burn- inの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1634件
BURN-IN BOARD, TEST BURN-IN DEVICE, AND SKEW CORRECTION METHOD IN TEST BURN-IN DEVICE例文帳に追加
バーンインボード、テストバーンイン装置およびテストバーンイン装置におけるスキュー補正方法 - 特許庁
BURN-IN BOARD, BURN-IN TESTER, BURN-IN TEST METHOD AND MEMORY MEDIUM HAVING STORED BURN-IN TEST PROGRAM THEREON例文帳に追加
バーンインボード、バーンイン試験装置、バーンイン試験方法、及び、バーンイン試験プログラムを記憶した記憶媒体 - 特許庁
BURN-IN DEVICE AND BURN-IN METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
バーンイン装置及び半導体装置のバーンイン方法 - 特許庁
TEST BURN-IN BOARD CONTROL METHOD AND BURN-IN TESTING SYSTEM例文帳に追加
テストバーンインボード管理方法及びバーンイン試験システム - 特許庁
BURN-IN TEST SIGNAL GENERATION CIRCUIT AND BURN-IN TEST METHOD例文帳に追加
バーンインテスト信号発生回路及びバーンインテスト方法 - 特許庁
BURN-IN DEVICE AND BURN-IN METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体素子のバーンイン装置およびそのバーンイン方法 - 特許庁
CONTROL METHOD OF TEST BURN-IN APPARATUS AND TEST BURN- IN APPARATUS例文帳に追加
テストバーンイン装置の制御方法及びテストバーンイン装置 - 特許庁
MONITOR BURN-IN TEST METHOD, AND MONITOR BURN-IN TEST DEVICE例文帳に追加
モニターバーンイン試験方法およびモニターバーンイン試験装置 - 特許庁
TEST BURN-IN DEVICE AND METHOD OF CONTROL IN TEST BURN-IN DEVICE例文帳に追加
テストバーンイン装置、及びテストバーンイン装置における制御方法 - 特許庁
BURN-IN TEST SYSTEM, BURN-IN TEST METHOD, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加
バーンイン試験システム、バーンイン試験方法、及び記憶媒体 - 特許庁
BURN-IN BOARD CHECKER AND BURN-IN BOARD CHECK METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体IC用バーンインボードチェッカーおよびバーンインボードチェック法 - 特許庁
WASHING METHOD OF BURN-IN BOARD AND WASHING TOOL OF BURN-IN BOARD例文帳に追加
バーンインボードの洗浄方法とバーンインボードの洗浄用治具 - 特許庁
BURN-IN BOARD OF SEMICONDUCTOR IC例文帳に追加
半導体ICのバーンイン・ボード - 特許庁
ADAPTOR CARD FOR DYNAMIC BURN-IN DEVICE, AND DYNAMIC BURN-IN DEVICE例文帳に追加
ダイナミックバーンイン装置用アダプタ・カードおよびダイナミックバーンイン装置 - 特許庁
BURN-IN DEVICE AND CIRCUIT BOARD例文帳に追加
バーンイン装置および回路基板 - 特許庁
MONITORED BURN-IN TEST DEVICE AND MONITORED BURN-IN TEST METHOD FOR MICROCOMPUTER例文帳に追加
モニタードバーンインテスト装置及びマイクロコンピュータのモニタードバーンインテスト方法 - 特許庁
BURN-IN APPARATUS, BURN-IN TEST METHOD, AND CONTACT STATE DETECTION METHOD例文帳に追加
バーンイン装置、バーンイン試験方法および接触状態検知方法 - 特許庁
BURN-IN METHOD OF SEMICONDUCTOR APPARATUS例文帳に追加
半導体装置のバーンイン方法 - 特許庁
To provide a burn-in device capable of surely performing burn-in.例文帳に追加
確実にバーンインを行うことができるバーンイン装置を提供する。 - 特許庁
BURN-IN DEVICE AND SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加
バーンイン装置及び半導体ウエハ - 特許庁
METHOD OF RELEASING IN BURN-IN TEST AND ALIGNMENT DEVICE FOR USE IN BURN-IN TEST例文帳に追加
バーンイン検査における引き離し方法及びバーンイン検査に用いるアライメント装置 - 特許庁
BURN-IN TEST APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置のバーインテスト装置 - 特許庁
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