| 意味 | 例文 |
TEST NUMBERの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1019件
This is engineburn test number 25... in three, two, one.例文帳に追加
エンジン燃焼テスト25回目3,2,1 - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
TEST CIRCUIT FOR RANDOM NUMBER GENERATION CIRCUIT, AND TEST METHOD FOR RANDOM NUMBER GENERATION CIRCUIT例文帳に追加
乱数発生回路用テスト回路及び乱数発生回路用テスト方法 - 特許庁
RANDOM NUMBER GENERATION TEST METHOD AND RANDOM NUMBER GENERATION TEST DEVICE USING THE SAME例文帳に追加
乱数生成検定方法及びこれを用いた乱数生成検定装置 - 特許庁
This is test number one for an engine burn after reconnection.例文帳に追加
再配線後 最初の燃焼テスト - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
When a sub-test in the test flow 200 is executed, the next test number in the present test number range is assigned to the result of the sub-test (106).例文帳に追加
テストフロー200内のサブテストが実行されると、サブテストの結果に、現在のテスト番号範囲内の次のテスト番号を割り当てる(106)。 - 特許庁
When a sub-test in the test flow is executed, the next test number in the present test number range is assigned to the result of the sub-test (106).例文帳に追加
テストフロー中のサブテストが実行されると、このサブテストの結果には、現在のテスト番号範囲中の次のテスト番号を割り当てる(106)。 - 特許庁
This is engineburn connection test number two.例文帳に追加
エンジン燃焼システム 接続テスト 第二回 - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
Please state your name and test number. 例文帳に追加
受験番号と名前を言ってください。 - Weblio Email例文集
METHOD AND DEVICE FOR ASSIGNING TEST NUMBER BY USING CONTEXTUAL TEST NUMBER FACTOR例文帳に追加
コンテクスチュアル・テスト番号ファクタを使用してテスト番号を割り当てる方法および装置 - 特許庁
In the case of agreement, the new test number is assigned to the sub-test.例文帳に追加
一致する場合は、新しいテスト番号をサブテストに割り当てる。 - 特許庁
When a new test number is generated to the result of a sub-test in the test flow (904), a database 700 of the test number is indexed by using the new test number (906).例文帳に追加
テストフロー内のサブテストの結果に対して新しいテスト番号が生成されると(904)、新しいテスト番号を使用してテスト番号のデータベース700にインデックスを付ける(906)。 - 特許庁
an index number that expresses the result of a test of human development 例文帳に追加
人間の発達の検査結果を示す指数 - EDR日英対訳辞書
To perform a stable test, without reducing the number of chips at one test.例文帳に追加
一度のテストにおけるチップ数を減らすこと無く、安定した試験を行う。 - 特許庁
To provide a scan test method for reducing the number of test patterns (the number of clocks), memory capacity and a processing period of time required for a scan test.例文帳に追加
スキャンテストに必要なテストパタン数(クロック数)、メモリ容量及び処理時間を削減可能なスキャンテスト方法を提供する。 - 特許庁
Then, each item of (1) an identifier of the sub-test, (2) the present test flow context information 300, (3) the test number, and (4) the base number is correlated in a test number database 600 (108).例文帳に追加
ついで、テスト番号データベース600内で、(1)サブテストの識別子、(2)現在のテストフローコンテキスト情報300、(3)テスト番号、(4)ベース番号、の各項目を関連づける(108)。 - 特許庁
Return the number of tests represented by the this test object. 例文帳に追加
テストオブジェクトに含まれるテストの数を返します。 - Python
The number of flo pairs created is also dependent upon test configuration.例文帳に追加
flo のペアの数も、テストの構成から求められる。 - XFree86
To execute a macro program in response to the number of test pieces on which a test is finished.例文帳に追加
試験が終了した試験片の本数に応じてマクロを実行させる。 - 特許庁
FIBER SHEET REINFORCING LAMINATION NUMBER CHECKING TEST METHOD例文帳に追加
繊維シート補強の積層枚数確認試験方法 - 特許庁
To improve the reliability of a test without increasing the number of test output terminals.例文帳に追加
テスト出力端子数を増大させることなく、テストの信頼性を向上させる。 - 特許庁
To provide a memory card device, capable of performing test without increasing the number of test pads.例文帳に追加
テストパッドを増加することなくテストを可能とするメモリカード装置を提供する。 - 特許庁
Information related to the test mark and test conditions is retained as a small number of scalar values.例文帳に追加
テストマークとテスト条件に係わる情報は、少数のスカラー値として保持する。 - 特許庁
To efficiently perform an ADC test, and to reduce the number of signals required for the test.例文帳に追加
ADCのテストを効率よく行い、テストに必要な信号数も削減する。 - 特許庁
To reduce the number of test processes, to improve test quality, and to improve yield.例文帳に追加
テスト工程数の削減、テスト品質の向上、及び歩留まりの向上を図る。 - 特許庁
As a result, the number of input terminals for scan test and the number of output terminals for scan test can be inhibited.例文帳に追加
この結果、スキャンテスト用入力端子数およびスキャンテスト用出力端子数を抑えることができる。 - 特許庁
To reduce the number of timing sets in a test pattern for a tester without lowering test accuracy of a function test by a tester.例文帳に追加
テスタによる機能テストのテスト精度を低下させずに、テスタ用テストパタンにおけるタイミングセット数を削減する。 - 特許庁
To provide a management method of a load test in which the number of test participants can be limited for each load test.例文帳に追加
個々の負荷テスト毎に、テスト参加者の数を制限することができる負荷テストの管理方法を、提供する。 - 特許庁
When the test number corresponding to the index information exists in the database 400, the test number is assigned to the result of the sub-test (106).例文帳に追加
索引情報に対応するテスト番号がデータベース400内に存在する場合、このテスト番号はサブテストの結果に割り当てられる(106)。 - 特許庁
To provide a test device and a test method for a semiconductor device, for realizing reduction of test cost and the number of test processes, in a functional test in the semiconductor having a large number of signal terminals.例文帳に追加
多数の信号端子を有する半導体装置の機能試験において、その試験工程数及び試験コストの削減を実現するための半導体装置の試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁
The code 102 adjusts automatically the second test number corresponding to a conflict tracking value related to the first test number, in response to a conflict between the first test number and the second test number, and thereby removes the conflict.例文帳に追加
コード(102)は、第1のテスト番号と第2のテスト番号との衝突に応答して、第1のテスト番号に関連する衝突トラッキング値に応じて第2のテスト番号を自動的に調節し、それによって、衝突を解消する。 - 特許庁
When one or a plurality of test number factors are designated to one or a plurality of levels of the present test flow context 300, the base number in the present test number range is determined by using the test number factor (104).例文帳に追加
現在のテストフローコンテキスト300の1つまたは複数のレベルに対して1つまたは複数のテスト番号ファクタが指定されている場合、テスト番号ファクタを使用して(104)、現在のテスト番号範囲のベース番号を決定する。 - 特許庁
QUANTITATIVE METHOD FOR NUCLEIC ACID IN TEST OBJECT AND METHOD FOR COUNTING NUMBER OF MOLECULE OF NUCLEIC ACID IN TEST OBJECT例文帳に追加
被検体核酸の定量方法、および被検体核酸の分子数の計数方法 - 特許庁
test and [ evaluate conditional expressions using a set of rules based on the number of arguments. 例文帳に追加
test および [ は、引き数の数に基づいた規則の集合を用いて条件式を評価します。 - JM
A conversion test pattern selection part 5 sequentially takes in test vectors included in test patterns stored in a function verification test pattern storage part 1 to select test patterns and test vectors causing the number of failures detectable by the taken in test vectors to equal the total number of failures.例文帳に追加
変換テストパターン選択部5は、機能検証用テストパターン記憶部1に記憶されたテストパターンに含まれるテストベクタを順次取込み、取込んだテストベクタによって検出できる故障数が全故障数と同じになるテストパターンおよびテストベクタを選択する。 - 特許庁
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