「電子走査」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

蛍光体スクリーンは、複数の電子銃からの電子ビームにより複数の領域に分割して走査され、各走査領域は隣接する他の走査領域と重なる重複領域Ｃを有している。例文帳に追加

A fluorescence screen is divided into a plurality of areas by an electron beam from a plurality of electron guns to be scanned, and each of scanned area has an overlapping area overlapping with an adjacent another scanned area. - 特許庁

電子走査式超音波プローブが接続される超音波観測装置に、必要に応じて電子フォーカスを行うことができる機械走査式超音波プローブを接続して超音波機械走査を行なえるようにする。例文帳に追加

To perform ultrasonic mechanical scanning by connecting a mechanical scanning type ultrasonic probe capable of electronic focusing as needed to an ultrasonic observation apparatus connected to an electronic scanning type ultrasonic probe. - 特許庁

電子線等を使用した走査型荷電粒子ビーム顕微鏡において、走査信号に同期して走査画像を記憶装置に取り込む際に、電子回路の遅延を可変段数のシフトレジスタにより補正して取り込む。例文帳に追加

In this scanning type charged particle beam microscope using an electron beam etc., when a scanning image is taken-in in a memory device synchronizing with a scanning signal, a delay of the electronic circuit is corrected and taken-in by a shift registor having variable number of steps. - 特許庁

電子線源から発生させた電子ビームで試料を走査する電子線装置において、走査の際に電子ビームを偏向する所望の各偏向位置と実際の各偏向位置とのズレを良好に較正し、電子ビームの走査速度の変動を低減する。例文帳に追加

To reduce variation in scanning speed of electron beam by calibrating the displacement between each desired deflection position and each actual deflection position of the electron beam well during scanning. - 特許庁

知られた方法は、走査透過電子顕微鏡を使用することを伴うと共に、ＳＴＥＭの回折の走査されたビームを使用する。例文帳に追加

The known method includes using a scanning transmission electron microscope, and also using a scanned diffraction beam of the STEM. - 特許庁

試料のシュリンクによる測長精度の低下を改善する走査電子顕微鏡の走査法を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning method for a scanning electron microscope improving degradation of length measuring precision by shrink of a sample. - 特許庁

さらに中央制御手段１９は、電子線を試料１１上で走査させるための走査信号Ｓ_Oを、偏向コイル制御回路１８に送る。例文帳に追加

Furthermore, the central control means 19 sends a scanning signal S0 for letting the electron beam scan on the sample 11 to a deflecting coil control circuit 18. - 特許庁

本発明は低加速電圧領域で空間分解能の高い走査像を得ることの出来る走査形電子顕微鏡を提供することを目的としている。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope which produces scanning image with high space resolution at a low-acceleration voltage area. - 特許庁

複数の走査された文書から単一電子走査ジョブを作成するシステム及び方法を提供する。例文帳に追加

To provide a system and method for creating a single electronic scan job from a plurality of scanned documents. - 特許庁

走査歪みを計測し、校正することで歪みの無い走査電子顕微鏡像を取得するための方法及び装置を提供する。例文帳に追加

This application provides a method and device for acquiring a scanning electron microscope image without distortion by measuring and calibrating scanning distortion. - 特許庁

この電子放出素子１６の上部電極５１は、給電狭小部５２を介して隣接する走査配線（図では上の走査配線）に接続される。例文帳に追加

An upper electrode 51 of the electron emitting element 16 is connected to the adjacent scanning wire (the upper scanning wire in fig.) through a power-feed narrow part 52. - 特許庁

ＭＣＡ５は、電子ビームが試料１上の走査領域のどの位置に照射されているかを認識し、その走査位置におけるスペクトルを検知する。例文帳に追加

An MCA(multichannel analyzer) 5 confirms which position of the scanning region on a sample 1 is irradiated with electron beam to detect the spectrum at the scanning position. - 特許庁

往路走査において、振動子ユニットがプリセット位置に到達すると一方方向への電子走査が開始される。例文帳に追加

Electronic scanning is started in one direction when the vibrator unit reaches a preset position in the forward scanning. - 特許庁

データ線駆動回路、走査線駆動回路、表示装置、電子機器、データ線駆動方法、走査線駆動方法及びコンピュータプログラム例文帳に追加

DATA LINE DRIVE CIRCUIT, SCANNING LINE DRIVE CIRCUIT, DISPLAY APPARATUS, ELECTRONIC EQUIPMENT, DATA LINE DRIVE METHOD, SCANNING LINE DRIVE METHOD, AND COMPUTER PROGRAM - 特許庁

すなわち、行走査による第１段階と分離して、行走査によらない第２段階の電子放出を全画素一斉に行う。例文帳に追加

Electrons are emitted in a second stage from all the pixels, independent of row scanning, separately from a first stage based on the row scanning. - 特許庁

その状態で振動子ユニット２２が機械走査されつつ、同時に電子走査が繰り返し行われ、これによって三次元エコーデータが取得される。例文帳に追加

The oscillator unit 22 performs mechanical scan under the state and simultaneously performs electronic scan repeatedly, and consequently, three-dimensional echo data is acquired. - 特許庁

信号配線１３と走査配線１５は交差し、交差した走査配線１５の開口凹部に電子放出素子１６が形成されている。例文帳に追加

Signal wires 13 intersect with scanning wires 15, and an electron emitting element 16 is formed in an opening recessed part of each intersecting scanning wire 15. - 特許庁

走査フレームサイクル間でラスタ走査領域を調整することによって、画像標本上の電子露光を制御するためのシステムおよび方法例文帳に追加

To provide a system and method for controlling electron exposure on image specimens by adjusting a raster scan area in-between scan frame cycles. - 特許庁

電子的走査と機械的走査を組み合わせて得られる三次元画像における画像の不連続性を低減する。例文帳に追加

To reduce discontinuity of images in a three-dimensional image acquired by combining electronic scanning and mechanical scanning. - 特許庁

復路走査においては、メモリ上に記憶された終了位置に振動子ユニットが到達するごとに電子走査が開始される。例文帳に追加

The electronic scanning is started every time the vibrator unit reaches the end position stored in the memory in the backward scanning. - 特許庁

走査線の走査方向が反転しても輝度傾斜の切り換えが目視で視認し難い液晶表示装置及び電子機器を提供する。例文帳に追加

To provide a liquid crystal display and electronic equipment, capable of hardly confirming visibly the switching of luminance gradient, even when reversing a scanning direction of a scanning line. - 特許庁

主走査用送り方法および主走査用送り装置、並びに液滴吐出装置、電気光学装置の製造方法、電気光学装置、電子機器例文帳に追加

FEED METHOD FOR MAIN SCANNING AND FEED DEVICE FOR MAIN SCANNING, LIQUID DROP DELIVERY DEVICE, METHOD FOR MANUFACTURING ELECTRO-OPTICAL DEVICE, ELECTRO-OPTICAL DEVICE AND ELECTRONIC INSTRUMENT - 特許庁

電子ビームの走査位置を容易に検出できるようにすると共に、検出した走査位置に基づいて画像表示の補正を行うことを可能にする。例文帳に追加

To easily detect a scanning position of an electron beam and correct image display on the basis of the detected position. - 特許庁

走査を実行しそのイメージを左右に鏡映し、その走査イメージを表す電子信号を送信する。例文帳に追加

The written characters are scanned, its image 110 is reflected right and left and an electric signal expressing the scanned image 10 is transmitted. - 特許庁

電子線ｅは必要に応じ走査コイル４で評価試料Ｓの面上を任意の方向、例えば直径方向に走査される。例文帳に追加

The electron beam (e) scans the surface of the assessment sample S in any arbitrary direction such as in a diametric direction, for example, using a scan coil 4 as needed. - 特許庁

ＣＣＤ駆動系(23)は電子シャッター機能を有し、往路走査と復路走査とで計測感度を所定比率に切り替える。例文帳に追加

A CCD drive system (23) has an electronic shutter function and switches measuring sensitivity of the going way scan and the returning way scan to a specific ratio. - 特許庁

この際、電子変倍処理における主走査方向及び副走査方向の各々の変倍率を相違させる。例文帳に追加

At this time, respective variable power rates in the main scanning direction and the sub-scanning direction in the electronic variable power processing are made different. - 特許庁

電子写真装置の光走査装置において、異なる印刷密度に対応し、共通に使用できる光走査装置を提供すること。例文帳に追加

To provide an optical scanner for electrophotographic device, which can cope with different printing densitys and can be used in common. - 特許庁

さらに、指定された各点位置間を前記電子ビームにより直線走査する走査ステップを有する。例文帳に追加

The method has further a scan step to carry out serial scanning between the positions of the specified individual points with the electron beam. - 特許庁

ステアリング機構１４は、約１０ＭＨｚ以上の走査周波数で陽極板１６を横切って電子ビーム２０を走査する。例文帳に追加

The steering mechanism 14 runs the electron beam 20 across the positive electrode plate 16 at a running frequency around 10 MHz or higher. - 特許庁

また、電子線Ｂを走査する代わりに、可動ステージ２０２（特にスキャナ２０４）を用いて試料Ｓを走査する。例文帳に追加

A sample S is scanned by using a movable stage 202 (in particular, a scanner 204) instead of running an electron beam B. - 特許庁

キャリッジ走査領域が短いために、キャリッジ走査機構のたわみ等によるキャリッジ走査精度の低下がなく、高精度なキャリッジ走査を行うことができ、この製作装置によって製作される電子源基板もその電子放出素子部を高精度なものとする。例文帳に追加

To manufacture an electron emission element on an electron source substrate with high precision by using a manufacturing device for the electron source substrate, since the manufacturing device has a small carriage-scanning area and can carriage- scan the electron source substrate with high scanning precision without reduction in the carriage-scanning precision by carriage-scanning structure's flexure or the like. - 特許庁

複数の走査磁石３，７と走査磁石３，７で走査された電子線を偏向する複数の偏向磁石５、９とを備える電子線偏向手段を用い、この電子線偏向手段から照射される電子線を容器１５に照射することによって容器１５を殺菌する殺菌装置である。例文帳に追加

This sterilization device sterilizes a container 15, by radiating electron beams radiated from an electron beam deflecting means under an application of the electron beam deflecting means comprising a plurality of scanning magnets 3, 7 and a plurality of deflecting magnets 5, 9 for deflecting electron beams scanned by the scanning magnets 3, 7. - 特許庁

電子ビームの軸調整を容易に行うことができる走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の制御方法並びに電子ビームの軸調整方法を提供する。例文帳に追加

To provide a scanning electron microscope capable of easily controlling an electron beam axis, a control method of the scanning electron microscope, and an electron beam axis control method. - 特許庁

ユーザが設定した電子ビームの照射位置と実際の電子ビームの照射位置を正確に一致させ、高精度な校正可能な走査型電子顕微鏡の校正方法及び走査型電子顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide a calibration method of a scanning electron microscope and the scanning electron microscope capable of being precisely calibrated by making an irradiation position of an electron beam set by a user coincident with an actual irradiation position of the electron beam. - 特許庁

電子銃１１から放出された電子線を細く絞り、膜形成された試料上を走査し、走査点から放出された反射電子又は二次電子を検出して試料の膜内部に存在する欠陥を検出する。例文帳に追加

The electron beam emitted from an electron gun 11 is throttled narrow and scans a sample formed with a film and detects the defect existing inside the film of the sample by detecting the reflected electrons or the secondary electrons emitted from the scanning point. - 特許庁

走査型プローブ顕微鏡装置１は、試料Ａがセットされる試料台３を有する走査型電子顕微鏡２と、前記試料台３に装着される走査型プローブ顕微鏡４とを具備する。例文帳に追加

A scanning probe microscope apparatus 1 comprises a scanning electron microscope 2 having a sample base 3 on which a sample A is set and a scanning probe microscope 4 mounted on the sample base 3. - 特許庁

２つの電子源ＥＬＳのそれぞれは、それぞれ近接する走査信号配線ＧＬ対の近い側の走査信号配線ＧＬから走査信号が給電される。例文帳に追加

Each of the two electron sources ELS is supplied with a scanning signal from the scanning signal wiring GL on a closer side of the scanning signal wiring GL pairs respectively in close position. - 特許庁

ここで、観察倍率を変える場合には、倍率制御器７によって走査信号発生器６からの走査信号を制御し、試料４上の一次電子ビームＥＢの走査範囲を変える。例文帳に追加

When the magnification of observation is changed, scanning signals from a scanning signal generator 6 are controlled by a magnification controller 7, to change the scanning range of a primary electron beam EB on the sample 4. - 特許庁

超音波プローブ１０は、アレイ振動子３０による電子的走査とモータによる機械的走査の組み合わせにより三次元的に超音波を走査させるメカニカル３Ｄプローブである。例文帳に追加

This ultrasonic probe 10 is the mechanical 3D probe for three-dimensionally scanning ultrasonic waves by a combination of an electronic scan by an array transducer 30 and a mechanical scan by a motor. - 特許庁

液晶ディスプレイを中心とする電子機器における走査線変換装置において走査線変換後の水平同期信号発生回路の水平カウンタが一つだけで走査線変換を可能とすることを目的とする。例文帳に追加

To perform a scanning line conversion with only one horizontal counter in a horizontal synchronizing signal generating circuit after performing the scanning line conversion in a scanning line conversion device of an electronic apparatus provided with a liquid crystal display mainly. - 特許庁

走査線と電子源１０の上部電極との接続と、走査線と他の走査線との絶縁を別構成としたので、信頼性の高い、かつ、製造歩留まりの高い表示装置を得ることができる。例文帳に追加

Since connection between the scanning line and the upper part electrode of the electron source 10 and insulation between the scanning line and the other scanning lines have separate constitutions, the display device superior in reliability and superior in manufacturing yield can be obtained. - 特許庁

機械走査を行いながら電子走査を繰り返し実行することにより三次元エコーデータ取込空間を形成する超音波診断装置において、実走査面の傾きが生じることによる画像の歪みなどの問題を解消する。例文帳に追加

To solve problems such as the distortion of images due to the generation of the inclination of an actual scanning surface in an ultrasonic diagnostic apparatus which forms a three-dimensional echo data acquisition space by repeatedly executing electronic scanning while executing mechanical scanning. - 特許庁

電子黒板に描かれた線図のうち、表示パネルに対応する部分以外の線図（余白部分）の走査と、表示パネルに対応する部分の線図（画像表示部分）の走査とで、走査モードを区別する。例文帳に追加

About the chart drawn on the electronic blackboard, the scanning mode employed for scanning the chart except the portion corresponding to the display panel (a marginal portion) is made to be different from he scanning mode for scanning the chart of the portion corresponding to the display panel (an image displaying portion). - 特許庁

対物レンズ、走査デフレクタ、反走査デフレクタ、エネルギーフィルタ・ドリフトチューブ、および領域分割された検出器を含む電子ビーム走査装置に関する位置実施形態を開示する。例文帳に追加

This is to disclose a position embodiment relating to an electron beam scanning device which includes an objective lens, a scanning deflector, an anti-scanning deflector, an energy-filter drift tube, and a detector split in region. - 特許庁