. - 特許庁

大規模な半導体集積回路に対しても短時間、且つ、高精度な解析を行い得る電源電圧変動解析方法、電源電流変動解析方法、電源電圧変動解析装置、及び電源電流変動解析装置を提供することにある。例文帳に追加

To provide a supply voltage variation analysis method, a supply current variation analysis method, a supply voltage variation analysis device and a supply current variation analysis device that can quickly and precisely analyze even a large-scale semiconductor integrated circuit. - 特許庁

解析対象となる半導体集積回路を構成する一つ以上の回路素子を選択する回路素子選択部１と、選択された回路素子の全部又は一部を動作させる解析用パタンを生成する解析用パタン生成部２と、解析部３とで電源電圧変動解析装置を構成する。例文帳に追加

The supply voltage variation analysis device comprises a circuit element selection part 1 for selecting one or more circuit elements constituting a semiconductor integrated circuit to be analyzed, an analytic pattern generation part 2 for generating an analytic pattern for operating all or part of the selected circuit elements, and an analysis part 3. - 特許庁

半導体装置の分析解析装置の使用管理システム、及び、使用管理機能付き半導体装置の分析解析装置例文帳に追加

SYSTEM FOR MANAGING USE OF SEMICONDUCTOR DEVICE ANALYSIS APPARATUS, AND SEMICONDUCTOR DEVICE ANALYSIS APPARATUS WITH USE MANAGEMENT FUNCTION - 特許庁

ＥＳＤ解析装置、ＥＳＤ解析プログラム、半導体装置の設計方法、半導体装置の製造方法例文帳に追加

ESD-ANALYZING DEVICE, ESD-ANALYZING PROGRAM, DESIGNING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

内部電圧発生装置を備えた半導体装置の故障解析に適応可能な半導体故障解析装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor failure analyzer for adapting to failure analysis on a semiconductor device provided with an internal voltage generating device. - 特許庁

電磁障害ノイズ解析方法及び半導体集積回路例文帳に追加

ELECTROMAGNETIC FAILURE NOISE ANALYSIS METHOD AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

半導体集積回路の遅延の解析精度を向上させる。例文帳に追加

To improve analysis accuracy of delay of a semiconductor integrated circuit. - 特許庁

半導体記憶装置の使用限界予想解析用プログラム又はシステム例文帳に追加

PROGRAM OR SYSTEM FOR USE LIMIT ESTIMATION ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE - 特許庁

半導体集積回路の不良解析装置、システムおよび検出方法例文帳に追加

DEFECT ANALYZER FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, SYSTEM, AND DETECTION METHOD - 特許庁

半導体回路の遅延特性解析のための入力パターン生成方法例文帳に追加

METHOD FOR GENERATING INPUT PATTERN FOR DELAY CHARACTERISTIC ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR CIRCUIT - 特許庁

半導体集積回路装置及びデータ転送障害解析方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND DATA TRANSFER FAILURE ANALYSIS METHOD - 特許庁

半導体装置、その製造方法、及びその不純物濃度の解析方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD OF MANUFACTURING IT AND METHOD OF ANALYZING IMPURITY CONCENTRATION IN SEMICONDUCTOR DEVICE - 特許庁

２次電子像による半導体装置の不具合解析の効率化。例文帳に追加

To improve efficiency in failure analysis of a semiconductor device by a secondary electron image. - 特許庁

半導体製造装置における生産情報のデータ解析方法例文帳に追加

DATA ANALYZING METHOD FOR PRODUCTION INFORMATION IN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING ARRANGEMENT - 特許庁

評価及び解析が容易な半導体記憶装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor memory device facilitating evaluation and analysis. - 特許庁

半導体不良解析装置及びそれを用いた不良モード分類方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR DEFECT ANALYZING DEVICE AND DEFECT MODE CLASSIFYING METHOD USING THE SAME - 特許庁

半導体装置及びこれを用いたＬＳＩの不良解析方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR DEVICE AND DEFECTIVE LSI ANALYSIS THE SAME - 特許庁

半導体試験装置及び不良解析メモリの搭載方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR TESTER AND MOUNTING METHOD FOR FAILURE ANALYSIS MEMORY - 特許庁

より精密な半導体装置の解析及び設計を可能とする。例文帳に追加

To analyze and design a precise semiconductor device more precisely. - 特許庁

半導体メモリの試験時間（不良解析時間）を短縮すること。例文帳に追加

To shorten the test time (failure analysis time) of a semiconductor memory. - 特許庁

半導体メモリ評価装置及びそれを用いた不良解析方法例文帳に追加

SEMICONDUCTOR MEMORY EVALUATING DEVICE AND DEFECT ANALYSIS METHOD USING THE SAME - 特許庁

半導体装置の動的解析を短時間で行う技術を提供する。例文帳に追加

To provide a technology of executing dynamic analysis of a semiconductor device in a short time. - 特許庁

半導体応用装置の検査解析装置、方法及び記録媒体例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR INSPECTIVE/ANALYZING SEMICONDUCTOR APPLIED DEVICE, AND RECORDING MEDIUM - 特許庁

半導体デバイスの両面解析を簡単に行うことを可能にする。例文帳に追加

To enable easy double-sided analysis of a semiconductor device. - 特許庁