「Particle System」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

ELECTRONIC-OPTICAL-SYSTEM ARRAY AND ITS MANUFACTURING METHOD, CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE APPARATUS, AND MANUFACTURING METHOD OF DEVICE例文帳に追加

電子光学系アレイ及びその製造方法、荷電粒子線露光装置、並びに、デバイスの製造方法 - 特許庁

PHOSPHOR PARTICLE, LIGHT-EMITTING DIODE, AND LIGHTING SYSTEM AND LIQUID CRYSTAL PANEL BACKLIGHT DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

蛍光粒子及び発光ダイオード並びにこれらを用いた照明装置及び液晶パネル用バックライト装置 - 特許庁

This particle dispersion system resin sheet has at least the base material layer formed by dispersing an inorganic oxide into a resin.例文帳に追加

樹脂に無機酸化物が分散された基材層を少なくとも有する粒子分散系樹脂シート。 - 特許庁

To provide system for measuring and analyzing particle in gas raw material stream and method including it.例文帳に追加

ガス原料流中の粒子を測定及び分析するためのシステム及びそれを含む方法の提供。 - 特許庁

MAGNETIC LENS, METHOD OF MANUFACTURING MAGNETIC SHIELD, CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

磁気レンズ、磁気シールド体の製造方法、荷電粒子線露光装置及び半導体デバイスの製造方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM, ITS ADJUSTING METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

荷電粒子線露光装置、荷電粒子線露光装置の調整方法及び半導体デバイスの製造方法 - 特許庁

PATIENT POSITION SETTING UNIT, PATIENT TABLE, CONVEYING DEVICE, PARTICLE BEAM THERAPEUTIC SYSTEM, AND PATIENT POSITION SETTING METHOD例文帳に追加

患者位置設定装置、患者台、搬送装置、粒子線治療装置及び患者位置設定方法 - 特許庁

To provide a method and a system capable of measuring particle sizes of blast debris in a face immediately after blasting.例文帳に追加

発破直後の切羽において発破ズリの粒径を計測できる方法及びシステムを提供する。 - 特許庁

To execute highly accurate measurement by removing a generated unnecessary particle signal caused by an optical system.例文帳に追加

光学系に起因して発生する不要な粒子信号を除去して精度の高い測定を行うこと。 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING TRANSPORT FACTOR OF SPUTTER PARTICLE, FILM DEPOSITION METHOD, TARGET, SPUTTERING SYSTEM, AND FILM THICKNESS SIMULATION METHOD例文帳に追加

スパッタ粒子の到達率計測方法、成膜方法、ターゲット、スパッタ装置及び膜厚シミュレーション方法 - 特許庁

HOLLOW APERTURE, METHOD OF FORMING THE SAME, CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

ホローアパーチャ、ホローアパーチャの製造方法、荷電粒子線露光装置、及び半導体デバイスの製造方法 - 特許庁

LITHOGRAPHIC DATA CREATION METHOD, CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY SYSTEM, METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND LITHOGRAPHY METHOD例文帳に追加

描画データ生成方法、荷電粒子ビーム描画システム、半導体装置の製造方法、及び描画方法 - 特許庁

a hypothetical infectious particle thought to be the cause of scrapie and other degenerative diseases of the central nervous system 例文帳に追加

中枢神経系のスクレーピーと他の変性疾患が原因であると考えられる仮定感染粒子 - 日本語WordNet

The lighting system 1 includes a particle group generation device 3 and a luminaire 5 on a ceiling 12 of the room 7.例文帳に追加

照明システム１は、部屋７の天井１２に粒子群発生装置３と照明器具５とを備える。 - 特許庁

Based on my observation of the movement of particle D, I modify the system so that there exist three possible exits. 例文帳に追加

分子Ｄの運動の観察に基づき、可能な出口が３つ存在するようシステムに変更を加える。 - Tanaka Corpus

Based on my observation of the movement of particle D, I modify the system so that three possible exits exist.例文帳に追加

分子Ｄの運動の観察に基づき、可能な出口が３つ存在するようシステムに変更を加える。 - Tatoeba例文

METHOD FOR MEASURING ASTIGMATISM BLUR GENERATION SENSITIVITY IN CHARGED PARTICLE BEAM OPTICAL LITHOGRAPHIC SYSTEM AND OPTICAL LITHOGRAPHIC METHOD例文帳に追加

荷電粒子線露光装置における非点収差ボケ発生感度の測定方法及び露光方法 - 特許庁

To provide an ion source for a charged-particle beam device capable of cleaning a charged particle optical system easily by any person to restore performance, without breaking vacuum in the charged particle optical system to conduct disassembling, cleaning, and component replacement, even when a problem that normal detection and measurement for an analytical object get impossible is generated caused by contamination in the charged particle optical system.例文帳に追加

荷電粒子光学系の汚染によって分析対象の正常な検出、測定ができないという問題を生じても、荷電粒子光学系の真空を破って解体、洗浄、部品交換などを行なうことなく、誰でも簡単に荷電粒子光学系のクリーニングを行ない、性能の回復を図れるような荷電粒子線装置のイオン源を提供する。 - 特許庁

The illumination system includes a debris suppressing system for suppressing debris particle which is released by occurrence of radiation, and an optical system for collecting radiation.例文帳に追加

照明システムは、放射線の発生によって解放されるデブリ粒子を抑制するためのデブリ抑制システムと、放射線を収集するための光学システムとを含む。 - 特許庁

The spacer particle disposition apparatus has a head part ejecting the spacer particle dispersion liquid having the spacer particles dispersed in a medium on the substrate by the ink jet system and a supplying means supplying the spacer particle dispersion liquid to the head part from a storing part storing the spacer particle dispersion liquid.例文帳に追加

スペーサ粒子が媒体中に分散したスペーサ粒子分散液を、インクジェット方式により基板上に吐出するヘッド部と、前記スペーサ粒子分散液を貯蔵する貯蔵部から前記ヘッド部に前記スペーサ粒子分散液を供給する供給手段とを有するスペーサ粒子配置装置。 - 特許庁

Pieces of specific information of particle coordinate systems C0 to C3 where particles are arranged locally are generated so that respective particle coordinate system are coupled with one another.例文帳に追加

複数のパーティクルがローカルに配置されるパーティクル座標系Ｃ０〜Ｃ３の特定情報を、各パーティクル座標系同士が互いに連結するようにしながら、リアルタイムに生成する。 - 特許庁

To provide a vacuum heating/cooling system for a particle that improves heating efficiency for reducing heating time, easily control heating, and easily throws and takes out the particle.例文帳に追加

加熱効率を良くして加熱時間を短縮し、加熱制御も容易で、粉粒体の投入と取り出しも容易な粉粒体用真空加熱冷却装置を提供する。 - 特許庁

CIRCULAR SAMPLE CELL AND SYSTEM FOR MEASURING LIGHT SCATTERING PROPERTY OF PARTICLE SUSPENSION, AND METHOD FOR MEASURING SCATTERED LIGHT FROM PARTICLE SUSPENSION IRRADIATED WITH LIGHT BEAM例文帳に追加

粒子の懸濁液の光散乱特性を測定するための円形の試料セルおよびシステム、ならびに粒子の懸濁液によって散乱された光を測定する方法 - 特許庁

To provide a charged particle beam radiation system which can stably vary necessary emission current of particle beam for scanning radiation or the like with a simple control device.例文帳に追加

スキャニング照射等で必要な粒子線の出射電流を簡便な制御機器で安定に変更可能な荷電粒子ビーム照射システムを提供すること。 - 特許庁

To provide: an electron gun capable of obtaining desired pattern dimensions and pattern accuracy; a charged particle beam lithography system; and a charged particle beam lithography method.例文帳に追加

所望のパターン寸法とパターン精度を実現することが可能な電子銃および荷電粒子ビーム描画装置および荷電粒子ビーム描画方法を提供する。 - 特許庁

To provide an energy degrader capable of mitigating the reduction in the transmittance of low-energy charged particle beams, and a charged particle beam irradiation system equipped therewith.例文帳に追加

エネルギーが低い方の荷電粒子線の透過率の低下を緩和することが可能なエネルギーデグレーダ及びそれを備えた荷電粒子線照射システムを提供すること。 - 特許庁

To obtain a sustained-release medicine delivery system having high practicality, from a biodegradable polyester particle and a medicine composite using the particle.例文帳に追加

より実用性のある徐放薬物送達システムの提供、ならびにそのために有用なポリエステル系の生分解性ポリマー物質粒子、それに基く薬剤複合体を提供する。 - 特許庁

Molecular kinetics calculation is executed to a particle system, wherein the number of the particles is N'; the mass of each the particle is m'; and the interaction potential is expressed by ε'f.例文帳に追加

粒子数がＮ´であり、各粒子の質量がｍ´であり、相互作用ポテンシャルがε´ｆで表される粒子系に対して、分子動力学計算を実行する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam emitting method and a particle beam irradiation system capable of controlling the intensity of an ion beam to be emitted with a simple device constitution.例文帳に追加

出射されるイオンビームの強度制御を簡素な装置構成で実現できる荷電粒子ビーム出射方法及び粒子線照射システムを提供することを課題とする。 - 特許庁

To avoid such an inconvenience that particle size cannot be optimized to a reaction system or a reactant due to the fact that the particle size of the metal particles constituting the catalyst becomes too small.例文帳に追加

触媒を構成する金属粒子の粒径が小さくなり過ぎることによって、反応系や反応物に対して粒径を最適化できないなどの不都合を回避する。 - 特許庁

A charged particle detection system 100 selectively detects charged particles generated by the operation of a charged particle beam column 102 radiating a specimen 110.例文帳に追加

試料１１０を照射する荷電粒子ビームカラム１０２の動作により生成された荷電粒子を選択的に検出するための荷電粒子検出システム１００である。 - 特許庁

An anisotropic conductive particle 2 for electrically connecting between opposed electrodes is characterized in being composed of a conductive particle 21 and a polyolefin system resin.例文帳に追加

相対する電極間を電気的に接続する異方導電粒子であって、導電粒子とポリオレフィン系樹脂からなることを特徴とする異方導電粒子２。 - 特許庁

To provide a method for generating fine particles where sufficient fine particles can be easily generated, to provide a fine particle generator, to provide a fine particle unit, and to provide a verification system for purification.例文帳に追加

十分な微粒子を簡易に発生させることができる微粒子発生方法、微粒子発生装置、微粒子ユニットおよび清浄化検証システムを提供する。 - 特許庁

The debris suppressing system is arranged such that the debris particle is directly evaporated in the route where the radiation advances from the radiation source to the optical system, the debris particle is directly charged, or plasma is directly generated from the debris particle, otherwise, an arbitrary combination of them is performed.例文帳に追加

デブリ抑制システムは、放射線源から光学システムへ放射線が進む経路内で、デブリ粒子を直接蒸発させるように、デブリ粒子を直接荷電するように、またはデブリ粒子からプラズマを直接発生させるように、あるいはそれらの任意の組合せを行うように配置される。 - 特許庁

To provide a particle size distribution measuring device and a control program of the particle size distribution measuring device capable of determining automatically the fouling degree of a circulatory system including a cell, and cleaning the system automatically until the fouling is reduced sufficiently, in a laser diffracting/scattering type particle size distribution measuring device.例文帳に追加

レーザ回折／散乱式粒径分布測定装置において、セルを含む循環系の汚れ具合を自動的に判断し、汚れが十分に少なくなるまで自動的に洗浄を行なう粒径分布測定装置および粒径分布測定装置の制御プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a system and a method for determining an angular deviation of a charged particle beam and for calibrating a charged particle beam system that are based upon multiple measurements of test objects that include sidewalls with high sidewall angle uniformity.例文帳に追加

帯電粒子ビームの角状変位を判断し、高い側壁角度均一性の側壁を含むテストオブジェクトの複数の測定値に基づく帯電粒子ビームシステムを較正する為のシステムおよび方法を提供する。 - 特許庁

To provide a charged particle source for a focused particle beam system such as a transmission electron microscope (TEM), scanning transmission electron microscope (STEM), scanning electron microscope (SEM), or focused ion beam (FIB) system.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡（ＴＥＭ）、走査透過型電子顕微鏡（ＳＴＥＭ）、走査型電子顕微鏡（ＳＥＭ）、集束イオン・ビーム（ＦＩＢ）システムなどの集束粒子ビーム・システム用の荷電粒子源を提供すること。 - 特許庁

To provide a positioning system for a particle beam therapeutic apparatus improving the safety by producing a simulated image of an irradiated area of a patient which an operator can visually recognize, and to provide a particle beam therapeutic system.例文帳に追加

オペレータが視認できる患者照射領域の模擬画像を作成することにより、安全性向上を図ることのできる粒子線治療装置の位置決めシステム及び粒子線治療システムを提供する。 - 特許庁

To provide a measuring method capable of accurately and reproducibly measuring the frictional electrification amount of a two-component system sample having a wide particle size distribution or a two-component system sample in which the particle size distribution of each component is close to each other.例文帳に追加

粒度分布が広範囲にわたる２成分系試料や、各成分の粒度分布が互いに近い２成分系試料の摩擦帯電量を高精度に且つ再現性良く測定できる測定方法を提供する。 - 特許庁

PARTIAL-DILUTING GAS SAMPLING SYSTEM FOR EXHAUST GAS MEASUREMENT AND PARTIAL-DILUTING GAS SAMPLING SYSTEM FOR FINE PARTICLE MATERIAL MEASUREMENT IN EXHAUST GAS例文帳に追加

部分希釈方式の排気ガス測定用ガスサンプルシステムおよび部分希釈方式の排気ガス中の微粒子状物質測定用ガスサンプルシステム - 特許庁

In addition, a particle filter regenerating device for an exhaust gas system, the exhaust gas system for a combustion engine and a regenerating device operating method are also described.例文帳に追加

本発明は、さらに、排ガスシステムの粒子フィルタの再生装置、燃焼エンジンの排ガスシステム、および再生装置の作動方法に関する。 - 特許庁

IMMERSION LITHOGRAPHY EXPOSURE SYSTEM, AND FOREIGN MATTER DETECTING METHOD WITHIN THE SYSTEM (ILLUMINATION LIGHT IN IMMERSION LITHOGRAPHY STEPPER FOR PARTICLE OR BUBBLE DETECTION)例文帳に追加

浸漬リソグラフィ露光システム及び該システム内の異物検出方法（粒子又は気泡検出のための浸漬リソグラフィ・ステッパーにおける照射光） - 特許庁

To provide an exposure system of multiple-charged particle beam, which readily and accurately corrects electronic-optical characteristics of individual columns constituting an electronic-optical system.例文帳に追加

電子光学系を構成する各カラムの電子光学特性を容易に精度良く補正できるマルチ荷電粒子ビーム露光装置を提供する。 - 特許庁

To provide a ground pin, a ground plate, a charged particle beam-drawing system, and a charged particle beam-drawing method that can obtain high drawing precision by optimizing the material and shape of the ground pin used to ground a mask in charged particle beam drawing.例文帳に追加

荷電粒子ビーム描画においてマスクの接地に用いられるアースピンの材質、形状を最適化し、高い描画精度を得ることが可能なアースピン、アースプレート、荷電粒子描画装置および荷電粒子描画方法を提供する。 - 特許庁

The cooling system includes a particle separation device 42 configured to separate particles from the cooling liquid, and a flow regulation device 44 that fluidly communicates with the particle separation device without being brought into contact with the particle separation device.例文帳に追加

冷却システムは、冷却液から粒子を分離するように構成されている粒子分離デバイス４２と、粒子分離デバイスに接触することなく粒子分離デバイスと流体連通する流量調節デバイス４４とを含む。 - 特許庁