「電子走査」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

収集電極電源８は、電子線走査領域２２内において電子線の走査位置に応じて収集電極１０に印加する収集電極電圧を変化させ、これによって、走査領域内における二次電子の収集効率を均一化する。例文帳に追加

The collecting electrode power supply 8 changes the collecting electrode voltage to be applied to the collecting electrode 10 according to the scanning position of the electron beam within an electron beam scanning region 22 and thereby makes uniform the collection efficiency of secondary electrons within the scanning region. - 特許庁

更に走査電子顕微鏡内で発生した異物を、試料カセット等に持ち込まないように、走査電子顕微鏡鏡体と試料カセットとの間に設けられた試料搬送用ハンドに設けられた異物除去機構によって、異物を回収する走査電子顕微鏡を提案する。例文帳に追加

Further, the foreign bodies are collected by a foreign body removing mechanism arranged on the sample conveying hand prepared between a scanning electron microscope body and the sample cassette so as not to bring the foreign bodies generated in the scanning electron microscope to a sample cassette or the like. - 特許庁

本発明は環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸調整方法及び走査透過電子顕微鏡に関し、環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸合わせ容易に行うようにすることを目的としている。例文帳に追加

To easily carry out incident axis adjusting method of a scattered electron beam against an annular dark field scanning image detector regarding an incident axis adjusting method of a scattered electron beam against an annular dark field scanning image detector and a scanning transmission electron microscope. - 特許庁

走査電子顕微鏡の電子ビームを走査（スキャン）させるための２次元の座標を生成するスキャン制御部１２に、水平（Ｘ）方向及び垂直（Ｙ）方向毎に個別に座標変換する変換部８，９を備え、試料の検査対象領域で任意の方向に電子ビームを走査させる。例文帳に追加

Conversion parts 8, 9 which individually perform coordinate-conversion in each horizontal (X) direction and vertical direction (Y) are provided at a scan control part 12 to form two dimensional coordinates for scanning electron beams of a scanning electron microscope, and the electron beams are scanned in the arbitrary direction in the inspection object region of the sample. - 特許庁

電子走査式超音波探傷装置において、複数の探傷ライン毎に異なる距離振幅特性を探傷実行中に補正することにより、データ処理の負担を軽減し、検査時間の短い電子走査式超音波探傷装置及び電子走査式超音波探傷方法を提供する。例文帳に追加

To reduce the load of data processing while shortening an inspection time by correcting distance amplitude characteristics different at a plurality of flaw detection lines in an electronic scanning type ultrasonic flaw detector and an electronic scanning type ultrasonic flaw detecting method. - 特許庁

エネルギビーム（３２）の走査（３３）を利用し、該エネルギビームの走査を電子源素子の中心部と周辺部とで走査条件を変化させ、基板（３１）の上に先端が先鋭化された電子放出物質を堆積することにより作製された電界放出型電子源。例文帳に追加

The electric field emission type electron source is manufactured by using a scan (33) of an energy beam (32), changing scanning conditions of the scan of the energy beam on the center and fringe parts of the electronic source element, and accumulating electron emitting substances with sharp top ends on a substrate (31). - 特許庁

イ　電子的に走査が可能なフェーズドアレーアンテナを保護するために設計したもの例文帳に追加

(a) Radomes designed to protect phased array antennas that are capable of scanning electronically  - 日本法令外国語訳データベースシステム

走査型電子顕微鏡を備えたプローバ装置及びプローバ装置の探針クリーニング方法例文帳に追加

PROBER DEVICE EQUIPPED WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND PROBE CLEANING METHOD OF PROBER DEVICE - 特許庁

二重ビーム装置はイオン・ビーム装置および磁気対物レンズを備える走査電子顕微鏡を含む。例文帳に追加

The apparatus includes an SEM having an ion beam device and a magnetic objective lens. - 特許庁

走査電子顕微鏡等のためのエラストマー隔膜を有する振動絶縁カップリング例文帳に追加

VIBRATION ISOLATING COUPLING HAVING ELASTOMER FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND THE LIKE - 特許庁

元素マッピング装置，走査透過型電子顕微鏡および元素マッピング方法例文帳に追加

ELEMENT MAPPING DEVICE, SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ELEMENT MAPPING METHOD - 特許庁

レベルＢの異常の場合には、異常情報は走査電子顕微鏡のオペレータのみに転送される。例文帳に追加

In the case of B-level abnormality the abnormality information is delivered only to the operator of the scanning electron microscope. - 特許庁

電磁レンズにおける色収差係数測定方法及び走査透過電子顕微鏡例文帳に追加

CHROMATIC ABERRATION COEFFICIENT MEASURING METHOD IN ELECTROMAGNETIC LENS AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

タンデム方式の電子写真法によるカラープリンタに搭載される光走査光学装置。例文帳に追加

The light scanning optical apparatus is mounted on a tandem type color printer of an electrophotography method. - 特許庁

元素分析装置及び走査透過型電子顕微鏡並びに元素分析方法例文帳に追加

ELEMENT ANALYZING APPARATUS AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ELEMENT ANALYZING METHOD - 特許庁

レーザ欠陥検出機能を備えた走査型電子顕微鏡におけるＣＣＤカメラ自動切替方式例文帳に追加

AUTOMATIC CCD CAMERA CHANGEOVER SYSTEM IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE WITH LASER DEFECT DETECTING FUNCTION - 特許庁

走査管の下部に電子線を左右に偏向するためのクロス照射用偏向電磁石を設ける。例文帳に追加

A deflection electromagnet for cross irradiation is provided in a lower part of the scanning tube to deflect an electron beam laterally. - 特許庁

画像走査によって生成された電子ドキュメント・データのワークフロー制御システムおよび方法例文帳に追加

SYSTEM AND METHOD FOR WORKFLOW CONTROL OF ELECTRONIC DOCUMENT DATA GENERATED BY IMAGE SCANNING - 特許庁

セルフ走査プライスチェック及び購入端末を有する電子買物システム例文帳に追加

ELECTRONIC SHOPPING SYSTEM HAVING SELF-SCAN PRICE CHECK AND PURCHASE TERMINAL - 特許庁

このような構造を有する走査型電子顕微鏡を用いて、試料像を得る。例文帳に追加

With the use of the scanning electron microscope of such a structure, a sample image is obtained. - 特許庁

走査型電子顕微鏡での表面勾配の測定によるサンプル形状決定例文帳に追加

DETERMINATION OF SAMPLE SHAPE BY MEASUREMENT OF SURFACE GRADIENT WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

レーザ欠陥検出機能を備えた走査型電子顕微鏡のオートフォーカス方式例文帳に追加

AUTOMATIC FOCUSING METHOD FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING LASER DEFECT DETECTION FUNCTION - 特許庁

微調整からレビューまでを完全に自動化で行なえる走査型電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope which can achieve the entire process from fine adjustment to review through complete automation. - 特許庁

走査型電子顕微鏡を用いた非真空環境内のサンプルの検査のための装置および方法例文帳に追加

DEVICE AND METHOD FOR EXAMINATION OF SAMPLE IN NON-VACUUM ENVIRONMENT USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

校正用標準部材およびその作製方法並びにそれを用いた走査電子顕微鏡例文帳に追加

STANDARD MEMBER FOR CALIBRATION, MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USING THE SAME - 特許庁

走査型電子顕微鏡を用いた回路パターンの寸法計測装置およびその方法例文帳に追加

METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING DIMENSION OF CIRCUIT PATTERN BY USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

アライメントコイルの調整の操作性を向上させた走査電子顕微鏡を実現する。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope having improved operability for adjustment of an alignment coil. - 特許庁

走査形電子顕微鏡あるいは類似装置における三次元ＣＧ（ＣｏｍｐｕｔｅｒＧｒａｐｈｉｃｓ）を用いたアニメーション機能例文帳に追加

ANIMATION FUNCTION USING THREE-DIMENSIONAL COMPUTER GRAPHICS ON SCANNING ELECTRON MICROSCOPE OR SIMILAR EQUIPMENT - 特許庁

走査形電子顕微鏡及びその画像保存フォーマットと画像再編集方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND IMAGE STORAGE FORMAT AND IMAGE RE-EDITING METHOD THEREFOR - 特許庁

元素マッピング装置、走査透過型電子顕微鏡及び元素マッピング方法例文帳に追加

ELEMENT-MAPPING DEVICE, SCANNING TRANSMISSION ELECTRONIC MICROSCOPE AND ELEMENT-MAPPING METHOD - 特許庁

荷電粒子ビームの偏向機構及び荷電粒子ビーム装置並びに走査電子顕微鏡例文帳に追加

DEFLECTION MECHANISM OF CHARGED PARTICLE BEAM, CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

対物レンズと試料の接触を防止できる走査電子顕微鏡を提供することにある。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope capable of preventing contact between an objective lens and a sample. - 特許庁

低加速電圧を用いた高精度な三次元解析を行える走査型電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope conducting highly precise three-dimensional analysis using low acceleration voltage. - 特許庁

走査型電子顕微鏡装置、及び評価ポイント生成方法、並びにプログラム例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, EVALUATION POINT GENERATION METHOD, AND PROGRAM - 特許庁

走査透過電子顕微鏡用薄膜状試料の作製方法および薄膜試料の観察方法例文帳に追加

METHOD OF MANUFACTURING MEMBRANE SAMPLE FOR SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD FOR MEMBRANE SAMPLE METHOD FOR MEMBRANE SAMPLE - 特許庁

走査電子顕微鏡を用いたライン・アンド・スペースパターンの測定方法例文帳に追加

MEASURING METHOD FOR LINE-AND-SPACE PATTERN USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電気光学パネル、その駆動回路、データ線駆動回路、走査線駆動回路および電子機器例文帳に追加

ELECTROOPTICAL PANEL, ITS DRIVING CIRCUIT, DATA LINE DRIVING CIRCUIT, SCANNING LINE DRIVING CIRCUIT AND ELECTRONIC EQUIPMENT - 特許庁

これら走査点から放出された二次電子（６４，６８）を検出して試料の欠陥を検出する。例文帳に追加

Secondary electrons (64 and 68), emitted from the scanning points, are detected, and the defects of the sample are detected. - 特許庁

低真空走査型電子顕微鏡を用いた炭素系材料の微細加工方法とその装置例文帳に追加

MICROPROCESSING METHOD AND APPARATUS OF CARBONACEOUS MATERIAL USING LOW VACUUM SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査型電子顕微鏡における定量的３次元再構成のための方法および装置例文帳に追加

METHOD AND DEVICE FOR QUANTITATIVE THREE DIMENSIONAL RECONSTRUCTION IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

高圧環境中の試料を使用して動作する走査透過電子顕微鏡を提供すること。例文帳に追加

To provide a scanning transmission electron microscope operated with a sample in a high pressure environment. - 特許庁

解析箇所を探す手間を少なくすることが可能な走査電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope capable of reducing labor for searching an analysis point. - 特許庁

走査型電子顕微鏡等においてウィーンフィルタによって生成される収差の低減例文帳に追加

REDUCTION IN ABERRATION CAUSED BY WIEN FILTER IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE OR THE LIKE - 特許庁

走査型荷電粒子ビーム顕微鏡の、電子回路の遅延時間を補正すること。例文帳に追加

To correct delay time of an electronic circuit of a scanning type charged particle beam microscope. - 特許庁

走査型電子顕微鏡を用いた試料表面の微細立体形状の観察法例文帳に追加

OBSERVATION METHOD FOR FINE THREE-DIMENSIONAL SHAPE ON SURFACE OF SAMPLE USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁