「defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(16ページ目) - Weblio英語例文検索

METHOD FOR CORRECTING BLACK DEFECT IN PHOTOMASK例文帳に追加

フォトマスクの黒欠陥修正方法 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING WHITE DEFECT IN PHOTOMASK例文帳に追加

フォトマスクの白欠陥修正方法 - 特許庁

By using the primary defect list or the secondary defect list, the defect management information is simultaneously reproduced from a plurality of the adjacent defect management areas (step 3).例文帳に追加

この一次欠陥リストまたは二次欠陥リストを用いて、近接する複数の欠陥管理領域から一度に欠陥管理情報を再生する（ステップ３）。 - 特許庁

INSPECTING SYSTEM AND DEFECT ANALYSIS APPARATUS例文帳に追加

検査システム、及び、欠陥解析装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND ITS APPARATUS例文帳に追加

欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁

DARK DEFECT CONCEALMENT METHOD OF IMAGE SENSOR例文帳に追加

イメージセンサの暗欠陥隠蔽方法 - 特許庁

An image of a detected defect is supplied to defect classifying means (36), and the defect is classified based on a shape of the defect image and brightness distribution.例文帳に追加

検出された欠陥の画像は、欠陥分類手段（３６）に供給され、欠陥画像の形状及び輝度分布に基づいて欠陥が分類される。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE OF PERIODIC PATTERN例文帳に追加

周期性パターンの欠陥検査装置 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING PHOTOMASK DEFICIENCY DEFECT例文帳に追加

フォトマスク欠損欠陥修正方法 - 特許庁

DEFECT REVIEWING METHOD AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

欠陥レビュー方法およびその装置 - 特許庁

SPOT DEFECT DETECTION METHOD AND DEVICE例文帳に追加

シミ欠陥検出方法及び装置 - 特許庁

DIGITAL EDDY CURRENT DEFECT DETECTION TEST DEVICE例文帳に追加

デジタル式渦流探傷試験装置 - 特許庁

DEFECT ANALYSIS SUPPORT SYSTEM FOR GAME MACHINE例文帳に追加

遊技機の不良解析支援システム - 特許庁

ANTIREFLECTION FILM DEFECT DETECTOR例文帳に追加

反射防止フィルム欠陥検出装置 - 特許庁

DEFECT DETECTION DEVICE OF SHEET-SHAPED OBJECT例文帳に追加

シート状物の欠陥検出装置 - 特許庁

To provide a learning-type defect detecting apparatus, a learning-type defect detecting method and a learning-type defect detecting program for quickly and accurately detecting a defect.例文帳に追加

より正確かつより高速に欠陥検出が可能な学習型の欠陥検出装置、欠陥検出方法および欠陥検出プログラムを提供する。 - 特許庁

DEFECT CLASSIFICATION METHOD AND DEVICE THEREOF例文帳に追加

欠陥分類方法及びその装置 - 特許庁

The simulation defect sample 10 is so attached to the defect inspecting device that the simulation defect 13 is diagonal to the scan line of the defect inspecting device.例文帳に追加

この模擬欠陥１３が欠陥検査装置の走査ラインに対して斜めになるように、模擬欠陥サンプル１０を欠陥検査装置に取り付ける。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

欠陥検査装置およびその方法 - 特許庁

surgical correction of a defect of the palate 例文帳に追加

口蓋の異常の外科的矯正 - 日本語WordNet

DEFECT INSPECTING METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR DEFECT INSPECTION例文帳に追加

欠陥検査装置およびその方法 - 特許庁

DEFECT SORTING METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

欠陥分類方法及びその装置 - 特許庁

EVALUATING METHOD OF INTERNAL DEFECT OF SAMPLE例文帳に追加

試料内部欠陥の評価方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD, AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁

DEFECT INSPECTION DEVICE AND ITS METHOD例文帳に追加

欠陥検査装置およびその方法 - 特許庁

DEFECT INSPECTION METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

欠陥検査方法およびその装置 - 特許庁

DEFECT CLASSIFICATION METHOD AND APPARATUS THEREFOR例文帳に追加

欠陥分類方法及びその装置 - 特許庁

IRREGULARITY DEFECT DETECTING METHOD AND APPARATUS例文帳に追加

ムラ欠陥検出方法及び装置 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR DEFECT INSPECTION例文帳に追加

欠陥検査装置およびその方法 - 特許庁

DEFECT CLASSIFICATION METHOD AND ITS DEVICE例文帳に追加

欠陥分類方法及びその装置 - 特許庁

SOLID-STATE IMAGE PICKUP DEVICE, PIXEL DEFECT INSPECTION DEVICE AND PIXEL DEFECT CORRECTION METHOD例文帳に追加

固体撮像装置、画素欠陥検査装置および画素欠陥補正方法 - 特許庁

GLASS SUBSTRATE CONVEYANCE DEVICE, DEFECT DETECTION METHOD AND DEFECT DETERMINATION METHOD例文帳に追加

ガラス基板の搬送装置、欠陥検出方法および欠陥判定方法 - 特許庁

DEFECT CORRECTION DEVICE, DEFECT CORRECTION METHOD AND METHOD FOR MANUFACTURING PATTERNED SUBSTRATE例文帳に追加

欠陥修正装置、欠陥修正方法、及びパターン基板の製造方法 - 特許庁

IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD, IMAGE DEFECT INSPECTION DEVICE AND VISUAL INSPECTION DEVICE例文帳に追加

画像欠陥検査方法、画像欠陥検査装置及び外観検査装置 - 特許庁

DEFECT CORRECTION DEVICE, DEFECT CORRECTION METHOD, AND PATTERN SUBSTRATE MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

欠陥修正装置、欠陥修正方法、及びパターン基板の製造方法 - 特許庁

DEFECT REPAIR METHOD AND DEFECT REPAIR APPARATUS IN FLAT MEMBRANE FOR WATER TREATMENT例文帳に追加

水処理用平膜上の欠点補修方法および欠点補修装置 - 特許庁

IMAGE DEFECT INSPECTION METHOD, IMAGE DEFECT INSPECTION APPARATUS, AND APPEARANCE INSPECTION APPARATUS例文帳に追加

画像欠陥検査方法、画像欠陥検査装置及び外観検査装置 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING DEFECT OF PHOTOMASK, MANUFACTURING METHOD, AND DEFECT CORRECTION DEVICE例文帳に追加

フォトマスクの欠陥修正方法、製造方法および欠陥修正装置 - 特許庁

DEFECT DETECTOR FOR LAMINATE FILM, AND METHOD OF DETECTING DEFECT OF LAMINATE FILM例文帳に追加

ラミネートフィルムの欠陥検出装置及びラミネートフィルムの欠陥検出方法 - 特許庁

DEVICE FOR CORRECTING DEFECT OF COLOR FILTER AND METHOD OF CORRECTING DEFECT OF COLOR FILTER例文帳に追加

カラーフィルタの欠陥修正装置、およびカラーフィルタの欠陥修正方法 - 特許庁

To evaluate defect detection sensitivity in inspection of a defect of a mask pattern.例文帳に追加

マスクパターンの欠陥検査における欠陥検出感度の評価を行う。 - 特許庁

DEFECT INSPECTION APPARATUS, DEFECT INSPECTION METHOD, AND MANUFACTURING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

欠陥検査装置、欠陥検査方法、及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEFECT ANALYZING DEVICE AND DEFECT MODE CLASSIFYING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

半導体不良解析装置及びそれを用いた不良モード分類方法 - 特許庁