「電子走査」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

照射対象物体６に対して面状電子流２を走査する走査器が追加される。例文帳に追加

A scanner is added to scan the planary electron current 2 on the object 6. - 特許庁

超音波ビームを繰り返し電子走査することによって複数の走査面（フレーム）が形成される。例文帳に追加

By repeatedly electronically scanning an ultrasonic beam, a plurality of scanned surfaces (frames) is formed. - 特許庁

走査型電子顕微鏡及び電子線プローブマイクロアナライザー例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM PROBE MICROANALYZER - 特許庁

走査電子顕微鏡等の低真空二次電子検出装置例文帳に追加

LOW VACUUM OF SECONDARY ELECTRON DETECTING APPARATUS SUCH AS SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, ETC - 特許庁

走査透過電子顕微鏡及びそれを用いた電子線エネルギー分光方法例文帳に追加

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND ELECTRON BEAM ENERGY SPECTROSCOPY USING IT - 特許庁

電子ビームの走査条件を決定する電子線露光装置及び方法例文帳に追加

ELECTRON BEAM EXPOSURE APPARATUS AND METHOD FOR DETERMINING SCANNING CONDITION OF ELECTRON BEAM - 特許庁

微小電子源とこれを用いた電子線走査型分析装置例文帳に追加

MINUTE ELECTRON SOURCE AND ELECTRON BEAM SCANNING ANALYZER USING THE SAME - 特許庁

補間走査面Ｒ，Ｒ’は電子走査方向であるｙ方向に平行であり、すなわち機械走査方向（ｘ方向）に直交している。例文帳に追加

The interpolation scanning planes R and R' are parallel to a direction y which is an electronic scanning direction, that is orthogonal to a mechanical scanning direction (direction x). - 特許庁

そして、次周期の走査開始と同時、あるいは開始後にブランキングを解除して、期間Ｔ_iの間、電子ビームを主走査方向に走査する。例文帳に追加

At the same time as the next cycle of scanning starts or after the starting, the blanking is terminated to perform electron beam scanning in the main scanning direction for a period Ti. - 特許庁

光を高速に走査することが可能な走査光学系、その走査光学系を用いる画像表示装置、及び電子機器を提供すること。例文帳に追加

To provide a scanning optical system capable of scanning light at high speed, an image display apparatus using this scanning optical system, and electronic equipment. - 特許庁

アレイ振動子の電子走査及び機械走査により三次元空間を走査する超音波診断装置において、機械走査の高レート化及び走査の一様化を図る。例文帳に追加

To improve the rate of mechanical scanning and to equalize scanning in ultrasonic diagnostic instrument for scanning a three-dimensional space by electronical scanning and mechanical scanning of an array vibrator. - 特許庁

これによって、復路走査における電子走査の開始位置を適応的に設定できるので、往路走査と復路走査とで走査面の位置関係を適正にすることができる。例文帳に追加

Thus, since a starting position of the electronic scanning in the backward scanning can be adaptively set, the positional relationship of the scanning surfaces can be properly set between the forward scanning and the backward scanning. - 特許庁

走査型電子顕微鏡は電界放射型の走査型電子顕微鏡が好ましく、電子線加速電圧は２ｋＶ以下が好ましい。例文帳に追加

A field emission scanning electron miscroscope is preferably employed and the electron beam acceleration voltage is preferably set ≤2 kV. - 特許庁

電子銃アライメント偏向コイル１０，１１には走査電源の大きなダイナミックレンジの走査信号（大きな振幅の走査信号）が供給され、電子ビームの走査が行われる。例文帳に追加

A scanning signal of large dynamic range (a scanning signal of large amplitude) of a scanning power supply is supplied to electron gun alignment deflection coils 10 and 11 to scan electron beam. - 特許庁

電子線を偏向させて主走査方向に１ラインの走査を行い、電子線が照射されるマスク基板を副走査方向に移動して二次元走査が行われる。例文帳に追加

A scanning of one line is performed in the main scanning direction by deflecting an electron beam, and a two-dimensional scanning is performed by moving a mask substrate irradiated by the electron beam in the sub scanning direction. - 特許庁

電子走査開始位置指示部３６は、各走査面の中心が等間隔となるように、モータ駆動速度波形に基づいて各走査面の電子走査を開始すべきアレイ振動子のＺ座標を計算する。例文帳に追加

An electronic scanning starting position indication part 36 calculates the Z coordinate of the array vibrator where electronical scanning of respective scanning surfaces has to be started based on a motor driving speed waveform so that the centers of the individual scanning surfaces are arranged at regular intervals. - 特許庁

電子顕微鏡は2つのタイプに分類できる: 透過電子顕微鏡と走査電子顕微鏡である。例文帳に追加

Electron microscopes are divided into two types: transmission electron microscopes and scanning electron microscopes.  - 科学技術論文動詞集

二次電子検出器の二次電子収集効率を電子線走査領域内で均一とする。例文帳に追加

To make uniform the collection efficiency of secondary electrons of a secondary electron detector within an electron beam scanning region. - 特許庁

走査電子顕微鏡において、多数の２次電子を電子検出部に導くこと。例文帳に追加

To guide a large number of secondary electrons to an electron detection part, in a scanning electron microscope. - 特許庁

走査電子顕微鏡を備えた外観検査装置及び走査電子顕微鏡を用いた画像データの処理方法例文帳に追加

APPEARANCE INSPECTION APPARATUS WITH SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE DATA PROCESSING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査型電子顕微鏡及びそれを用いたパターン計測方法並びに走査型電子顕微鏡の機差補正装置例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, PATTERN MEASURING METHOD USING THE SAME, AND APPARATUS FOR CORRECTING DIFFERENCE BETWEEN SCANNING ELECTRON MICROSCOPES - 特許庁

走査型電子顕微鏡、その保守・管理プログラム、保守・管理方法および走査型電子顕微鏡システムにおける資源割り当て方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, ITS MAINTENANCE/MANAGEMENT PROGRAM, MAINTENANCE/MANAGEMENT METHOD, AND RESOURCE ALLOCATION METHOD IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM - 特許庁

走査電子顕微鏡における電子ビーム走査軸とステージ移動軸のずれ及びステージの移動誤差の測定方法及び補正方法。例文帳に追加

MEASUREMENT METHOD AND CORRECTION METHOD OF THE DEVIATION OF ELECTRON BEAM SCANNING AXIS WITH STAGE MOVING AXIS AND STAGE MOVING ERROR IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸調整方法及び走査透過電子顕微鏡例文帳に追加

INCIDENT AXIS ADJUSTING METHOD OF SCATTERED ELECTRON BEAM AGAINST ANNULAR DARK FIELD SCANNING IMAGE DETECTOR, AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査電子顕微鏡の自動検出シーケンスファイル作成方法及び走査電子顕微鏡の自動測長シーケンス方法例文帳に追加

METHOD FOR FORMING AUTOMATIC SEQUENCE FILE SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD OF AUTOMATIC MEASURING SEQUENCE - 特許庁

電子線射出口９を、走査磁石１６による電子線ＥＢの走査方向に沿って設けられたスリットによって構成する。例文帳に追加

The electron beam exit wound 9 is comprised of a slit prepared along the scanning direction of electron beams EB with the scanning magnet 16. - 特許庁

走査型電子顕微鏡装置及び走査型電子顕微鏡装置における装置としての再現性能評価方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND REPRODUCIBILITY EVALUATION METHOD AS DEVICE IN THE SAME - 特許庁

時分割受信型電子走査型レーダにおいても、方向性を利用した干渉抑圧が可能な、電子走査式レーダ装置の提供例文帳に追加

To provide an electronic scanning type radar device capable of interference suppression utilizing directivity, even in a time-sharing reception type electronic scanning type radar. - 特許庁

走査型電子顕微鏡または走査透過型電子顕微鏡における色収差および開口収差を除去する。例文帳に追加

To provide a correction device in which a chromatic aberration and an aperture aberration in a scanning electron microscope or a scanning transmission type electron microscope are removed. - 特許庁

電子走査型レーダにおいて簡易な構成で干渉抑圧が可能な、電子走査式レーダ装置の提供例文帳に追加

To provide an electronic scanning type radar device capable of suppressing interference by a simple constitution in the electronic scanning type radar device. - 特許庁

イオンミリングによって試料の表面を削り取り、走査電子顕微鏡による走査像を観察し、ケミカルエッチングによって試料の表面を除去し、再度、走査電子顕微鏡による走査像を観察することによって、走査顕微鏡用の試料を作製する。例文帳に追加

The surface of the sample is shaven off by ion milling and the scanning image by the scanning electron microscope is observed while the surface of the sample is removed by chemical etching and the scanning image by the scanning electron microscope is again observed to prepare the sample for the scanning electron microscope. - 特許庁

走査電子顕微鏡法の物理は、別の本の中で考察されている。例文帳に追加

The physics of scanning electron microscopy has been examined in another book.  - 科学技術論文動詞集

STEMモードでは、試料は小さな電子ビームで一点一点、走査される。例文帳に追加

In the STEM mode, the specimen is scanned point-by-point with a small electron beam.  - 科学技術論文動詞集

SEMでは、電子プローブは試料のある領域にわたってラスタ走査される。例文帳に追加

In an SEM, the electron probe is scanned in a raster over a region of the specimen.  - 科学技術論文動詞集

ホ　電子的に走査が可能なフェーズドアレーアンテナを組み込んだもの例文帳に追加

(e) Radars with built-in phased array antennas which are capable of electronic scanning  - 日本法令外国語訳データベースシステム

外部交流磁場キャンセル機構を有した走査形電子顕微鏡例文帳に追加

SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE WITH EXTERNAL AC MAGNETIC FIELD CANCELLATION MECHANISM - 特許庁

三次元形状解析機能を有する走査型電子顕微鏡例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE HAVING THREE-DIMENSIONAL SHAPE ANALYSIS FUNCTION - 特許庁

走査型電子顕微鏡の寸法検査精度及び再現性を向上させる。例文帳に追加

To improve dimensional inspection accuracy and reproducibility of a scanning electron microscope. - 特許庁

走査電子顕微鏡システムおよび集積回路の製造方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM AND METHOD OF MANUFACTURING INTEGRATED CIRCUIT - 特許庁

走査電子顕微鏡装置における機差管理システムおよびその方法例文帳に追加

APPARATUS DIFFERENCE CONTROL SYSTEM IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS AND ITS METHOD - 特許庁

ポリゴンミラー、レーザー走査ユニットおよび電子写真画像形成装置例文帳に追加

POLYGON MIRROR, LASER SCANNING UNIT AND ELECTROPHOTOGRAPHIC IMAGE FORMING DEVICE - 特許庁

走査透過電子顕微鏡における収差補正方法および収差補正装置例文帳に追加

ABERRATION CORRECTION METHOD AND ABERRATION CORRECTION DEVICE FOR SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査透過電子顕微鏡、及び収差測定方法、ならびに収差補正方法例文帳に追加

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, ABERRATION MEASURING METHOD, AND ABERRATION CORRECTION METHOD - 特許庁

走査型電子顕微鏡における画像ドリフト自動修正システム例文帳に追加

AUTOMATIC IMAGE DRIFT CORRECTION SYSTEM FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査型電子顕微鏡を用いた試料の観察方法及びその装置例文帳に追加

OBSERVATION METHOD FOR SAMPLE BY USE OF SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE AND ITS DEVICE - 特許庁