| 例文 (9件) |
試験標板の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 9件
本発明は、プリント板試験装置において、被試験プリント板を実装した後に、被試験プリント板座標と試験装置ロボット座標を照合するための基準点ビアを検出する方法を提供する。例文帳に追加
To provide a method of detecting reference point via for collating examined printed board coordinates with testing device robot coordinates, after mounting the examined printed board, in a printed board testing device. - 特許庁
半導体集積回路の試験方法と、半導体集積回路の試験装置と、半導体集積回路の試験方法の実施に用いる標準回路基板と、半導体集積回路の試験方法の実施に用いるＤＣ系中継手段例文帳に追加
TESTING METHOD OF SEMI-CONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TESTING DEVICE OF SEMI-CONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, STANDARD CIRCUIT BOARD USED FOR PERFORMING TESTING METHOD OF SEMI-CONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND DC SYSTEM RELAY MEANS USED FOR PERFORMING TESTING METHOD OF SEMI-CONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁
プリント板に設けられた所定の対象物からクリップ試験に必要な座標を自動生成し、もってクリップ試験を自動化できるプリント板検査用座標取得装置を得る。例文帳に追加
To provide a device for acquiring a coordinate for inspection of a printed board that can automatically creating a coordinate required for a clip test from a predetermined object disposed in the printed board and can automate the clip test. - 特許庁
標準基板３と試験基板２を基板配置手段２６で電極部材４を介して対称に対向させ、この状態でネットワークアナライザ５により電極部材４にＲＦ電磁波を伝搬させて特性を測定し、この測定結果から不良検出手段２５により試験基板２の表面の不良の有無を判定する。例文帳に追加
A standard substrate 3 is faced symmetrically to a testing substrate 2 by a substrate arranging means 26 via an electrode member 4, then an RF electromagnetic wave is propagated to the member 4 by a network analyzer 5 to measure a characteristic, and the presence of defects in a surface of the testing substrate 2 is determined by a defective detecting means 25, based on a result measured hereinbefore. - 特許庁
水素原子がトラップされずに通過することができる平板状水素損傷耐性金属試験標本電極３０、及びこの電極に近接して配置される第２の電極４０を具備した装置とする。例文帳に追加
In this measuring device, a test sample electrode 30 is provided with a flat hydrogen damage resistant metal test sample electrode 30 in which a hydrogen is not trapped and is permeated and a second electrode 40 disposed in adjacent to the electrode 30. - 特許庁
標準板を不要とすること、操作を簡単にすること、試験片の保持を簡単にし且つ保持機構を薄くすること、組立を簡単で安価にすることを実現する生化学測定装置を提供することである。例文帳に追加
To provide a biochemical measuring device capable of dispensing with a reference plate, simplifying an operation, simplifying retention of a test piece, thinning a retention mechanism, and being assembled simply and inexpensively. - 特許庁
本発明の目的は、反射色ムラのない優れた反射防止機能を有し、特に耐久性の指標となる強制劣化試験後の膜強度が強く、耐傷性に優れた耐電防止機能を有する反射防止フィルム、偏光板及び画像表示装置を提供することにある。例文帳に追加
To provide an antireflection film which has an excellent antireflection function having no irregularity of reflected colors, which has high film strength after a forced deterioration test which becomes the index of durability in particular, and which has an antistatic function excellent in scratch resistance, and to provide a polarizing plate and an image display device. - 特許庁
赤外線照準機能を有する火器の発射試験、射撃訓練に用いられる赤外線放射模擬標的であって、台座１０と、台座１０上に配置された板状または空洞立体状を呈する標的ベース２０と、標的ベース２０の表面に沿って配置された電熱体を備えた熱源３０とを有している。例文帳に追加
The infrared simulation target is used in a firing test or shooting practice of a firearm having the infrared targeting function, and it has a seat 10, a target base 20 having a tabular or hollow solid shape arranged on the seat 10, and a heat source 30 provided with an electric heating element arranged along a surface of the target base 20. - 特許庁
試験室７の壁構成体７ａ・天井構成体７ｂ・床構成体７ｃを含む全構成体の少なくとも一部の室内面側を、空気調和機３からの調温空気による目標制御温度に応じて前記少なくとも一部を加熱もしくは冷却する板状の熱交換器９で構成する。例文帳に追加
An indoor face side of at least a part of the entire structure including a wall structure 7a, a ceiling structure 7b and a floor structure 7c of the test room 7 is composed of a platy heat exchanger 9 for heating or cooling at least a part of the entire structure according to a target control temperature by temperature-conditioned air from an air conditioner 3. - 特許庁
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