「電子走査」に関連した英語例文の一覧と使い方(31ページ目) - Weblio英語例文検索

手に筆記中の指先の方位と距離を検出するための、赤外線レーザービーム走査手段と、指先からの反射光を受光し指先の位置を計測する手段、筆記状態を検出する皮膚接触音検知手段、メモデータの表示手段、操作者へ適切に応答するための振動発生手段から構成される腕時計型電子メモ装置。例文帳に追加

A wrist watch type electronic note apparatus includes: an infrared laser beam scanning means for detecting the direction and distance of fingertips during handwriting; a means for measuring the positions of the fingertips by receiving light reflected from the fingertips; a skin contact sound detection means which detects a handwriting state; a display means for note data; and a vibration generating means for properly responding to an operator. - 特許庁

仕事関数測定装置１００Ａは、光電子分光法により求められた標準試料３Ａの各領域の既知の仕事関数値と、導電性カンチレバー１Ａを有する走査型ケルビンフォース顕微鏡により計測された標準試料３Ａの各領域の表面電位値とから、導電性カンチレバー１Ａの深針２Ａの仕事関数を算出する。例文帳に追加

The work function measuring instrument 100A is constituted so as to calculate the work function of the probe 2A of a conductive cantilever 1A from the known work function value of each region of a standard sample 3A calculated by photoelectron spectroscopy and the surface potential value of each region of the standard sample 3A measured by a scanning Kelvin force microscope having the conductive cantilever 1A. - 特許庁

上記課題を解決するため、銀粉と溶媒とからなる銀インクにおいて、前記銀粉は、走査型電子顕微鏡像の画像解析により得られる一次粒子の平均粒径Ｄ_ＩＡが０．６μｍ以下であり、前記溶媒はポリオール類からなることを特徴とした回路形成用の銀インク等を採用する。例文帳に追加

In the silver ink composed of silver powder and a solvent, an average particle diameter D_IA of primary particles of the silver powder obtained through image analysis of a scanning electron microscopic image is 0.6 μm or less, and the silver ink or the like for circuit formation composed of polyols is adopted as the solvent. - 特許庁

メーカの開発拠点・サービスセンタのメンテナンスコンピュータ６０から、データ通信回線８０を介して、通常のＳＥＭ制御手段４１との間で実行する観察作業に関わる操作機能や観察作業に関わる出力機能を実行するコンピュータ５０を経由して、走査電子顕微鏡装置本体１０のＳＥＭ制御手段４１をメンテナンスモードに設定する。例文帳に追加

An SEM control means 41 of a scanning electron microscope device body 10 is set at a maintenance mode via a computer 50 processing an operation function about an observation operation processed with a normal SEM control means 41, or an output function about an observation operation via a data telecommunication line 80 from a maintenance computer 60 of a development base, a service center or the like of the manufacturer. - 特許庁

ＣＲＴの蛍光体上に映像を映し出す為の電子ビームを走査させる偏向磁界を発生する偏向装置の垂直方向に磁界を発生させる巻線において、左右分離した巻線構造とし、左右の巻線５ｃ，６ｃから発生する磁力をアンバランスにし、垂直振幅を左右で異なる様にする。例文帳に追加

A coil which generates the magnetic field in the vertical direction of this deflection device generating the deflection magnetic field for the scanning of the electron beams for projecting an image on a phosphor of a CRT, is formed in laterally separated coil structure, and magnetic force generated from left and right coils 5c, 6c is unbalanced to make vertical amplitude different on the left and right sides. - 特許庁

ｎ行ｍ列のマトリクス状に配列された複数の液晶表示素子１１を備えるとともに、一定時間の行走査を行順に行うことにより各液晶表示素子の光の透過率を変更する液晶ディスプレイに適用されるバックライトであって、複数の電子放出素子２１と蛍光体とを備える。例文帳に追加

The backlight used for the liquid crystal display including a plurality of liquid crystal display elements 11 arranged in a matrix of (n) rows and (m) columns, in which constant-time row scanning is performed in row order to change the optical transmittance of each liquid crystal display element, is provided with a plurality of electron-emitting elements 21 and a phosphor. - 特許庁

デュアルダマシン配線の配線コンタクト部の形成における埋め込みプラグの高さについて、ホールの疎密分布およびホール径に対する制御性を改善し、走査型電子顕微鏡を用いた埋め込みプラグ高さの検査工程を容易にし、量産管理に適した信頼性の高い歩留の安定した半導体装置を得る。例文帳に追加

To obtain a semiconductor device, which is suitable for mass- production management and has high reliability and stable yield by improving dense distribution of holes and controllability to a hole diameter and by realizing easy inspection process for a buried plug height, using a scanning electron microscope as for the height of the buried plug in formation of a wiring contact part of a dual-damascene wiring. - 特許庁

樹脂と平均一次粒子径１００ｎｍ以下の水酸化アルミニウムとを含有し、かつ電子プローブＸ線マイクロアナライザーによりビームを直線上に走査してアルミニウムのＸ線強度を測定したときのＸ線強度の平均値Ｘおよび標準偏差Ｙから算出される指数Ｙ／Ｘが０．１以下であることを特徴とする樹脂組成物。例文帳に追加

This resin composition comprises a resin and aluminum hydroxide having ≤100 nm average primary particle diameter, and is characterized by ≤0.1 index Y/X calculated from an average value X of the X-ray intensity and a standard deviation Y when the X-ray intensity of aluminum is measured by an electron probe X-ray microanalyser by scanning the beam on a straight line. - 特許庁

本発明の細菌の共凝集能の評価方法は、評価対象となる二種以上の細菌を含む液中観察用カプセル１１に外力を加え、外力を加える前と加えた後の前記細菌の共凝集状態を走査型電子顕微鏡により観察し、その観察結果に基づいて前記細菌の共凝集能を評価する。例文帳に追加

In the evaluation method of the co-flocculation capacity of bacteria, external force is applied to a capsule 11 for submerged observation containing at least two kinds of bacteria becoming an evaluation target, the co-flocculation states of bacteria before and after external force is applied is observed by a scanning electron microscope and the co-flocculation capacity of bacteria is evaluated on the basis of the observation result. - 特許庁

スイッチＦＥＴ(電子スイッチ素子)１４は、水平発振パルスＶoscによってスイッチングされ、総合Ｓ字補正静電容量値を、水平走査期間の大略中央部分の所定期間で静電容量値が小、その他の期間で静電容量値が大になる様に切り替えることにより、その両端に図３(Ｄ)のＭ字歪補正パルスＶmが発生し、水平直線性を補正する。例文帳に追加

A switch FET (electronic switch element) 14 is switched by a horizontal oscillation pulse Vosc so that the overall S-shaped correction static capacitance is small for a prescribed period corresponding to nearly the middle period of a horizontal scanning period and large for the other period thereby generating an M-shaped distortion correction pulse Vm at both edges and correcting the horizontal linearity. - 特許庁

このチップ型電子部品の形状測定方法では、素体１の角部１ｂにレーザ変位計４を走査して得られる形状プロファイル１０のうち、微分プロファイル２０の微分値ｆ’（ｘ）が予め設定された抽出閾値の絶対値の範囲内となる部分を抽出して円フィッティングを行っている。例文帳に追加

In this shape measurement method of the chip type electronic component, among shape profiles 10 which is obtained by scanning a laser displacement meter 4 to a corner part 1b of an object 1, a circular fitting operation is performed by extracting the part within an absolute value of extracted threshold value which a differential value f'(x) of differential profile 20 is predetermined. - 特許庁

複数の超音波振動子を有するアレイプローブ１と、該アレイプローブ１から発せられる超音波ビーム３の送受信における走査、角度及び焦点を電子的に制御する制御部と、該制御された超音波ビーム３によって被検査体を探傷しその結果をＡスコープ２３及びＢスコープ１８に表示するする画面表示部を有する。例文帳に追加

This device has the array probe 1 having a plurality of ultrasonic vibrators, a control part for controlling electronically scanning, an angle and a focal point of transmission/reception of an ultrasonic beam 3 emitted from the array probe 1, and a screen display part for performing flaw detection of an inspection object by the controlled ultrasonic beam 3 and displaying the result on the A scope 23 and B scope 18. - 特許庁

CADデータ等の設計情報から撮影／検査に必要な全ての条件を作成し、その条件で実際の検査を行うために、半導体検査システムを設計情報から撮影／検査に必要な全ての条件を作成するナビゲーションシステムと実際の撮影／検査を実行する走査型電子顕微鏡システムとから構成させる。例文帳に追加

The semiconductor test system is composed of a navigation system which makes up all conditions required for photographing/testing from design information, and a scanning electron microscope system which actually carries out photographing/testing, and then the all conditions required for photographing/testing are made up from the design information such as CAD data or the like, and the actual test is carried out in those conditions. - 特許庁

繊維ウェブ１６を評価するための装置であって、移動中の繊維素材を走査し、測定値を電気信号に変換する定置式の光電子システム、例えばカメラが繊維機械の幅にわたって設けられており、このシステムが、カメラの生データを評価する画像評価デバイス（コンピュータ搭載）と通信するようになっている。例文帳に追加

The apparatus for inspecting and evaluating fiber web 16 is provided with a fixed type photoelectronic system, for example cameras, for scanning the moving fiber material and converting the measured values into electronic signals is provided across the width of the textile machine, and the system is in communication with an image-evaluating device (computer loading) which evaluates the raw data of the cameras. - 特許庁

電子放出素子をマトリクス状に配列した真空容器内で発生した放電を検出する放電検出部を有し、放電検出部の出力に基づいて、駆動回路の出力を一時的に停止させ、以降任意の走査配線から所定のタイミングで駆動回路の出力を再開するように制御する。例文帳に追加

An image display device has a discharge detection section which detects discharge caused in a vacuum container wherein electron emitting elements are arranged in matrix and is controlled so that output of a driving circuit is temporarily stopped in response to output of the discharge detection section and restarted thereafter in designated timing from the arbitrary scanning wiring. - 特許庁

少なくとも、結着樹脂、着色剤よりなる静電荷像現像用トナーであって、ケイ光Ｘ線測定によるリン元素強度、ＸＰＳ（Ｘ線光電子分光分析）によるリン元素強度、ＤＳＣ（示差走査型熱量計）測定による最大吸熱量比を特定構造のリン含有化合物を含有させることで制御してなることを特徴とする。例文帳に追加

The toner for electrostatic image development consists essentially of a binder resin and a colorant, and elemental phosphorus intensity by fluorescent X-ray measurement, elemental phosphorus intensity by XPS (X-ray photoelectron spectrometry) and the ratio between maximum amounts of absorbed heat by DSC (differential scanning calorimetry) are controlled by incorporating a phosphorus-containing compound of a specific structure. - 特許庁

また、画像メモリ部３３への分割画像信号の書き込み方向や読み出し方向を制御することで、分割画像信号に基づく分割画面の画像向きと電子ビームの走査によって形成される複数画面の画像向きが等しくなるように、分割画像信号に対して変換処理を行い表示画像信号を生成する。例文帳に追加

Moreover, the section 30 conducts conversion processes for the divided image signals and generates display image signals so that the image directions of the divided screens based on the divided image signals and the image directions of the plural screens formed by the scanning of the electron beams are made equal by controlling the writing direction of the divided image signals to an image memory section 33 and the reading direction from the section 33. - 特許庁

上記目的を達成するために、外部磁場をシールドするシールド部材を、磁性材料からなる複数の板状部で構成し、前記空間の中心を円の中心とした円周上に、当該円の接線とは異なる方向にその面方向を持つように、前記複数の板状部を配列するように構成した走査電子顕微鏡を提案する。例文帳に追加

In order to achieve the objective, a scanning electron microscope is disclosed in which the shield member to shield the exterior magnetic field is constituted with a plurality of plate state parts consisting of magnetic materials, and constituted so that on a circumference of a circle having its center at the center of the space, the plurality of plate state parts are aligned to have the face directions in different directions from tangent lines of the circle. - 特許庁

外観比較検査装置の検査ファイルに、領域Ａ，Ｂを指定し、さらに領域Ａ，Ｂの各々の比較ピッチ（第１の比較ピッチｄ１，第２の比較ピッチｄ２）および比較方向（Ｙ方向，Ｘ方向）を検査ファイルに入力することにより、半導体ウエハ上を電子ビームで走査する１回の一連の検査動作中に、比較ピッチおよび比較方向を変更する。例文帳に追加

Comparing pitch and comparing direction are altered during a series of inspection operations where a semiconductor wafer is scanned with an electron beam by specifying regions A and B in the inspection file of a visual comparative inspection equipment and inputting the comparing pitch (first comparison pitch d1, second comparison pitch d2) and the comparing direction (X direction, Y direction) of respective regions A and B into the inspection file. - 特許庁

ガラス状炭素製ＣＶＤ装置用部品であって、該部品の表面について、走査型電子顕微鏡を用いて観察した５０μｍ×５０μｍの視野中に、直径１〜１０μｍの孔が、少なくとも５個存在するか、該視野中に存在する幅０．５〜５μｍの線状孔の全長さが、少なくとも５０μｍであることを特徴とするガラス状炭素製ＣＶＤ装置用部品である。例文帳に追加

In the component for glassy carbon CVD device, when observing a field of view of 50μm×50μm on its surface by a scanning electron microscope, at least five holes of 1-10μ in diameter exist, or the total length of a linear hole of 0.5-5μm in width is at least 50μm in the field of view. - 特許庁

振動層１２についての電子的な遅延制御、第１音速制御層４０におけるｘ方向についての音響的な遅延制御及び第２音速制御層５０におけるｙ方向についての音響的な遅延制御を組み合わせることにより、超音波ビームを任意の方向へ走査し、またビームフォーカスを行うことができる。例文帳に追加

Scanning with ultrasonic beams in an arbitrary direction and beam focusing can be performed by combining an electronic delay control on the vibration layer 12, an acoustic delay control on an x direction in the first sound velocity control layer 40, and an acoustic delay control on a direction y in the second sound velocity control layer 50. - 特許庁

繊維ウェブ１６を評価するための装置であって、移動中の繊維素材を走査し、測定値を電気信号に変換する定置式の光電子システム、例えばカメラが繊維機械の幅にわたって設けられており、このシステムが、カメラの生データを評価する画像評価デバイス（コンピュータ搭載）と通信するようになっている。例文帳に追加

The apparatus for evaluation of a fiber web 16 which scans the fiber material in transfer and provided with a stationary photoelectric system which converts the measured value into an electric signal, for example cameras are installed in the width direction of the fiber machine, the system is set to communicate live data of the camera with an image evaluating device (installing a computer). - 特許庁

ＳＥＭの据付基部全体にわたる一貫した測定結果を保証するためにＣＤ−ＳＥＭをマッチする方法が開示され、フィールドごとの変動並びにレチクル及び露光ツールの非画一性がマッチング結果において効率よく抑制されるように、基板上の少なくとも２つの位置でレジストのフィーチャのフィーチャ・サイズを複数の走査電子顕微鏡のそれぞれを用いて測定する。例文帳に追加

A method of matching a CD-SEM is disclosed to secure the consistent measured results over the whole installation base of a SEM, and the feature sizes of the features in a resist are measured in at least two points on the substrate to restrain efficiently fluctuation in the every field, and nonuniformity in a reticle and an exposure tool, in a matching result. - 特許庁

第３電極４を第１種の第３集束電極４１と第２種の第３集束電極４２に分割してビーム整形用静電四重極レンズを形成させる際に、第４電極５と隣接する電極を電子ビームをスクリーン上で走査する偏向角の変化に同期して変動する第２集束電圧が印加される第２種の第３集束電極４２とする。例文帳に追加

When an electrostatic quadrupole lens for reshaping a beam is formed by dividing a third electrode 4 into a third focusing electrode 41 of a first kind and a third focusing electrode 42 of a second kind, an electrode adjacent to a fourth electrode 5 is a third focusing electrode 42 for applying a second focusing voltage varying in synchronization with a change of a deflection angle for scanning an electron beam on a screen. - 特許庁

陽電子ビームを測定対象物に走査して照射し、放出される消滅ガンマ線又は散乱粒子を検出して分析画像を作成するとともに、消滅ガンマ線の検出数をコントラストとする画像を作成して、これらの画像の組み合わせから新しい分析画像を作成することにより、高性能な画像を得る。例文帳に追加

The high-performance image is obtained through a step of irradiating a measuring object with a positron beam in a scanning manner; a step of preparing an infographic by detecting discharged annihilation gamma-rays or scattered particles and preparing an image using the number of detected annihilation gamma-rays as contrast; and a step of preparing a new infographic from a combination of these images. - 特許庁

本発明が解決しようとする課題は、プローブのランダムアクセス操作のような厄介な作業をすることなく、電子顕微鏡等の走査型荷電粒子顕微鏡の観察から半導体デバイスにおける回路要素の導通等の検査を可能とする検査手法を提示し、それを実現するシステムを提供することにある。例文帳に追加

To provide a method and a system for inspecting a semiconductor by which the continuity etc., of circuit elements in a semiconductor device can be inspected by observation by a scanning charged particle microscope such as the electronic microscope etc., without performing such troublesome work as the random access operation of a probe. - 特許庁

本発明が解決しようとする課題は、プローブのランダムアクセス操作のような厄介な作業をすることなく、電子顕微鏡等の走査型荷電粒子顕微鏡の観察から半導体デバイスにおける回路要素の導通等の検査を可能とする検査手法を提示し、それを実現するシステムを提供することにある。例文帳に追加

To provide an inspection method for inspecting a semiconductor by which the continuity of circuit elements in a semiconductor device can be inspected by observation by a scanning charged particle microscope such as an electronic microscope without performing such troublesome work as the random access operation of a probe, and to provide a system for obtaining the same. - 特許庁

本発明の芯材粉体の表面に無電解めっき法によってニッケル皮膜を形成した導電性無電解めっき粉体は、前記ニッケル皮膜の厚さ方向断面を、走査型電子顕微鏡によって１０００００倍迄の拡大倍率で観察したときに、該断面に結晶粒界が認められないことを特徴とする。例文帳に追加

The conductive electroless plating powder in which a nickel film is formed by an electroless plating method on the surface of the core member powder is characterized in that grain boundaries are not admitted at the section in the thickness direction of the nickel film when the section is observed by a scanning electron microscope at magnifying power up to 100,000 times. - 特許庁

映像信号（Ｓｉ）に含まれる水平同期信号に基づいて、映像信号（Ｓｉ）を走査して画像を表示するＣＲＴディスプレイ装置の組立精度に起因して生じる画像の水平歪みを補正する水平歪み補正装置（ＨＤＣｐ）は、電子ビームを偏向して、該ＣＲＴ上に画像を表示させる映像信号制御器（１２）に、水平偏向電流（Ｉｈｄ）を供給するＰＬＬ（１４）を含む。例文帳に追加

The horizontal distortion correcting device HDCp which corrects the horizontal distortion of an image due to the assembly precision of the CRT display device displaying the image by scanning a video signal Si according to the horizontal synchronizing signal included in the video signal Si includes a PLL 14 which supplies the horizontal deflecting current Ihd to a video signal controller 12 displaying the image on the CRT 24 by deflecting an electron beam. - 特許庁

マルチビーム方式の静電潜像を形成する方法、特にアレイ化が容易な面発光レーザーを光源として用い、同時に３〜１０本以上のレーザー光を走査させる方法を採用した画像形成装置において、高画質化及び高速化を実現させる電子写真感光体、並びにそれを用いた画像形成装置を提供することである。例文帳に追加

To provide an electrophotographic photoreceptor realizing high image quality and high speed and an image forming apparatus using the same, in the image forming apparatus which adopts a method for forming an electrostatic latent image of a multi-beam system and especially a method for simultaneously scanning at least 3 or at least 10 laser beams by using a surface emitting laser which can be easily arrayed as a light source. - 特許庁

本発明の二方向蛍光測光多光子励起レーザ顕微鏡は、試料を乗せるステージの上下から蛍光を集光して、上下に設けた２つの光センサ（光電子倍増管等）１２０および１７０により電気信号に変換し、レーザ走査制御・画像処理装置１８０により上下２つの光センサからの電気信号を加算している。例文帳に追加

For this microscope, fluorescent light is condensed from the upper and the lower parts of a stage on which a sample is placed, converted into an electric signal by two optical sensors (photomultiplier, etc.), 120 and 170 provided above and below, and the electric signals from the two above and below optical sensors are added by a device 180 for laser scanning control and image processing. - 特許庁

走査型電子顕微鏡を用いて半導体パターンをＳＥＭ観察するための撮像レシピ作成装置において、ＣＡＤデータを基に画像に変換してＣＡＤ画像を作成するＣＰＵ（ＣＡＤ画像作成部）１２５１を、画像量子化幅決定処理部１２５１１と明度情報付与処理部１２５１２とパターン形状変形処理部１２５１３とで構成する。例文帳に追加

In the imaging recipe generating apparatus for SEM observation of a semiconductor pattern using a scanning type electronic microscope, a CPU (CAD image generating unit) 1251 for generating a CAD image by conversion into the image on the basis of the CAD data is constituted with an image quantizing width determining processing unit 12511, a luminosity information assignment processing unit 12512, and a pattern shape conversion processing unit 12513. - 特許庁

ウエハ主面上に塗布されたフォトレジスト膜にマスクパターンを転写する際、アンダードーズあるいはデフォーカスまたはその両方の、オフコンディション条件で転写をした後、フォトレジスト膜に転写されたパターンを電位制御型外観検査用走査型電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope：ＳＥＭ）で検査する工程を経て欠陥検査する。例文帳に追加

When transferring a mask pattern to a photoresist film applied on a wafer principal surface, after transferring on an off-condition of under dose or defocus or both, a defective inspection is carried out through a process which inspects a transferred pattern to the photoresist film with a scanning electron microscope (SEM) for a voltage potential controlling type visual inspection. - 特許庁

電子走査式の超音波トランスデューサを備えた超音波検査装置を内視鏡に着脱可能として、内視鏡単独検査時にも、また内視鏡検査と超音波検査とを併用する際にも、さらに超音波単独検査時にも同一の内視鏡を用いることができ、また超音波検査装置を複数の内視鏡に使い回せるようにする。例文帳に追加

To use the same endoscope even at independently inspecting time of an endoscope, even at jointly using time of an endoscope inspection and an ultrasonic inspection and even at independently inspecting time of an ultrasonic wave, and use an ultrasonic inspection device for plural endoscopes in common by attaching the ultrasonic inspection device having an electronic scanning type ultrasonic transducer to the endoscope. - 特許庁

また、半導体デバイスの断面を観察する観察方法において、前記半導体デバイスの特定箇所の断面を走査型顕微鏡で観察する工程と；前記断面に非晶質構造の保護膜を形成し、当該保護膜を透して透過型電子顕微鏡によって前記断面を更に観察する工程とを含むことを特徴とする。例文帳に追加

Further, the observation method for observing the cross section of the semiconductor device includes a process for observing the cross section of the specific place of the semiconductor device by a scanning microscope and a process for forming the protective film of an amorphous structure to the cross section and further observing the cross section by the transmission type electron microscope through the protective film. - 特許庁

レーザビーム照射装置１２１及び二次元電子撮像素子１２２は記録媒体１０上のデータＣＧＨ１２をその配列方向に沿って走査してデータＣＧＨ１２のピッチより短い周期で画面毎に読み取り、制御、演算部１は読み取られた画面毎の光量に基づいてデータＣＧＨ１２の略中心を撮像した画面を選択する。例文帳に追加

A laser beam irradiation part and a two-dimensional electronic image pickup element 122 read out data CGHs on a recording medium for every screen at cycles shorter than the pitch of the data CGHs by scanning the data CGHs along the direction of their arrangements and a control and arithmetic part 1 selects screens in which roughly the center parts of the data CGHs are photographed on the basis of light quantities for every read out screen. - 特許庁

本発明は、対象描画領域をスポットビームにて照射を行いながら走査しつつ、対象描画領域を描画するスポットビーム型の電子線描画において、スポットビームのスキャンピッチの一部を、予め定められたスキャンピッチより狭いピッチで照射して重複描画部を有するようにした事を特徴とする。例文帳に追加

The electron beam drawing with a spot beam comprises drawing an object drawing region while irradiating and scanning the object drawing region with a spot beam, wherein a part of the scan pitch of the spot beam is irradiated with a pitch narrower than the preliminarily determined scan pitch to form an overlapped drawing portion. - 特許庁

高電圧大電流の電子線を走査して照射するターゲットであって、内部に冷却液を流通する多数の金属管を前記電子線の照射面に沿って配列し、前記金属管の配列は少なくとも２層であり、第１層の金属管の配列間の隙間を通して照射される電子線が第２層に配列した金属管を照射するように、第１層の金属管と第２層の金属管とをずらして配置し、該金属管の配列を複数の区画に分割した。例文帳に追加

The metal tubes are arrayed in at least two layers, and the first-layer metal tubes are shifted from the second-layer metal tubes and the arrays of the metal tubes are divided in plural sections so that the electron beam applied through gaps between the arrays of the first-layer metal tubes can irradiate the metal tubes arrayed in the second layer. - 特許庁

本発明は、電子走査型プローブ１と機械的連結する３次元情報取り込み部２からなるスキャナ部と、電子走査型超音波診断装置３と、得られたビデオ信号をディジタル化するＡ／Ｄ変換器１１と、取込まれた画像信号か光磁気ディスク１９からの画像信号を選択するスイッチ１２と、選択画像信号を透視投影するための座標変換処理する透視投影処理回路１３と、透視投影処理又は未処理の画像信号をＭＰＥＧフォーマットに圧縮するＭＰＥＧエンコーダ１７と、処理済，未処理の画像信号を表示するＴＶモニタ２１やＦＭＤ２２、圧縮画像信号を記録する光磁気ディスク１９とからなる超音波画像信号処理装置及びそのシステムをである。例文帳に追加

A system for processing the ultrasonic image signal is provided. - 特許庁

感光体１に光書き込みを行う露光装置３として、多数のＬＥＤ素子３０１が主走査方向に配列されて感光体１に対向配置されたＬＥＤアレイ基板３０２と、ＬＥＤ素子３０１による光を結像するレンズアレイ３０３とを有するＬＥＤアレイヘッドを備えた電子写真方式の画像形成装置において、入力画像に応じてＬＥＤアレイヘッドによるビームスポット径を可変とするビームスポット径可変機構( スプリング３０４、磁石３０６、電磁石３０７) を備えた。例文帳に追加

The electro-photographic imaging apparatus comprises, as an exposing unit 3 for writing optically on a photosensitive body 1, an LED array head comprising an LED array substrate 302 on which a large number of LED elements 301 are arranged in the main scanning direction oppositely to the photosensitive body 1, and a lens array 303 for focusing light from the LED elements 301. - 特許庁

基体上に、少なくとも、電荷発生剤と、電荷輸送剤と、結着樹脂と、を含有する感光層を備える電子写真感光体であって、電荷発生剤が、ブラッグ角２θ±０．２°＝２７．２°に最大のピークを有し、かつ、示差走査熱量分析において、吸着水の気化に伴なうピーク以外に２７０〜４００℃の範囲内に、１つのピークを有するチタニルフタロシアニン結晶であるとともに、感光層が、添加剤として一般式（１）で表される化合物を含有する。例文帳に追加

The electrophotographic photoreceptor has a photosensitive layer containing at least a charge generating agent, a charge transport agent and a binder resin on a substrate, wherein the charge generating agent is titanyl phthalocyanine crystals having a maximum peak at a Bragg angle 2θ±0.2°=27.2° - 特許庁

平均粒子径が５０ｎｍ〜１０μｍの範囲にあり且つ粒子径のＣｖ値が１０％以下である第一微粒子が媒質中に分散してなる微粒子分散体であって、 前記分散体中における前記第一微粒子の配列構造が、アモルファス構造であり且つ下記条件（Ａ）及び（Ｂ）：［条件（Ａ）］ 前記分散体の走査型電子顕微鏡写真に基いて下記式：ｇ（ｒ）＝｛１／〈ρ〉｝×｛ｄｎ／ｄａ｝［式中、ｇ（ｒ）は動径分布関数を示し、〈ρ〉は平面内の平均粒子密度を示し、ｄｎは任意の第一微粒子からの距離ｒの円と距離ｒ＋ｄｒの円との間の領域中に存在する第一微粒子の数を示し、ｄａは前記領域の面積（２πｒ・ｄｒ）を示す。例文帳に追加

The fine particle dispersion is obtained by dispersing primary fine particles, having the average particle diameter in a range of 50 nm to 10 μm and a Cv value of the particle diameter of 10% or less, in a medium. - 特許庁