「Particle System」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

PARTICLE BEAM CANCER TREATMENT SYSTEM AND IRRADIATION METHOD例文帳に追加

粒子線がん治療システム及び照射方法 - 特許庁

PARTICLE NUMBER MEASURING SYSTEM AND CONTROLLING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

粒子数計測システム及びその制御方法 - 特許庁

PARTICLE BEAM RADIATION SYSTEM AND ITS CONTROL METHOD例文帳に追加

粒子線照射システムおよびその制御方法 - 特許庁

DRAWING METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY SYSTEM例文帳に追加

描画方法及び荷電粒子ビーム描画装置 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM AND METHOD例文帳に追加

荷電ビーム露光装置及び荷電ビーム露光方法 - 特許庁

SLURRYING FINE PARTICLE AND SLURRYING SYSTEM THEREOF例文帳に追加

微細粉体のスラリー化方法及びスラリー化装置 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM AND PATTERN MEASUREMENT METHOD例文帳に追加

荷電粒子線システム、およびパターン計測方法 - 特許庁

MICROCOLUMN ARRAY SYSTEM AND MICROCHANNEL PARTICLE STRUCTURE例文帳に追加

マイクロカラムアレイシステム及びマイクロチャネル粒子構造体 - 特許庁

SYSTEM FOR TRAPPING FINE PARTICLE IN ULTRA-PURE WATER, AND METHOD FOR MEASURING FINE PARTICLE CONCENTRATION例文帳に追加

超純水中の微粒子捕捉システム及び微粒子濃度測定方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR ANALYZING PARTICLE DEFORMATION FOR RESIN MATERIAL CONTAINING PARTICLE例文帳に追加

粒子を含む樹脂材料の粒子変形解析方法および解析システム - 特許庁

TOROIDAL DEFLECTION SYSTEM, ITS MANUFACTURING METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM例文帳に追加

トロイダル偏向器、その製造方法、及び荷電粒子線露光装置 - 特許庁

PARTICLE OPTICAL DEVICE, ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM, AND ELECTRONIC LITHOGRAPHY SYSTEM例文帳に追加

粒子光学装置、電子顕微鏡システムおよび電子リソグラフィーシステム - 特許庁

SUBSTRATE TREATMENT APPARATUS AND CHARGED PARTICLE EXPOSURE SYSTEM例文帳に追加

基板処理装置及び荷電粒子線露光装置 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

荷電粒子線露光装置とデバイス製造方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM AND MANUFACTURE OF THE DEVICE例文帳に追加

荷電粒子線露光装置とデバイス製造方法 - 特許庁

ALIGNMENT MARK, RETICLE, AND CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM例文帳に追加

アライメントマーク、レチクル及び荷電粒子線露光装置 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR OVER-COATING COATED FUEL PARTICLE例文帳に追加

被覆燃料粒子のオーバーコート方法及び装置 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR WASHING PARTICLE例文帳に追加

粒子の洗浄システムおよび粒子の洗浄方法 - 特許庁

PATTERN DEFINITION DEVICE FOR MASKLESS PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM例文帳に追加

マスクレス粒子ビーム露光装置用パターン規定デバイス - 特許庁

ADJUSTMENT METHOD FOR CHARGED PARTICLE ILLUMINATION OPTICAL SYSTEM例文帳に追加

荷電粒子線照明光学系の調整方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

荷電ビーム露光装置及び荷電ビーム露光方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR FOCUSING CHARGED PARTICLE BEAM例文帳に追加

荷電粒子ビームを集束する方法およびシステム - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM HAVING THERMOMETRIC FUNCTION例文帳に追加

温度計測機能を有する荷電粒子ビーム装置 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM DRAWING SYSTEM, AND ADJUSTING METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM IRRADIATION DEVICE例文帳に追加

荷電粒子ビーム描画システム及び荷電粒子ビーム照射装置の調整方法 - 特許庁

PARTICLE BEAM TREATMENT RESERVATION SYSTEM, PARTICLE BEAM TREATMENT RESERVATION PROGRAM AND RECORDING MEDIUM THEREOF例文帳に追加

粒子線治療予約システム、粒子線治療予約プログラム、およびその記録媒体 - 特許庁

PARTICLE IMAGE ANALYTICAL SYSTEM, COMPUTER PROGRAM FOR DISPLAYING PARTICLE IMAGE, AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

粒子画像分析システム、粒子画像表示用コンピュータプログラムおよび記録媒体 - 特許庁

PATTERN FORMATION AND CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM例文帳に追加

パターン形成方法及び荷電粒子ビーム露光装置 - 特許庁

CHARGED PARTICLE IRRADIATION SYSTEM AND IRRADIATION PLANNING DEVICE例文帳に追加

荷電粒子照射システム及び照射計画装置 - 特許庁

SPRAYED PARTICLE IMAGING ANALYSIS SYSTEM AND ANALYSIS METHOD例文帳に追加

噴霧粒子撮像解析システムおよび解析方法 - 特許庁

POSITIONING SYSTEM, DEVICE AND METHOD USING PARTICLE FILTER例文帳に追加

粒子フィルタを用いた測位システム、装置および方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM AND METHOD FOR MANUFACTURING THE DEVICE例文帳に追加

荷電粒子線露光装置、デバイスの製造方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR PARTICLE POSITION CONTROL例文帳に追加

粒子位置制御システム、及び、粒子位置制御方法 - 特許庁

CHARGED-PARTICLE BEAM ACCELERATOR, PARTICLE BEAM RADIATION THERAPY SYSTEM USING IT, AND METHOD OF OPERATING PARTICLE BEAM RADIATION THERAPY SYSTEM例文帳に追加

荷電粒子ビーム加速器、荷電粒子ビーム加速器を用いた粒子線照射医療システムおよび、粒子線照射医療システムの運転方法 - 特許庁

GROUND PIN, GROUND PLATE, CHARGED PARTICLE BEAM-DRAWING SYSTEM, AND CHARGED PARTICLE BEAM-DRAWING METHOD例文帳に追加

アースピン、アースプレート、荷電粒子ビーム描画装置および荷電粒子ビーム描画方法 - 特許庁

MASK FOR PROJECTION EXPOSURE, CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE METHOD AND CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM例文帳に追加

投影露光用マスク、荷電粒子ビーム露光方法、及び荷電粒子ビーム露光装置 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM IRRADIATING SYSTEM, CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE DEVICE AND MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

荷電粒子線照射系、荷電粒子線露光装置及び半導体デバイス製造方法 - 特許庁

POSITION DETECTING DEVICE AND METHOD FOR PARTICLE COLLISION, BEAM ORBIT ADJUSTMENT SYSTEM OF PARTICLE ACCELERATOR例文帳に追加

粒子衝突位置検出装置及び方法、粒子加速器のビーム軌道調整システム - 特許庁

MASK, CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSING METHOD, CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

マスク、荷電粒子線露光方法、荷電粒子線露光装置及びデバイス製造方法 - 特許庁

CHARGED-PARTICLE BEAM MASK AND MANUFACTURE THEREOF AND OPERATING METHOD OF CHRGED-PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY SYSTEM例文帳に追加

荷電粒子線マスクとその製造方法と荷電粒子線リソグラフィシステムの操作方法 - 特許庁

To provide a sheath flow system particle measuring device capable of executing highly accurate particle measurement.例文帳に追加

精度の高い粒子測定が行えるシースフロー方式の粒子測定装置を提供する。 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM ACCELERATOR, AND PARTICLE BEAM IRRADIATION SYSTEM USING THE SAME例文帳に追加

荷電粒子ビーム加速器及びその荷電粒子ビーム加速器を用いた粒子線照射システム - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM ACCELERATOR AND CHARGED PARTICLE BEAM IRRADIATION MEDICAL SYSTEM USING THIS ACCELERATOR例文帳に追加

荷電粒子ビーム加速器およびその加速器を用いた粒子線照射医療システム - 特許庁

MONITORING DEVICE FOR MEASURING PARTICLE BEAM, AND MEASUREMENT METHOD AND SYSTEM FOR PARTICLE BEAM例文帳に追加

粒子線測定用モニタ装置、粒子線測定方法および粒子線測定システム - 特許庁

MEASUREMENT UNIT, DEVICE FOR MEASURING NEUTRAL PARTICLE BEAM, AND MEASUREMENT SYSTEM OF NEUTRAL PARTICLE BEAM例文帳に追加

測定ユニット、中性粒子ビームの測定装置および中性粒子ビームの測定システム - 特許庁

CLEANING METHOD AND DEVICE, AND PARTICLE REMOVING SYSTEM例文帳に追加

洗浄方法、洗浄装置及びパーティクル除去システム - 特許庁