「ram testing」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

DEVICE AND METHOD FOR TESTING LSI MIXED WITH RAM BUILT IN CPU例文帳に追加

ＣＰＵ内蔵ＲＡＭ混載ＬＳＩのテスト装置および方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR TESTING RAM REDUNDANT INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

ＲＡＭ冗長集積回路をテストするための方法およびシステム - 特許庁

When testing command is received from the testing board, control data for checking data are set on the cue of an RAM 122.例文帳に追加

テスト基板からテストコマンドを受信すると、ＲＡＭ１２２のキューにデータチェック用の制御データが設定される。 - 特許庁

When testing command is received from the testing board, the control data for checking data are set on the cue of an RAM 122.例文帳に追加

テスト基板からテストコマンドを受信すると、ＲＡＭ１２２のキューにデータチェック用の制御データが設定される。 - 特許庁

To provide a test method by which a RAM and a bus are tested by testing that read and write of data for a RAM are performed correctly for a correct address.例文帳に追加

ＲＡＭに対するデータの読み書きが正しいアドレスに正しく行われていることを検査し、ＲＡＭ及びバスの検査を行う検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for testing functions of a TAG-RAM without loading all capacity of actual memories for all patterns of address data stored in a TAG-RAM, and to provide its device.例文帳に追加

ＴＡＧ−ＲＡＭに格納するアドレスデータの全パターンについて実メモリを全容量分装着せずにＴＡＧ−ＲＡＭの性能を試験する方法とその装置を提供する。 - 特許庁

A testing CPU 161 is a CPU for internally storing a ROM and a RAM, and makes a test signal to be supplied to a testing device connected to an external part of a game machine.例文帳に追加

試験用ＣＰＵ１６１は、ＲＯＭおよびＲＡＭを内蔵したＣＰＵであって、遊技機外部に接続される試験装置等に供給するための試験信号を作成する。 - 特許庁

To efficiently capture FBM (a fail bit map) information for indicating physical position information of failure in a testing device and an testing method, especially in the failure analysis, for a RAM inside an LSI chip, such as a CPU and a DSP.例文帳に追加

ＣＰＵやＤＳＰ等のＬＳＩ内部におけるＲＡＭ用の試験装置及び試験方法に関し、特に障害解析において故障の物理位置情報を表すＦＢＭ情報（フェイルビットマップ）の取得を効率良く行うこと。 - 特許庁

To provide a disk for testing reproduction of stable quality which is a disk for testing reproduction of reloadable optical disk recording media (CD-RW disk, DVD-RAM disk, DVD-RW disk, DVD+RW disk, etc.).例文帳に追加

書換え可能な光ディスク記録媒体（ＣＤ−ＲＷディスク、ＤＶＤ−ＲＡＭディスク、ＤＶＤ−ＲＷディスク、ＤＶＤ＋ＲＷディスク等）の再生テスト用ディスクに関し、安定した品質の再生テスト用ディスクを提供することを課題とする。 - 特許庁

Data generators 104A, 104B, 104C for testing a CAM are inserted between an APG 101 for RAM and CAM-macros 105A, 105D, 105E, write-in data of the CAM-macros is generated from an address signal 12 directly or by decoding.例文帳に追加

ＲＡＭ用ＡＰＧ１０１とＣＡＭマクロ１０５Ａ，１０５Ｄ，１０５Ｅの間にＣＡＭテスト用データジェネレータ１０４Ａ，１０４Ｂ，１０４Ｃを挿入し、アドレス信号１２から直接、あるいはデコードしてＣＡＭマクロの書き込みデータを生成する。 - 特許庁

An address decoder 12 generates two or more selection signals SEL0-SEL3, so as to simultaneously select first to fourth memory circuits RAM 0-RAM3, on the basis of an address signal ADD for accessing to the memory circuit by a CPU 11 in testing mode.例文帳に追加

アドレスデコーダ１２はテストモード時にＣＰＵ１１が１つのメモリ回路をアクセスするためのアドレス信号ＡＤＤに基づいて第１〜第４メモリ回路ＲＡＭ０〜ＲＡＭ３を同時に選択するように複数の選択信号ＳＥＬ０〜ＳＥＬ３を生成する。 - 特許庁

In testing the RAM, by not performing the failure detection about an address other than the focused address or an expected value other than the focused expected value, occurrence of the failure to the focused address or the focused expected value defined in advance is easily determined when the failure is detected.例文帳に追加

本発明は、ＲＡＭ試験において着目アドレス以外のアドレス又は着目期待値以外の期待値については故障検出を行わないことにより、故障が検出された場合には予め決められた着目アドレス又は着目期待値について故障が発生したことを容易に判別することを目的とする。 - 特許庁