「pattern for」に関連した英語例文の一覧と使い方(30ページ目) - Weblio英語例文検索

PATTERN INSPECTION DEVICE, PATTERN INSPECTION METHOD, AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

パターンの検査装置、パターンの検査方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PATTERN LAYOUT AND MEDIUM STORING PATTERN LAYOUT PROGRAM例文帳に追加

パタ−ンレイアウト方法、パターンレイアウト装置およびパターンレイアウトプログラムを記憶した媒体 - 特許庁

MASK FOR PATTERN TRANSFER, PATTERN TRANSFER METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

パターン転写用マスク、パターン転写方法および半導体装置の製造方法 - 特許庁

USAGE PATTERN ANALYSIS METHOD FOR DATA TRANSFER RESOURCE AND USAGE PATTERN ANALYZER例文帳に追加

データ転送資源の使用状況解析方法及び使用状況解析装置 - 特許庁

INORGANIC DECORATIVE MATERIAL HAVING PATTERN, ITS MANUFACTURING METHOD, AND TRANSFER SHEET FOR APPLYING PATTERN例文帳に追加

模様付き無機化粧材、その製造方法、および模様付け用転写シート - 特許庁

METHOD FOR FORMING PATTERN AND CORRECTION METHOD, NITRIDE PATTERN AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

パターンの形成方法および修正方法、窒化物パターン並びに半導体装置 - 特許庁

AUXILIARY PATTERN FORMING METHOD AND AUTOMATIC FORMING METHOD FOR SEMICONDUCTOR MASK LAYOUT PATTERN例文帳に追加

補助パターン生成方法および半導体マスクレイアウトパターンの自動生成方法 - 特許庁

PATTERN INSPECTION APPARATUS, METHOD FOR PREPARING APPROXIMATE CURVE, PATTERN INSPECTION METHOD AND PROGRAM例文帳に追加

パターン検査装置、近似曲線の作成方法、パターン検査方法およびプログラム - 特許庁

For an Invoke activity, specify the message pattern.From the Pattern drop-down list, select a pattern attribute to indicate whether the correlationapplies to the outbound message (request), inbound message (response), or both (request-response). 例文帳に追加

呼び出しアクティビティーの場合、メッセージパターンを指定します。 - NetBeans

NOVEL METHOD FOR FORMING METAL PATTERN AND FLAT PANEL DISPLAY DEVICE USING THE METAL PATTERN例文帳に追加

新規の金属パターンの製造方法及びこれを用いた平板表示素子 - 特許庁

SURFACE TREATING AGENT FOR PATTERN FORMATION AND PATTERN FORMING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

パターン形成用表面処理剤、及び該処理剤を用いたパターン形成方法 - 特許庁

LIQUID DROPLET DISCHARGE HEAD CONTROL METHOD FOR PATTERN FORMING APPARATUS, AND PATTERN FORMING APPARATUS例文帳に追加

パターン形成装置の液滴吐出ヘッド制御方法及びパターン形成装置 - 特許庁

To provide a method for measuring a pattern which allows the automatization of pattern measurement.例文帳に追加

パタン計測の自動化を図れるパタン計測方法を提供することである。 - 特許庁

SURFACE TREATMENT AGENT FOR PATTERN FORMATION, AND PATTERN FORMING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

パターン形成用表面処理剤、及び該処理剤を用いたパターン形成方法 - 特許庁

To provide an evaluation method for a pattern capable of accurately evaluating a pattern.例文帳に追加

的確にパターンを評価することが可能なパターン評価方法を提供する。 - 特許庁

CHECKING METHOD FOR PHOTORESIST PATTERN AND EXPOSURE CONDITION CONTROL METHOD USING THE PATTERN例文帳に追加

フォトレジストパターンの検査方法及びこれを用いた露光条件制御方法 - 特許庁

SUBSTRATE FOR ELECTROSTATIC SUCTION INK JET, FORMING METHOD OF PATTERN AND SUBSTRATE WITH PATTERN例文帳に追加

静電吸引型インクジェット用基板、パターン形成方法及びパターン付基板 - 特許庁

APPARATUS FOR DETECTION OF WAVEFORM PATTERN, COMPUTER PROGRAM, AND WAVEFORM PATTERN DETECTING METHOD例文帳に追加

波形パターン検出装置及びコンピュータプログラム及び波形パターン検出方法 - 特許庁

PATTERN FORMING METHOD, PATTERN FORMING DEVICE, PHOTOMASK AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

パターン形成方法、パターン形成装置、並びにフォトマスクおよびその製造方法 - 特許庁

APPARATUS FOR GENERATING PATTERN RECOGNITION DICTIONARY, METHOD THEREOF, PATTERN RECOGNITION APPARATUS AND METHOD THEREOF例文帳に追加

パターン認識用辞書生成装置及び方法、パターン認識装置及び方法 - 特許庁

PATTERN FORMING METHOD, PATTERN FORMING APPARATUS, AND METHOD FOR MANUFACTURING ELECTRONIC APPLICATION EQUIPMENT例文帳に追加

パターン形成方法、パターン形成装置および電子応用装置の製造方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR PATTERN RECOGNITION, AND RECORDING MEDIUM WITH PATTERN RECOGNITION PROGRAM RECORDED THEREON例文帳に追加

パターン認識方法、装置、およびパターン認識プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

IMAGE PATTERN COMPARING DEVICE, IMAGE PATTERN CHANGE DETECTOR, DEVICE AND SYSTEM FOR MONITORING例文帳に追加

画像パタン比較装置、画像パタン変化検出装置、監視装置及び監視システム - 特許庁

COATING PATTERN FORMING METHOD, MATERIAL FOR FORMING RESIST COATING FILM, AND PATTERN FORMING METHOD例文帳に追加

被覆パターン形成方法、レジスト被覆膜形成用材料、パターン形成方法 - 特許庁

SURFACE TREATMENT AGENT FOR FORMING PATTERN, AND PATTERN FORMING METHOD USING TREATMENT AGENT例文帳に追加

パターン形成用表面処理剤、及び該処理剤を用いたパターン形成方法 - 特許庁

TORQUE PATTERN CORRECTION METHOD FOR GENERATOR FOR DISTRIBUTED POWER SUPPLY AND DEVICE FOR THE GENERATOR例文帳に追加

分散電源用発電機のトルクパターン補正方法及びその装置 - 特許庁

METHOD FOR FORMING CONDUCTOR PATTERN FOR INDUCTOR AND METHOD FOR MANUFACTURING THE INDUCTOR例文帳に追加

インダクタ用導体パターンの形成方法およびインダクタの製造方法 - 特許庁

SECTIONAL WARPER FOR PATTERNED WARP YARN AND METHOD FOR PRODUCING WARP YARN FOR PATTERN例文帳に追加

柄経糸用部分整経機および柄用経糸を製造する方法 - 特許庁

COMPOSITION FOR FORMING INORGANIC FILM FOR MULTILAYER RESIST PROCESS, AND METHOD FOR FORMING PATTERN例文帳に追加

多層レジストプロセス用無機膜形成組成物及びパターン形成方法 - 特許庁

RESIST MATERIAL FOR LIFT-OFF, AND METHOD FOR FORMING RESIST PATTERN FOR LIFT-OFF例文帳に追加

リフトオフ用レジスト材料及びリフトオフ用レジストパターンの形成方法 - 特許庁

In a method for forming the resist pattern, the resist pattern is formed and then the surface of the resist pattern is coated with the resist pattern thickening material to form a thickened resist pattern.例文帳に追加

レジストパターンを形成後、該レジストパターン表面に前記レジストパターン厚肉化材料を塗布することにより厚肉化レジストパターンを形成するレジストパターンの形成方法。 - 特許庁

The pattern deciding means 144 sets a pattern table according to the accumulated frequencies among a plurality of the pattern tables as a pattern table which has to be referred to for selecting the variation pattern.例文帳に追加

パターン決定手段１４４は、複数のパターンテーブルのうち累積回数に応じたパターンテーブルを、変動パターンの選択において参照すべきパターンテーブルとして設定する。 - 特許庁

FORMATION OF LAYOUT OF PATTERN FOR LSI, FORMATION OF PATTERN FOR LSI AND FORMATION OF MASK DATA FOR LSI例文帳に追加

ＬＳＩ用パターンのレイアウト作成方法、ＬＳＩ用パターンの形成方法及びＬＳＩ用マスクデータの作成方法 - 特許庁

METHOD FOR CORRECTING PATTERN OF PHOTOMASK AND METHOD FOR MANUFACTURING PHOTOMASK, METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE, PATTERN CORRECTION DEVICE AND PROGRAM例文帳に追加

フォトマスクのパターン補正方法及び製造方法、半導体装置の製造方法、パターン補正装置、並びにプログラム - 特許庁

METHOD FOR CASTING CAST PRODUCT BY EVAPORATIVE PATTERN CASTING METHOD, AND METHOD FOR MANUFACTURING METALLIC MOLD FOR FORMING FOAMED PRODUCT PATTERN例文帳に追加

消失模型鋳造法による鋳物鋳造方法及び発泡製品模型成形用金型の製造方法 - 特許庁

MOLD FOR PATTERN FORMING, METHOD FOR RELEASING TREATMENT OF MOLD FOR PATTERN FORMING, AND EVALUATION METHOD OF MOLD RELEASE AGENT CONCENTRATION例文帳に追加

パターン形成用モールド，パターン形成用モールドの離型処理方法および離型剤濃度の評価方法 - 特許庁

Based on image data for forming a test pattern (A), the test pattern is printed (first test pattern output).例文帳に追加

テストパターン（Ａ）を形成するための画像データに基づいて、テストパターンを印刷する（第１のテストパターン出力）。 - 特許庁

COMMON QUERY GRAPH PATTERN GENERATION DEVICE, COMMON QUERY GRAPH PATTERN GENERATION METHOD, AND PROGRAM FOR COMMON QUERY GRAPH PATTERN GENERATION例文帳に追加

共通クエリグラフパターン生成装置、共通クエリグラフパターン生成方法、および共通クエリグラフパターン生成用プログラム - 特許庁

METHOD FOR FORMING FORGERY PREVENTIVE PATTERN, FORGERY PREVENTIVE PATTERN, AND FORGERY PREVENTIVE PRINTED MATTER HAVING FORGERY PREVENTIVE PATTERN例文帳に追加

偽造防止パターンの作成方法、偽造防止パターン及びその偽造防止パターンを備えた偽造防止印刷物 - 特許庁

In the method for producing a resist pattern, a resist pattern is formed and the surface of the pattern is coated with the thickening material.例文帳に追加

レジストパターンを形成後、該パターン表面に前記厚肉化材料を塗布するレジストパターンの製造方法。 - 特許庁

METHOD FOR ADAPTING PATTERN DIMENSIONS WHEN PROJECTING PATTERN OF PATTERN ELEMENT ON SEMICONDUCTOR WAFER BY PHOTOLITHOGRAPHY例文帳に追加

半導体ウェーハ上にパターン要素のパターンをフォトリソグラフィによって投影する際のパターン寸法を適合する方法 - 特許庁

In each importance for maintaining the shape of the design pattern, each pattern part constituting the design pattern is sorted (ST102).例文帳に追加

設計パターンの形状を維持するべき重要度毎に、設計パターンを構成する各パターン部分を分類する（ST102）。 - 特許庁

To provide a method for forming a resist pattern to easily suppressing pattern collapse when a fine pattern is formed.例文帳に追加

微細なパターンを形成する際のパターン倒れを容易に抑制できるレジストパターン形成方法を提供する。 - 特許庁

Then, an identification pattern B7a and a decoration pattern A7a constituting a left pattern stop and an identification pattern B7a and a decoration pattern A7a constituting a right pattern stop, thereby ready-for-winning is formed.例文帳に追加

そして、左図柄を構成する識別図柄Ｂ７ａおよび装飾図柄Ａ７ａが停止し、次に右図柄を構成する識別図柄Ｂ７ａおよび装飾図柄Ａ７ａが停止し、リーチになる。 - 特許庁

Furthermore, following means are also adopted, wherein, in the pattern for strain measurement, a grid pattern for a moire method and a dot pattern for an image correlation method are piled together, and the pattern is constituted of a milli-scale pattern and a nano-scale pattern.例文帳に追加

また、前記歪み計測用パターンにおいて、モアレ法用のグリッドパターンと画像相関法用のドットパターンとが重ねられてなること、ミリスケール用パターンと、ナノスケール用パターンとにより構成されていることを特徴とする手段を採用した。 - 特許庁