「surface analyses」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To provide an apparatus for analyzing the surface reaction processes of diffusing materials capable of efficiently performing experiments and analyses.例文帳に追加

効率よく実験・分析を行うことができる拡散材料の表面反応過程分析装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for eliminating or suppressing nonspecific interactions impeding analyses of intermolecular interactions on the surface of a metal and which intensifies specific interactions between molecules.例文帳に追加

金属表面上での分子間相互作用解析において障害となる非特異的な相互作用を排除、抑制するとともに分子間の特異的な相互作用を増強する方法の提供を目的とする。 - 特許庁

An analyzer 11 analyses the second interference fringe image obtained by the second interferometer I_2, measures a deformation amount of the mirror surface S_1 formed on the surface of the reflecting plane mirror F_1, and corrects the transmission wave front to cancel an error caused by a deformation of the reflecting plane mirror F_1.例文帳に追加

解析装置１１は、第２の干渉計Ｉ_2により取得された第２の干渉縞画像を解析して、折り返し平面鏡Ｆ_1の鏡面Ｓ_1の変形量を測定し、折り返し平面鏡Ｆ_1の変形によって生じた誤差を打ち消すように透過波面の補正を行う。 - 特許庁

The functional magnetic bacterium is characterized by adopting a specific magnetic bacterium, performing genetic manipulation based on the results of genome and proteome analyses of a carrier protein thereof and thereby displaying various functional molecules in the cell surface layer protein of the magnetic bacterium.例文帳に追加

特定の磁性細菌を採択し、そのキャリアータンパク質のゲノム、プロテオーム解析結果に基づいて、遺伝子操作を行なうことにより、磁性細菌の細胞表層タンパク質に様々な機能性分子をディプレイすることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a probe coupling substrate and its manufacturing method, capable of easily analyzing probes, as well as minimizing loss in sampling inspection, to enable quick and inexpensively detection and quantitative analysis of a target matter, when using various surface analyses, and to provide a method for quantitatively analyzing the target matter in a specimen quickly and inexpensively.例文帳に追加

各種表面分析法を用いた場合に、プローブの分析を問題なく行なえ、抜き取り検査でのロスが最小限であり、標的物質の検出や定量を迅速かつ安価に行なえるプローブ結合基板及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

For example, the polymer surface may be provided with an optimal added nitrogen-to-added oxygen ratio and/or an optimal stability based on washed and unwashed advancing contact angles, by controlling the H_2O level within the treater based on these analyses of the treated polymer.例文帳に追加

例えば、ポリマー表面には、処理されたポリマーのこれらの分析に基づいて処理装置内のＨ_2Ｏレベルを制御するなどによって、添加された窒素対添加された酸素の最適な比および／または洗浄後の前進接触角および未洗浄の前進接触角に基づいた最適な安定性が得られる。 - 特許庁

The dental CAD/CAM system performs structural analyses of a candidate prosthetic dental item that is to be created using design data representing the prosthetic dental item, and can recommend positioning of a surface of the prosthetic dental item within a volume of a milling block based on the design data (S302) and data representing desired aesthetic properties of the prosthetic dental item (S306).例文帳に追加

デンタルＣＡＤ／ＣＡＭシステムは、義歯アイテムを表わす設計データを用いて作成される候補義歯アイテムの構造解析を行い、設計データＳ３０２と、義歯アイテムの所望の美的特性を表わすデータとに基づいて、ミリングブロックの体積内に義歯アイテムの表面の位置決めを推奨することができるＳ３０６。 - 特許庁

Treating regions 31-38 used for analysis of a plurality of kinds supposed beforehand are formed on the surface of the semiconductor substrate, and the passage 13 is formed so as to connect from the inlets to the outlet through parts 31, 34, 36 among all the treating regions, and to realize a desired analysis among a plurality of kinds of analyses.例文帳に追加

半導体基板の表面には、予め想定した複数種類の分析に用いる処理領域(３１〜３８)が形成され、流路１３は、全ての処理領域のうち一部(３１,３４,３６)を介して入口から出口までを接続し、複数種類の分析のうち所望の分析を実現するように形成される。 - 特許庁

In the time measuring system, the time measuring device, and the vehicle, a mobile unit 1 continuously images a road surface by a CCD camera 11 and transmits an image by a transmitter 12; an image processing device 2 analyses the image and recognizes start/end point of the time measurement to output it to a time processing device 3; and the time processing device measures time.例文帳に追加

移動体１がＣＣＤカメラ１１により路面を連続的に撮像して送信機１２で送信し、画像処理装置２がこの画像を分析して、タイム計測の開始・終了点を認識してタイム処理装置３に出力し、タイム処理装置３がタイム計測を行うタイム計測システム、タイム計測装置、及び車両である。 - 特許庁

The computer section analyses the density and thickness of the thin film and surface roughness information, and feeds back the analysis result to the deposition conditions of the thin film.例文帳に追加

薄膜製造装置に、薄膜が成膜された被測定基板の表面に対しＸ線を照射する手段、被測定基板の角度走査を行なう手段、Ｘ線の反射Ｘ線の干渉と反射率パターンを検出する手段、を有する薄膜評価部と、薄膜の密度と膜厚と表面ラフネス情報を解析するとともに薄膜の成膜条件にフィードバックするコンピュータ部とを具備させる。 - 特許庁