「field probe」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

Magnetic field sensors are placed in a medical instrument, e.g., a probe, and in an interface device to enable respective positions of the probe and the interface device to be ascertained by a location processor when the sensors are exposed to a magnetic field.例文帳に追加

磁界センサーが、医療器具、例えばプローブの内部、およびインターフェイス・デバイスの内部に位置されて、そのセンサーが磁界に曝されると、プローブおよびインターフェイス・デバイスのそれぞれの位置が場所処理装置により突き止められることができる。 - 特許庁

To provide a scanning method in a scanning probe microscope attaining accurate magnetic measurement of a sample under a strong magnetic field, without causing disarray of the magnetic structure of the sample, and to provide a strong magnetic field scanning probe microscope device.例文帳に追加

プローブが試料の磁気構造を乱すことなく、強磁場下における試料の磁気的測定をより正確に行うことができる走査型プローブ顕微鏡における走査方法及び強磁場走査型プローブ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

While the probe 1 is scanned in order to measure the dynamic interaction by the magnetic field, the range of vibration of the probe 1 is set in a range from the surface of the magnetic recording head 3 to a point of no interaction with the magnetic field.例文帳に追加

探針１が前記磁界による力学的相互作用を測定するために走査されている間は、磁気記録ヘッド３の表面から探針１が前記磁界と相互作用しなくなる点までの範囲内に探針１の振動する範囲が収まるようにする。 - 特許庁

To provide an apparatus for evaluating near-field light with a simple structure, which can evaluate states of a minute aperture section in a probe affecting the light intensity in a near-field, and to provide a method of manufacturing an exploring needle and a flat-type probe used in the apparatus.例文帳に追加

簡易な構成を用いて、近接場光強度に影響を及ぼすプローブの微小開口部の状態を評価することができる近接場光評価装置およびそれに用いる探針ならびに平面型プローブの製造方法を提供すること。 - 特許庁

This probe 140 for near field optical microscope is characterized by being equipped with a scattering layer 150 adjacent to the outer surface side of a clad layer 144 of glass fibers, having approximately the same refractive index as that of the clad layer 144, concerning the probe for near field optical microscope using the glass fibers.例文帳に追加

ガラスファイバを用いた近接場光学顕微鏡用プローブにおいて、ガラスファイバのクラッド層１４４外面側に隣接し、該クラッド層の屈折率とほぼ同じ屈折率を有する散乱層１５０を備えたことを特徴とする近接場光学顕微鏡用プローブ１４０。 - 特許庁

In the probe 1 for scattering-type near-field microscopes, a part or the whole of the probe is coated with metal 7 having the particle size of a radius of curvature between 10-50 nm, which prevent adhesion to one another at least due to the interaction of an evanescent field.例文帳に追加

散乱型近接場用プローブ1において、少なくともエバネッセント場の相互作用に起因するプローブの一部または全部が、互いに癒着することのない曲率半径10nm以上50nm以下の粒径を持つ金属7でコーティングされるようにした。 - 特許庁

To provide a neighboring magnetic field probe or a probe system, capable of detecting electromagnetic noises and currents in a convenient constitution at a high sensitivity with high resolution, without picking up extra external noises by an object to be measured in a magnetic field detection prove having a loop coil.例文帳に追加

ループコイルを有する磁界検知型プローブにおいて測定対象によって余分な外来ノイズを拾うことなく、簡便な構成で高感度高分解能で、電磁ノイズおよび電流を検知できる近磁界プローブまたは近磁界プローブシステムを工夫すること。 - 特許庁

A magnetic field generator 30 and a magnetic field detector 32 measure the three-dimensional coordinates and direction of the ultrasonic probe 10 at each of the respective moving positions of the ultrasonic probe 10 and utilize these measured values to calculate the acquisition position or image surface direction of each of tomographic images.例文帳に追加

磁場発生器３０および磁場検出器３２は、超音波探触子１０の各移動位置において超音波探触子１０の三次元座標および方向を計測し、これら計測値を利用して各断層画像の取得位置や画像面方向を算出する。 - 特許庁

To provide an inexpensive device with a simple structure and an easy operation capable of enlarging an analyzing area of sample and enhancing a resolving power of ion at an electric field evaporation position to an atom level in an atom probe or a scanning type atom probe in which an electric field ion microscope and an ion detector are combined.例文帳に追加

電界イオン顕微鏡とイオン検出器を組み合わせたアトムプローブあるいは走査型アトムプローブにおいて、試料の分析領域を拡大すると共にイオンの電界蒸発位置の分解能を原子レベルまで向上させ得る、簡素な構造で安価で操作が容易な装置を構成する。 - 特許庁

This invention provides this atom probe device characterized by including: an electric field ion microscope device; an electric field ion microscope image introduction device introducing an electric field ion microscope image imaged by the electric field ion microscope device; and an electric field ion microscope image analyzer analyzing the introduced electric field ion microscope image.例文帳に追加

本発明によれば、電界イオン顕微鏡装置と、電界イオン顕微鏡装置により撮像された電界イオン顕微鏡像を取り込む電界イオン顕微鏡像取込装置と、取り込まれた電界イオン顕微鏡像を解析する電界イオン顕微鏡像解析装置と、を有することを特徴とする、アトムプローブ装置が提供される。 - 特許庁

Or, the gallium injected into the surface is crystallized and removed by a chelating agent which specifically couples with gallium by local heating by irradiation with proximity field light from a probe of a submerge proximity field optical microscope with addition of a chelating agent which specifically couples with gallium, or by local heating by allowing the heated probe of a submerge scanning probe microscope to approach the surface.例文帳に追加

もしくはガリウムと特異的に結合するキレート剤を添加した液中近接場光学顕微鏡の探針から近接場光を照射した局所過熱、または液中走査プローブ顕微鏡の加熱した探針を接近させた局所過熱により表面に注入されたガリウムを析出させ、ガリウムと特異的に結合するキレート剤で除去する。 - 特許庁

The magnetic field measuring device irradiates the first surface 101 of the respective cell with pump light and irradiates the second surface with probe light to intersect the pump light to receive probe light entered from the second surface of the respective cell and transmitted the third surface, and detects a magnetic field in the respective cell from the received probe light.例文帳に追加

磁場計測装置は、各セルの第１の面１０１にポンプ光を照射し、第２の面にポンプ光と交差するようにプローブ光を照射することで、各セルの第２の面から入射して第３の面１０３を透過したプローブ光を受光し、受光したプローブ光から各セルにおける磁場を検出する。 - 特許庁

The near-field light generator for generating near-field light from light emitted from an optical element to a plasmon probe is constructed in such a manner that the optical element is made of silicon, the plasmon probe is made of gold, and a buffer layer is formed between the optical element and the plasmon probe to prevent a eutectic phenomenon between the silicon and the gold.例文帳に追加

光学素子からプラズモンプローブに照射した光から近接場光を発生する近接場光発生器において、光学素子の材質はシリコン、プラズモンプローブの材質は金であり、光学素子と前記プラズモンプローブとの間に、シリコンと金の共晶現象を防止するバッファ層を形成したことを特徴とする近接場光発生器。 - 特許庁

To solve the problem that in a near field optical probe formed on a glass substrate and having a pyramid-shaped silicon protrusion, it is difficult to change the tapered angle of the probe, since the probe is formed by performing anisotropic etching of a Si substrate, and it is difficult to form a cone shape since a plane corresponding to a crystal orientation remains at the outer shape of the probe.例文帳に追加

ガラス基板上に形成された、ピラミッド状のシリコン突起を有する近接場光プローブでは、Ｓｉ基板の異方性エッチングを施すことにより形成しているため、そのプローブテーパ角を変化させることは困難であり、またプローブの外形に結晶方位に対応した面が残ってしまい円錐形状を形成するのが困難であるといった問題点等を解決する。 - 特許庁

This multiwavelength observation optical probe microscope has an optical probe, capable generating an optical field localized on the leading end thereof, a light source for emitting a plurality of selectable exciting lights in the optical probe and a scanning means for scanning the optical probe.例文帳に追加

光プローブと、光検出手段と、データ収集手段と、光源が少なくとも２つ以上の選択可能な波長の励起光を発生できるとともに、さらに、動的光路変更手段を有し、励起光の光路の制御を行うことによって、同一試料に対して複数の蛍光イメージを取得することで、複数種の蛍光標識を識別して相対的な位置情報を解析できるようにした。 - 特許庁

The cantilever 15 of a near-field Raman spectroscopic system 40 is the general cantilever of an atomic force microscope and includes the near-field probe 10 at the leading end of the free end.例文帳に追加

近接場ラマン分光システムのカンチレバー１５は、一般的な原子間力顕微鏡のカンチレバーであって、その自由端の先端に近接場プローブ１０を備えている。 - 特許庁

The reaction area 4 is an area serving as a field for a mutual reaction between probe DNA (nucleotide chain for detection) and sample DNA (target nucleotide chain), and specifically an area serving as a field for hybridization reaction.例文帳に追加

反応領域４は、プローブＤＮＡ（検出用ヌクレオチド鎖）とサンプルＤＮＡ（標的ヌクレオチド鎖）との相互反応の場、具体的にはハイブリダイゼーション反応の場となる領域である。 - 特許庁

To obtain a solenoid coil capable of generating a high-frequency magnetic field, having high magnetic field homogeneity, and a nuclear magnetic resonance signal acquisition device having a probe mounted with the coil.例文帳に追加

ソレノイドコイルにより生成される高周波磁場の磁場均一度が高いソレノイドコイル及びそれを搭載したプローブを有する核磁気共鳴信号取得装置を提供する。 - 特許庁

To detect with high resolution only the electric field that is radiated perpendicularly from noise sources, such as, wiring formed on a circuit board, regarding an electric field detection probe and its manufacturing method.例文帳に追加

電界検知プローブ及びその製造方法に関し、回路基板に形成した配線等のノイズ源から垂直に放射される電界のみを高分解能に検出する。 - 特許庁

The near-field Raman spectroscopic system 40 includes the cantilever 15 and an optical system used for the incidence of light in a polarization direction parallel to the short side (a) in the near-field probe 10 of the cantilever 15.例文帳に追加

近接場ラマン分光システム４０は、カンチレバー１５と、当該カンチレバー１５の近接場プローブ１０における短辺ａに平行な偏光方向の光を入射させる光学系とを備えている。 - 特許庁

A superconductive very small magnetic field probe 60 placed in the very low temperature environment for detecting an external magnetic field waveform in order to take the waveform to be measured is connected to the input terminal Ti of the Josephson sampler 10.例文帳に追加

被測定波形を取り込むために、極低温環境下に置かれて外部磁界波形を検出する超伝導微小磁界プローブ60をジョセフソンサンプラ10の入力端子Tiに接続する。 - 特許庁

A tool, fixed to the framework, holds the probe within the magnetic field of the one or more field generators, in an orientation suitable for the imaging device to image the phantom.例文帳に追加

フレームワークに固定されたジグは、画像処理デバイスがファントムを画像化するのに好適な向きで、１または複数の磁界発生器の磁界内にプローブを保持する。 - 特許庁

To provide a magnetic field measuring technology for accurately measuring a magnetic field waveform when a magnetic head writes a high-frequency signal by using a low-resonance-frequency probe in a magnetic force microscope.例文帳に追加

磁気力顕微鏡において、高周波信号を低共振周波数のプローブを用いて磁気ヘッドの書き込み時の磁界波形の計測を精度良く行う磁界計測技術を提供する。 - 特許庁

In the inspection system, the electromagnetic coupling module 3 is measured by electromagnetically coupling a distal end coupling section 6 of a probe 5 connected to a measuring device 4 and the electromagnetic coupling module 3 through electric field coupling and/or magnetic field coupling.例文帳に追加

この検査システムは、測定装置４に接続された測定子５の先端結合部６と電磁結合モジュール３とを電界結合及び／又は磁界結合で電磁界的に結合させて電磁結合モジュール３を測定する。 - 特許庁

By monitoring field components detected at the probes 50 during application of these fields, the position and orientation of the probe 50 in the field can be deduced.例文帳に追加

これらの磁場の印加の際にプローブ５０において検出される場成分を監視することにより、場におけるプローブ５０の位置および配向を推測することができる。 - 特許庁

A quasi-electrostatic field detection probe 16 is disposed near the surface of the object to be inspected 10 and detects the quasi-electrostatic field generated by the light irradiation.例文帳に追加

また、準静電界検出プローブ１６を検査対象１０の表面近傍に配置し、光の照射により発生する準静電界を検出する。 - 特許庁

To provide a probe card which can precisely measure the magnetic field generated by a planar coil and can measure the magnetic field actually applied to a device during measurement, as well.例文帳に追加

平面コイルにより発生する磁界を正確に測定することができ、ひいては、測定中にデバイスに対して実際に印加されている磁界を測定することが可能なプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide a new high-sensitivity measuring device for an electromagnetic field, a gravitational field, a rotating speed, or the like, which uses as a probe a ring-shaped Bose Einstein condensate (hereafter referred to as 'BEC').例文帳に追加

リング状ボース・アインシュタイン凝縮体（Bose Einstein Condensate;以下「ＢＥＣ体」という）をプローブとした電磁場、重力場、回転速度などの新しい高感度計測装置を提供する。 - 特許庁

A large electric field is locally applied on the sample S from a head end part 3A of the optical fiber probe 3, and an electric field modulation spectrum of an extra local region is provided by irradiation of the light.例文帳に追加

試料Ｓには光ファイバプローブ３の先端部３Ａから局所的に大きな電場が印加されており、前記光の照射によって極局所領域の電場変調スペクトルを得る。 - 特許庁

Further, the near-field light produced on the measuring surface of the sample S is measured with in-plane space resolution of an order of the wavelength or below of light by condensing the near-field light using the polarizing probe 2.例文帳に追加

また、偏光プローブ２を用いて近接場光を集光することで、試料Ｓの測定面に生じる近接場光を光の波長以下のオーダーの面内空間分解で測定することができる。 - 特許庁

The electric field detection probe is constituted of an electric field detection part which comprises a hollow tube having a tapered tip part, a conductive material filled in the hollow tube, and a conductive material covering the outer wall surface of the hollow tube.例文帳に追加

先細り先端部を有する中空管、前記中空管の内部に充填された導電性物質と、前記中空管の外壁面を被覆する導電性物質とからなる電界検知部で電界検知プローブを構成する。 - 特許庁

To achieve high density recording of information by utilizing near-field light and to provide a recording medium enhancing resolution of reproduction and a near-field light probe.例文帳に追加

近視野光を利用して、情報の高密度記録を達成するとともに再生解像度を高める記録媒体および近視野光プローブを提供する。 - 特許庁

To provide a nuclear magnetic resonance probe coil that has improved uniformity in a magnetic field and can perform measurement with high sensitivity in a nuclear magnetic resonance apparatus where the direction of a static magnetic field is horizontal.例文帳に追加

本発明の目的は、静磁場の方向が水平方向である核磁気共鳴装置において、磁場均一性が良く、高感度に計測できる核磁気共鳴プローブコイルを提供することにある。 - 特許庁

To provide a near-field light probe by which recording/reproducing and erasing can be performed easily and to provide a near-field light recording and reproducing device which can record/reproduce and erase efficiently.例文帳に追加

本発明は、記録・再生、消去が容易な近接場光プローブを提供し、かつ高効率に記録・再生、消去ができる近接場光記録再生装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The laser trimming device is also equipped with a magnetic probe 19 that imparts, to the magnetic sensor S, a magnetic flux (static magnetic field) in an arbitrary direction parallel to the face Sf to be trimmed or a rotary magnetic flux (rotary magnetic field).例文帳に追加

レーザトリミング装置は磁気センサＳに対して被トリミング面Ｓｆに平行な任意の方向の磁束（静磁場）や回転する磁束（回転磁場）を与える磁気プローブ１９を備える。 - 特許庁

This reproducing device 1 is provided with a probe 40 for radiating a near field light to a recording medium 9, and a photodetection portion 45 for detecting a light 48 obtained by modulating the radiated near field light at the recording medium 9.例文帳に追加

再生装置１は、記録媒体９に対して近接場光を照射するプローブ４０と、照射された近接場光が記録媒体９で変調を受けた光４８を検出する光検出部４５とを有している。 - 特許庁

To provide a system for measuring a signal-light by a near-field optical microscope that allows a user to find dependency of signal light, emitted from a sample by near-field light, on the distance between a probe and the sample.例文帳に追加

近接場光により試料から放射される信号光のプローブ・試料間距離依存性を調べることができる近接場光学顕微鏡の信号光測定システムを提供する。 - 特許庁

A probe 15 (for detecting an endoscope insert shape) comprises a coil device 51i (i=a, b, c, etc.), for magnetic field generation or magnetic field detection and a signal line 55i connected to the coil device 51i.例文帳に追加

（内視鏡挿入形状検出）プローブ１５は、内視鏡挿入部４の挿入位置検出に用いられる磁界発生用又は磁界検出用のコイル装置５１ｉ（ｉ＝ａ，ｂ，ｃ，…）及び前記コイル装置５１ｉに接続される信号線５５ｉを備えている。 - 特許庁

By mutual action between a magnetic field generated in a gap of a magnetic core 201 by a current flowing through a coil 202 and the magnetic field generated by a magnetized magnetic body 204 of the probe 101, a force acts between both.例文帳に追加

コイル２０２に流れる電流により磁気コア２０１のギャップ内に生じる磁界とプローブ１０１の磁化されている磁性体２０４により生じる磁界との相互作用により、両者間に力が働く。 - 特許庁

This (endoscope inserted shape-detecting) probe 16 is constituted by providing a coil device for the magnetic field generation or the magnetic field detection, which is used for the detection of the inserted location for the endoscope inserting section.例文帳に追加

（内視鏡挿入形状検出）プローブ１６は、内視鏡挿入部の挿入位置検出に用いられる磁界発生用又は磁界検出用のコイル装置を備えて構成される。 - 特許庁

To realize a near field light probe that has higher efficiency, that is a higher ratio of the near field light intensity to the input light intensity.例文帳に追加

本発明は光利用効率、つまり近接場光プローブに入射させる光強度に対する近接場の強度の割合の高い近接場光プローブを実現させることを目的とする。 - 特許庁

To provide a near-field optical probe manufacturing method capable of analyzing fine optical properties of samples with a near-field optical microscope and recording high-density light with an optical information storage device.例文帳に追加

近接場光顕微鏡で試料の微細光特性を分析することができ、光情報記憶装置で高密度の光を記録することが可能な近接場光プローブの製作方法を提供する。 - 特許庁

To accurately detect the displacement of a light collecting spot relative to a proximity field optical probe and achieve an intensity distribution of a proximity field with sufficiently stable intensity.例文帳に追加

近接場光プローブに対する集光スポットの位置ずれを精度よく検出して十分な強度の安定した近接場強度分布を実現する。 - 特許庁

In addition, the system is able to include an air-gap magnetic-field probe 130 for measuring the magnetic field density generated in the air gap, while driving the rotation machine which is positioned between the rotor and the stator, at least temporarily.例文帳に追加

加えて、システムは、ロータとステータとの間に少なくとも一時的に位置付けられた、回転機械の運転中にエアギャップにおいて発生する磁束密度を測定するためのエアギャップ磁束プローブ１３０を含むことができる。 - 特許庁

To provide a scanning near field optical microscope capable of detecting the angle dependence of scattering light generated by the coupling of the near field light from the tip part of a probe with a sample.例文帳に追加

プローブ先端部の近接場光と試料とのカップリングにより発生する散乱光の角度依存性を検出できる走査型近接場光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁