「field probe」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

In the NMR probe having a high frequency magnetic field irradiation coil and an NMR signal reception coil, the high frequency magnetic field irradiation coil comprises a single wire or a single foil, and the NMR signal reception coil is formed from a part of the high frequency magnetic field irradiation coil.例文帳に追加

高周波磁場照射用コイルおよびＮＭＲ信号受信用コイルを有するＮＭＲ用プローブにおいて、高周波磁場照射用コイルが一本のワイヤーまたは一枚の箔からなり、ＮＭＲ信号受信用コイルが高周波磁場照射用コイルの一部から形成されるようにした。 - 特許庁

In the magnetic field probe provided with the coil 101 for detecting a magnetic field, a grounded shield material 102 is provided around the coil 101 at a predetermined separating distance so that a magnetic flux necessary for detecting a magnetic field in the axial direction of the coil 101 is not shielded.例文帳に追加

磁界検出用のコイル１０１を備えた磁界プローブにおいて、そのコイル１０１の周囲に、このコイル１０１の軸方向の磁界を検出するに必要な磁束が遮られないように、所定の距離隔てて、接地したシールド材１０２を設けたもの。 - 特許庁

To obtain optical characteristics of high resolution of an original near-field light by preventing multiple reflections between a sample and a near- field optical probe, when the optical characteristics of an infinitesimal area of the sample having a high reflectivity layer therein are measured by the near-field light.例文帳に追加

内部に高反射率層を有する試料の微小領域の光学特性を近接場光により測定するときに、試料と近接場光プローブとの間における多重反射を防止して近接場光本来の解像度の高い光学的特性を得る。 - 特許庁

To provide a probe for probe scanning microscopes, which has a sharp tip and an improved electrical property, and to provide its manufacturing method which includes producing a planar field-effect transistor and forming a conductive carbon nanotube thereon.例文帳に追加

平面型電界効果トランジスタを製作し、その上に導電体の炭素ナノチューブを形成することによって、鋭いチップを形成すると共に電気的特性もまた向上させた探針走査型顕微鏡の探針及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning method for a scanning probe microscope not narrowing a field of view for observation, reducing drastically an affect of a vibration due to a mechanical scanning system, and obtaining an image without affect of noise or distortion, and the scanning probe microscope.例文帳に追加

観察視野を狭めることなく、機械的な走査系に基づく振動の影響を著しく軽減し、ノイズや歪みの影響のない像を得ることを可能とする走査型プローブ顕微鏡における走査方法および走査プローブ顕微鏡を実現する。 - 特許庁

A plate having a fixing jig mounted on a plurality of positions where the RF probes are fixed is set, and the RF probe is mounted on the desired fixing jig of the plurality of fixing jigs while the static magnetic field homogeneity in the space is measured by the RF probe mounted on the desired fixing jig.例文帳に追加

RFプローブを固定する、複数の箇所に配置した固定治具を有するプレートを設置し、前記複数の固定治具の内、所望の固定治具にRFプローブを設置すると共に、前記所望の固定治具に設置したRFプローブによって前記空間の静磁場均一度を測定する。 - 特許庁

When a change of the image observation magnifying power is instructed during the scanning of the probe, the changing action of the image observation magnifying power is made at the middle point of the image observation visual field, and the tip of the probe can be prevented from colliding with the sample surface.例文帳に追加

同様にして、プローブの走査中に像観察倍率の変更が指示された場合にも、像観察倍率の変更の動作を像観察視野の中点の位置で行うようにすることによって、プローブの先端と試料表面とが衝突することを防止することができる。 - 特許庁

The dielectric recording and reproducing head 1 is provided with a probe 11, a return electrode 12 to which the high-frequency component of the electric field impressed from the probe 11 returns and bias electrodes 13a, 13b, 14a and 14b which are disposed below the return electrode 12.例文帳に追加

誘電体記録再生ヘッド１は、探針１１と、探針１１から印加された電界の高周波成分が戻るリターン電極１２と、リターン電極１２の下方に設けられたバイアス電極１３ａ、１３ｂ、１４ａ、１４ｂとを備える。 - 特許庁

A magnetic field of a direction in which the pump light enters an intersecting region is provided with a gradient, and in this state, irradiation of the pump light and probe light is carried out to acquire information on the rotation angle of the plane of polarization of the probe light before and after passing the cell.例文帳に追加

前記ポンプ光が前記交差領域に入射する方向の磁場に勾配を付与した状態で、前記ポンプ光と前記プローブ光を照射して、前記セルを通過する前後での該プローブ光の偏光面の回転角に関する情報を取得する。 - 特許庁

To provide a cryogenic cooling container for cooling only a superconductive magnetic field sensor by piercing a magnetic probe through the detection loop of the sensor in a non-contact state to fix the same and thermally insulating the sensor and the magnetic probe.例文帳に追加

超電導磁界センサの検出ループに非接触の状態で磁性探針を貫通させて固定し、超電導磁界センサと磁性探針を断熱して超電導磁界センサのみを冷却する低温冷却容器およびそれを用いた磁界分布計測装置を提供する。 - 特許庁

A conductor with an insulator formed on the surface is used as a probe for sampling a thin-piece test piece, and a potential difference is given between a conductive part as an electrode and the test piece by a direct current power source to form an electric field between the probe and the test piece.例文帳に追加

薄片試料採取用プローブとして、表面に絶縁体を形成した導電体を用い、導電部を電極として直流電源によって試料との間に電位差を付与することで、プローブと試料の間に電界を形成する。 - 特許庁

The signal corresponding to the excitation field generated on the surface of the sample 5 is detected as a change in oscillation frequency of the probe 1 or the phase change between the vibration of the probe 1 and that of the signal source 4 by means of a frequency detector/phase detector 8 and a synchronization detector 9.例文帳に追加

周波数検出器／位相検出器８および同期検波器９により、試料５表面に発生した励起場に対応する信号を探針１の振動周波数変化として検出するか、もしくは探針１の振動と信号源４の振動との位相変化として検出する。 - 特許庁

The electron-beam graphics drawing apparatus comprises a probe wherein an electromotive force is induced by a magnetic field generated by the electron beam, an arithmetic unit for obtaining the position of the electron beam from the electromotive force induced in the probe, and a control unit for controlling the deflection of the electron beam based on the obtained position of the electron beam.例文帳に追加

本発明は、電子ビームが発生する磁場により起電力を誘起する測定子と、前記測定子が誘起した起電力より前記電子ビームの位置を求める演算装置と、求めた前記電子ビームの位置に基づいて前記電子ビームの偏向を制御する制御装置とを備えたものである。 - 特許庁

The medium has a first measuring position 11 and a second measuring position 12, which is different from the first position and is made of a substance which changes the polarization rotation angle of the probe light in accordance with magnetic field intensity B_y1, B_y2 in the first and second positions when the probe light 2 propagates.例文帳に追加

媒体は、第１の測定位置１１と、第１の位置とは異なる第２の測定位置１２とを有すると共に、プローブ光２が伝播する際の第１及び第２の位置における磁場強度Ｂ_y1，Ｂ_y2に応じてプローブ光の偏光回転角を変化させる物質である。 - 特許庁

In addition to a spectral ellipsometer, there are a probe 9; a second light source 10 that becomes an excitation light emission means for emitting excitation light for generating near-field light; and a 3D actuator 11 that becomes a movement means for allowing the probe to approach a sample emission surface of the measurement light.例文帳に追加

分光エリプソメータに加えて、プローブ９と、近接場光を発生させる励起光を照射する励起光照射手段となる第２の光源１０と、上記プローブを測定光の試料照射面に近付ける移動手段となる３Ｄアクチュエータ１１とを備えている。 - 特許庁

To provide a near-field probe capable of easily adjusting the distance between the measuring surface of a measurement object and the front end of a coaxial resonator to a distance suitable for measurement, and to provide an electrical characteristic measuring instrument equipped with the probe.例文帳に追加

被測定物の測定面と同軸共振器先端との間隔が測定に適した距離となるよう容易に調整できる近接場プローブ及びこの近接場プローブを備えた電気的特性測定装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a nucleic acid analyzing device, capable of completing the preparation of analysis, in a short time and at low cost, by enhancing the specific bonding speed between a target molecule in a specimen and a probe molecule while specifically bonding a nucleic acid probe to the fluorescent enhanced field generating region on a metallic structure on a substrate.例文帳に追加

核酸プローブを基板上の金属構造体上の蛍光増強場発生領域に特異的に結合させると共に、試料中のターゲット分子とプローブ分子の特異的結合速度を高め、解析の前準備を短時間、低コストで完了させる核酸分析デバイスを提供する。 - 特許庁

A probe for a non-destructive determination of a complex dielectric constant of a material and for a near field optical microscope is based on a balance type multi-conductive transmission line structure formed on a dielectric support material which has a definite profile and limits a probe region within a sampling volume of a measuring material.例文帳に追加

材料の複素誘電率の非破壊的決定用及び近接場光学顕微鏡用のプローブは、明確な輪郭を有する、測定材料のサンプリング容積内にプローブ領域を制限する、誘電体支持部材上に形成された平衡型多導体伝送線構造に基づいている。 - 特許庁

To provide a scanning probe microscope, the so-called proximity field optical microscope which can modulate P-polarized component of linear polarization to allow laser radiation on probe tip etc., and also can modulate scattered light as a SNOM signal to observe optical properties of a sample, even when the probe measures the sample while always contacting it.例文帳に追加

レーザーをプローブ先端などへ直線偏光のＰ偏光成分を変調して照射できるようにし、更には、プローブが試料と常に接触しながら測定する場合においても、ＳＮＯＭ信号としての散乱光を変調し得て、試料の光物性を観察することのできる走査型プローブ顕微鏡、所謂近接場光学顕微鏡を得ようとする。 - 特許庁

The probe card is characterized by including a substrate 11 supporting a probe pin 4 and an electromagnet 8 which, when the probe pin 4 supported by the substrate 11 contact a magnetic sensor terminal 74 of a single chip on a wafer 7, supplies magnetic force to a magnetic field sensing section 72 of the identical chip with the chip.例文帳に追加

上記目的を達成する本発明のプローブカードは、プローブピン４を支持する基体１１と、該基体１１に支持された、上記プローブピン４がウエハ７上の１つのチップの磁気センサ端子７４に接触したときにその１つのチップと同一のチップの磁界センシング部７２に磁力を与える電磁石８とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

The apparatus includes a static magnetic field generating means for generating the static magnetic field in a space where a subject is mounted, a static magnetic field homogeneity adjusting means for adjusting the static magnetic field in the space uniformly, and a phantom generating MR signal, and an electromagnetic wave is radiated to the phantom and the RF probe receiving the MR signal from the phantom is fixed in the space.例文帳に追加

被検体を配置する空間に静磁場を発生させる静磁場発生手段と、前記空間における静磁場を均一に調整するための静磁場均一度調整手段と、MR信号を発生するファントムを備え、前記ファントムに電磁波を照射し、前記ファントムからMR信号を受信するRFプローブを前記空間内に固定する。 - 特許庁

In a field-enhanced oxide film producing apparatus 1, the tip of a conductive probe 5 is made of a material with a work function around the LUMO level of the organic layer 10 and an oxide film by the field enhanced oxidation is formed on the organic layer 10 arranged between the conductive probe 5 as a cathode and a conductive substrate 2 and an underlayer 3 as an anode.例文帳に追加

電界支援酸化膜作製装置１において、導電性探針５の先端部を、有機層１０のＬＵＭＯ準位付近の仕事関数を有する材料から構成し、陰極である導電性の導電性探針５と、陽極である導電性基板２および下地３との間に配置された有機層１０上に、電界支援酸化による酸化膜を作製する。 - 特許庁

In the probe 3, with the introduction of laser beam resonant with vibration from a semiconductor laser 9, an evernescent field is produced from a minute opening at its tip end and the proximity field interaction between the sample 14 and the probe 3 excites a minor carrier at the sample 14, then the semiconductor evaluating device 1 detects changes in optical excitation current for the evaluation of the sample 14.例文帳に追加

プローブ３は半導体レーザ９から振動に共振したレーザー光が導入されると、その先端の微小開口からエバネッセント場が発生して、試料４とプローブ３との近接場相互作用により試料１４に少数キャリアを励起させ、半導体評価装置１は、当該光励起電流の変化を検出して、試料１４の評価を行っている。 - 特許庁

In a method for inspecting a thin plate using an electromagnetic ultrasonic probe 10 equipped with a magnet body for generating a magnetic field on the surface of the thin plate and a coil arranged in the magnetic field and transmitting and receiving plate waves, the electromagnetic ultrasonic probe 10 is arranged at either one of both edge parts of the thin plate S.例文帳に追加

薄板表面に磁界を発生させる磁石体と、前記磁界に配置され板波を送受信するためのコイルとを具備する電磁超音波探触子１０を使用して薄板を検査する方法であって、電磁超音波探触子１０を薄板Ｓの両エッジ部のいずれか一方に配置することを特徴とする。 - 特許庁

A double annealing process is carried out to remove a magnetization probe failure while a low magnetic field is successively applied in a state wherein a magnetization probe failure occurs when a high magnetic field is applied in a process of forming the MTJ cell of a magnetic RAM having a SAF structure, so that the MTJ cell of the magnetic RAM improved in uniformity in the direction of spin can be formed.例文帳に追加

本発明は、ＳＡＦ構造のマグネチックラムのＭＴＪセル形成工程時に高い磁場の印加による磁化プローブ不良が発生した状態で順次に低い磁場の印加による２重アニーリング工程を実施して磁化プローブ不良を除去し、スピン方向の均一性を向上させたマグネチックラムのＭＴＪセルを形成することができる。 - 特許庁

In this near-field light detection method and the device thereof, by vibrating an electroconductive probe applied with a voltage wherein a DC and an AC are superimposed, and detecting and conrolling an electrostatic force between electric potential of the probe and electric potential of a dielectric surface, the near-field light generated when irradiating the dielectric surface with an electromagnetic wave is detected.例文帳に追加

本発明による近接場光検出方法およびその装置は、直流と交流の重畳する電圧が印加された導電性探針を振動させ、該探針電位と誘電体表面電位の間の静電気力を検知・制御することにより、誘電体表面に電磁波を照射したときに発生する近接場光を検出することを特徴とする。 - 特許庁

Alternatively, in the method for inspecting the thin plate using the electromagnetic ultrasonic probe equipped with the magnet body for generating the magnetic field on the surface of the thin plate and the coil arranged in the magnetic field, an electromagnetic ultrasonic probe for transmitting plate waves is arranged at the central part of the thin plate and electromagnetic ultrasonic probes for receiving plate waves arranged at both edge parts of the thin prate.例文帳に追加

或いは、薄板表面に磁界を発生させる磁石体と、前記磁界に配置されたコイルとを具備する電磁超音波探触子を使用して薄板を検査する方法であって、板波送信用の電磁超音波探触子を薄板中央部に配置し、板波受信用の電磁超音波探触子を薄板両エッジ部に配置することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a near-field light probe capable of demonstrating an avalanche effect, improving photodetection sensitivity, improving the efficiency of detecting scattered light or the like generated by near-field light and lowering the noise of photodetection, and its manufacturing method.例文帳に追加

本発明は、アバランシェ効果を発揮し、光検出感度を高めることができ、近接場光により発生した散乱光等の検出効率を高めることができると共に光検出の低雑音化を図れる近接場光プローブ及びその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The image processing part 19 performs signal processing by associating the quasi-electrostatic field intensity detected by the quasi-electrostatic field detection probe 16 to the position information inputted from the control part 20, and generates the image of the surface condition of the object to be inspected 10 along with the movement of a stage 11.例文帳に追加

画像処理部１９は、準静電界検出プローブ１６で検出された準静電界の強度を制御部２０から入力される位置情報に対応付けて信号処理し、ステージ１１の移動にともなって検査対象１０の表面状態の画像を生成する。 - 特許庁

Further, when a relationship between the frequency analyzer and EMI test object is at the resonance state, the number of the maximum points of an electric field or magnetic field generated by the EMI test object is detected for the EMI test object by a second probe without contact.例文帳に追加

そして、周波数分析器とＥＭＩ試験対象物との関係を共振状態に置いたとき、ＥＭＩ試験対象物から発生される電界または磁界の最大点の数を、第２の探触子によりＥＭＩ試験対象物と非接触で検出する。 - 特許庁

To provide a probe card capable of performing a test of output to an external magnetic field on a magnetic sensor in a wafer condition and performing a test of output of the magnetic sensor to an external magnetic field in varied direction without changing a relative position to the magnetic sensor.例文帳に追加

外部磁界に対する磁気センサの出力の検査がウェハの状態で行われ、複数方向の外部磁界に対する磁気センサの出力の検査が磁気センサとの相対的な位置を変更することなく行われるプローブカードを提供する。 - 特許庁

To provide an information recording/reading device for achieving high speed recording and reading of information having reliability for a high density recording medium by interaction between near field light and a recording medium using a slider having near field optical probe.例文帳に追加

近視野光プローブを持つスライダーを使用して近視野光と記録媒体との相互作用によって、高密度な記録媒体に対して高速で信頼性の高い情報の記録および読取を実現させるための情報記録／読取装置を提供すること。 - 特許庁

By performing recording on the optical recording medium while utilizing the proximate field light emitting from the fine aperture of a proximate field light probe 1 as a recording head, a fine pit, which exceeds the diffraction limit of light, can be recorded and compatibility with the case of the conventional optical recording medium is secured.例文帳に追加

記録ヘッドとしての近接場光プローブ１の微小開口から出射する近接場光を利用して光記録媒体に記録を行うことで光の回折限界を超えた微小ピットの記録を可能とし、かつ、従来の光記録媒体の場合との互換性を確保する。 - 特許庁

To provide an information recording/reading device which realizes recording and reading of information at high speed and with high reliability for a high density recording medium through the interaction between near-field light and the recording medium by using a slider having a near-field light probe.例文帳に追加

近視野光プローブを持つスライダーを使用して近視野光と記録媒体との相互作用によって、高密度な記録媒体に対して高速で信頼性の高い情報の記録および読取を実現させるための情報記録／読取装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

In the probe 14, when information detection laser light 19 is focused onto the tip, plasmon resonance occurs on the surface of the metal film coat 30, and near-field light 31 is generated from the tip, and the sample 31 is irradiated with the near-field light 31.例文帳に追加

プローブ１４において、情報検出レーザ光１９を先端にフォーカスさせると、金属膜コート３０の表面でプラズモン共鳴を起こし、先端から近接場光３１が発生し、近接場光３１が試料に照射される。 - 特許庁

A means for measuring the amount of the gas in a reaction chamber and judging whether or not the reaction environment in a reaction field is favorable on the basis of the measured value is provided to the reaction device in which the reaction field for the reaction between the probe fixing carrier and the sample is provided in the reaction chamber.例文帳に追加

プローブ固定担体と試料とを反応させる反応場を反応室内に設けた反応装置に、反応室内の気体量を測定し、その測定値に基づいて反応場での反応環境の良否を判定する手段を設ける。 - 特許庁

To provide an information recording/reading device for embodying recording and reading of information with high reliability at a high speed to and from a high-density recording medium by the interaction of near-field light and the recording medium by using a slider having a near-field light probe.例文帳に追加

近視野光プローブを持つスライダーを使用して近視野光と記録媒体との相互作用によって、高密度な記録媒体に対して高速で信頼性の高い情報の記録および読取を実現させるための情報記録／読取装置を提供すること。 - 特許庁

In dedicated field-emission STEM instruments, the very small polepiece gaps required to form a subnanometer probe will limit the tilt range. 例文帳に追加

専用の電界放出型STEM装置では、サブナノメータのプローブを形成するために必要な非常に小さなポールピースギャップが(試料の)傾斜範囲を制限する。 - 科学技術論文動詞集

In our holography experiment, the first measurements were made with the Hall probe oriented in the modified holder so as to measure the field along the optical axis of the TEM. 例文帳に追加

われわれのホログラフィー実験では、最初の測定は改良されたホルダの中に配置されたホール・プローブを使って、TEMの光軸に沿った磁場を計測するために行われた。 - 科学技術論文動詞集

To provide an ultrasonic probe and an ultrasonic image diagnostic apparatus with deep depth of visual field and high resolution and with a wide frequency band of outputted ultrasonic waves.例文帳に追加

出力する超音波の周波数帯域が広帯域であって、視野深度が深く、かつ高分解能の超音波プローブおよび超音波画像診断装置を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR PRODUCING MONOLAYER CARBON NANOTUBE, METHOD FOR PRODUCING SEMICONDUCTOR WIRING STRUCTURE, METHOD FOR MANUFACTURING ELECTRONIC COMPONENT FOR FIELD EMISSION DISPLAY, AND METHOD FOR MANUFACTURING PROBE例文帳に追加

単層カーボンナノチューブ製造方法、半導体配線構造の製造方法、フィールドエミッションディスプレイ用電子部品の製造方法及び探針製造方法 - 特許庁

To provide a method for coating uniform metal particles, which highly efficiently induce surface-enhanced Raman scattering, with satisfactory reproducibility in the manufacture of a probe for scattering-type near-field microscopes.例文帳に追加

散乱型近接場顕微鏡用のプローブ作製において、表面増強ラマン散乱を効率良く誘起する均一な金属粒子を、再現性よくコーティングする方法を提供する。 - 特許庁

The polarization domain having the polarization direction parallel to the surface of the dielectric recording medium is formed by impressing the voltage above the coercive electric field between the probe 11 and the respective bias electrodes.例文帳に追加

探針１１と各バイアス電極間に抗電界以上の電圧を印加して、誘電体記録媒体の表面と平行な分極方向を有する分極ドメインを形成する。 - 特許庁

A microwave sensor assembly 110 comprises at least one probe 202 including an emitter 206 configured to generate an electromagnetic field from at least one microwave signal.例文帳に追加

マイクロ波センサアセンブリ１１０は、少なくとも１つのマイクロ波信号から電磁場を生成するように構成された放射器２０６を含む少なくとも１つのプローブ２０２を含む。 - 特許庁

In the scattering near-field optical microscope, an excited laser beam is an ultraviolet/deep-ultraviolet laser beam and a metal is employed as a material for a probe end, the metal having dielectric constant of -2 or lower at the wavelength of the excited laser.例文帳に追加

散乱型近接場光学顕微鏡において、励起レーザー光が紫外・深紫外レーザー光であり、プローブ先端の材料に励起レーザーの波長で誘電率が−２以下である金属を採用する。 - 特許庁