「走査型近接場光学顕微鏡」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

近接場光プローブおよび走査型近接場光学顕微鏡例文帳に追加

NEAR-FIELD OPTICAL PROBE AND SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE - 特許庁

走査型近接場光学顕微鏡用のカンチレバーとその製造方法及び走査型近接場光学顕微鏡例文帳に追加

CANTILEVER FOR SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURE AS WELL AS SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE - 特許庁

走査型近接場光学顕微鏡、走査型近接場光学顕微鏡における散乱光の角度依存性の検出方法例文帳に追加

SCANNING NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND METHOD FOR DETECTING ANGLE DEPENDENCE OF SCATTERING LIGHT THEREIN - 特許庁

入射角度決定方法及び走査型近接場光学顕微鏡例文帳に追加

ANGLE OF INCIDENCE DETERMINING METHOD, AND SCAN NEAR- FIELD OPTICAL MICROSCOPE - 特許庁

光学素子、空間光学フィルタ、走査型近接場光学顕微鏡用プローブおよび写真平版印刷用マスク例文帳に追加

OPTICAL ELEMENT, SPATIAL OPTICAL FILTER, PROBE FOR SCAN TYPE NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPE, AND MASK FOR PHOTOLITHOGRAPHIC PRINT - 特許庁

寸法や重量が大きな試料に対しても対応でき、また、高速走査化が可能な走査型近接場光学顕微鏡。例文帳に追加

To provide a scanning near-field optical microscope capable of corresponding to a sample large in dimensions and weight and scanning at high speed. - 特許庁

寸法や重量が大きな試料に対しても対応でき、また、高速走査化が可能な走査型近接場光学顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning optical near-field microscope capable of fast scanning and is capable of coping with respect to samples with large dimensions and weight. - 特許庁

本発明は、ＳＮＯＭ像と一緒にＡＦＭ像も得られるように改良された走査型近接場光学顕微鏡を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a scanning proximity field optical microscope improved to obtain an AFM image along with an SNOM image. - 特許庁

近接場光を生成または選択的に透過させる微細構造を試料に直接接触させることなく、高分解能観察可能な走査型近接場光学顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning near-field optical microscope which is capable of performing high-resolution observation without bringing a fine structure for generating or selectively transmitting near-field light into direct contact with a sample. - 特許庁

プローブ先端部の近接場光と試料とのカップリングにより発生する散乱光の角度依存性を検出できる走査型近接場光学顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning near field optical microscope capable of detecting the angle dependence of scattering light generated by the coupling of the near field light from the tip part of a probe with a sample. - 特許庁

近接場走査型光学顕微鏡（ＮＳＯＭ）システムを用いて、複数のホールを有するフォトニック結晶構造の共振周波数を赤チューニングするための方法である。例文帳に追加

To provide a method for red-tuning the resonance frequency of a photonic crystal structure that includes a plurality of holes by using a near-field scanning optical microscope (NSOM) system. - 特許庁

本発明は、比較的小さな開口数を持つ集光レンズを使用していても大きな角度で広がる散乱光を率よく検出することができるようにした走査型近接場光学顕微鏡を提供するを提供する。例文帳に追加

To provide a scanning near-field optical microscope which can efficiently detect a scattering light spreading with a large angle, even if using a condenser lens of a relatively small numerical aperture. - 特許庁

本発明は、高分解能及び高コントラストを実現可能としたプローブ先端近傍を照射する照射光の入射角度を決定する方法及び走査型近接場光学顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a method for determining the angle of incidence of the irradiating light to irradiate a portion in the vicinity of a tip of a probe to realize the high resolution and high contrast, and a scan near-field optical microscope. - 特許庁

本発明の一態様によると、被検体に光を照射する手段と、前記被検体と一定の距離を保ち走査をする粒子状プローブと、前記被検体からの近接場光の強度を検出する手段とを有する走査型光学顕微鏡であり、前記粒子状プローブからの近接場光を検出することにより、前記粒子状プローブの位置を検出するプローブ位置検出手段を設けたことを特徴とする走査型近接場光学顕微鏡が提供される。例文帳に追加

A scanning optical microscope comprising means for irradiating a specimen with light, a granular probe for scanning the specimen while keeping a constant distance therefrom, and means for detecting the intensity of proximity field light from the specimen is further provided with means for detecting the position of the granular probe by detecting the proximity field light therefrom. - 特許庁

本発明の一態様によると、試料に光を照射する手段と、試料にプローブを近接させ走査する走査手段と、照射により発生した散乱光を集光するもので、それぞれ、異なる光軸を持った複数の集光光学系と、前記複数の集光光学系にそれぞれ設けられた複数の散乱光検出機構とを有することを特徴とする走査型近接場光学顕微鏡が提供される。例文帳に追加

This scanning near-field optical microscope according to one embodiment includes means for illuminating a sample with light, scanning means for bringing a probe close to the sample and scanning the sample, a plurality of collecting optical systems with different optical axes for collecting the scattering light generated by the illumination, and a plurality of scattering light- detecting mechanisms set respectively the plurality of the collecting optical systems. - 特許庁

レーザーをプローブ先端などへ直線偏光のＰ偏光成分を変調して照射できるようにし、更には、プローブが試料と常に接触しながら測定する場合においても、ＳＮＯＭ信号としての散乱光を変調し得て、試料の光物性を観察することのできる走査型プローブ顕微鏡、所謂近接場光学顕微鏡を得ようとする。例文帳に追加

To provide a scanning probe microscope, the so-called proximity field optical microscope which can modulate P-polarized component of linear polarization to allow laser radiation on probe tip etc., and also can modulate scattered light as a SNOM signal to observe optical properties of a sample, even when the probe measures the sample while always contacting it. - 特許庁

また、本発明の別態様によると、試料の観察部位に照射光を照射する、入射角度を調節可能な光源と、上記試料で反射された上記照射光を検出する検出手段とを具備し、上記検出手段で検出した反射光強度の上記入射角に対する角度依存性を測定可能に構成されていることを特徴とする走査型近接場光学顕微鏡が提供される。例文帳に追加

The scan near-field optical microscope comprises a light source for irradiating light on the location to be observed of the sample and adjusting the angle of incidence, and a detecting means to detect the irradiating light reflected by the sample, and can measure the angle dependency to the angle of incidence of the intensity of the reflected light detected by the detecting means. - 特許庁