「current testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a TEG pattern, and a testing method of a semiconductor element using the pattern capable of confirming a leakage current level generated by erroneously aligned landing to an active region of M1C through silicon substrate data in a viewpoint of an active extension design rule to the M1C in a manufacturing method of a semiconductor device of 90 nm class or below.例文帳に追加

９０ｎｍ級以下の半導体素子の製造において、Ｍ１Ｃのアクティブ領域に対するミスアラインされたランディングによって発生する漏洩電流水準をＭ１Ｃに対するアクティブエクステンションデザインルールの観点でシリコン基板データを通じて確認可能にすることができるテグパターン及びそのパターンを利用した半導体素子検査方法を提供する。 - 特許庁

This center provides the training facilities for BWR operation simulators (PC simulators), non-destructive test training equipment,eddy current test (ECT) equipments for steam generator tubing, 3-Dimentional cut models of NPP major components, electrical and instrumentation training facilities, the e-learning system (to study the PWR system), loop test devices (incident simulating loop and process instrumentation loop), condition monitoring testing facility and classrooms for lecture.例文帳に追加

この研修センターには、研修設備として、BWR運転シミュレータ（PCシミュレータ）、非破壊検査実習機器、蒸気発生器伝熱管体積検査（ECT）装置、主要機器モデル、電気設備モデル、e-ラーニング（PWR系統の学習）、ループ試験装置（異常事象模擬ロープ、プロセス計装ループ）、状態監視試験設備及び座学用教室が設けられている。 - 経済産業省

The system for testing a current-actuated-display backplane on which a circuit element is installed is provided with a conductive connection with the circuit element; a drive circuit which drives selectively the circuit element through the conductive connection; a resistance layer which covers the circuit element on the backplane; and an infrared camera which forms an infrared image of the resistance layer, while the circuit element is driven.例文帳に追加

その上に回路素子が設置されている電流駆動型表示体用バックプレーンを試験するためのシステムは、前記回路素子との導電接続と、前記導電接続を通じて前記回路素子を選択的に駆動するための駆動回路と、前記バックプレーン上の、前記回路素子を被覆する抵抗層と、前記回路素子が駆動されている間に、前記抵抗被膜の赤外線画像を生成する赤外線カメラと、を備える。 - 特許庁

A testing resistor 206 is connected to a resistor 104 constituting a bridge circuit 1a of a thermal resistance flowmeter 1 with a thermal resistance 101, thereby changing the control condition of a current flowing in the bridge circuit 1a to vary the heating temperature of the thermal resistance 101, so as to artificially create a condition of the thermal resistance flowmeter 1 during measuring of a fluid under test, in a test fluid.例文帳に追加

熱抵抗体１０１とともに熱抵抗体流量計１のブリッジ回路１ａを構成する抵抗器１０４に試験用の抵抗器２０６を接続して、ブリッジ回路１ａに流れる電流の制御条件を変更することで、熱抵抗体１０１の加熱温度を可変とし、試験流体の元で、被計測流体を計測中の熱抵抗体流量計１の状態を擬似的につくりだすようにする。 - 特許庁