「current testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

At the current time, most model testing and validation studies must rely on a limited data base.例文帳に追加

現在，たいていのモデルの試験・確証研究は，限定されたデータベースに頼らなくてはならない。 - 英語論文検索例文集

To provide power supply unit and testing apparatus for measuring power supply current which flows through a target device, without being affected by the dielectric absorption current in a bypass capacitor.例文帳に追加

バイパスコンデンサにおける誘電体吸収電流の影響を除去して、対象デバイスに流れる電源電流を測定する。 - 特許庁

When testing, a gate voltage of the reference cell transistor T2r is set, and a reference current made to flow through the reference memory cell 3 for testing is adjusted.例文帳に追加

試験時において基準セルトランジスタＴ２ｒのゲート電圧が設定され、試験用基準メモリセル３に流れる基準電流が調節される。 - 特許庁

To provide a testing device and its testing method for a semiconductor element, suppressing progression of breakdown of the semiconductor element by over current.例文帳に追加

本発明は、過電流による半導体素子の破壊の進行を抑えることができる、半導体素子の試験装置及びその試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a direct-current testing device and the like for effectively eliminating bad influence when applying a direct-current signal on DUT without causing sharp cost increase and deterioration in testing efficiency.例文帳に追加

大幅なコスト上昇及び試験効率の低下を招くことなく直流信号をＤＵＴに印加する際の悪影響を効果的に排除することができる直流試験装置等を提供する。 - 特許庁

To provide an alarm unit which reduces a current consumption in testing, and improves its usability.例文帳に追加

試験実施に係る消費電流を低減しユーザビリティを向上させた警報器を提供すること。 - 特許庁

VOLTAGE/CURRENT GENERATION MEASURING DEVICE AND THE SAME FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

電圧電流発生測定装置及びこれを用いる半導体試験装置の電圧電流発生測定装置 - 特許庁

To provide a direct-current testing device capable of reducing useless power consumption at the waiting time.例文帳に追加

待機時の無駄な電力消費を低減することができる直流試験装置を提供すること。 - 特許庁

The direct-current voltage containing a ripple component in conformity with a use condition is impressed to the testing direct-current capacitors 1, 2 to be tested.例文帳に追加

これにより供試直流コンデンサ１および２に使用状態に則したリップル分を含む直流電圧を印加して試験することができる。 - 特許庁

To provide a direct-current testing device capable of measuring highly accurately at high speed, a current changing rate or a ripple component without great cost increase, and a semiconductor testing device equipped with the device.例文帳に追加

大幅なコスト上昇を招かずに電流変化率やリップル成分を高精度且つ高速に測定することとができる直流試験装置、及び当該装置を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a TFT array and its testing device capable of measuring an amount of current of a transistor for driving and testing presence/absence of defects of pixels at a state close to an actual use state in current copy type pixels.例文帳に追加

カレントコピー型の画素において、実使用状態に近い状態で、駆動用トランジスタの電流量を測定し、画素の欠陥の有無を試験することが可能なＴＦＴアレイおよびその試験装置を提供する。 - 特許庁

After that, a probe for inspection is brought into contact with the dummy terminals for testing to inspect whether or not a prescribed current flows in the wiring pattern 22, and the dummy terminals for testing are cut off.例文帳に追加

その後、テスト用ダミー端子に検査用プローブを接触させて配線パターン２２に所定の電流が流れるか否かを検査し、テスト用ダミー端子を切り離す。 - 特許庁

The surge tester 100 controls surge electric power impressed on the testing object 2 based on the value of a surge current impressed on the testing object 2 and the input signal.例文帳に追加

サージ試験装置１００は、被試験対象２に印加するサージ電力を、被試験対象２に印加されたサージ電流の値及び入力信号に基づいて制御する。 - 特許庁

To provide a surge test circuit that can realize the same testing condition regardless of consumption current of tested-equipment.例文帳に追加

被試験機器の消費電流によらず、同一の試験条件を実現できるサージ試験回路を提供する。 - 特許庁

This invention is acquired by improving a test system for testing objects to be tested which output a current.例文帳に追加

本発明は、電流出力を行う被試験対象を試験するテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device having a comparator of a high operation speed with low fluctuation of a leak current.例文帳に追加

動作速度が速く、リーク電流の変動が小さいコンパレータを有する半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The level of voltage, the timing and a current level are set by a circuit 10 used to perform the testing.例文帳に追加

電圧レベル、タイミングおよび電流レベルは試験を行うために使用される回路１０によって設定される。 - 特許庁

To provide a reliability testing device capable of preventing breakage of the testing device by blocking a member to be tested from a current detection means at high speed.例文帳に追加

本発明は、被試験部材と電流検出手段とを高速に遮断することにより、試験装置を破損させることを防止することができる信頼性試験装置を提供する。 - 特許庁

To conduct non-destructive testing in general, and more specifically, to conduct eddy current inspection of manufactured components.例文帳に追加

本発明は、一般に非破壊試験に関し、より具体的には、製造構成部品の渦電流探傷検査に関する。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor integrated circuit device capable of screening according to a power source current at the time of standing still.例文帳に追加

静止時、電源電流によるスクリーニングが可能な半導体集積回路装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To enable efficient tests by extremely shortening electrical characteristic testing time of a micro current measuring mode and other operating current measuring modes, etc., in a simple constitution.例文帳に追加

簡易な構成で微少電流測定モードとそれ以外の動作電流測定モード等の電気的特性試験の時間を極めて短くして効率的な試験を可能にする。 - 特許庁

To provide a testing method of a CMOS integrated circuit whereby the fault current of the CMOS integrated circuit having a high static power current and a high variation thereof can be detected.例文帳に追加

静止電源電流が大きくそのバラツキも大きいＣＭＯＳ集積回路の欠陥電流を検出可能なＣＭＯＳ集積回路の試験方法を提供する。 - 特許庁

The testing circuit BIST includes a variable current source 10, a voltage comparator 11, controllers 12, 16, and a supply circuit 14 for supplying an output current Iout to the internal circuit FLM.例文帳に追加

テスト回路ＢＩＳＴは、可変電流源１０、電圧比較器１１、コントローラ１２、１６、出力電流ＩｏｕｔをＦＬＭに供給する供給回路１４を含む。 - 特許庁

To provide an inverter testing device and an inverter testing method capable of easily measuring a current phase angle and/or a voltage phase angle with respect to a reference phase angle with an external measuring instrument, and testing an inverter satisfactorily.例文帳に追加

基準位相角に対する電流位相角及び／または電圧位相角を外部の計測器にて容易に計測することができ、インバータの試験を良好に行うことができるインバータ試験装置及びインバータ試験方法を提供すること。 - 特許庁

To carry out current limiting with high accuracy in comparison with a conventional device by applying a semiconductor device operating at high voltage such as an IC for PDP panel drive in a testing device in regard to a current limiting circuit, and a testing device.例文帳に追加

本発明は、電流制限回路及び試験装置に関し、例えばＰＤＰパネルドライブ用ＩＣ等の高電圧で動作する半導体素子の試験装置に適用して、従来に比して高精度に電流制限することができるようにする。 - 特許庁

To provide a testing method by which presence/absence of defects of current copy type pixels is tested in the state where an EL element is not enclosed.例文帳に追加

ＥＬ素子未封入の状態でカレントコピー型の画素の欠陥の有無を試験することができる試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device capable of quickly and easily judging an anomaly of static power source current existing in a device under testing.例文帳に追加

被試験デバイスに存在する静止電源電流の異常を高速かつ容易に判定できるデバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

To realize a semiconductor integrated circuit and a test system capable of easily testing in a current logic signal.例文帳に追加

容易に電流論理信号における試験が行える半導体集積回路及びテストシステムを実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus for performing a highly accurate direct current test, without causing significant increase in cost.例文帳に追加

コストの大幅な上昇を招かずに高精度の直流試験を行うことができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing a semiconductor which enables easy grasp of a test result of a direct current test without imposing troublesome work upon a user, and thus enables enhancement of testing efficiency.例文帳に追加

ユーザに対して煩雑な作業を強いることなしに直流試験の試験結果を容易に把握することができ、これにより試験効率を高めることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A non-defective DUT is connected to any power supply current analyzing device among n-pieces of power supply current analyzing devices 1 to perform tests in the semiconductor testing apparatus 100.例文帳に追加

半導体試験装置１００において、ｎ個ある電源電流解析装置１１のうち、何れかの電源電流解析装置に良品であるＤＵＴを接続して試験を実行する。 - 特許庁

To provide a testing device capable of measuring accurately a supply current of an electronic device by removing fluctuations of a sub-threshold leak current of a field effect transistor included in the electronic device.例文帳に追加

電子デバイスに含まれる電界効果トランジスタのサブスレッショルドリーク電流の変動を無くし、電子デバイスの電源電流を精度よく測定することのできる試験装置を提供する。 - 特許庁

The current conduction-testing device 1 consists mainly of the bulb socket 10 for holding a bulb 5, a switch 40 for controlling a current conduction state and a current non-conduction state, and a battery box 30 for storing a battery 7.例文帳に追加

通電実験装置１は、電球５を保持するための電球ソケット１０と、通電状態及び非通電状態を制御するスイッチ４０と、電池７を収納するための電池ボックス３０とから主に構成されている。 - 特許庁

This makes it possible to determine in which chip defective wire connection exists from the size of an electric current passed through a connection circuit in testing.例文帳に追加

これにより、テスト時に接続回路に流した電流の大きさから、いずれのチップにワイヤ接続の不良があるのかを判別できる。 - 特許庁

The testing apparatus also includes a direct current (DC) generation apparatus (210/214) coupled to the utility grid electric power supply apparatus.例文帳に追加

試験装置はまた、公共送電網電力供給装置に結合された直流（ＤＣ）発生装置（２１０／２１４）を備えている。 - 特許庁

METHOD FOR INSPECTING ON-SITE SURGE CURRENT DISCHARGE EXPERIMENT TO EQUIPOTENTIAL CONNECTION AND BASIC PILE GROUNDED PLATE, DISCHARGE TESTING DEVICE, AND DISCHARGE MONITORING METHOD例文帳に追加

等電位接続と基礎杭アース板への現場サージ電流放電実験検査方法及び放電試験装置並びに放電監視方法 - 特許庁

To provide a leak current tester and a leak current testing method capable of determining generation of a leak current relative to each of a plurality of semiconductor elements provided on a semiconductor device, and specifying a generation spot of the leak current.例文帳に追加

半導体装置に設けられた複数の半導体素子のそれぞれについてリーク電流の発生の有無を判定することが可能であるとともにリーク電流の発生箇所を特定することが可能なリーク電流検査装置およびリーク電流検査方法を提供する。 - 特許庁

Thus, based on the signals of the testing wires OP1 to OP4 and ON1 to ON4, whether a circuit pattern is formed to enable switching of the driving capability is inspected, and testing time is shortened by setting and testing all current loads corresponding to respective driving capabilities by a tester.例文帳に追加

これにより、試験配線ＯＰ１〜ＯＰ４，ＯＮ１〜ＯＮ４の信号から、ドライブ能力の切り換えが可能なように回路パターンが形成されているか検査でき、各ドライブ能力に対応する電流負荷を全てテスタで設定して試験するより、試験時間を短縮できる。 - 特許庁

The testing device allows the operational amplifier 18 to operate and perform a test to make the current flowing fixed in value, in the testing object transistor 14 so that the current quantity flowing in a resistor 24 becomes fixed, by applying a desired voltage from DAC 16 to a positive input end of the operational amplifier 18.例文帳に追加

ＤＡＣ１６から所望の電圧をオペアンプ１８の正入力端に印加することで、抵抗２４に流れる電流量が一定になるように、オペアンプの１８が動作して、試験対象トランジスタ１４に流れる電流を一定値とする試験が行われる。 - 特許庁

To provide a testing device, a quality determination reference setting device, a testing method and a test program capable of detecting highly sensitively and reliably abnormality in a static electric power source current value by taking dispersion in a process condition into account.例文帳に追加

プロセス条件のばらつきを考慮した、静的電源電流値の異常を高い感度・及び信頼性で検出可能な試験装置、良否判定基準設定装置、試験方法及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁

Then, switching surge discharge withstand current rating testing is carried to the machined element 21 under the above condition, so that the electric characteristics can be sharply improved.例文帳に追加

この条件で研削加工した素子２１について、開閉サージ放電耐量試験を行うと、その電気的特性は著しく向上する。 - 特許庁

To provide a visual testing device capable of easily and correctly selecting a current object to be tested from various types of objects to be tested.例文帳に追加

多品種の検査対象の中から現在の検査対象を容易かつ正確に選択できる外観検査装置を提供することにある。 - 特許庁

To reduce an electric current consumption in an operation time of an electronic circuit caused by a test module for testing the electronic circuit.例文帳に追加

電子回路を試験する試験モジュールに起因する電子回路の動作時の電流消費を低減する方法およびデバイスを提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can reduce a testing cost by carrying out a current leak test while constricting the number of input/output pads.例文帳に追加

入出力パッドの数を圧縮しながら、電流リーク試験を行って、試験コストの低減を図り得る半導体装置を提供する。 - 特許庁

To perform operational test for a rectifier type current-limiting interruptor simply and in a short time without preparing for a dedicated testing place.例文帳に追加

整流器型限流遮断装置の動作試験を、専用の試験場を用意したりすることなく、簡単かつ短時間に行えるようにする。 - 特許庁