「電子走査」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

シフトレジスタ、走査線駆動回路、データ線駆動回路、電気光学装置及び電子機器例文帳に追加

SHIFT REGISTER, SCANNING LINE DRIVE CIRCUIT, DATA LINE DRIVE CIRCUIT, ELECTRO-OPTICAL DEVICE, AND ELECTRONIC DEVICE - 特許庁

電子走査型レーダ装置、受信波方向推定方法及び受信波方向推定プログラム例文帳に追加

ELECTRON SCANNING TYPE RADAR DEVICE, RECEIVED WAVE DIRECTION ESTIMATION METHOD, AND RECEIVED WAVE DIRECTION ESTIMATION PROGRAM - 特許庁

透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）、走査透過型電子顕微鏡（ＳＴＥＭ）、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）、集束イオン・ビーム（ＦＩＢ）システムなどの集束粒子ビーム・システム用の荷電粒子源を提供すること。例文帳に追加

To provide a charged particle source for a focused particle beam system such as a transmission electron microscope (TEM), scanning transmission electron microscope (STEM), scanning electron microscope (SEM), or focused ion beam (FIB) system. - 特許庁

走査型電子顕微鏡において、一次電子線や二次電子の偏向量が少なくなる最適な走査方法を決定して安定した画像を取得できるようにするものである。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope capable of determining an optimum scanning method which reduces deflection amounts of primary electron beams and secondary electrons, and obtaining a stable image. - 特許庁

走査電子顕微鏡における一般的な対物レンズを用いて試料の走査透過電子像を取得する際に、像取得時での分解能を向上させることのできる試料ホルダ及び電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a sample holder and an electron microscope, capable of improving resolution in acquiring an image when an scanning transmission electron image of a sample is acquired by using a general objective lens of the scanning electron microscope. - 特許庁

本発明は走査型電子顕微鏡に関し、１次ビーム電流が小さい場合や試料の２次電子放出効率が小さくてもコントラストの良い画像を得ることができる走査型電子顕微鏡を提供することを目的としている。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope capable of obtaining an image with a superior contrast even if a primary beam current is small and efficiency of a secondary electron emission is small. - 特許庁

一周期の電子ビーム走査の終了時刻ｔ_1から次周期の走査開始時刻ｔ_2までの期間Ｔ_bの間、電子ビームに対してブランキング操作を行い、試料上に電子ビームが照射されないようにする。例文帳に追加

During a period Tb from the finishing time t1 of one cycle of electron beam scanning to the scanning starting time t2 of the next cycle, a blanking operation is performed to the electron beam to prevent a sample from being irradiated with the electron beam. - 特許庁

以上の条件で、一次電子ビームＥＢを走査することで、試料面上の所定位置に常に電子ビームが照射され、試料１８に対する電子ビームの入射角度が連続的に走査される。例文帳に追加

Under these conditions, the primary electron beam EB is scanned to always irradiate a prescribed position on the sample surface and is scanned continuously with an incident angle of the electron beam on the sample 18. - 特許庁

電子線の走査可能範囲に応じて検査領域を分割して電子線を走査し、分割した検査領域の電子線像を分割の前後で連続して取得する構成とする。例文帳に追加

This device has such a constitution that the inspection region is divided corresponding to the scannable range of the electron beam and the electron beam is scanned, and that electron beam images in the divided inspection region are acquired continuously both before and after the division. - 特許庁

試料からの電子の内特定のエネルギーの電子を選択的に検出することができる走査電子顕微鏡を実現する。例文帳に追加

To realize a scanning electron microscope which is capable of selectively detecting electrons having specified energy in secondary electrons from a sample. - 特許庁

走査電子顕微鏡１の電子ビームＢの集束状態を検出するために電子ビーム照射面１３ａを使用する。例文帳に追加

An electron beam irradiation surface 13a is used for detecting a focusing state of an electron beam B of a scanning electron microscope 1. - 特許庁

低真空下でも２次電子を検出でき、２次電子像の観察を行うことができる走査電子顕微鏡を実現する。例文帳に追加

To realize a scanning electron microscope, in which secondary electrons can be detected even under a low vacuum, and an observation of a secondary electron image can be performed. - 特許庁

電子スピン検出器並びにそれを用いたスピン偏極走査電子顕微鏡及びスピン分解光電子分光装置例文帳に追加

ELECTRON SPIN DETECTOR, SPIN POLARIZATION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USING THE SAME, AND SPIN DECOMPOSED-LIGHT ELECTRON SPECTROSCOPE - 特許庁

これを順次繰り返し電子線走査範囲の反射電子像または透過電子像を得ることができる。例文帳に追加

By repeating this sequentially, the reflected electron image or the transmission electron image of the electron beam scanning range can be obtained. - 特許庁

新規で有用な微小電子源およびこの微小電子源を用いた電子線走査型分析装置を提供すること。例文帳に追加

To provide a useful minute electron source and an electron beam scanning analyzer using the electron source. - 特許庁

電子線の偏向歪補正方法、及び歪補正手段を有する電子線露光装置、走査型電子顕微鏡例文帳に追加

DISTORTION COMPENSATING METHOD OF ELECTRON-RAY DEFLECTION, ELECTRON-RAY EXPOSURE DEVICE WHICH HAS DEFLECTION DISTORTION COMPENSATING MEANS, AND SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

大気圧の変動、低周波音による影響を除去した走査電子顕微鏡や電子ビーム描画装置等の電子ビーム装置を実現する。例文帳に追加

To provide electron beam devices such as a scanning electron microscope and an electron beam drawing device wherein influences of an atmospheric pressure fluctuation and a low-frequency sound are eliminated. - 特許庁

電子顕微鏡１２は、電子走査型であり、劣化促進後の試験体Ｔに電子線を照射して試験体Ｔの形状を測定する。例文帳に追加

The electron microscope 12 electronically scans, radiates an electron beam to the tested element T after the deterioration has been promoted, and measures a shape of the tested element T. - 特許庁

走査型又は透過型電子顕微鏡、オージェ電子分光装置等の表面分析装置、電子線露光機、特に、電子ビームの加速電圧が１ｋＶ以下の低加速で用いられる走査型電子顕微鏡、ＣＤ ＳＥＭ、ＤＲＳＥＭ等の半導体ウェハ検査装置に用いられる電子源を提供する。例文帳に追加

To provide an electron source which is used for a semiconductor wafer inspection device such as a scanning or transmission electron microscope, a surface analyzer like an Auger electron spectroscopic analyzer, an electron beam exposure apparatus, especially a scanning electron microscope using an electron beam accelerated with low voltage of 1 kV or less, a CD SEM, or a DRSEM. - 特許庁

電子ビームを照射して感光体試料３０上に帯電電荷を生成させる手段と、静電潜像を形成させるための露光光学系と、試料面を電子ビームで走査する走査手段と、を有し、走査で得られる検出信号により試料３０面の静電潜像分布を測定する装置。例文帳に追加

The device includes a means which irradiates an electron beam and charges a photoconductor sample 30, an exposure optical system which forms the electrostatic latent image, and a scanning means which scans the surface of a sample by the electron beam and measures an electrostatic latent image distribution on the surface of the sample 30 by a detection signal obtained by the scanning. - 特許庁

走査されている電子ビームを試料に照射して得られる信号Ｘ線検出装置５からの信号は、Ｙ方向走査の全期間で、かつ、電子ビームが試料表面上で等速的に走査されている期間だけ取り込むように、選別器１１ｃで選別される。例文帳に追加

The signal from the signal X-ray detecting device 5 that is obtained by irradiating the scanning electron beam on a sample is selected by a selector 11c in the total period of Y-direction scanning so that it may be taken in the period when the electron beam is scanned on the sample surface in a constant speed. - 特許庁

本発明は２次電子・反射電子検出装置及び２次電子・反射電子検出装置を有する走査電子顕微鏡に関し、２次電子信号と反射電子信号を選択的に検出することを目的としている。例文帳に追加

To selectively detect a secondary electron signal and a reflected electron signal regarding a secondary electron-reflected electron detecting device and a scanning electron microscope having the secondary electron-reflected electron detecting device. - 特許庁

露光用マスクを製造するための遮光層およびレジスト層をこの順に積層した後、所定の走査幅をもってＹ方向に相対的に走査される電子ビームＥＢの走査領域ＥＡを１走査毎にＸ方向に相対移動させながらレジスト層に描画する際に、前記走査を２サイクル以上繰り返す。例文帳に追加

After a light-shielding layer and a resist layer to produce an exposure mask are formed in this order, a pattern is drawn in the resist layer by scanning with electron beams EB relatively in the Y direction with specified scanning width while relatively moving the scanning region EA in the X direction for every scanning period. - 特許庁

線幅測定調整方法は、第１の倍率において走査される電子ビームの第１の電子ビーム強度分布と、第２の倍率において走査される電子ビームの第２の電子ビーム強度分布とが同等になるように前記第２の電子ビーム強度分布を調整することを含む。例文帳に追加

This linewidth measurement regulation method includes regulation for the second electron beam intensity distribution to make the first electron beam intensity distribution of an electron beam scanned in the first magnification equal to the second electron beam intensity distribution of an electron beam scanned in the second magnification. - 特許庁

電子銃１からの電子ビームで試料４上の観察すべき領域を二次元的に走査し、この走査により二次電子検出器３１で検出された観察領域からの二次電子に基づく信号により表示装置３４に観察領域の二次電子像を表示させる。例文帳に追加

The region on the sample 4 that should be observed is scanned two-dimensionally with an electron beam from an electron gun 1, and a secondary electron image in the observation is displayed in a display device 34 by a signal based on a secondary electron from the observation region inspected at a secondary electron inspection device 31 by this scanning. - 特許庁

マルチビーム型の走査型電子顕微鏡を改良し、その結像性能を向上させることにより、高速で解像度の良い走査型電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope with high speed and resolution by upgrading a multi-beam type scanning electron microscope and improving its image forming performance. - 特許庁

目視官能評価によらない走査形電子顕微鏡の性能評価を行い、走査形電子顕微鏡の経時変化や個体間の性能差を低減する。例文帳に追加

To evaluate the performance of a scanning electron microscope without using visual sensory evaluation to reduce aging effect and a performance difference between individuals of the scanning electron microscope. - 特許庁

小型で、短時間で対物レンズの用途切替ができる走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の対物レンズの用途切替方法を提供することを課題とする。例文帳に追加

To provide a compact scanning electron microscope and a method for switching the objective lens usage of the scanning electron microscope, enabling a usage change of the objective lens in a short time. - 特許庁

本発明は、永久磁石により構成されるコンデンサレンズを使用した走査電子顕微鏡において、プローブ電流の大きさを可変できる走査電子顕微鏡を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope capable of varying the magnitude of probe current in one using a condenser lens formed by a permanent magnet. - 特許庁

取得画像の像質や分解能の劣化を防ぐことができる走査型電子顕微鏡、および走査型電子顕微鏡の画像の改良方法を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope capable of preventing the degradation of image quality and resolution of an acquired image, and to provide a method of improving a scanning electron microscope image. - 特許庁

スペーサが配置された走査線と接続した電子源のエミッション特性が他の走査線と接続した電子源のエミッション特性と異なる。例文帳に追加

Emission characteristics of an electron source connected to the scanning line on which the spacer is arranged are different from the emission characteristics of the electron sources connected to the other scanning lines. - 特許庁

走査型電子顕微鏡装置において、偏向制御系によって電子ビームを走査させながら同時に焦点制御系によって焦点位置を変化させる。例文帳に追加

In the scanning electron microscope system, the focal position is varied by a focus controlling system as an electron beam is scanned by a deflection controlling system. - 特許庁

走査電子顕微鏡の試料室外もしくは試料室内に、走査電子顕微鏡の観察面に対して斜め方向に光を照射して反射光を検出する光学顕微鏡ユニット２４を設ける。例文帳に追加

An optical-microscope unit 24, which detects reflected light while emitting light in an oblique direction to the observation face of a scanning electron microscope, is provided inside or outside a sample chamber of the scanning electron microscope. - 特許庁

電子線の走査時に２本の探針４から出力される吸収電流を、電子線１の走査に連動させて吸収電流像１３，１５を出力する試料検査装置に、以下の仕組みを採用する。例文帳に追加

A sample inspection device for outputting absorption current images 13 and 15 by interlocking an absorption current output from two probes 4 into scanning an electron beam 1 at the time of scanning an electron beam adopts the following configuration. - 特許庁

二つの電子源間に走査信号配線を配置し、この走査信号配線と前記二つの電子源の一方との電気的絶縁を確実に行い、素子分離の信頼性を確保する。例文帳に追加

To provide an image display device in which a scanning signal wiring is arranged between two electron sources and electric insulation between the scanning signal wiring and the one of the two electron sources is surely made and reliability of an element separation is secured. - 特許庁

光学顕微鏡での観察に使用したスライドガラスをそのまま観察試料として使用可能な、走査電子顕微鏡用試料ホルダおよび当該試料ホルダを搭載した走査電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a sample holder for a scanning electron microscope which can use a slide glass using for observation by an optical microscope as an observation sample as it is, and also to provide the scanning electron microscope on which the sample holder is mounted. - 特許庁

収差補正器を搭載した走査透過電子顕微鏡において、従来よりも簡便で取り扱いやすい収差補正器の調整方法、および当該機能を備えた走査透過電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a simpler and easy-to-use method for adjustment of an aberration correction apparatus in a scanning transmission electron microscope with built-in aberration correction apparatus, and to provide a scanning transmission electron microscope with such a functionality. - 特許庁

試料上における走査範囲が変化しても、明視野信号電子と暗視野信号電子を明確に分離し、高精度の明視野信号像と暗視野信号像を得ることができる走査透過荷電粒子線装置を提供することにある。例文帳に追加

To provide a transmission-type scanning charged-particle beam device capable of obtaining highly precise bright and dark field signal images, by clearly separating a bright field signal electron from a dark field signal electron even if a scanning range on a sample changes. - 特許庁

本発明は、走査透過像と電子線回折像を用いた結晶方位合せにおいて、走査透過像における試料の結晶配列方向と、電子線回折像の方向を一致させることに関する。例文帳に追加

A crystal arrangement direction of the sample in a scanning transmission image and a direction of an electron beam diffraction image are to be coincided with each other in crystal orientation direction alignment using the scanning transmission image and the electron beam diffraction image. - 特許庁

本発明の目的は、動画の撮影・保存と静止画撮影・保存がいずれも可能な走査電子顕微鏡、特に動画の撮像・保存と、高画質な静止画像が撮影できる走査電子顕微鏡を提供することにある。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope capable of attaining both photographing and preservation of a moving image and a still image and especially attaining photographing and preservation of the moving image and photographing of the still image with high image quality. - 特許庁

走査信号のパルスが所定の時間以上維持されると，走査駆動部または電源供給部の駆動を制御して電子放出表示装置を保護するようにする電子放出表示装置およびその駆動方法を提供する。例文帳に追加

To provide an electron emission display device, capable of controlling the driving of a scan drive part or a power supply part so as to protect the electron emission display, when pulses of scan signals are maintained for a prescribed time or longer, and to provide a drive method therefor. - 特許庁

電子ビームの走査領域中の画像を取り込む領域を単位として試料を仮想的に格子状に区画した各区画に対して電子ビームの走査が行われるように試料が移動される。例文帳に追加

A sample is moved such that an electron beam can be scanned for each partition, in which the sample has been virtually partitioned in a lattice form, by making a region where an image in a scanned region of the electron beam is taken in, a unit. - 特許庁

本発明は断面観察用走査電子顕微鏡に関し、観察断面が明るく見えるような断面観察用走査電子顕微鏡を提供することを目的としている。例文帳に追加

To provide a cross-section observation scanning electron microscope for allowing the bright view of an observed cross section. - 特許庁

真空外囲器１０の３つのネック２２には、電子ビームにより蛍光体スクリーンを３の分割走査領域に分けて走査する電子銃がそれぞれ配置されている。例文帳に追加

An electron gun, which scans a fluorescent screen with an electron beam by dividing it into 3 scanning areas, is arranged on each of three necks 22 of a vacuum envelope 10. - 特許庁

真空外囲器の２つのネックには、電子ビームにより蛍光体スクリーンを２つの走査領域に分割して走査する電子銃がそれぞれ配置されている。例文帳に追加

Electron guns which divide a phosphor screen into two scan area to scan them with electron beams are arranged in two necks of a vacuum housing. - 特許庁