「plot map」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

Each plot 202 corresponds to a message and shows a transmission position of the message by a position on the map 201 and its elapsed time from the transmission time until the current time by a shade.例文帳に追加

各々のプロット２０２はメッセージに対応し、地図２０１上の位置でメッセージの発信位置を、その濃淡で発信時刻から現在時刻までの経過時間を示す。 - 特許庁

Respective plot data of the map image and the one-way traffic information are combined by an image combining part 18, and the combined image is displayed on the screen of a display device 7.例文帳に追加

画像合成部１８によって、地図画像と一方通行情報のそれぞれの描画データが合成され、合成後の画像がディスプレイ装置７の画面上に表示される。 - 特許庁

The driver 228 analyses the plotting command and controls a picture processing part 214 in accordance with the analysis result and makes the picture processing part 214 plot a picture in a display memory to make a bit map.例文帳に追加

プロジェクタディスティネイション側ドライバ２２８は描画コマンドを解析して、その解析結果に従って画像処理部２１４を制御し、画像処理部２１４によって表示メモリに描画させ、ビットマップ化させる。 - 特許庁

According to the converted bit map data BMD, the liquid droplets are discharged on a substrate from the nozzle in use of the discharge head, and metal particulates in the liquid droplets are fixed on the substrate to plot the identification code.例文帳に追加

そして、変換したビットマップデータＢＭＤに基づき、吐出ヘッドの使用ノズルから液滴を基板に吐出し、液滴内の金属微粒子を基板に定着させて識別コードを描画する。 - 特許庁

This shaping condition deciding system repeats processing in order of the shaping simulation means 131, a strain distribution map plot means 132 and the determination means 133, until it is decided that the quality reaches the fixed standard.例文帳に追加

この成形条件決定システムは、判定手段１３３により品質が一定基準に達すると判定されるまで、成形シミュレーション手段１３１、ひずみ分布図プロット手段１３２、判定手段１３３の順に処理を繰り返す。 - 特許庁

When shmoo plot measurement, function data log measurement and fail bit map measurement are performed, part of a command included in a device test program, which is to be transferred to the thermostatic bath part 20 or tester part 20, is skipped (not transferred) according to the information stored in a shmoo condition table storage part 13 (or a structure corresponding thereto).例文帳に追加

但し、シュムプロット測定、ファンクションデータログ測定、及びフェイルビットマップ測定を行う場合には、シュム条件テーブル記憶部１３（又はこれに相応する構成）に記憶された情報に応じて、デバイステストプログラムに含まれ、恒温槽部２０又はテスタ部３０に転送する命令の一部をスキップする（転送しない）。 - 特許庁