「current testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

This invention is acquired by improving a test system for testing objects to be tested which have a plurality of output pins and output a multi-level current.例文帳に追加

本発明は、複数の出力ピンを有し、多階調電流を出力する被試験対象を試験するテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁

The deterioration acceleration testing device 1 includes a fuel cell 100, an AC impedance measuring device 200, an AC current applying device 300, and a control part 400.例文帳に追加

劣化加速試験装置１は、燃料電池１００と、交流インピーダンス測定装置２００と、交流電流印加装置３００と、制御部４００と、を備える。 - 特許庁

To stabilize the resistance between the electrode of a semiconductor device and the electrode of a testing substrate and suppress and adverse effect due to high frequency current and voltage.例文帳に追加

半導体装置の電極と試験基板の電極間の抵抗値を安定させ、かつ高周波の電流や電圧による悪影響を抑制する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device loaded with a high-speed pulse generation circuit wherein an influence of a current flowing in a parasitic element generated when being integrated is corrected.例文帳に追加

集積化した際に生じる寄生素子に流れる電流の影響を補正した、高速パルス発生回路を搭載した半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing method which can perform a stable and accurate test even if an external signal is inputted to perform a test without connecting a crystal oscillator and shorten a test time without being affected by an oscillation start time in a testing method for measuring the current consumption of an inverter in a constant current type oscillation circuit.例文帳に追加

定電流方式の発振回路におけるインバータの消費電流を測定するテスト方法において、水晶振動子を接続することなく、外部信号を入力してテストしても、安定した正確なテストができるとともに、テスト時間も発振開始時間の影響がなく短縮できるテスト方法を提供する。 - 特許庁

In the B/I test process, a maximum current limit Ilmt (max) to be supplied from a B/I testing device to a B/I board BIBD is set based on a margin α in which a maximum operation current Icc (max) of a testing object device DUT, the number N of DUTs mounted on the BIBD, and a dispersion are taken into consideration.例文帳に追加

Ｂ／Ｉテスト工程の際に、Ｂ／Ｉテスト装置からＢ／ＩボードＢＩＢＤに供給する最大電流リミットＩｌｍｔ（ｍａｘ）を被テストデバイスＤＵＴの最大動作電流Ｉｃｃ（ｍａｘ）とＢＩＢＤ上のＤＵＴの搭載数Ｎとばらつきを加味した余裕度αに基づいて設定する。 - 特許庁

The testing method for making the determination of good or no-good by means of a current test in static state in a wafer level testing step 5 of the semiconductor integrated circuit is characterized in that the reference current value for judging soundness is determined for each product on the basis of characteristic values of a transistor in a basic characteristics measurement step 2 for determination.例文帳に追加

半導体集積回路のウェハ状態試験工程５での静止状態電流試験によって良否判定を行う検査方法で、その良否判定基準となる基準電流値を基礎特性測定工程２でのトランジスタの特性値を基に製品ごとに決定して判定を行うことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a watt-hour meter testing apparatus capable of negating errors caused by insulated current transformers when imaginary load tests are performed on a plurality of watt-hour meters through the use of insulated current transformers.例文帳に追加

絶縁変流器を用いて複数の電力量計を虚負荷試験するに当り、絶縁変流器に起因する誤差を打ち消すことができる電力量計の試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device which is capable of performing measurement of a continuous current waveform in one DC module in addition to conventional measurement without changing a measurement method, when measuring a voltage application current.例文帳に追加

電圧印加電流測定時において、測定手法を変更することなく、従来の測定に加えて、１つのＤＣモジュールでの連続的な電流波形も測定することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit where a scan pass test circuit having no malfunction is realized without taking time for designing, instantaneous current in the scan pass testing time is reduced, and shortage of current supply of the tester hardly occurs.例文帳に追加

設計に時間をかけずに誤動作のないスキャンパス・テスト回路を実現することと、スキャンパス・テスト時の瞬時電流を削減し、テスターの電流供給不足が発生しにくい半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

The B/I testing device monitors a power supply current value supplied to the BIBD and, when the value exceeds the maximum current limit Ilmt (max), issues an alarm, shuts off the supply of the power, and the like.例文帳に追加

Ｂ／Ｉテスト装置は、ＢＩＢＤに供給している電源電流値を監視し、この値が最大電流リミットＩｌｍｔ（ｍａｘ）を超えた場合に、アラームの発生や当該電源供給の遮断等を行う。 - 特許庁

To ensure high creepage-insulation resistance between a fixed contact and a movable contact and prevent malfunction of a testing circuit caused by pollution by arc gas in current cut-off operation in an electrical leakage testing switch mounted on a mold type zero-phase inverter.例文帳に追加

モールド形零相変流器に搭載装備した漏電テストスイッチについて、その固定接点／可動接点間に高い沿面絶縁抵抗を確保し、電流しゃ断動作時のアークガスによる汚損が原因でテスト回路が誤動作するのを防ぐ。 - 特許庁

To accurately measure the value of a built-in current sensing resistor in a semiconductor integrated circuit for sensing a large current having the built-in current sensing resistor without being influenced by additional resistance owing to terminals and/or a testing probe, and to adjust the threshold value for the current sensing based on the measurement result without requiring large current flow and special additional equipment.例文帳に追加

電流検出用抵抗を内蔵し、大きな電流を検出する半導体集積回路において、電流検出用抵抗の値を端子やテスト用プローブの付加抵抗の影響を受けることなく正確に測定すると共に、大きな電流を流したり特別な付加装置を設けることなく電流検出の閾値を測定結果に基づいて調整すること。 - 特許庁

Nondestructively testing includes a step (108) of generating an eddy current in the coated article; a step (110) of measuring the eddy current in the coated article; and a step (112) of evaluating a near-bond section region of the coated article located adjacent to the bond section using the measured eddy current.例文帳に追加

非破壊検査する段階は、被覆物品内に渦電流を発生させる段階（１０８）と、被覆物品内の渦電流を測定する段階（１１０）と、測定渦電流を使用してボンド部に隣接して位置する被覆物品のボンド部近傍領域を評価する段階（１１２）とを含む。 - 特許庁

This circuit testing device 10 is equipped with a pattern supply part 12, a supply current measuring part 14, a determination part 16, an electromagnetic wave supply part 18 and a movable part 20.例文帳に追加

本発明による回路試験装置１０は、パターン供給部１２、電源電流測定部１４、判定部１６、電磁波供給部１８および可動部２０を備える。 - 特許庁

A battery testing part 50 periodically performs a battery load test which supplies a load current same as that in an abnormal alarm period to the battery power supply 36 to detect a battery voltage.例文帳に追加

電池試験部５０は定期的に電池電源３６に異常警報時と同等な負荷電流を流す電池負荷試験を行って電池電圧を検出する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of assuring a high output level applied to a DUT pin by means of a current RF output module and having no limitation in cable length.例文帳に追加

現状のＲＦ出力モジュールを使用してＤＵＴピンへの印加出力レベルが大きくとれ、ケーブル長の制約のない半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device for testing an insulation monitoring device, capable of obtaining test results of higher accuracy by performing a test using a reactive leakage current as a parameter.例文帳に追加

無効漏れ電流をパラメータとする試験を行うことにより、より高い精度の試験結果を得ることができる絶縁監視装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device capable of reducing an effect of a leakage current varied in response to a temperature of a device under test, and capable of determining precisely quality of the device under test.例文帳に追加

被試験デバイスの温度に応じて変化するリーク電流の影響を低減し、被試験デバイスの良否を精度よく判定することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To achieve a testing method on the basis of source current in static state of a semiconductor integrated circuit by which the determination of good or no-good is exactly made even if there are manufacturing variations.例文帳に追加

製造バラツキがあっても良否判定が正しく行われる半導体集積回路の静止状態電源電流に基づいた検査方法の実現を課題とする。 - 特許庁

To provide an eddy current testing method capable of confirming adhesion when pressing a probe to a surface to be tested even if a curvature radius of the surface to be tested is unknown.例文帳に追加

被検査面の曲率半径が不明な場合でも、被検査面にプローブを押付けた際の密着性を確認できる渦電流探傷方法を提供することにある。 - 特許庁

To generate a fault list of a delay fault, a wire breaking fault, and a path delay fault which can be detected by a transient source current testing method with high observableness and a test pattern series.例文帳に追加

可観測性の高い過渡電源電流試験法により、検出可能な遅延故障、断線故障、パス遅延故障と又テストパターン系列との故障リストを生成する。 - 特許庁

The lead connection part 32 is provided with connection structure for connecting the lead wire for testing the current loading, and the trunk part 33 is provided with an insulation coating 35 so as to surround the circumferential surface.例文帳に追加

リード接続部３２は課電試験用のリード線を接続する接続構造を有し、胴部３３の外周を包囲するように絶縁被覆３５が設けられる。 - 特許庁

This circuit testing equipment 10 is equipped with a pattern feeding part 12, a power supply current measuring part 14, a determining part 16, an electromagnetic wave feeding part 18, and a movable part 20.例文帳に追加

本発明による回路試験装置１０は、パターン供給部１２、電源電流測定部１４、判定部１６、電磁波供給部１８および可動部２０を備える。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device having a voltage impression current measuring function shortening a testing time by preventing lowering of a response rate while maintaining the minimum phase margin even if a bypass capacitor having any capacitance value is connected to a power source pin of a device to be measured.例文帳に追加

被測定デバイスの電源ピンにバイパスコンデンサとしてどのような容量値のものが接続されたとしても、最低限の位相余裕を確保しつつ応答速度の低下を防止し、テスト時間を短縮することができる電圧印加電流測定機能を備えた半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

For any inspection and testing of an electric equipment, it is important to easily, surely and correctly detect voltage and current impressed on the equipment with required degree of accuracy for efficiency and safety of works.例文帳に追加

電気機器の試験，検査については，機器に印加される電圧，電流を，簡便，確実，そして必要な精度で正確に検出することが，作業の効率，安全のために重要である。 - 特許庁

Thus, the probe is brought into contact with the space between the conducting pads and a current is caused to flow to perform testing continuity between the conductive layer and the conducting pad of ground potential.例文帳に追加

これにより、導通パッド間にプローブを接触させて電流を流すことにより、導電層とグランド電位とされた導通パッドとの間の導通検査を行うことができる。 - 特許庁

A current adjustment unit 22 adjusts the compensation pulse currents I_SRC and I_SINK to be generated in the testing process after the calibration, according to the measured power supply voltage V_DD.例文帳に追加

電流調節部２２は、測定された電源電圧Ｖ_ＤＤに応じて、キャリブレーション後の試験工程において生成すべき補償パルス電流Ｉ_ＳＲＣ、Ｉ_ＳＩＮＫを調節する。 - 特許庁

To provide an alternating current load device, capable of conducting load test of an inverter, by inputting pulse width alternating voltage width controlled alternating voltage, using a comparatively simple constitution, regarding the alternating loading device for testing inverter load test.例文帳に追加

インバータの負荷試験を行う交流負荷装置に関し、比較的簡単な構成により、インバータのパルス幅制御出力交流電圧を入力して、インバータの負荷試験を行う。 - 特許庁

To set a reference value to be high, when shutting down a semiconductor testing device by a current flowing instantly in a power supply line, while avoiding damage of a connector.例文帳に追加

コネクタの損傷を回避しつつ、電源供給ラインを瞬間的に流れる電流で半導体テスト装置をシャットダウンさせる場合の基準値を高く設定できるようにする。 - 特許庁

b) The national government shall request that local governments conduct hepatitis testing as is currently their responsibility, and that they improve the current system.例文帳に追加

イ 国は、現在、地方公共団体が実施主体となって行っている肝炎ウイルス検査について、地方公共団体に対し、引き続き、検査実施とその体制整備を要請するとともに、 - 厚生労働省

A first power shutdown switch (WTR1) is provided between a power supply line (VDD) and an internal power supply line (VDDM1) which is exclusive for a circuit block (BLK1), and has a current supply capability such that an on-state current is raised to an amplitude capable of protecting an external testing environment.例文帳に追加

第１電源遮断スイッチ（ＷＴＲ１）は、電源線（ＶＤＤ）と回路ブロック（ＢＬＫ１）専用の内部電源線（ＶＤＤＭ１）との間に設けられ、オン電流が外部試験環境を保護可能な大きさになる電流供給能力を有する。 - 特許庁

The coating during deposition having smoothness of 125 RMS or more can be non-destructively inspected with ultrasonic wave, eddy current, or visible dye penetrant testing without preliminary polishing process.例文帳に追加

１２５ＲＭＳ以上の平滑性を有する堆積時のコーティングは、予備的な研磨工程を行わずに、超音波、渦電流又は染色浸透探傷試験によって非破壊検査することができる。 - 特許庁

To provide a probe card for a semiconductor testing device, improving inconveniences in device test with the interference of a power current between a plurality of DUTs in the prove card applicable to a wafer prober device.例文帳に追加

ウエハプローバ装置に適用するプローブカードにおいて複数ＤＵＴ間の電源電流の干渉に伴うデバイス試験の不具合を改善可能とした半導体試験装置のプローブカードを提供する。 - 特許庁

Thus the use of the voltage value, when resistance is connected in parallel with the electric cell to apply current enables accurate testing of connection status, even if minute disconnections are found on the cell voltage sensing line.例文帳に追加

電池電圧検出線に微小断線があっても、単電池と並列に抵抗を接続し電流を流したときの電圧値を用いるので、精度よく接続状態の検査が可能である。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus which takes advantage of the characteristics of each of an eddy current testing (ECT)-based flaw detection apparatus and an imaging-based flaw detection apparatus in an inspection system for detecting flaws on a metal bar.例文帳に追加

金属棒の欠陥を検出する検査システムにおいて、渦電流試験（ＥＣＴ）系欠陥検出装置と画像系欠陥検出装置のそれぞれの特徴を生かした検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor relay capable of remarkably reducing leakage current toward downstream side in a semiconductor relay to be used for a semiconductor testing device, for example.例文帳に追加

本発明は、例えば半導体試験装置などにおいて用いられる半導体リレーにおいて、下流側への漏れ電流を著しく低減することが可能な半導体リレーを提供することを目的としている。 - 特許庁

In a test mode for testing whether output voltage OUT at a predetermined output current is within a standard or not, operation of an internal circuit 1 is stopped, and switches 15 and 17 are set to off-state and on-state, and only current carried to PMOS transistors 13_1, 13_2 and 13_3 of a current supply circuit 13 is supplied to a resistance element 16.例文帳に追加

所定の出力電流時における出力電圧_ＯＵＴが規格内にあるか否かのテストを行なうテストモードにおいて、内部回路１の動作を停止するとともにスイッチ１５，１７をオフ状態，オン状態に設定し、電流供給回路１３のＰＭＯＳトランジスタ１３＿１，１３＿２，１３＿３に流れる電流のみ抵抗素子１６に供給する。 - 特許庁

To allow easy eddy current examination of high senstivity as to the presence of a defect generated on a surface of a testing body having a circular cross section, in a hot condition, and reduce the possibility of damage of a flaw detection coil in the eddy current examination to a small extent.例文帳に追加

円形断面を有する試験体の表面に発生した欠陥の有無を、熱間において、高感度かつ簡便に渦流探傷することができ、しかも、渦流探傷の際に探傷コイルが破損するおそれの少ない熱間渦流探傷プローブを提供すること。 - 特許庁

In a pin electronics part 100 of this semiconductor testing device, when a control part 150 performs OFF-control of the semiconductor relay 130 at a time other than a test time of the DUT 180, ON-control of a relay 140 for direct current measurement is performed simultaneously even when the direct current measurement is not performed.例文帳に追加

半導体試験装置のピンエレクトロニクス部１００では、ＤＵＴ１８０の試験時以外において、制御部１５０が半導体リレー１３０をＯＦＦ制御すると、同時に直流測定を行っていない場合においても直流測定用リレー１４０をＯＮ制御しておく。 - 特許庁

A diode 11 is provided in a current-carrying path from a PWM converter 2 over to a storage battery 3 and an inverter 4, a normally-closed contact 12 is connected in parallel to this diode 11, the output voltage of the PWM converter 2 is reduced on testing the battery 3, and also the normally- closed contact 12 is open when testing the storage battery 3.例文帳に追加

ＰＷＭコンバータ２から蓄電池３およびインバータ４にかけての通電路にダイオード１１を設け、このダイオード１１と並列に常閉接点１２を接続し、蓄電池３の試験に際しＰＷＭコンバータ２の出力電圧を低減するとともに常閉接点１２を開放作動する。 - 特許庁

The dynamo-electric type vibration testing device executes external force calculation processing, using a displacement amount xs of the testing object mounting part obtained from a displacement sensor 131, an acceleration value (d^2xs/dt^2) obtained from an acceleration sensor 133, and a current value I of a driving coil 125 obtained from an ammeter 135.例文帳に追加

また、動電式振動試験装置１では、変位センサ１３１から得られる試験体載置部の変位量ｘｓ及び加速度センサ１３３から得られる加速度値（ｄ^２ｘｓ／ｄｔ^２）、及び電流計１３５から得られる駆動コイル１２５の電流値Ｉを用いて外力算出処理を実行する。 - 特許庁

While there has been previous surveys conducted to determine the number of individuals undergoing hepatitis testing, new surveys and further research are required to determine the true extent of hepatitis testing at the current time.例文帳に追加

しかしながら、肝炎ウイルス検査体制の整備及び普及啓発を効果的に実施するためには、施策を行う上での指標が必要であり、このため、従前から実施している肝炎ウイルス検査の受検者数の把握のための調査に加えて、肝炎ウイルス検査の受検率について把握するための調査及び研究が必要である。 - 厚生労働省

To provide a testing apparatus for power converter that can conduct noise test equivalent to combined noise test without using a power converter as a final product in a power converter, protect semiconductor switching elements for an inverter arm of a power converter for testing from short circuit current flowing in the inverter arm and automatically reset them after the short circuit current disappears.例文帳に追加

組み合わせノイズ試験と同等のノイズ試験を、電力変換装置における最終製品の電力変換器を用いずに行なうことができるとともに、試験用の電力変換器のインバータアームの半導体スイッチング素子を、該インバータアームを流れる短絡電流から保護し、該短絡電流消滅後は自動復帰することを可能とした電力変換装置の試験装置を提供することである。 - 特許庁

To provide an IC tester and an IC testing method which make it possible to perform frequency analysis only by current variation by the use of a test pattern signal more easily, without changing a pattern signal to be inputted.例文帳に追加

入力するパターン信号を変更することなく、より容易に試験パターン信号による電流変動のみの周波数分析を行なうことを可能とするＩＣテスタ、及びＩＣ試験方法を提供する。 - 特許庁