「Particle System」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY SYSTEM AND ELECTRICALLY CHARGED PARTICLE BEAM DRAWING METHOD例文帳に追加

荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY SYSTEM AND CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY METHOD例文帳に追加

荷電粒子ビーム描画装置および荷電粒子ビーム描画方法 - 特許庁

PARTICLE FILTER REGENERATION SYSTEM FOR INTERNAL COMBUSTION ENGINE例文帳に追加

内燃エンジン用粒子フィルタ再生システム - 特許庁

PARTICLE COUNTING SYSTEM AND ITS METHOD OF USAGE例文帳に追加

粒子計数システム及びその使用方法 - 特許庁

BEAM AUTOMATION FOR CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM例文帳に追加

荷電粒子ビームシステムにおけるビーム自動化 - 特許庁

PARTICLE SENSING SYSTEM AND ITS METHOD例文帳に追加

粒子感知システムおよび関連する方法 - 特許庁

PARTICLE COUNTING DEVICE AND SYSTEM例文帳に追加

粒子計数装置及び粒子計数システム - 特許庁

SIMULATION METHOD FOR CHARGED PARTICLE OPTICAL SYSTEM例文帳に追加

荷電粒子光学系のシミュレーション方法 - 特許庁

PARTICLE SIMULATION SYSTEM AND SIMULATION METHOD例文帳に追加

粒子シミュレーションシステム及びシミュレーション方法 - 特許庁

FUSED FUNCTIONAL COMPOSITE PARTICLE AND PICTURING SYSTEM例文帳に追加

融合機能複合粒子および描像システム - 特許庁

DEFLECTOR, AND CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM例文帳に追加

偏向器及び荷電粒子線露光装置 - 特許庁

DRUG DELIVERY SYSTEM FOR ADMINISTERING FINE PARTICLE UNDER TENON'S CAPSULE例文帳に追加

微粒子テノン嚢下投与ドラッグデリバリーシステム - 特許庁

CHARGED PARTICLE LINE CONTROLLING METHOD AND SYSTEM例文帳に追加

荷電粒子線調整方法および装置 - 特許庁

PARTICLE SIZE DISTRIBUTION MEASUREMENT SYSTEM AND DIFFUSION APPARATUS例文帳に追加

粒度分布測定システム及び拡散装置 - 特許庁

BEAM STABILIZER SYSTEM FOR CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置のビームスタビライザシステム - 特許庁

PARTICLE MONITOR SYSTEM AND PARTICLE DETECTION METHOD AND RECORDING MEDIUM STORING PARTICLE DETECTION PROGRAM例文帳に追加

パーティクルモニタシステム及びパーティクル検出方法並びにパーティクル検出プログラムを格納した記録媒体 - 特許庁

AXIS ALIGNMENT DEVICE OF CHARGED PARTICLE OPTICAL SYSTEM AND CHARGED PARTICLE OPTICAL DEVICE例文帳に追加

荷電粒子光学系の軸合装置および荷電粒子光学装置 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM IRRADIATION SYSTEM AND CHARGED PARTICLE BEAM EMISSION METHOD例文帳に追加

荷電粒子ビーム照射システムおよび荷電粒子ビーム出射方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM IRRADIATION SYSTEM AND METHOD FOR EMITTING CHARGED PARTICLE BEAM例文帳に追加

荷電粒子ビーム照射システム及び荷電粒子ビーム出射方法 - 特許庁

PARTICLE-BEAM RADIATION THERAPY SYSTEM AND SCANNING METHOD FOR PARTICLE-BEAM RADIATION THERAPY例文帳に追加

粒子線治療装置および粒子線治療のための走査方法 - 特許庁

ADJUSTING METHOD FOR CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS AND CHARGED PARTICLE OPTICAL SYSTEM例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置及び荷電粒子光学系の調整方法 - 特許庁

LIGHTING SYSTEM FOR CHARGED PARTICLE LITHOGRAPHY DEVICE例文帳に追加

荷電粒子リソグラフィ装置用の照明システム - 特許庁

SYSTEM FOR AUTOMATICALLY TRACING PARTICLE MOVING IN AXON例文帳に追加

軸索内移動粒子の自動追跡システム - 特許庁

COMPOSITE PARTICLE USED FOR DRUG DELIVERY SYSTEM例文帳に追加

ドラッグデリバリーシステムに用いる複合体粒子 - 特許庁

DRIFT MEASURING METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置のドリフト測定方法 - 特許庁

DYNAMIC LIGHT SCATTERING PARTICLE DIAMETER DISTRIBUTION MEASURING SYSTEM例文帳に追加

動的光散乱式粒径分布測定システム - 特許庁

COIL SYSTEM AND PARTICLE ACCELERATOR USING THE SAME例文帳に追加

コイルシステム及びこれを用いた粒子加速器 - 特許庁

To provide a particle detecting system insensitive to a ghost particle.例文帳に追加

ゴースト粒子に対する感度が鈍感な粒子検出システムを提供する。 - 特許庁

METHOD FOR TAKING OUT INORGANIC PARTICLE SYNTHESIZED IN AQUEOUS SYSTEM AS SINGLE-PARTICLE POWDER例文帳に追加

水系で合成した無機粒子を単粒子粉体として取出す方法 - 特許庁

PHOTOLITHOGRAPHY APPARATUS, PARTICLE INSPECTION SYSTEM, PARTICLE INSPECTION METHOD, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

露光装置、パーティクル検査システム、パーティクル検査方法、及びデバイス製造方法 - 特許庁

PARTICLE ACCELERATION METHOD, PARTICLE ACCELERATOR, AND MUON GENERATION/ACCELERATION SYSTEM例文帳に追加

粒子加速方法および粒子加速装置ならびにミュオン生成・加速システム - 特許庁

PARTICLE-BEAM DRAWING METHOD, PARTICLE-BEAM DRAWING SYSTEM, AND ITS MAINTENANCE METHOD例文帳に追加

粒子ビーム描画方法、粒子ビーム描画装置、及びそのメンテナンス方法 - 特許庁

PARTICLE METERING SYSTEM, PARTICLE METERING METHOD, PLANT DETERIORATION DETECTING SYSTEM AND PLANT DETERIORATION DETECTING METHOD例文帳に追加

粒子計量システム、粒子計量方法、プラント劣化検知システムおよびプラント劣化検知方法 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING SUBSTRATE POSITION IN CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY SYSTEM, AND CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY SYSTEM例文帳に追加

荷電粒子ビーム描画装置の基板位置測定方法および荷電粒子ビーム描画装置 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY SYSTEM, CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY METHOD, AND DEVICE FOR SELECTING DATA PROCESSING SYSTEM例文帳に追加

荷電粒子ビーム描画装置、荷電粒子ビーム描画方法、及びデータ処理方式選択装置 - 特許庁

SAMPLE MICROMOTION SYSTEM, AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

試料微動システム、及び荷電粒子線装置 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM AND EXPOSURE METHOD例文帳に追加

荷電粒子ビーム露光装置及び露光方法 - 特許庁

PARTICLE NUMBER MEASURING SYSTEM, AND CONTROL METHOD THEREFOR例文帳に追加

粒子数計測システム及びその制御方法 - 特許庁

PARTICLE BEAM SYSTEM INCLUDING DYNAMIC FOCUS COIL例文帳に追加

ダイナミック・フォーカス・コイルを有する粒子ビーム・システム - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM AND METHOD THEREOF例文帳に追加

荷電粒子ビーム露光装置及び露光方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM AND EXPOSURE METHOD例文帳に追加

荷電粒子線露光装置及び露光方法 - 特許庁

DIRECT PARTICLE BEAM INCLUDED FLUIDIZED POLISHING SYSTEM例文帳に追加

直接粒子ビ—ムを含む流動研磨システム - 特許庁

FIBROUS PARTICLE-PRODUCTION APPARATUS AND TEST SYSTEM例文帳に追加

繊維状粒子発生装置及び試験システム - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM MICROSCOPE SYSTEM AND MICROSCOPIC DETECTION METHOD例文帳に追加

荷電粒子線顕微装置及び顕微方法 - 特許庁

METHOD FOR REMOVING PARTICLE AND SUBSTRATE TREATMENT SYSTEM例文帳に追加

パーティクル除去方法および基板処理装置 - 特許庁