「電子走査」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

走査形電子顕微鏡あるいは類似装置における音声入力（操作）装置例文帳に追加

VOICE INPUT DEVICE IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE OR SIMILAR APPARATUS - 特許庁

液体の表面を浮遊する試料の走査電子顕微鏡観察方法例文帳に追加

METHOD OF OBSERVATION OF SAMPLE FLOATING ON LIQUID SURFACE UNDER SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査型電子顕微鏡調整用試料及びその製造方法例文帳に追加

SAMPLE FOR TUNING OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD - 特許庁

走査型電子顕微鏡用検鏡試料の金属薄膜成膜方法例文帳に追加

METAL THIN FILM FORMING METHOD FOR MICROSCOPIC OBSERVATION SAMPLE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

荷電粒子線装置及び走査電子顕微鏡の制御装置例文帳に追加

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND CONTROL DEVICE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

試料凍結方法および冷却ホルダ並びに走査電子顕微鏡例文帳に追加

SPECIMEN FREEZING METHOD, COOLING HOLDER AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

パターンマッチング装置及びそれを用いた走査型電子顕微鏡例文帳に追加

PATTERN MATCHING DEVICE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE EMPLOYING IT - 特許庁

走査電子顕微鏡用試料台およびその角度調整方法例文帳に追加

SAMPLE STAND FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS ANGLE ADJUSTING METHOD - 特許庁

荷電粒子線装置、走査電子顕微鏡、および試料検査方法例文帳に追加

CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SAMPLE INSPECTION METHOD - 特許庁

走査型電子顕微鏡装置およびそれを用いた撮像方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE, AND IMAGING METHOD USING IT - 特許庁

試料台及びその試料台を備えた走査電子顕微鏡例文帳に追加

SAMPLE PLATFORM AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAMPLE PLATFORM - 特許庁

Ｉｎ−ｓｉｔｕ試料前処理機能を備えた走査電子顕微鏡例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE PROVIDED WITH IN-SITU SAMPLE PRETREATING FUNCTION - 特許庁

走査電子顕微鏡に、画像処理装置を組み込んだ構成である。例文帳に追加

This scanning electron microscope is structured by assembling an image processing device in it. - 特許庁

走査電子顕微鏡の信号検出装置およびその表示装置例文帳に追加

SIGNAL DETECTION DEVICE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS DISPLAY DEVICE - 特許庁

荷電粒子ビーム装置、走査型電子顕微鏡、及び試料観察方法例文帳に追加

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND TESTPIECE OBSERVATION METHOD - 特許庁

試料移送装置を備えた走査電子顕微鏡を例にとって説明する。例文帳に追加

This scanning electron microscope provided with a sample transfer device. - 特許庁

走査型電子顕微鏡において試料のチャージを防止する。例文帳に追加

To prevent charge of a sample in a scanning electron microscope. - 特許庁

走査型電子顕微鏡を用いた試料の観察方法およびそのシステム例文帳に追加

METHOD AND SYSTEM FOR OBSERVING SAMPLE USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

画像処理装置、画像処理方法および走査型電子顕微鏡例文帳に追加

IMAGE PROCESSOR AND PROCESSING METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

パルス生成回路、パルス生成方法、走査回路、表示装置、及び、電子機器例文帳に追加

PULSE GENERATION CIRCUIT, PULSE GENERATION METHOD, SCANNING CIRCUIT, DISPLAY DEVICE, AND ELECTRONIC APPARATUS - 特許庁

走査透過型電子顕微鏡に依る観察方法及び観察装置例文帳に追加

OBSERVATION METHOD AND OBSERVATION EQUIPMENT BY SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査電子顕微鏡を用いた試料検査における電荷トラップの改善例文帳に追加

IMPROVEMENT OF CHARGE TRAP IN SAMPE INSPECTION USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査型電子顕微鏡およびそれによる欠陥部位解析方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND DEFECTIVE POSITION ANALYSIS METHOD USING IT - 特許庁

走査型電子顕微鏡装置の評価方法及び評価装置例文帳に追加

EVALUATION METHOD AND EVALUATION DEVICE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE - 特許庁

走査型電子顕微鏡及びこれを用いたパターン寸法計測方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND PATTERN DIMENSION MEASUREMENT METHOD USING THE SAME - 特許庁

走査型電子顕微鏡の撮像画像の画質を向上させる。例文帳に追加

To enhance the image quality of an image photographed by scanning electron microscope. - 特許庁

自動焦点位置合わせ電子走査式超音波探傷方法および装置例文帳に追加

AUTOMATIC FOCUSING ALIGNMENT ELECTRONIC SCANNING TYPE ULTRASONIC FLAW DETECTION METHOD, AND APPARATUS - 特許庁

走査電子顕微鏡観察用試料の前処理装置及び前処理方法例文帳に追加

DEVICE AND METHOD FOR PRETREATING SAMPLE FOR OBSERVATION THROUGH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査型電子顕微鏡装置およびこれを用いた三次元画像表示方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND THREE-DIMENSIONAL IMAGE DISPLAY METHOD USING THE SAME - 特許庁

試料搬送機構、及び試料搬送機構を備えた走査電子顕微鏡例文帳に追加

SAMPLE CONVEYING MECHANISM AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING THE SAME - 特許庁

電子走査型ミリ波レーダ装置およびコンピュータプログラム例文帳に追加

ELECTRONIC SCANNING MILLIMETER-WAVE RADAR DEVICE AND COMPUTER PROGRAM - 特許庁

基板支持装置、走査型電子顕微鏡、及び基板支持方法例文帳に追加

SUBSTRATE SUPPORT DEVICE, SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE, AND METHOD SUPPORT SUBSTRATE - 特許庁

ウォーミングアップが不要な走査電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope which does not require warming up. - 特許庁

電気光学装置、その駆動方法、その走査線駆動回路および電子機器例文帳に追加

ELECTROOPTICAL DEVICE, ITS DRIVING METHOD, ITS SCANNING LINE DRIVING CIRCUIT AND ELECTRONIC EQUIPMENT - 特許庁

走査電子顕微鏡装置及びそれを用いた画像取得方法例文帳に追加

SCAN ELECTRON MICROSCOPE DEVICE AND IMAGE OBTAINING METHOD USING THE SAME - 特許庁

電気光学パネル、その駆動方法、走査線駆動回路および電子機器例文帳に追加

OPTOELECTRONIC PANEL, ITS DRIVING METHOD, SCANNING LINE DRIVING CIRCUIT AND ELECTRONIC EQUIPMENT - 特許庁

低真空走査電子顕微鏡及びその試料交換方法例文帳に追加

LOW VACUUM SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS METHOD FOR EXCHANGE OF TEST PIECE - 特許庁

段差測定方法、段差測定装置及び走査型電子顕微鏡装置例文帳に追加

LEVEL DIFFERENCE MEASURING METHOD, LEVEL DIFFERENCE MEASURING DEVICE, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE DEVICE - 特許庁

走査型電子顕微鏡等において使用するためのウィーンフィルタ例文帳に追加

WIEN FILTER USED IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE OR THE LIKE - 特許庁

二次元面発光レーザーアレイ、光走査装置及び電子写真装置例文帳に追加

TWO-DIMENSIONAL SURFACE-EMITTING LASER ARRAY, OPTICAL SCANNER AND ELECTROPHOTOGRAPHIC DEVICE - 特許庁

欠陥抽出走査電子顕微鏡検査装置及びその抽出方法例文帳に追加

DEFECT EXTRACTION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE INSPECTION SYSTEM, AND EXTRACTION METHOD THEREOF - 特許庁

磁区構造画像取得方法および走査透過電子顕微鏡例文帳に追加

MAGNETIC DOMAIN STRUCTURAL IMAGE ACQUISITION METHOD AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子ビームは先ず矩形パターンＰａを描くための走査を行う。例文帳に追加

Electron beams first scan for drawing rectangular patterns Pa. - 特許庁

走査型電子ビーム装置における対物レンズ絞りの位置調整方法例文帳に追加

POSITION ADJUSTING METHOD FOR OBJECTIVE LENS DIAPHRAGM OF SCANNING TYPE ELECTRON BEAM DEVICE - 特許庁

帯電測定方法、焦点調整方法、及び走査電子顕微鏡例文帳に追加

ELECTROSTATIC CHARGE MEASURING METHOD, FOCUS ADJUSTING METHOD, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁