「電子走査」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

走査形電子顕微鏡による測長方法例文帳に追加

LENGTH MEASURING METHOD BY SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

微細凹凸量測定装置及び走査型電子顕微鏡例文帳に追加

MICRO RUGGEDNESS VALUE MEASUREMENT DEVICE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

電子式ラジアル走査型超音波内視鏡の先端部例文帳に追加

DISTAL END OF ELECTRONIC RADIAL SCANNING ULTRASOUND ENDOSCOPE - 特許庁

像観察方法および走査電子顕微鏡例文帳に追加

IMAGE OBSERVATION METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査電子顕微鏡の歪み補正装置例文帳に追加

DISTORTION CORRECTION DEVICE OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査型電子顕微鏡及びその焦点検出方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS FOCUS DETECTION METHOD - 特許庁

走査透過電子顕微鏡、及び収差測定方法例文帳に追加

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE, AND ABERRATION MEASURING METHOD - 特許庁

ガス増幅を使用した走査透過電子顕微鏡例文帳に追加

SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE USING GAS AMPLIFICATION - 特許庁

走査型電子顕微鏡及びそれを用いる測定方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND MEASUREMENT METHOD USING SAME - 特許庁

試料寸法測長方法及び走査電子顕微鏡例文帳に追加

SAMPLE DIMENSION LENGTH MEASURING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査電子顕微鏡による分析方法例文帳に追加

ANALYTICAL METHOD BY SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査透過電子顕微鏡を用いた試料解析方法例文帳に追加

SAMPLE ANALYSIS METHOD USING SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

演算増幅器及びそれを用いた走査電子顕微鏡例文帳に追加

OPERATIONAL AMPLIFIER AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USING THE SAME - 特許庁

試料帯電制御方法、及び走査電子顕微鏡例文帳に追加

SAMPLE STATIC CHARGE CONTROL METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査電子顕微鏡(SEM)の分解能劣化を防止する。例文帳に追加

To prevent resolution degradation of a scanning electron microscope. - 特許庁

走査型電子顕微鏡装置とその制御方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS AND ITS CONTROL METHOD - 特許庁

走査形電子顕微鏡における観察条件支援装置例文帳に追加

OBSERVATION CONDITIONS SUPPORT DEVICE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

試料像取得方法及び走査電子顕微鏡例文帳に追加

SAMPLE IMAGE ACQUIRING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

モノクロメータ及びそれを用いた走査電子顕微鏡例文帳に追加

MONOCHROMATOR AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE WITH MONOCHROMATOR - 特許庁

走査電子顕微鏡の像表示方法例文帳に追加

IMAGE DISPLAY METHOD OF SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査電子顕微鏡に用いられるレシピの診断装置例文帳に追加

DIAGNOSTIC DEVICE OF RECIPE USED FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

画像処理システム、及び走査型電子顕微鏡装置例文帳に追加

IMAGE PROCESSING SYSTEM AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM - 特許庁

Ｘ線顕微鏡の機能を備えた走査電子顕微鏡例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE PROVIDED WITH FUNCTION OF X-RAY MICROSCOPE - 特許庁

走査型電子顕微鏡における自動焦点合わせ方法例文帳に追加

AUTOMATIC FOCUSING METHOD IN SCANNING ELECTRONIC MICROSCOPE - 特許庁

走査型電子顕微鏡用試料の作成方法例文帳に追加

METHOD OF PREPARING SAMPLE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査形電子顕微鏡等の視野移動補正装置例文帳に追加

VISUAL FIELD MOVEMENT CORRECTING DEVICE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査型電子顕微鏡及びその測定方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND ITS MEASURING METHOD - 特許庁

走査型電子顕微鏡及びその制御方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND CONTROL METHOD THEREOF - 特許庁

プラズマ発生装置及び走査電子顕微鏡例文帳に追加

PLASMA GENERATOR AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査透過電子顕微鏡の観察方法及び観察装置例文帳に追加

OBSERVATION METHOD AND OBSERVATION APPARATUS OF SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査電子顕微鏡用の試料の作製方法例文帳に追加

PREPARATION METHOD OF SAMPLE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

偏向制御回路、及び電子線走査装置例文帳に追加

DEFLECTION CONTROL CIRCUIT AND ELECTRON BEAM SCANNING DEVICE - 特許庁

走査型電子顕微鏡及び微細パターン測定方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND MICRO-PATTERN MEASURING METHOD - 特許庁

走査型電子顕微鏡およびその画像表示方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS IMAGE DISPLAY METHOD - 特許庁

走査型電子顕微鏡およびその使用方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS USING METHOD - 特許庁

走査型電子顕微鏡を用いた測長方法例文帳に追加

LENGTH MEASURING METHOD USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

対物レンズ内検出器を備えた走査電子顕微鏡例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE PROVIDED WITH DETECTION PART IN OBJECTIVE LENS - 特許庁

走査電子顕微鏡を用いた検査方法および装置例文帳に追加

INSPECTION METHOD AND DEVICE USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査電子顕微鏡の異種倍率設定方法例文帳に追加

METHOD OF SETTING DIFFERENT MAGNIFICATION FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁

走査電子顕微鏡及びそれを用いた試料観察方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND TESTPIECE OBSERVATION METHOD USING IT - 特許庁

走査電子顕微鏡および類似装置例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND SIMILAR DEVICE - 特許庁

暗視野走査透過電子顕微鏡および観察方法例文帳に追加

DARK FIELD SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD - 特許庁

走査電子顕微鏡等の対物レンズ例文帳に追加

OBJECTIVE LENS FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND THE LIKE - 特許庁

走査型電子顕微鏡および画像信号処理方法例文帳に追加

SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND IMAGE SIGNAL PROCESSING METHOD - 特許庁

走査型２次電子顕微鏡の観察方法例文帳に追加

OBSERVATION METHOD FOR SCANNING SECONDARY ELECTRON MICROSCOPE - 特許庁