「Particle System」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM AND METHOD OF MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加

荷電粒子線露光装置及びデバイス製造方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR IMAGING AND ANALYZING LIQUID DROPLET PARTICLE例文帳に追加

液滴粒子撮像解析システムおよび解析方法 - 特許庁

STAGE FOR MICRO MACHINING SYSTEM USING CHARGED PARTICLE BEAM例文帳に追加

帯電粒子ビームを用いた微細加工システム用のステージ - 特許庁

ORGANIC SOLVENT PHASE INVERSION/DISPERSION METHOD OF WATER SYSTEM FINE PARTICLE例文帳に追加

水系微粒子の有機溶媒転相／分散方法 - 特許庁

PARTICLE BEAM TREATMENT SYSTEM, AND METHOD OF OPERATING SYNCHROTRON例文帳に追加

粒子線治療システム及びシンクロトロンの運転方法 - 特許庁

DEFLECTION ABERRATION CORRECTION IN CHARGED PARTICLE BEAM PROJECTION SYSTEM例文帳に追加

荷電粒子線投影系における偏向収差補正 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM AND MEASURING PARAMETER SETTING METHOD例文帳に追加

荷電粒子線システム、および測定パラメータ設定方法 - 特許庁

POLYGONIZATION METHOD OF IMPLICIT FUNCTION CURVED SURFACE USING PARTICLE SYSTEM例文帳に追加

粒子系を用いた陰関数曲面のポリゴン化方法 - 特許庁

PARTICLE SENSOR WITH AIR FLOW SYSTEM OF LOW-PRESSURE LOSS例文帳に追加

低圧力損失の空気流系を有する粒子センサ— - 特許庁

MICROCHANNEL SYSTEM FOR ELUTRIATOR AND PARTICLE SEPARATION METHOD例文帳に追加

エルトリエータ用マイクロ流路システムおよび粒子分離方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM AND METHOD FOR CONTROLLING THE SAME例文帳に追加

荷電粒子線露光装置及びその制御方法。 - 特許庁

ABERRATION CORRECTION OPTICAL DEVICE FOR CHARGED PARTICLE BEAM OPTICAL SYSTEM, AND OPTICAL SYSTEM例文帳に追加

荷電粒子線光学系用の収差補正光学装置及び光学系 - 特許庁

DEVICE (PATTERN-LOCKING SYSTEM) USED IN PARTICLE PROJECTION LITHOGRAPHIC PRINTING SYSTEM IN ALIGNMENT SYSTEM例文帳に追加

位置合わせシステムにおいて粒子投影平版印刷システムに使用する装置（パターンのロックシステム） - 特許庁

To provide a particle therapy system capable of measuring energy of a charged particle beam even during irradiation of the charged particle beam.例文帳に追加

荷電粒子ビームの照射中においても荷電粒子ビームのエネルギーを測定できる粒子線治療装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR MEASURING PARTICLE IN LIQUID SAMPLE例文帳に追加

液体試料中の粒子の測定の方法およびシステム - 特許庁

The identification factor attaching method and device, and the particle-dispersed system attaching means attach a particle-dispersed system to a medium.例文帳に追加

識別因子付与方法及び装置並びに粒子分散系付与手段は、粒子分散系を媒体に付与する。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR PRODUCING METAL OXIDE FINE PARTICLE例文帳に追加

金属酸化物微粒子の製造方法及び製造システム - 特許庁

ENERGY DEGRADER, AND CHARGED PARTICLE IRRADIATION SYSTEM COMPRISING THE SAME例文帳に追加

エネルギーデグレーダ、及びそれを備えた荷電粒子照射システム - 特許庁

MICROSCOPE SYSTEM, AND METHOD FOR OPERATING CHARGED-PARTICLE MICROSCOPE例文帳に追加

顕微鏡システム、荷電粒子顕微鏡を操作する方法 - 特許庁

INSULATOR, ITS MANUFACTURING METHOD, AND CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM例文帳に追加

碍子およびその製造方法、並びに荷電粒子線装置 - 特許庁

AUTOMATIC DILUTION SYSTEM FOR HIGH-RESOLUTION PARTICLE SIZE ANALYSIS例文帳に追加

高分解能粒度分析を行うための自動希釈システム - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR MAINTAINING FLOATING OF PARTICLE IN LIQUID例文帳に追加

液体中の粒子の浮遊を維持する方法およびシステム - 特許庁

To improve the throughput of a charged particle beam exposure system by shortening the setting time, when the charged particle beam of the system is deflected.例文帳に追加

ビームを偏向した時の整定時間を短縮してスループットを向上させた荷電粒子ビーム露光装置の実現。 - 特許庁

AUTOMATIC FOCUSING SYSTEM IN SCANNING TYPE CHARGED PARTICLE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型荷電粒子顕微鏡における自動焦点システム - 特許庁

THERAPEUTIC SYSTEM BY PARTICLE RADIATION AND METHOD FOR SWITCHING BEAM COURSE THEREOF例文帳に追加

粒子線治療システム及びそのビームコース切替方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTING METHOD USING SCANNING CHARGED PARTICLE BEAM SYSTEM例文帳に追加

走査型荷電粒子ビーム装置を用いた欠陥検査方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR CHARGED-PARTICLE-BEAM EXPOSURE, AND STAGE DEVICE例文帳に追加

荷電粒子線露光装置及び方法並びにステージ装置 - 特許庁

EXHAUST PIPE SYSTEM OF PARTICLE PRECIPITATION WASTE GAS, AND EXHAUST METHOD例文帳に追加

粒子析出性廃ガスの排気管システムと排気方法 - 特許庁

COMPOSITE PARTICLE, DISPERSION SYSTEM CONTAINING THE SAME, METHOD FOR PRODUCING THE DISPERSION SYSTEM, AND COATING MATERIAL例文帳に追加

複合粒子、その分散体、分散体の製造方法、およびコーテイング材 - 特許庁

To provide a particle counter and a particle counting system allowing monitoring or observation all the time.例文帳に追加

常時監視または観測が可能な粒子計数装置及び粒子計数システムを提供する。 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING SUBSTRATE DISPLACEMENT IN CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY DEVICE, AND CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY SYSTEM例文帳に追加

荷電粒子ビーム描画装置の基板ズレ評価方法および荷電粒子ビーム描画システム - 特許庁

MICROFLUID DEVICE, SYSTEM AND METHOD FOR CONTROLLED ENCAPSULATION OF PARTICLE OR CLUSTER OF PARTICLE例文帳に追加

粒子または粒子クラスタを制御下でカプセル化するための微小流体デバイス、システム及び方法 - 特許庁

PARTICLE QUANTITY EVALUATION DEVICE AND DIP TYPE WASHING SYSTEM AND PARTICLE STUCK QUANTITY EVALUATING METHOD例文帳に追加

パーティクル量評価装置ならびにディップ式洗浄システムおよびパーティクル付着量評価方法 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM OPTICAL SYSTEM, CHARGED PARTICLE BEAM TRANSFER DEVICE, AND MANUFACTURE OF SEMI- CONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

荷電粒子線光学系及び荷電粒子線転写装置及び半導体デバイスの製造方法 - 特許庁

METHOD OF OPTIMIZING CORRECTOR OF CHARGED PARTICLE BEAM AND CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM例文帳に追加

荷電粒子線露光装置における補正器の最適化方法及び荷電粒子線露光装置 - 特許庁

MULTI-CHARGED PARTICLE BEAM LENS, CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM USING IT, AND DEVICE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

マルチ荷電ビームレンズ及びこれを用いた荷電粒子線露光装置ならびにデバイス製造方法 - 特許庁

The SACP (selected area channeling pattern) method includes a step of sending a charged particle beam to the surface of an object by using the particle optical system, and a step of detecting particle strength of a particle discharged from the object.例文帳に追加

SACP法は、粒子光学系を用いて物体表面に荷電粒子ビームを向けるステップと、物体から放出した粒子の強度を検出するステップとを含む。 - 特許庁

SYSTEM SUPPORTING REGENERATION OF PARTICLE FILTER IN EXHAUST SYSTEM OF DIESEL ENGINE FOR VEHICLE例文帳に追加

車両用ディーゼルエンジンの排気系統内の粒子フィルタの再生を補助するシステム - 特許庁

To accurately discriminate whether a particle is a spherical particle or a fibrous particle by the arrangement of an optical system using no quadrupole electrode.例文帳に追加

四重電極を用いることのない光学系配置によって粒子が球状粒子か繊維状粒子かを正確に識別する。 - 特許庁

CHARGED PARTICLE BEAM EXPOSURE SYSTEM AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

荷電ビーム描画装置および半導体装置の製造方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING CALIBRATION BLOCK AND CHARGED PARTICLE BEAM LITHOGRAPHY SYSTEM例文帳に追加

校正ブロックの製造方法及び荷電粒子ビーム描画装置 - 特許庁

METHOD FOR PRODUCING ARTIFICIAL LIGHT WEIGHT CERAMIC PARTICLE USING FLUIDIZING BED SYSTEM例文帳に追加

流動層による人工軽量セラミック粒子の製造方法 - 特許庁

PARTICLE BEAM RADIATION SYSTEM AND METHOD OF CONTROLLING RADIATION APPARATUS例文帳に追加

粒子線照射装置の制御システム及びその制御方法 - 特許庁

ACID RECOVERY/REUSE SYSTEM FROM RESIN-PARTICLE-CONTAINING AQUEOUS SOLUTION例文帳に追加

樹脂微粒子含有水溶液からの酸回収再利用システム - 特許庁

ENERGY DEGRADER AND CHARGED PARTICLE BEAM IRRADIATION SYSTEM EQUIPPED THEREWITH例文帳に追加

エネルギーデグレーダ、及びそれを備えた荷電粒子線照射システム - 特許庁