「field probe」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

NEAR-FIELD PROBE USING SOI SUBSTRATE, AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR例文帳に追加

ＳＯＩ基板を用いた近接場探針及びその製造方法 - 特許庁

PROXIMITY FIELD LIGHT PROBE UNIT AND INFORMATION RECORDING/REPRODUCING DEVICE例文帳に追加

近接場光プローブユニット及び情報記録再生装置 - 特許庁

PROBE SUPPORT MEMBER AND MAGNETIC FIELD DISTRIBUTION MEASURING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

プローブ支持部材およびそれを用いる磁界分布測定装置 - 特許庁

PROBE AND APPARATUS FOR MEASURING INTENSITY OF ELECTROMAGNETIC FIELD例文帳に追加

電磁界強度測定用プローブ及び電磁界強度の測定装置 - 特許庁

NEAR-FIELD OPTICAL PROBE AND MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

近接場光プローブ及び近接場光プローブの作製方法 - 特許庁

The method further includes positioning a probe in the region and measuring a perturbed magnetic field at the probe, and determining a location of the probe in response to the measured perturbed magnetic field and the calculated reaction magnetic field.例文帳に追加

本方法は、領域中にプローブを配置し、前記プローブにおける摂動した磁界を測定することと、測定された摂動した磁界及び計算した反応磁界に対応してプローブの位置を決定することと、を更に含む。 - 特許庁

To provide a scattering near-field optical probe, etc. indicating electric field enhancement not only in a wavelength area in which a conventional scattering near-field optical probe indicates electric field enhancement but also in a long wavelength area of visible light.例文帳に追加

従来の散乱型近接場光プローブが電場増強を示す波長領域だけでなく、可視光の長波長領域においても電場増強を示す散乱型近接場光プローブ等を提供する。 - 特許庁

To provide an electric field probe and an electric field measurement apparatus having an isotropic directional characteristic, and the high electric field detection sensitivity.例文帳に追加

指向特性が等方的であり、電界検出感度が高い電界プローブ及び電界測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a magnetic-field measuring device with an N-turn-coil magnetic-field probe in which error voltage is reduced and accuracy in magnetic- field detection is improved.例文帳に追加

誤差電圧を低減し、磁界検出精度を向上させたＮターンコイルの磁界プローブを有する磁界測定装置を提供する。 - 特許庁

NEAR-FIELD OPTICAL PROBE UNIT, ITS PRODUCING SYSTEM AND METHOD, NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND METHOD FOR MEASURING SAMPLE USING NEAR-FIELD LIGHT例文帳に追加

近接場光プローブユニット、その作製装置および作製方法、近接場光顕微鏡ならびに近接場光による試料測定方法 - 特許庁

The controller 7 actuates the probe deflector 27 to change the direction of the probe 4 in a calibrating magnetic field and detects the direction of the directivity of the probe 4 from the output of the magnetic field detector 6.例文帳に追加

制御部７は、プローブ変位部２７を動作させて校正用磁界内で磁界プローブ４の向きを変化させ、そのときの前記磁界検出部６の出力から磁界プローブ４の指向性の向きを検出する。 - 特許庁

To provide a medical probe capable of expanding the angle of the field of the medical probe by offsetting a scanning range in a scanning type medical probe; and to provide a medical observation system having the medical probe.例文帳に追加

走査型医療用プローブにおける走査範囲をオフセットすることで、医療用プローブの画角を拡げることが可能な医療用プローブ、および該医療用プローブを備えた医療用観察システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

Another embodiment of the probe unit comprises a one or more probe pins, the probe pin being formed of a plurality of different magnetic bodies, and the probe pin being movable by a magnetic field.例文帳に追加

１または複数のプローブピンを備え、プローブピンが複数の異なる磁性体で形成され、プローブピンが磁場によって可動するプローブユニット。 - 特許庁

One embodiment of this probe unit comprises one or more probe pins, at least a part of the probe pin being formed of a magnetic body, and the probe pin being movable by a magnetic field.例文帳に追加

１または複数のプローブピンを備え、プローブピンの少なくとも一部が磁性体で形成され、プローブピンが磁場によって可動するプローブユニット。 - 特許庁

OPTICAL WAVEGUIDE PROBE, ITS MANUFACTURE, AND SCANNING NEAR-FIELD ATOMIC FORCE MICROSCOPE USING SAME OPTICAL WAVEGUIDE PROBE例文帳に追加

光導波路プローブおよびその製造方法、並びにその光導波路プローブを用いた走査型近接場原子間力顕微鏡 - 特許庁

PROBE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE HAVING CHANNEL STRUCTURE OF FIELD EFFECT TRANSISTOR AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

電界効果トランジスタのチャンネル構造が形成されたスキャニングプローブマイクロスコープの探針及びその製作方法 - 特許庁

To prevent an induced voltage which causes a measurement error from being generated on a voltage probe side by a magnetic field produced at a current probe.例文帳に追加

電流プローブに発生する磁界により、電圧プローブ側に測定誤差原因となる誘導電圧が発生しないようにする。 - 特許庁

To prevent the tip of a probe from colliding with a sample surface when the probe is rotated in an image observation visual field.例文帳に追加

探針（プローブ）の走査中に像観察視野の回転を行った場合に、プローブの先端と試料表面とが衝突するのを防止する。 - 特許庁

A probe 30 constituting part of this electromagnetic field measuring system has both a probe main body 40 and a radio wave absorber 110.例文帳に追加

電磁界測定システムの一部を構成するプローブ３０は、プローブ本体４０と電波吸収体１１０とを有する。 - 特許庁

This near field probe 10 has a cantilever lever part 14 extending from a support part 12, and the lever part 14 has a probe 16 at the tip.例文帳に追加

近接場プローブ１０は、支持部１２から延びる片持ちのレバー部１４を有し、レバー部１４は先端に探針１６を有している。 - 特許庁

To provide a probe canning control method and a scanning probe microscope capable of satisfactorily and continuously observing a sample in the same field of view.例文帳に追加

試料の同視野の連続観察を良好に行うことができる探針走査制御方法および走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

This nano-structure is utilized in a field emission type electronic source, a mold for nano imprint, a probe for a probe microscope and a magnetic recording medium.例文帳に追加

前記ナノ構造体を利用した電界放出型電子源、ナノインプリント用モールド、プローブ顕微鏡用探針、磁気記録媒体。 - 特許庁

The nano-structure is utilized in a field emission type electronic source, a mold for nano imprint and a probe for a probe microscope.例文帳に追加

前記ナノ構造体を利用した電界放出型電子源、ナノインプリント用モールド、プローブ顕微鏡用探針。 - 特許庁

OPTICAL FIBER PROBE, SCANNING NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE DEVICE AND OPTICAL RECORDING MEDIUM REPRODUCING DEVICE AND MANUFACTURING METHOD OF OPTICAL FIBER PROBE例文帳に追加

光ファイバプローブ、走査近接場光顕微鏡装置及び光記録媒体再生装置並びに光ファイバプローブの製造方法 - 特許庁

To provide a probe sharpening method capable of arbitrarily forming the taper angle of the leading end of a probe for STM(scanning tunnel microscope), AFM(atomic force microscope) and SNOM(scanning near field optical microscope).例文帳に追加

ＳＴＭ、ＡＦＭ、ＳＮＯＭ用のプローブ先端のテーパー角を任意に形成可能なプローブの尖鋭化方法を提供する。 - 特許庁

A PC 15 is constituted so as to introduce the laser 30 emitted from an LD 1 into a probe 4 to emit near-field light 6 from the minute opening 5 of the probe.例文帳に追加

ＰＣ１５は、ＬＤ１から発生するレーザ３０をプローブ４に導入し、その微小開口５から近接場光６を発生させている。 - 特許庁

The SAR inspection device has an electric field probe 9 and a device body 14 for displaying an electric field intensity measured value obtained by measuring an electric field detected by the probe 9 or an SAR value corresponding to the measured value.例文帳に追加

SAR検査装置は、電界プローブ９と、電界プローブ９で検知した電界を測定して得られた電界強度測定値または電界強度測定値に対応したSAR値を表示する装置本体１４とを有する。 - 特許庁

To enable electromagnetic field intensity measurement having excellent stability and reproducibility by reducing instability of the electromagnetic field intensity measurement caused by reflection of an incident electromagnetic field to an electromagnetic field probe by the outside interface of a dielectric mounted around an antenna constituting the electromagnetic field probe.例文帳に追加

電磁界プローブへの入射電磁界が、電磁界プローブを構成するアンテナの周囲に取り付けられた誘電体の外側の界面で反射することに起因する電磁界強度測定の不安定性を軽減し、安定性及び再現性に優れた電磁界強度測定を可能にする。 - 特許庁

To provide a near-field light probe not requiring the precision of the nm order relative to the interval between the vertexes in manufacture of triangular metal membrane patterns, capable of keeping constant the intensity of near-field light generated from the near-field light probe and the probe diameter regardless of the temperature change or the like.例文帳に追加

三角形の金属薄膜パターンについて、その頂点の間隔をnmオーダーの精度で作製することが不必要、および近接場光プローブから発生する近接場光の強度およびプローブ径を温度変化等にかかわらず一定に保つことのできる近接場光プローブを提供すること。 - 特許庁

To provide an atom probe electric field ion microscope having such a function as an atomic force microscope.例文帳に追加

原子間力顕微鏡などの機能を備えたアトムプローブ電界イオン顕微鏡を提供すること。 - 特許庁

TEMPERATURE AND FLUID PHASE DETERMINATION SIMULTANEOUS MEASUREMENT METHOD FOR MULTIPHASE FIELD CONSISTING OF LIQUID AND GAS, AND COMPOSITE PROBE例文帳に追加

液体及び気体から成る混相場の温度・流体相判別同時測定方法及び複合プローブ - 特許庁

OPTICAL WAVEGUIDE PROBE, ITS MANUFACTURING METHOD AND SCANNING-TYPE NEAR FIELD MICROSCOPE例文帳に追加

光導波路プローブおよびその製造方法、ならびに走査型近視野顕微鏡 - 特許庁

PROBE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING IT, AND INSPECTION METHOD USING THE MICROSCOPE例文帳に追加

プローブ及びそれを用いた近接場光学顕微鏡並びにその顕微鏡を用いた検査方法 - 特許庁

CONTROL DEVICE OF PROBE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE HAVING THE CONTROL DEVICE例文帳に追加

プローブの制御装置、該プローブの制御装置を有する近接場光学顕微鏡 - 特許庁

SELF LIGHT EMITTING TYPE OPTICAL PROBE, ITS MANUFACTURE AND SCAN TYPE NEAR FIELD MICROSCOPE例文帳に追加

自己発光型光プローブおよびその製造方法と走査型近接場顕微鏡 - 特許庁

Accordingly, the electric field emission images between the sample 1 and the minute probe 6 are securely obtained.例文帳に追加

したがって、試料１−探針６間の電界放出像が確実に得られる。 - 特許庁

CALIBRATION METHOD AND CALIBRATION APPARATUS FOR ELECTRIC FIELD PROBE, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

電界プローブの校正方法及び校正装置、並びにコンピュータプログラム - 特許庁

PROBE AND DEVICE FOR MEASURING ELECTROMAGNETIC FIELD, AND METHOD FOR SPECIFYING ELECTROMAGNETIC WAVE RADIATING COMPONENT例文帳に追加

電磁界測定用プローブ、電磁界測定装置及び電磁波放射部品の特定方法 - 特許庁

NEAR FIELD SEMICONDUCTOR LIGHT PROBE DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

近接場半導体光プローブ装置および同プローブ装置を製造する方法 - 特許庁

ETCHING METHOD AND DEVICE STIMULATED BY LASER BEAM AND USING PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE例文帳に追加

近接場光プローブを用いたレーザ光励起エッチング加工装置及び加工方法 - 特許庁

INTERFACE DEVICE FOR HIGH FIELD MAGNETIC RESONANCE SYSTEM FOR USE WITH INTRACAVITY PROBE例文帳に追加

腔内用プローブと共に用いられる高領域磁気共振システム用インターフェイスデバイス - 特許庁

To provide a method for manufacturing a near-field probe with high reproducibility in a short time.例文帳に追加

近接場プローブを再現性良く短時間で製造する方法を提供する。 - 特許庁

In one embodiment, the electric field is impressed by using a probe 16 for an atomic force microscope.例文帳に追加

一態様では、電場は、原子間力顕微鏡用のプローブ１６を用いて印加される。 - 特許庁

The magnetic field probe 1 includes a transmission line part 12 connecting a detection part 9 and a connection part 10.例文帳に追加

磁界プローブ１は、検出部９と接続部１０との間を接続する伝送線路部１２を備える。 - 特許庁

In addition, a minute region electric field can be measured by thinning down the diameter of the probe.例文帳に追加

また、プローブの細径化をはかることにより、より微小領域の電界計測も可能とすることができる。 - 特許庁