「field probe」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

PROXIMITY FIELD LIGHT PROBE AND ITS PRODUCTION例文帳に追加

近接場光プロ—ブ及びその製造方法 - 特許庁

ELECTRIC FIELD PROBE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

電界プローブおよびその製造方法 - 特許庁

FABRICATION METHOD OF PROBE FOR NEAR-FIELD MICROSCOPE例文帳に追加

ニアフィールド顕微鏡用プローブの作製方法 - 特許庁

PROBE FOR NEAR FIELD LIGHT, GENERATING METHOD FOR NEAR FIELD LIGHT USING THE PROBE, PROBE HAVING THE PROBE, STORAGE UNIT HAVING THE PROBE, SURFACE OBSERVING UNIT, EXPOSURE UNIT, MANUFACTURING METHOD FOR DEVICE, AND MANUFACTURING METHOD FOR THE PROBE HAVING THE PROBE FOR THE NEAR FIELD LIGHT例文帳に追加

近接場光用の探針、該探針を用いた近接場光発生方法、該探針を有するプローブ、該プローブを有するストレージ装置、表面観察装置、露光装置、デバイス製造方法、近接場光用の探針を有するプローブの製造方法 - 特許庁

STRUCTURE OF PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE, METHOD FOR POSITIONING LIGHT INCIDENT ON MICRO OPENING OF PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE, SCANNING PROXIMITY FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND PROXIMITY FIELD OPTICAL RECORDER USING PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE例文帳に追加

近接場光プローブの構造、近接場光プローブの微小開口に入射する光の位置決め方法、走査型近接場光顕微鏡装置及び近接場光プローブを用いた近接場光記録装置 - 特許庁

SCANNING METHOD IN SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND STRONG MAGNETIC FIELD SCANNING PROBE MICROSCOPE DEVICE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡における走査方法及び強磁場走査型プローブ顕微鏡装置 - 特許庁

PROBE WITH FIELD-EFFECT TRANSISTOR-CHANNEL STRUCTURE FOR PROBE SCANNING MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

電界効果トランジスタチャンネル構造を持つ探針走査型顕微鏡の探針およびその製造方法 - 特許庁

The probe includes a magnetic field transducer and at least a single probe electrode.例文帳に追加

このプローブは、磁場トランスデューサと、少なくとも１個のプローブ電極と、を含んでいる。 - 特許庁

PROBE FOR NEAR-FIELD MICROSCOPE, ITS MANUFACTURING METHOD, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE USING THE PROBE例文帳に追加

近接場顕微鏡用プローブおよびその製造方法ならびにそのプローブを用いた走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

A magnetic field having directionality is generated by a magnetic field generating part, and the magnetic field is detected by a magnetic field detecting part arranged in the ultrasonic probe.例文帳に追加

磁場発生部によって方向性をもった磁場が発生され、超音波探触子に設けられた磁場検出部によってその磁場が検出される。 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING PROBE FOR SCANNING HEAR-FIELD MICROSCOPE, AND PROBE FOR SCANNING NEAR-FIELD MICROSCOPE MANUFACTURED BY THE SAME例文帳に追加

走査型近視野顕微鏡用プローブの製造方法とその製造方法によって作製された走査型近視野顕微鏡用プローブ - 特許庁

To provide a highly efficient semiconductor near field probe in which the focal point of a micro lens accurately coincides with the near field light probe.例文帳に追加

本発明は、マイクロレンズの焦点位置と近接場光プローブとを精密に一致させた高効率半導体近接場プローブを提供する。 - 特許庁

NEAR-FIELD OPTICAL PROBE, AND METHOD AND APPARATUS FOR MANUFACTURE OF NEAR-FIELD OPTICAL PROBE例文帳に追加

近接場光プローブ、および近接場光プローブの作製方法と近接場光プローブの作製装置 - 特許庁

PROBE METHOD BY ON-VEHICLE EQUIPMENT, ON-VEHICLE PROBE DEVICE AND MAGNETIC FIELD GENERATOR THEREFOR, MAGNETIC FIELD DETECTION DEVICE, AND SUPPORT STRUCTURE OF TRANSMISSION AND RECEPTION PART例文帳に追加

車両搭載機器による探査方法、車両搭載型探査装置並びにその磁場発生装置、磁場検出装置及び送受信部の支持構造 - 特許庁

NEAR FIELD PROBE, AND ELECTRICAL CHARACTERISTIC MEASURING DEVICE, AND ELECTRICAL CHARACTERISTIC MEASURING METHOD HAVING NEAR FIELD PROBE例文帳に追加

近接場プローブ、この近接場プローブを備えた電気的特性測定装置及び電気的特性測定方法 - 特許庁

PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD, PROXIMITY FIELD OPTICAL CANTILEVER AND OPTICAL PICKUP例文帳に追加

近接場光プローブ、その製造方法、近接場光カンチレバー及び光ピックアップ装置 - 特許庁

PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE, PROXIMITY FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING THE SAME AND OPTICAL RECORDING / REPRODUCING APPARATUS例文帳に追加

近接場光プローブおよびそれを用いた近接場光学顕微鏡および光記録／再生装置 - 特許庁

NEIGHBORING MAGNETIC FIELD MEASURING APPARATUS HAVING MAGNETIC FIELD PROBE CALIBRATING FUNCTION AND ELECTROMAGNETIC WAVE SOURCE SEARCHING APPARATUS例文帳に追加

磁界プロ—ブ校正機能を有する近傍磁界測定装置および電磁波発生源探査装置 - 特許庁

NEAR FIELD OPTICAL PROBE, MANUFACTURING METHOD FOR THE SAME, AND NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

近接場光プローブ及びその製造方法、並びにそれを用いた近接場光顕微鏡 - 特許庁

METHOD FOR DETERMINING DISTANCE BETWEEN NEAR-FIELD PROBE AND SAMPLE SURFACE TO BE INSPECTED AND NEAR-FIELD MICROSCOPE例文帳に追加

近視野ゾンデと検査対象試料表面の間の距離を決定する方法および近視野顕微鏡 - 特許庁

PROBE FOR NEAR FIELD LIGHT SCATTERING, AND NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING SAME例文帳に追加

近接場光散乱用プローブおよびこれを用いた近接場光学顕微鏡 - 特許庁

NEAR-FIELD LIGHT PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD AND OPTICAL RECORDING REPRODUCING UNIT AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

近接場光プローブとその製造方法と光記録再生装置及び近接場光顕微鏡 - 特許庁

NEAR-FIELD OPTICAL PROBE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING IT AND OPTICAL RECORDING/REPRODUCING DEVICE例文帳に追加

近接場光プローブおよびそれを用いた近接場光学顕微鏡および光記録／再生装置 - 特許庁

OPTICAL TRAP PROBE NEAR-FIELD LIGHT MICROSCOPE AND NEAR-FIELD OPTICAL DETECTION METHOD例文帳に追加

光トラッププローブ近接場光顕微鏡装置及び近接場光検出方法 - 特許庁

NEAR-FIELD LIGHT PROBE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING IT AND OPTICAL RECORDING REPRODUCING UNIT例文帳に追加

近接場光プローブおよびそれを用いた近接場光学顕微鏡および光記録再生装置 - 特許庁

ELECTRIC FIELD DETECTION PROBE AND THREE-DIMENSIONAL ELECTRIC FIELD MEASURING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

電界検出用プローブ及び該プローブを使用した三次元電界計測方法 - 特許庁

FIELD PROBE, FIELD DETECTION APPARATUS, AND METHOD USING THE SAME例文帳に追加

磁界プローブ及び磁界検出装置並びにこれらを用いた磁界検出方法 - 特許庁

SCATTERING NEAR-FIELD OPTICAL PROBE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE INCLUDING THE SAME例文帳に追加

散乱型近接場光プローブ、散乱型近接場光プローブを備えた近接場光学顕微鏡 - 特許庁

ELECTRIC FIELD SENSING PROBE, METHOD OF DETECTING ELECTRIC FIELD, AND METHOD OF MANUFACTURING CIRCUIT BOARD例文帳に追加

電界感知プローブ、電界の検出方法及び回路基板の製造方法 - 特許庁

PROXIMITY FIELD LIGHT PROBE, PROXIMITY FIELD LIGHT OPTICAL MICROSCOPE HAVING PROXIMITY FIELD LIGHT PROBE, PROXIMITY FIELD LIGHT LITHOGRAPHY DEVICE AND PROXIMITY FIELD LIGHT STORAGE DEVICE例文帳に追加

近接場光プローブ、及び該近接場光プローブを有する近接場光学顕微鏡、近接場光リソグラフィー装置、近接場光ストレージ装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR PRODUCING NEAR-FIELD OPTICAL PROBE, NEAR-FIELD OPTICAL PROBE, NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE, NEAR-FIELD MICRO MACHINING DEVICE AND NEAR- FIELD OPTICAL RECORDING REPRODUCING DEVICE例文帳に追加

近接場光プローブの作製方法と近接場光プローブの作製装置、及び近接場光プローブ、近接場光学顕微鏡、近接場光微細加工装置、近接場光記録再生装置 - 特許庁

In these embodiments, the probe pin is protruded when the probe unit is located within the magnetic field, and the probe pin is stored when the probe unit is not in the magnetic field.例文帳に追加

プローブユニットが磁場内にあるときはプローブピンが突出し、プローブユニットが磁場内にないときはプローブピンが格納されているプローブユニット。 - 特許庁

An apparatus for assessing magnetic field distortion includes a probe and a processor.例文帳に追加

磁界ひずみを評価する装置は、プローブおよびプロセッサを含む。 - 特許庁

OPTICAL PROBE, ITS MANUFACTURE, AND SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE例文帳に追加

光プローブとその製造方法および走査型近接場光顕微鏡 - 特許庁

NMR SPIRAL RF PROBE COIL PAIR WITH LOW EXTERNAL ELECTRIC FIELD例文帳に追加

弱い外部電場を有するＮＭＲらせんＲＦプローブコイル対 - 特許庁

MICROMACHINING, MAGNETIC PROBE FOR MICROSCOPE AND ELECTRIC FIELD SENSOR例文帳に追加

微細加工方法、磁気力顕微鏡用プローブおよび電場センサ - 特許庁

PROBE OPENING-CREATING APPARATUS AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING THE SAME例文帳に追加

プローブ開口作製装置、及びそれを用いた近接場光学顕微鏡 - 特許庁

CANTILEVERED NEAR-FIELD PROBE STRUCTURE AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

カンチレバー型近接場探針構造体及びその作製方法 - 特許庁

NEAR-FIELD OPTICAL PROBE PRODUCING APPARATUS AND PRODUCING METHOD OF THE SAME例文帳に追加

近接場光プローブ作製装置及びその作製方法 - 特許庁

METHOD FOR MANUFACTURING OPTICAL PROPAGATION ELEMENT PROBE FOR NEAR-FIELD MICROSCOPE例文帳に追加

近視野顕微鏡用光伝搬体プローブの製造方法 - 特許庁

ELECTROMAGNETIC FIELD DETECTION PROBE AND METHOD OF MANUFACTURING SAME例文帳に追加

電磁界検知プローブおよび電磁界検知プローブ製作方法 - 特許庁

NEAR-FIELD LIGHT SCATTERING-USE PROBE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

近接場光散乱用プローブおよびその製造方法 - 特許庁

APERTURE MEASURING DEVICE AND METHOD FOR NEAR FIELD OPTICAL PROBE例文帳に追加

近接場用光プローブの開口測定装置及び方法 - 特許庁

NEAR-FIELD LIGHT PROBE UNIT PRODUCING DEVICE AND ITS PRODUCING METHOD例文帳に追加

近接場光プローブユニット作製装置及びその作製方法 - 特許庁

SCANNING NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND PROBE FOR IT例文帳に追加

近接場光学顕微鏡および近接場光学顕微鏡用探針 - 特許庁