「Particle System」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

GROUP OF PARTICLE, METHOD FOR FORMING COMPOSITE STRUCTURE, AND SYSTEM FOR FORMING THE SAME例文帳に追加

粒子群、複合構造物形成方法、および形成システム - 特許庁

MULTILEAF COLLIMATOR, PARTICLE BEAM THERAPY APPARATUS, AND RADIOTHERAPY PLANNING SYSTEM例文帳に追加

マルチリーフコリメータ、粒子線治療装置、および治療計画装置 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE例文帳に追加

荷電粒子ビーム露光方法及び荷電粒子ビーム露光装置 - 特許庁

METHOD OF CORRECTING COULOMB EFFECT OF CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM例文帳に追加

荷電粒子線露光装置におけるクーロン効果の補正方法 - 特許庁

PATTERN DRAWING METHOD AND APPARATUS FOR CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY SYSTEM例文帳に追加

荷電粒子ビーム描画装置のパターン描画方法及び装置 - 特許庁

The column 2 includes a charged particle gun and a sample detection system.例文帳に追加

カラム２は荷電粒子銃及び試料検出系を備える。 - 特許庁

PARTICLE REMOVING SYSTEM AND METHOD THEREFOR, AND IMPURITY SUBSTANCE DETECTING SYSTEM AND METHOD THEREFOR, AND PARTICLE DETECTING SYSTEM AND METHOD THEREFOR, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

パーティクル除去システム、不純物質検出システム、パーティクル検出システム、パーティクル除去方法、不純物質検出方法、パーティクル検出方法、及び記録媒体 - 特許庁

METHOD OF CONTROLLING CHARGED PARTICLE BEAM, METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE SAME, AND CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM USING THE SAME例文帳に追加

荷電ビーム制御方法、これを用いた半導体装置の製造方法および荷電ビーム露光装置 - 特許庁

In one aspect, this system contains a particle counter and a particle catching filter arranged in parallel.例文帳に追加

一つの側面において、システムは、並列に配置される粒子計数器と粒子捕捉フィルタとを含む。 - 特許庁

INSPECTION SYSTEM FOR PARTICLE-OPTICAL IMAGING OF OBJECT, AND DEFLECTOR FOR CHARGED PARTICLE AND ITS OPERATING METHOD例文帳に追加

物体の粒子光学的結像のための検査系、荷電粒子用偏向器およびその操作方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE EVACUATION SYSTEM CONDITION RECORDING EQUIPMENT AND EVACUATION SYSTEM CONDITION INDICATION EQUIPMENT例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置の排気系状態記録装置及び排気系状態表示装置 - 特許庁

REGENERATION AUXILIARY SYSTEM FOR PARTICLE FILTER INCORPORATED INTO EXHAUST SYSTEM OF DIESEL ENGINE OF AUTOMOBILE例文帳に追加

自動車のディーゼルエンジンの排気系に組み込まれた粒子フィルタの再生補助システム - 特許庁

INSPECTION SYSTEM BY CHARGED PARTICLE BEAM AND METHOD OF MANUFACTURING DEVICES USING SYSTEM例文帳に追加

荷電粒子線による検査装置及びその検査装置を用いたデバイス製造方法 - 特許庁

SAMPLE INCLINATION OBSERVING METHOD IN SCANNING CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM例文帳に追加

走査型荷電粒子ビーム装置における試料傾斜観察方法 - 特許庁

METHOD FOR JUDGING POLARITY OF LENS IN CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM例文帳に追加

荷電粒子線露光装置におけるレンズの極性の判断方法 - 特許庁

PARTICLE BEAM PROJECTION SYSTEM AND CORRECTION METHOD THEREFOR例文帳に追加

粒子線投影システムおよび粒子線投影システムの較正方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSING METHOD AND SYSTEM THEREOF, AND MANUFACTURE DEVICE例文帳に追加

荷電粒子線露光方法及び装置、ならびにデバイス製造方法 - 特許庁

METHOD FOR ADJUSTING ILLUMINATION OPTICAL SYSTEM IN CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE DEVICE例文帳に追加

荷電粒子線露光装置の照明光学系の調整方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSING METHOD AND SYSTEM THEREOF, AND MANUFACTURE例文帳に追加

荷電粒子線露光方法及び装置、ならびにデバイス製造方法 - 特許庁

IRRADIATION SYSTEM AND METHOD FOR CHARGED PARTICLE BEAM例文帳に追加

荷電粒子ビーム照射システム及び荷電粒子ビーム照射方法 - 特許庁

To provide an SACP method, and a particle optical system for performing the SACP method.例文帳に追加

SACP法およびSACP法を行うための粒子光学系を提案する。 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

荷電粒子線露光装置、及び半導体デバイスの製造方法 - 特許庁

To provide a system for separating a neutral buoyancy particle from fluid.例文帳に追加

流体から中立浮力粒子を分離するシステムを提供する。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR SEPARATING NEUTRAL BUOYANCY PARTICLE FROM FLUID例文帳に追加

流体から中立浮力粒子を分離するシステムおよび方法 - 特許庁

In addition, a development system using this toner particle is disclosed.例文帳に追加

さらに、本発明のトナー粒子を用いる現像システムが開示される。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR AUTOMATICALLY INSPECTING SUBSTRATE USING CHARGED PARTICLE BEAM例文帳に追加

荷電粒子ビームを用いた自動基板検査の装置及び方法 - 特許庁

To provide a charged particle beam irradiation system and a charged particle beam emission method capable of preventing erroneous irradiation of charged particle beams in an advancing direction of the charged particle beams.例文帳に追加

荷電粒子ビームの進行方向において荷電粒子ビームの誤照射を防止できる荷電粒子ビーム照射システム及び荷電粒子ビーム出射方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide an analysis system having an improved detection system and a charged particle beam device equipped with the system.例文帳に追加

改善された検出方式を有する分析システムおよびこのシステムを備える荷電粒子ビームデバイスの提供。 - 特許庁

To provide a particle image analytical system capable of observing a flow of a particle under imaging on a real time.例文帳に追加

撮像中の粒子の流れをリアルタイムで観察することが可能な粒子画像分析システムを提供する。 - 特許庁

To provide a particle beam irradiation system which maintains an extracted dose of charged particle beams constant.例文帳に追加

取り出される荷電粒子ビームの線量を一定に保つことが可能な粒子線照射システムを提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DESALTING SOLID PARTICLE, AND RECYCLING SYSTEM OF SOLID PARTICLE EQUIPPED WITH THE SAME例文帳に追加

固体粒子の脱塩方法および脱塩装置並びにその脱塩装置を具える固体粒子のリサイクルシステム - 特許庁

FINE PARTICLE COUNTER, FINE PARTICLE COUNTING METHOD USING THE SAME, LUBRICATION OBJECTIVE PART DIAGNOSTIC SYSTEM PROVIDED THEREWITH例文帳に追加

微粒子計数装置、これを用いる微粒子計数方法及びこれを備える潤滑対象部診断システム - 特許庁

DEVELOPING DEVICE, TONER PARTICLE BEARING ROLLER, IMAGE FORMING APPARATUS, IMAGE FORMING SYSTEM AND MANUFACTURING METHOD FOR TONER PARTICLE BEARING ROLLER例文帳に追加

現像装置、トナー粒子担持ローラ、画像形成装置、画像形成システム、及び、トナー粒子担持ローラの製造方法 - 特許庁

The particle beam microscope is provided with a lighting system which generates particle beams having a ring-like cone shape.例文帳に追加

粒子ビーム顕微鏡は、リング状の円錐形状を有する粒子ビームを生成する照明系を備える。 - 特許庁

To provide a particle beam irradiation system capable of irradiating an affected area with particle beams in many directions and irradiating particle beam with high positional precision without making the system a gantry structure.例文帳に追加

粒子線照射装置を回転ガントリー構造にしないで粒子線を患部に多方向照射でき、位置精度よく粒子線を照射できる粒子線照射システムを提供する。 - 特許庁

This charged particle irradiation system includes an acceleration device 6 for extracting a charged particle beam, scanning magnets 24 and 25, and charged particle beam position monitors 26 and 27.例文帳に追加

粒子線照射システムは、荷電粒子ビームを出射する加速装置６と、走査磁石２４，２５と、荷電粒子ビーム位置検出器２６，２７を有する。 - 特許庁

The self-shielding particle accelerator system 1 includes a particle accelerator 40 and a wall body 10 which surrounds the particle accelerator 40 to shield radiations.例文帳に追加

自己シールド型粒子加速器システム１は、粒子加速器４０と、粒子加速器４０を取り囲んで放射線を遮蔽するための壁体１０と、を備える。 - 特許庁

LITHOGRAPHIC DEVICE, ILLUMINATION SYSTEM, AND METHOD OF RESTRICTING DEBRIS PARTICLE例文帳に追加

リソグラフィ装置、照明システム、およびデブリ粒子を抑制するための方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM OPTICAL SYSTEM ADJUSTING METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

荷電粒子ビーム光学系の調整を行う方法およびその装置 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM TRANSPORT APPARATUS AND LINEAR ACCELERATOR SYSTEM PROVIDED WITH THE SAME例文帳に追加

荷電粒子ビーム輸送装置及びこれを備えた線形加速器システム - 特許庁

ADJUSTMENT METHOD OF LIGHTING UNIFORMITY IN CHARGED PARTICLE BEAM OPTICAL SYSTEM例文帳に追加

荷電粒子線光学系における照明一様性の調整方法 - 特許庁

DISPLAY METHOD OF IMAGE IN CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM, THE CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM, DISPLAY METHOD OF IMAGE IN ANALYZER, AND THE ANALYZER例文帳に追加

荷電粒子線装置における像の表示方法および荷電粒子線装置、並びに分析装置における像の表示方法及び分析装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR MAGNETIC CANCELLATION, AND CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM例文帳に追加

磁気キャンセル装置、磁気キャンセル方法及び荷電粒子線露光装置 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM AND MANUFACTURE OF DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

荷電粒子線露光装置及び該装置を用いたデバイス製造方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR CHARGED PARTICLE BEAM PROJECTION EXPOSURE例文帳に追加

荷電粒子線投影露光方法及び荷電粒子線投影露光装置 - 特許庁