意味 | 例文 (999件) |
電子走査の部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1547件
走査電子顕微鏡の走査回路例文帳に追加
SCANNING CIRCUIT FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
走査形電子顕微鏡例文帳に追加
SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
走査電子顕微鏡例文帳に追加
走査透過電子顕微鏡例文帳に追加
走査型電子顕微鏡例文帳に追加
SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
走査電子顕微鏡装置例文帳に追加
走査電子顕微装置例文帳に追加
走査型電子線装置例文帳に追加
SCANNING ELECTRON BEAM DEVICE - 特許庁
電子走査式レーダ装置例文帳に追加
ELECTRONIC SCANNING RADAR SYSTEM - 特許庁
電子走査式レーダ装置例文帳に追加
ELECTRONIC SCANNING TYPE RADAR - 特許庁
走査型電子線装置例文帳に追加
SCANNING ELECTRON BEAM APPARATUS - 特許庁
走査電子顕微鏡の電子ビーム軸調整方法および走査電子顕微鏡例文帳に追加
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM AXIS ADJUSTING METHOD THEREFOR - 特許庁
走査電子顕微鏡を備えた走査形プローブ顕微鏡例文帳に追加
SCANNING PROBE MICROSCOPE EQUIPPED WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
走査像信号取得方法および走査電子顕微鏡例文帳に追加
SCANNING IMAGE SIGNAL ACQUIRING METHOD AND SCAN TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
低真空走査電子顕微鏡例文帳に追加
走査電子顕微鏡の試料ホルダ例文帳に追加
スピン偏極走査電子顕微鏡例文帳に追加
走査X線電子顕微鏡例文帳に追加
SCANNING X-RAY ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
走査型プローブ電子顕微鏡例文帳に追加
SCANNING PROBE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
電界放射型走査電子顕微鏡例文帳に追加
走査干渉電子顕微鏡例文帳に追加
分析走査電子顕微鏡例文帳に追加
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE FOR ANALYSIS - 特許庁
小型の走査型電子顕微鏡例文帳に追加
走査電子顕微鏡用観察装置例文帳に追加
OBSERVING DEVICE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
走査透過型電子顕微鏡例文帳に追加
走査透過電子顕微鏡装置例文帳に追加
走査形電子顕微鏡装置例文帳に追加
走査型電子顕微鏡装置例文帳に追加
走査型透過電子顕微鏡例文帳に追加
差動排気走査形電子顕微鏡例文帳に追加
電子走査型顕微鏡装置例文帳に追加
走査変換装置、および電子カメラ例文帳に追加
SCANNING CONVERSION SYSTEM AND ELECTRONIC CAMERA - 特許庁
断面観察用走査電子顕微鏡例文帳に追加
CROSS-SECTION OBSERVATION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
非走査型電子線照射装置例文帳に追加
NON-SCANNING TYPE ELECTRON BEAM IRRADIATION DEVICE - 特許庁
走査電子線干渉装置例文帳に追加
電子線走査用電源装置例文帳に追加
POWER SUPPLY DEVICE FOR ELECTRON BEAM SCANNING - 特許庁
電子走査型超音波探触子例文帳に追加
電子走査式レーダ装置例文帳に追加
電子走査式超音波検査装置例文帳に追加
ELECTRONIC SCANNING TYPE ULTRASONIC INSPECTION APPARATUS - 特許庁
電子走査式レーダ装置例文帳に追加
ELECTRONIC SCANNING TYPE RADAR DEVICE - 特許庁
マルチビ—ム電子走査アンテナ例文帳に追加
電子走査式超音波内視鏡例文帳に追加
走査形電子顕微鏡、および走査形電子顕微鏡を用いた撮像方法例文帳に追加
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
走査電子顕微鏡および走査電子顕微鏡像の歪み校正例文帳に追加
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND DISTORTION CALIBRATION OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE IMAGE - 特許庁
走査電子顕微鏡、および走査電子顕微鏡における像表示方法例文帳に追加
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGE DISPLAY METHOD IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
走査透過電子顕微鏡、および走査透過電子顕微鏡の調整方法例文帳に追加
SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND TUNING METHOD OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
走査型電子顕微鏡及び走査型電子顕微鏡のドリフト補正方法例文帳に追加
SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND DRIFT CORRECTION METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁
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