「simulation problem」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a program for function simulation of an image processing apparatus which solves a trouble making a customer not getting a consent of license or a customer of low reliability use a simulating program freely, and a problem wherein development of an application program for operating the image processing apparatus is disturbed by one part of the program not installed.例文帳に追加

ライセンスの許諾を得ていないカスタマや信頼度の低いカスタマが、制限無くシミュレート用プログラムを利用できてしまう不都合や、プログラムの一部がインストールされないことにより画像処理装置動作用のアプリケーションプログラムの開発に支障をきたす問題を解消できる、画像処理装置の機能シミュレート用プログラムを提供する。 - 特許庁

To solve a problem such that the effect of parallelism is lowered by the bottleneck of communication as the number of divided logics increases since it is necessary to communicate the event information of signals spread between processors and time information for synchronism through a network when the respective object logics divided by a parallel logic simulator for dividing and parallel executing simulation object logics are divided although they are simulated on independent memory spaces.例文帳に追加

シミュレーション対象論理を分割して並列実行させる並列論理シミュレータにおいて分割したそれぞれの対象論理は、独立したメモリ空間上でシミュレーションさせるが分割した場合、プロセッサ間にまたがる信号のイベント情報及び同期のための時刻情報をネットワークを介して通信しなければならない。 - 特許庁

The setting of actual luminous intensity En as a target value Ep to the target luminous intensity L1 can be calculated precisely by simulation, and can be bound as a target luminous intensity as the type, disposition and quantity of the illumination apparatus are known beforehand and so it can be handled for actual use without a major difference and has no problem as a target Ep.例文帳に追加

実際の照度値Enを目標照度値L1に対する目標値Epとして設定も、目標照度値L1は実際には照明器具３の形式、配置および数量などは予めわかっており、シミュレーションで正確に算出でき、設計照度値として求めることができるため、実際の使用にも大きな差が生ずることなく取り扱え、目標値Epとしても問題がない。 - 特許庁

The method of designing a semiconductor integrated circuit includes the steps of: calculating the risk of occurrence of a problem for each place on the semiconductor integrated circuit to be designed, based on the result of process simulation performed using a previously designed layout pattern 204 and physical model 201; and correcting a design standard 203 according to the risk for each place and generating a compaction condition 206 for each place.例文帳に追加

本発明による半導体集積回路の設計方法は、事前に設計されたレイアウトパタン２０４と物理モデル２０１とを用いて行われるプロセスシミュレーションの結果に基づいて、設計対象となる半導体集積回路上の場所毎に、不具合の発生する危険度を算出するステップと、場所毎の危険度に応じて設計基準２０３を修正し、場所毎のコンパクション条件２０６を生成するステップとを具備する。 - 特許庁