「current testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a test procedure for a temperature rise of a transformer that can highly precisely estimate a winding temperature when testing a temperature rise in a single transformer with many secondary windings by a short-circuit method even if a short-circuit current may not pass 100% through all the secondary windings.例文帳に追加

多数の２次巻線をもつ変圧器単体の短絡法による温度上昇試験に、全２次巻線にＩ００％短絡電流が流れない場合にも高い精度で巻線温度を推定できる。 - 特許庁

The testing is conducted from the surface side of the impervious sheet utilizing a system that electrostatic coupling occurs between the first electrode and the bottom side, and as a result, an electric current path is formed to thereby turn on electric current when the second electrode is moved to a nonconformity place of the impervious sheet by connecting an alternating current power source 13 via an ammeter 14 between the first electrode and the second electrode.例文帳に追加

第一及び第二電極間に電流計１４を介して交流電源１３を接続することにより、第二電極が移動して遮水シートの不良箇所に来た時、第一電極と遮水シート下側の間に静電結合が生じて電流経路が形成され電流が流れることを利用して遮水シートの表面側から検査を行う。 - 特許庁

To provide a static electricity applying device which can stably apply output current waveform due to air discharge by small labor, and to provide a static electricity countermeasure component evaluating characteristics thereby, a method of testing the static electricity countermeasure component, and the static electricity countermeasure component evaluating characteristics by the testing method.例文帳に追加

少ない手間で気中放電による出力電流波形を安定して印加することができる静電気印加装置およびこれにより特性が評価された静電気対策部品ならびに静電気対策部品の試験方法およびその試験方法により特性が評価された静電気対策部品を提供することを目的としている。 - 特許庁

In this testing method for testing a short circuit in the connecting end 2 of the semiconductor electronic device arranged inside a housing 1 and fixed on the conductor board, the level of each connecting end 2 is set to a level different from that of the adjacent connecting end at least once, and current inflow of the semiconductor electronic device is monitored while the respective connecting ends are set.例文帳に追加

ハウジング１内に配置され，導体板上に固定される半導体電子デバイスの接続端２の短絡を検査する方法であって，−各接続端２のレベルを，少なくとも一度，隣接する接続端と異なるレベルにセットし；かつ−各接続端２のセット間に，半導体電子デバイスの電流流入が監視される。 - 特許庁

A control part 33 finds an accurate temperature of a testing solution 42 based on a signal which a heat radiation detector 17 receives a heat radiation (infrared ray) emitted from a liquid face of a testing solution 42 to output, and a current flowing amount to a heater 16 built in a blade body 122 of a paddle 12 is controlled to maintain the temperature within a specified range.例文帳に追加

制御部３３は、熱放射検出器１７が試験溶液４２の液面から放出される熱放射（赤外線）を受けて出力する信号に基づいて試験溶液４２の正確な温度を求め、その温度が規定範囲内に維持されるようにパドル１２の翼体１２２に内蔵された発熱体１６への通電量を制御する。 - 特許庁

A test signal is imparted to each of the analog circuits 12-14 when testing, the alternating current signal output from the terminal 19 of the integrated circuit 11 is converted into a digital signal in an ADC 24, and the digital data is fast-Fourier-transformation-processed to detect a frequency component included in the alternating current signal, in a DSP 26.例文帳に追加

テスト時には、アナログ回路１２〜１４へ試験信号を加え、集積回路１１の端子１９から出力される交流信号をＡＤＣ２４においてディジタルデータに変換し、ＤＳＰ２６において、上記ディジタルデータに対し高速フーリエ変換演算を行って交流信号に含まれる周波数成分を検出する。 - 特許庁

To provide a power-supply current measuring method for a semiconductor device capable of detecting the defect generation state of a semiconductor device to be tested by a test system, and measuring stably the change of the power-supply current flowing in the semiconductor device to be tested by another testing device, while maintaining the defect generation state.例文帳に追加

テストシステムにより被試験半導体デバイスの不良発生状態を検出し、その不良発生状態を維持したまま、他の試験装置が被試験半導体デバイスに流れる電源電流の変化を安定に測定することができる半導体デバイスの電源電流測定方法を提案する。 - 特許庁

A direct current voltage for testing the short-circuited pixel, generated at a direct current source 18B, is impressed between a plurality of positive electrodes 13 exposed at the side end part of the organic EL panel 11 and a plurality of negative electrodes 17 with a polarity reversed from that at the light emission, namely, the voltage is impressed by reversing the positive side and negative side.例文帳に追加

有機ＥＬ表示パネル１１の側端縁に露出された複数の陽極１３と、複数の陰極１７に対し短絡画素検査用の直流電源１８Ｂからの直流電圧を、発光用の直流電圧の印加方向とは逆に、即ちプラス側とマイナス側とを逆にして電圧を印加する。 - 特許庁

In an environmental acceleration cracking monitoring device and a method, a positioning mechanism 14 of a testing tool 12 is provided, for equalizing each relative position of a test piece 11 to a current supply terminal 15 and a potential difference measuring terminal 16.例文帳に追加

環境助長割れ監視装置および方法において、電流供給端子１５、電位差計測端子１６に対する試験片１１の相対位置を同一にする試験冶具１２の位置決め機構１４を設けたことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a magnetic head slider testing apparatus in which a current output circuit of a DC magnetic field and a high frequency magnetic field can be shared, a magnetic field leaked to the periphery from a core is suppressed, and which can be miniaturized.例文帳に追加

ＤＣ磁界と高周波磁界の電流出力回路を共通化することができ、コアから周辺へ漏洩する磁界を抑え、装置の小型化を図ることができる磁気ヘッドスライダ検査装置を提供することにある。 - 特許庁

In a power supplying port determining process, part of a plurality of power supply bumps are determined as the power supplying ports upon testing in the range wherein neither the voltage drop violation nor the current density violation is detected by power supply network analysis.例文帳に追加

電源供給口決定工程では、電源網解析により電圧降下違反または電流密度違反のいずれも検出されない範囲で、複数の電源バンプの一部が試験時の電源供給口として決定される。 - 特許庁

The method of testing the superconductive cable line comprises: continuously energizing a direct current of a prescribed energization pattern by a power supply 60 to the superconductive cable line having joints 30A-30C; and evaluating the integrity of each joint by measuring temperatures at each joint.例文帳に追加

接続部30A〜30Cを有する超電導ケーブル線路に電源60により連続的に所定の通電パターンの直流電流を通電し、各接続部における温度を測定することにより各接続部の健全性を評価する。 - 特許庁

To provide an evaluation device for an electroplating liquid capable of evaluating the throwing power properties that is one of the characteristics of an electroplating liquid, using a wide range of current density being the feature of a Hull cell testing method, and to provide an evaluation method of the electroplating liquid.例文帳に追加

電気めっき液の特性の一つであるつきまわり性を、ハルセル試験法の特徴である広範囲な電流密度で、評価することが出来る電気めっき液の評価装置及びその評価方法を提供することである。 - 特許庁

A testing means is directly connected to two auxiliary electrodes arranged at a predetermined distance from the pylon, and an electric current measuring means installed around the footings of the pylon for measuring electric currents flowing along the footings.例文帳に追加

試験用手段は、鉄塔から所定の距離をおいて配置された２つの補助電極と、基礎に沿って流れる電流を測定するために鉄塔の基礎の周りに設置された電流測定手段とに直接接続される。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing semiconductor integrated circuits capable of measuring the frequency characteristics of the power current of an object to be measured at any timing regardless of whether a test pattern is impressed onto the object to be measured or not.例文帳に追加

被測定対象に対して試験パターンを印加しているか否かに拘わらず、任意のタイミングで被測定対象の電源電流の周波数特性を測定することができる半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for estimating residual magnetic flux of a transformer for estimating residual magnetic flux after testing or inspection, when an onsite test and inspection accompanying the application of a direct-current voltage to a transformer coil are executed.例文帳に追加

変圧器巻線への直流電圧印加を伴う現地試験や点検を実施した場合において、試験や点検後の残留磁束を推定する変圧器の残留磁束推定方法及び残留磁束推定装置を提供する。 - 特許庁

This tire testing device 10 is equipped with the endless belt 16 having a belt surface 16S abutting on a tire T, and a primary side coil 18 of a linear motor for generating an eddy current and generating a running force on the endless belt 16.例文帳に追加

タイヤ試験装置１０は、タイヤＴに当接するベルト路面１６Ｓを有する無端ベルト１６と、無端ベルト１６に渦電流を発生させて走行力を生じさせるリニアモータの一次側コイル１８と、を備えている。 - 特許庁

During testing, while applying an alternate current signal VAC to pixel electrodes 118 via an electro-conductive rubber 200, scanning signals are supplied successively to scanning lines as well as sampling control signals are supplied successively to the sampling switches.例文帳に追加

検査時には、画素電極１１８に、導電性ゴム２００を介して交流信号ＶＡＣを印加する一方、走査線に走査信号を順次供給するとともに、サンプリングスイッチにサンプリング制御信号を順次供給する。 - 特許庁

This adaptable non-contact type touch panel inspecting-testing method generates a contact pressure signal to a touch pad 100 by jetting an air current generated from an air nozzle 5, into a selected position of the touch pad 100 to be tested.例文帳に追加

本発明はエアノズル５で発生する気流を、テストを受けるタッチパッド１００の選定された位置に噴くことにより、タッチパッド１００に触圧信号を発生させる適応可能な非接触式タッチパッド検査テスト方法である。 - 特許庁

To provide a semiconductor device equipped with a stacked capacitor whose capacitance insulating film contains an aluminum oxide and capable of suppressing the increase of a leak current by suppressing the deterioration of a semiconductor device upon BT testing, and to provide a manufacturing method of the semiconductor device.例文帳に追加

容量絶縁膜が酸化アルミニウムを含むスタック型のキャパシタを備える半導体装置であって、BT試験の際の半導体装置の劣化を抑制し、リーク電流の増大を抑制できる半導体装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

A connecting structure 10 is irradiated from one side by a light emission part 4 so that a testing light passes through both sides of respective electrode plates 11 of the connecting structure 10 of which, the plurality of electrode plates 11 are vertically jointed to a current collection plate 12.例文帳に追加

複数枚の極板１１が集電板１２に垂直に接合された連接構造体１０の各極板１１の両側を検査光が通過するように、連接構造体１０を一方の側から照明部４により照明する。 - 特許庁

To provide a method and device for testing a semiconductor device capable of evaluating an exact interface state density and its energy distribution of the semiconductor device having an insulating film permitting the tunnel current to easily flow.例文帳に追加

トンネル電流が流れやすい絶縁膜を有する半導体装置について正確な界面準位密度及びそのエネルギー分布を評価することを可能とする半導体装置の試験方法及び試験装置を提供することを提供する。 - 特許庁

The polyelectrolyte fuel cell testing method comprises a step of supplying fuel gas and oxidant gas to the fuel cell and running it at a current density lower than that during a rated operation, and a step of detecting the amount of decomposition products of a polyelectrolyte membrane in an emitted off-gas while the cell is driven at low current densities.例文帳に追加

燃料電池に燃料ガスと酸化剤ガスを供給し、定格運転時よりも低い電流密度で運転するステップと、低い電流密度で運転する際に、排出されるオフガスに含まれる高分子電解質膜の分解生成物の量を検出するステップとを備えた、高分子電解質型燃料電池の試験方法を用いる。 - 特許庁

The method for testing the secondary battery of this invention includes a step of discharging and charging that carries out discharging and charging in the secondary battery treated initial discharging and charging treatment under a discharging and charging current larger than that of the initial discharging and charging current of the initial discharging and charging treatment.例文帳に追加

本発明の二次電池の検査方法は、初期充放電処理が施された二次電池に、初期充放電処理の初期充放電電流より大きな電流値を有する充放電電流での充放電を行う充放電工程と、充放電工程が施された二次電池の電池特性の変化を測定する測定工程と、を有することを特徴とする。 - 特許庁

Typical configuration of the method for manufacturing the vertical magnetic recording disk includes a writing process which applies an alternating current with a frequency less than a predetermined value or a direct current while rotating the magnetic disk, and a signal quality testing process after writing.例文帳に追加

上記課題を解決するために、本発明に係る垂直磁気記録方式の磁気ディスクの製造方法の代表的な構成は、磁気ディスクを回転させつつ、所定の周波数以下の交流信号または直流信号を印加して書き込みを行う工程と、書き込みを行った後に信号品質テストを行う工程と、を含むことを特徴とする。 - 特許庁

To remove scale adhering on the inner wall of piping and to prevent the adhesion of scale on the inner wall of the piping by letting the optimum Lorentz force act on a liquid to be treated passing through the piping without requiring a laboratory testing and continuously changing the frequency of a current for exciting a solenoid coil.例文帳に追加

ラボテストを必要とせず、ソレノイドコイルに励磁する電流の周波数を連続的に変化させずに、配管内を通流する被処理液体に対し最適なローレンツ力を作用させ、配管の内壁に付着したスケールの除去および付着の防止する。 - 特許庁

The testing system includes a functional block 31 for monitoring the fluctuations in the power supply voltage, in the internal region of the semiconductor device, and a control timing adjusting function for adjusting the control timing of a load current-correcting means 15, based on the fluctuation monitored by the block.例文帳に追加

半導体装置内部領域の電源電圧変動をモニタするための機能ブロック３１と、機能ブロックによりモニタした電源電圧変動に基づいて負荷電流補正手段１５を制御するタイミングを調整する制御タイミング調整機能とを有する。 - 特許庁

In the abnormal test for short-circuiting a terminal T1 of a primary coil L1 and a terminal T5 of a secondary coil L2 in a transformer 10, a limiting resistor R1 for limiting a current flowing in a testing resistor R10 is provided between the secondary coil L2 and the terminal T5.例文帳に追加

トランス１０の１次側コイルＬ１の端子Ｔ１と２次側コイルＬ２の端子Ｔ５とを短絡させる異常試験において、試験用抵抗Ｒ１０に流れる電流を制限するための制限抵抗Ｒ１を、２次側コイルＬ２と、端子Ｔ５との間に設ける。 - 特許庁

To provide a direct-current testing device capable of applying a stable constant voltage to a device to be tested (DUT), realizing high-density mounting by suppressing heat generation, and realizing miniaturization and cost reduction, and a semiconductor device equipped with the device.例文帳に追加

安定した一定の電圧をＤＵＴに印加することができ、発熱を抑えることにより高密度実装が可能であり、更には小型化及び低コスト化を実現することができる直流試験装置、及び当該装置を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a plating device where the variation of electric current flowing through a workpiece at the inside of a drum therein and the state of a plating liquid at the inside of the drum are reproduced, and testing can be performed regarding the influence of them on the formation of a plating film.例文帳に追加

バレルめっき装置のドラム内部の被処理物に流れる電流の変動、および、バレルめっき装置のドラム内部のめっき液の状態を再現して、これらがめっき皮膜の形成に及ぼす影響について試験を行うことができるめっき装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surge current discharge method, a discharge testing device, and a discharge monitoring method for inspecting defect in which reinforcement embedded in a foundation part of a building or concrete of each floor is broken and dissolved due to lightning before ready-mixed concrete placing.例文帳に追加

建物の基礎部分や各フロアのコンクリート内に埋設されている鉄筋が落雷により破壊あるいは溶解してしまうような瑕疵を生コンクリート打設前に検査することができるサージ電流放電工法及び放電試験器並びに放電監視方法を提供する。 - 特許庁

To provide a piezoelectric transformer drive circuit for protecting a piezoelectric transformer from a short-circuitted state caused between a load and ground potential for some reason or a state of low load impedance during time-division light control and preventing incorrect judgement even if load impedance is high at the time of start, load opening, and high load impedance while limiting current testing specification is satisfied.例文帳に追加

時分割調光時に負荷が何らか理由でグランド電位と短絡された状態や負荷インピーダンスが低い状態に圧電トランスを保護し、限流試験規格を満足し、起動時、負荷オープン時、負荷インピーダンスが高い場合に誤判定をしない圧電トランス駆動回路を提供する。 - 特許庁

To provide a terminal resistance circuit capable of stabilizing the level of an input-output terminal at the input mode time, even when the input/output terminal unconnected to a testing terminal of an LSI tester exists, and reducing the through-current at the output mode time.例文帳に追加

ＬＳＩテスターのテスト用端子に接続されていない入出力端子が存在する場合であっても、入力モード時における、その入出力端子のレベルが安定し、出力モード時の貫通電流を低減させることができる終端抵抗回路を提供する。 - 特許庁

This eddy current examination probe 10 is provided with a coil case 12 of which an angle α of the tip part facing to the testing body 16 is 180° or less, a ceramic shielding body 14 provided in the tip part of the coil case 12, and a coil part 20 stored in the coil case 12.例文帳に追加

熱間渦流探傷プローブ１０は、試験体１６に対向する先端部の角度αが１８０゜以下であるコイルケース１２と、コイルケース１２の先端部に設けられたセラミックス製の遮蔽体１４と、コイルケース１２内に納められたコイル部２０とを備えている。 - 特許庁

The view has emerged that in Japan as well as in the United States, the financial health of regional banks may be threatened if the market turmoil is prolonged. Could you explain your view on the current situation in reference to the implementation status of stress testing, too? 例文帳に追加

アメリカにとどまらず我が国でも市場の混乱が長期化すれば、日本の地域金融機関の健全性も脅かされるのではないか、といった見方もでてきておりますが、当局といたしまして、ストレステストの実施状況等も含めて長官のご見解を伺えればと思います。 - 金融庁

Although I will not ask you to comment on the stock price level, I understand that the FSA has been conducting stress testing to examine the impact (of stock price drops) on banks' financial conditions. With the Nikkei Average slumping at the current price level, a drop below 10,000 has become conceivable. 例文帳に追加

株価の水準そのもののコメントは求めませんが、銀行の財務に与える影響についてですが、金融庁としては従来からストレス・テストをやっていると承知しておりますが、今日の株価水準を見てみると10,000円割れも伺うような状況となってきました。 - 金融庁

In the method of testing the semiconductor device to determine an interface state density of a MIS transistor formed on a semiconductor substrate 1 by using the charge pumping method, first, a value of a first current made to flow to the semiconductor substrate by applying a first measurement signal composed of continuous pulse waves to a gate of the MIS transistor is measured.例文帳に追加

チャージポンピング法を用いて、半導体基板上に形成されたＭＩＳ型トランジスタの界面準位密度を求める半導体装置の評価方法において、まず、パルス波が連続してなる第１の測定信号をＭＩＳ型トランジスタのゲートに印加して前記半導体基板に流れる第１の電流値を測定する。 - 特許庁

This method for testing short-circuiting in the battery consisting of a positive electrode, a negative electrode, a separator arranged so as to separate both the electrodes and electrolyte enables to determine short-circuiting by a resistance by making the electrolyte solid state and measuring alternating current impedance between the positive electrode and the negative electrode.例文帳に追加

本発明は、正極と負極とこの両者を隔離するように配したセパレータと電解液からなる電池の短絡の有無の検査方法であって、前記電解液を固体状態とし、前記正極と前記負極の間で交流インピーダンスを測定し、その抵抗値によって短絡の有無を判定することができる。 - 特許庁

The semiconductor testing device 1 includes a prober 2, the measuring device 3 and an electronic control device 4, and can perform gate leakage current measurement of a semiconductor element 10, reverse withstand voltage measurement between a gate and a drain, and between the gate and a source, breakdown voltage measurement between the gate and the source, and gate threshold voltage measurement.例文帳に追加

本発明に係る半導体試験装置１は、プローバ２、測定装置３、電子制御装置４を備えており、半導体素子１０のゲート漏れ電流測定、ゲート・ドレイン間およびゲート・ソース間の逆耐圧測定、ゲート・ソース間の降伏電圧測定、およびゲート閾値電圧測定が可能である。 - 特許庁

In order to shorten the time required for testing overcharge detecting operation of an IC 1 for protecting a secondary battery test by shortening the delay time for overcharge detection by increasing the frequency of an oscillation circuit 7, a test control circuit 20 for increasing the level of a constant current determining the oscillation frequency of the oscillation circuit 7 is provided.例文帳に追加

２次電池保護用ＩＣ１の過充電検出動作のテスト時に、発振回路７の周波数を高くして過充電検出のための遅延時間を短縮し、テストに要する時間を短縮するために、発振回路７の発振周波数を決めている定電流の値を増加させるテスト用制御回路２０を設ける。 - 特許庁

To provide a load test support system, connected with a power source being a test sample as a load for testing of response to the load of the power source, which can be adapted to the actual load current value for enabling the minimum width of the load resistance, adjustable in each electric power range, to be set as small as possible.例文帳に追加

本発明は、試料である電力源に負荷として接続され、その電力源の負荷に対する応答の試験に供される負荷試験支援装置に関し、実際の負荷電流の値に適応し、各電力レンジにおいて可変できる負荷抵抗の最小の幅を小さく設定できることを目的とする。 - 特許庁

In the burn-in testing method carrying out the test by operating the semiconductor device in a predetermined temperature atmosphere, while supplying power to the semiconductor device, an operation command signal commanding operation of the semiconductor device is repeatedly supplied, and varying of a power source current corresponding to the operation command signal is counted.例文帳に追加

半導体デバイスを所定の温度雰囲気中で動作させて試験を行うバーンイン試験方法において、半導体デバイスに電源を供給しながら、半導体デバイスの動作を指令する動作指令信号を繰り返し供給し、動作指令信号に対応する電源電流の増減をカウントする。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit in which generation of leakage current is prevented while making available a pad of an IO block selected from at least two selection IO blocks, and to provide a testing method of the semiconductor integrated circuit, and semiconductor integrated circuit package in which the semiconductor integrated circuit is mounted.例文帳に追加

少なくとも２つの選択ＩＯブロックから選択したＩＯブロックのパッドの利用を可能にしながらリーク電流の発生が防止された半導体集積回路、その半導体集積回路の試験方法、およびその半導体集積回路が搭載された半導体集積回路パッケージを提供する。 - 特許庁

In the ultrasonic fatigue testing apparatus composed of an ultrasonic transmission part and a vibration part, the ultrasonic transmission part is composed of an ultrasonic oscillator, a differential input type ultrasonic power amplifier for outputting the voltage proportional to two signal voltages and a current detector for outputting the voltage proportional to the output voltage.例文帳に追加

本発明による超音波発信部と振動部とからなる超音波疲労試験装置において、超音波発信部は、超音波発振器、２つの信号電圧に比例する電圧を出力する差動入力型超音波電力増幅器、およびその出力電流に比例する電圧を出力する電流検出器からなる。 - 特許庁

The integrated circuit 11 is prepared preliminarily with voltage-frequency conversion circuits 15-17 for converting voltages of testing objective points in respective analog circuits 12-14 into alternating current signals of corresponding frequencies, and a mixing circuit 18 for mixing outputs from the respective voltage-frequency conversion circuits 15-17 to be output to a terminal 19, in an inside of the circuit 11.例文帳に追加

予め集積回路１１内に、各アナログ回路１２〜１４の試験対象点の電圧を対応する周波数の交流信号に変換する電圧−周波数変換回路１５〜１７と、各電圧−周波数変換回路１５〜１７の出力を混合して端子１９へ出力する混合回路１８とを作成しておく。 - 特許庁