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Particle Systemの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1233件
MICROFLUIDIC PARTICLE-ANALYSIS SYSTEM例文帳に追加
微小流体粒子分析システム - 特許庁
SELF-SHIELDING PARTICLE ACCELERATOR SYSTEM例文帳に追加
自己シールド型粒子加速器システム - 特許庁
IN-LINE HIGH PRESSURE PARTICLE SENSING SYSTEM例文帳に追加
インライン高圧粒子検知システム - 特許庁
PHOSPHORUS-CONTAINING NANO PARTICLE FLAME-RETARDANT SYSTEM例文帳に追加
リン含有ナノ粒子難燃剤系 - 特許庁
HIGH CURRENT-DENSITY PARTICLE BEAM SYSTEM例文帳に追加
高電流密度粒子ビームシステム - 特許庁
PARTICLE DETECTING SYSTEM, PARTICLE DETECTING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
パーティクル検出システム、パーティクル検出方法及びプログラム - 特許庁
PARTICLE BEAM MEDICAL TREATMENT SYSTEM AND PARTICLE BEAM IRRADIATION METHOD例文帳に追加
粒子線治療システム及び粒子線照射方法 - 特許庁
PARTICLE SEPARATION APPARATUS AND PARTICLE SEPARATION SYSTEM USING IT例文帳に追加
粒子分離装置及びこれを用いた粒子分離システム - 特許庁
COATING METHOD FOR FINE PARTICLE, AND FINE PARTICLE COATING SYSTEM例文帳に追加
微粒子のコーティング方法及び微粒子コーティングシステム - 特許庁
MASK FOR CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM AND THE CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM例文帳に追加
荷電粒子線露光装置用マスク及び荷電粒子線露光装置 - 特許庁
POSITIONING SYSTEM FOR PARTICLE BEAM THERAPEUTIC APPARATUS AND PARTICLE BEAM THERAPEUTIC SYSTEM例文帳に追加
粒子線治療装置の位置決めシステム及び粒子線治療システム - 特許庁
HOLLOW APERTURE FOR CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM AND CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM例文帳に追加
荷電粒子線装置用ホローアパーチャ及び荷電粒子線露光装置 - 特許庁
INLINE PARTICLE DIAMETER MEASUREMENT SYSTEM例文帳に追加
インライン粉粒体粒径測定システム - 特許庁
PARTICLE ACCELERATOR SYSTEM OF SELF-SHIELDING TYPE例文帳に追加
自己シールド型粒子加速器システム - 特許庁
CHARGED PARTICLE ACCELERATOR CONTROL SYSTEM例文帳に追加
荷電粒子加速器用制御システム - 特許庁
MASK FOR CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE, CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM AND CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE METHOD例文帳に追加
荷電ビーム露光用マスク、荷電ビーム露光装置及び荷電ビーム露光方法 - 特許庁
ADJUSTING METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM, AND CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM例文帳に追加
荷電粒子線調整方法及び荷電粒子線装置 - 特許庁
OPTICAL DETECTOR FOR PARTICLE SORTING SYSTEM例文帳に追加
粒子分類システム用光検出器 - 特許庁
PARTICLE DETECTION ASSISTING METHOD, PARTICLE DETECTION METHOD, PARTICLE DETECTION ASSISTING DEVICE, AND PARTICLE DETECTION SYSTEM例文帳に追加
粒子検出補助方法、粒子検出方法、粒子検出補助装置及び粒子検出システム - 特許庁
PARTICLE BEAM TREATMENT SYSTEM, AND ENERGY CHECKING METHOD FOR CHARGED PARTICLE BEAM IN PARTICLE BEAM TREATMENT SYSTEM例文帳に追加
粒子線治療システム及び粒子線治療システムにおける荷電粒子ビームのエネルギー確認方法 - 特許庁
A charged particle beam transfer system is provided with a lighting optical system containing a charged particle beam source 1.例文帳に追加
本装置は、荷電粒子線源1を含む照明光学系を具備する。 - 特許庁
PARTICLE MONITOR SYSTEM AND SUBSTRATE PROCESSING DEVICE例文帳に追加
パーティクルモニタシステム及び基板処理装置 - 特許庁
METHOD FOR ADJUSTING CHARGED PARTICLE BEAM OPTICAL SYSTEM, AND CHARGED PARTICLE BEAM OPTICAL SYSTEM例文帳に追加
荷電粒子線光学系の調整方法及び荷電粒子線露光装置 - 特許庁
SYSTEM FOR PRODUCING LIQUID CONTAINING BUBBLE PARTICLE例文帳に追加
気泡粒子含有液体作製システム - 特許庁
To determine a radial system of an optimal power distribution system using PSO (Particle Swarm Optimization).例文帳に追加
PSO(Particle Swarm Optimization)を用いて、最適な配電系統の放射状系統を求める。 - 特許庁
EMITTING METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM AND PARTICLE BEAM IRRADIATION SYSTEM例文帳に追加
荷電粒子ビームの出射方法及び粒子線照射システム - 特許庁
PARTICLE-OPTICAL COMPONENT AND SYSTEM INCLUDING PARTICLE- OPTICAL COMPONENT例文帳に追加
粒子光学コンポーネントおよび粒子光学コンポーネントを含むシステム - 特許庁
MICRO FLOW PATH SYSTEM FOR TREATING PARTICLE, AND METHOD FOR TREATING THE PARTICLE例文帳に追加
粒子処理用マイクロ流路システムおよび粒子処理方法 - 特許庁
METHOD FOR EVALUATING SECONDARY PARTICLE DETECTOR SYSTEM AND PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加
二次粒子検出器系の評価方法および粒子線装置 - 特許庁
PARTICLE DETECTING SYSTEM, AND LITHOGRAPHY APPARATUS HAVING SUCH PARTICLE DETECTING SYSTEM例文帳に追加
粒子検出システムおよびこのような粒子検出システムを備えたリソグラフィ装置 - 特許庁
DETECTION SYSTEM OF PARTICLE BEAM APPARATUS AND PARTICLE BEAM APPARATUS EQUIPPED WITH THIS KIND OF DETECTION SYSTEM例文帳に追加
粒子線装置の検知系およびこの種の検知系を備えた粒子線装置 - 特許庁
PARTICLE SIMULATION SYSTEM AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加
粒子シミュレーションシステムおよび記憶媒体 - 特許庁
FILTRATION SYSTEM AND METHOD FOR TONER PARTICLE例文帳に追加
トナー粒子の濾別システム及び濾別方法 - 特許庁
ENVIRONMENTAL CELL FOR CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM例文帳に追加
荷電粒子ビーム・システム用の環境セル - 特許庁
MULTILEAF COLLIMATOR FOR PARTICLE BEAM TREATMENT SYSTEM例文帳に追加
粒子線治療装置用マルチリーフコリメータ - 特許庁
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