| 意味 | 例文 |
test modeの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1182件
TEST MODE MONITORING CIRCUIT例文帳に追加
テストモードモニタ回路 - 特許庁
TEST MODE CIRCUIT AND RESET CONTROL METHOD OF THE TEST MODE CIRCUIT例文帳に追加
テストモード回路及びテストモード回路のリセット制御方法 - 特許庁
mode The mode= form of the $if directive is used to test whether readline is in emacs or vi mode. 例文帳に追加
mode$if ディレクティブの mode= 形式は、readline が emacs モードかvi モードのどちらになっているかを調べるために使います。 - JM
TEST MODE SETTING METHOD AND TEST CIRCUIT AND MICROCONTROLLER例文帳に追加
テストモード設定方法とテスト回路およびマイクロコントローラ - 特許庁
To obviate the need of a delay test controller or a plurality of DELAY TEST MODE signal lines to reduce a size of a circuit.例文帳に追加
ディレイテストコントローラや、複数本のDELAY TEST MODE信号線を不要にし、回路の規模を縮小する。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST MODE CONTROL CIRCUIT例文帳に追加
半導体装置、テストモード制御回路 - 特許庁
The host program will also have a test mode, 例文帳に追加
ホストプログラムにはまたテストモードも持つ。 - Electronic Frontier Foundation『DESのクラック:暗号研究と盗聴政策、チップ設計の秘密』
In the event of the mode of the handheld device 102 being changed from the test mode to the non-test mode, the handheld device 102 generates a non-test mode signal.例文帳に追加
携帯装置102のモードがテストモードから非テストモードへ変更される場合、携帯装置102は非テストモード信号を生成する。 - 特許庁
ERROR CORRECTION CODE (ECC) CIRCUIT TEST MODE例文帳に追加
エラー修正コード(ECC)回路テストモード - 特許庁
The test mode discriminating circuit 26 activates other test mode signals in addition to a test mode signal already activated.例文帳に追加
テストモード判別回路26は、既に活性化されているテストモード信号に加えて別のテストモード信号を活性化する。 - 特許庁
A control part 3 executes a program for test on the basis of the test mode generated at the test mode generating part 2.例文帳に追加
制御部3はテストモード生成部2で生成したテストモードに基づいてテスト用プログラムを実行する。 - 特許庁
The slave controller operates in a test mode or a game mode.例文帳に追加
下位制御装置はテストモードまたは遊技モードで動作する。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING PRE-REPAIR TEST MODE例文帳に追加
プリ・リペアテストモ—ドを有する半導体装置 - 特許庁
By a test mode designation signal (Norm/Test Mode), a semiconductor integration circuit (IC_Chip) is set to the test mode.例文帳に追加
テストモード指定信号Norm/Test Modeにより半導体集積回路IC_Chipは、テストモードに設定される。 - 特許庁
To provide a test mode circuit capable of easily resetting test mode, even when the circuit is carelessly shifted to the test mode.例文帳に追加
不用意にテストモードに移行してしまった場合でも、そのテストモードを簡単に解除することが出来るテストモード回路を提供する。 - 特許庁
The battery pack is shifted to a test mode in response to the test command.例文帳に追加
電池パックはテスト・コマンドに応答して試験モードに移行する。 - 特許庁
The LSI 1 is transited from a general operation mode to a test mode by asserting a test mode signal TM1 and a test mode signal TM2 to H-level.例文帳に追加
LSI1は,テストモード信号TM1およびテストモード信号TM2がHレベルにアサートされることによって,通常動作モードからテストモードに遷移する。 - 特許庁
TEST MODE CHANGEOVER METHOD AND TEST MODE CHANGEOVER DEVICE FOR IC FOR FDD, FDD DEVICE例文帳に追加
FDD装置用ICのテストモード切換方法およびテストモード切換装置、FDD装置 - 特許庁
The operation mode is selected from a burst length mode, a DLL set mode, a test mode, a CAS latency mode, and a burst type mode.例文帳に追加
前記動作モードは、バースト長さモード、DLLセットモード、テストモード、CASレイテンシモードおよびバースト型モードのうちの一つである。 - 特許庁
A functional block 12 has a normal operation mode and a test mode.例文帳に追加
機能ブロック12は、通常動作モードおよびテストモードを有する。 - 特許庁
Execution mode information 1320 defining a real execution mode and a test mode is stored.例文帳に追加
本番モードおよびテストモードを定める実行モード情報1320が記憶される。 - 特許庁
MEDIA CONVERTER AND TEST MODE START METHOD THEREFOR例文帳に追加
メディアコンバータおよびそのテストモード起動方法 - 特許庁
MULTI-MODE OPTIMIZATION TECHNOLOGY IN TEST FORMATION例文帳に追加
テスト生成におけるマルチモード最適化技術 - 特許庁
Next, a test signal TE1 is assumed as '1', and a a test mode is set to the memory.例文帳に追加
次に、テスト信号TE1を”1”とし、テストモードに設定する。 - 特許庁
To provide a test circuit that can set a test mode and input a test signal after setting the test mode even if a terminal to be used only in the test mode is not provided in a semiconductor package.例文帳に追加
半導体パッケージにテストモード時にのみ使用される端子を設けなくても、テストモードの設定及びテストモード設定後のテスト信号入力ができるテスト回路を提供する。 - 特許庁
A mode setting circuit switches an operation mode to a normal operation mode or a test mode in accordance with an external control.例文帳に追加
モード設定回路は、外部制御により動作モードを通常動作モードまたはテストモードに切り替える。 - 特許庁
Preferably, the first operation mode is a terminal test mode, and the second operation mode is a normal operation mode.例文帳に追加
好ましくは、第1の動作モードは、端子試験モードであり、第2の動作モードは、通常動作モードである。 - 特許庁
A test mode generating part 2 at least generates a test mode according to input selection from the outside.例文帳に追加
テストモード生成部2は外部からの入力選択に応じて少なくともテストモードを生成する。 - 特許庁
When a test mode is set, a high-level test mode signal TM is outputted from a bus controller 2.例文帳に追加
テストモードが設定されると、バスコントローラ2からハイレベルのテストモード信号TMが出力される。 - 特許庁
A test mode signal TM is inputted from a test mode determining circuit 30 to the POR circuit 25 in the test mode for testing the operation of an internal circuit.例文帳に追加
内部回路の動作をテストするテストモードにおいて、テストモード判定回路30からテストモード信号TMをPOR回路25に入力する。 - 特許庁
TEST MODE CIRCUIT DEVICE FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路のテストモード回路装置 - 特許庁
In a test mode, a test data generating means 14 outputs test data and a scramble means 16 encrypts the test data.例文帳に追加
テストモード時は、テストデータ生成手段14よりテストデータを出力し、スクランブル手段16で暗号化する。 - 特許庁
Test codes A1-An are inputted to a test mode control circuit 21, and the test mode control circuit 21 generates test decode signals TMadd1-n.例文帳に追加
テストコードA1〜Anは、テストモード制御回路21に入力され、テストモード制御回路21は、テストデコード信号TMadd1〜nを生成する。 - 特許庁
An LSI has a scan test mode for performing a scan test of an internal circuit.例文帳に追加
LSIは、内部回路をスキャンテストするためのスキャンテストモードを有する。 - 特許庁
An output scan cell 102 receives a mode selection signal 122 which indicates an input test mode or output test mode.例文帳に追加
出力走査セル102は、入力テストモード、または出力テストモードを指示するモード選択信号122を受ける。 - 特許庁
VIBRATION MODE EXCITATION DEVICE DURING ROTATIONAL VIBRATION TEST例文帳に追加
回転振動試験時の振動モード励振装置 - 特許庁
A Pachinko machine changes an operation mode from a business mode to a trial shooting mode or a test mode by receiving a mode change request from a CU.例文帳に追加
P台は、CUからのモード変更要求を受けて、動作モードを営業モードから試打モードあるいはテストモードに切り換える。 - 特許庁
A Pachinko machine changes an operation mode from a business mode to a maintenance mode or a test mode by receiving a mode change request from a CU.例文帳に追加
P台は、CUからのモード変更要求を受けて、動作モードを営業モードからメンテナンスモードあるいはテストモードに切り換える。 - 特許庁
An individual user data insertion circuit 1 receives a test mode selection signal and a test data input signal from a test mode setting/test data generating circuit 19 to discriminate whether or not the setting of the test mode is valid.例文帳に追加
個別ユーザーデータ挿入回路1は、テストモード設定/テストデータ生成回路19からのテストモード選択信号とテストデータ入力信号を受け取り、テストモード設定が有効か否かを判断する。 - 特許庁
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| この対訳コーパスは独立行政法人情報通信研究機構の研究成果であり、Creative Commons Attribution-Share Alike 3.0 Unportedでライセンスされています。 |
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| この対訳コーパスは独立行政法人情報通信研究機構の集積したものであり、Creative Commons Attribution-Share Alike 3.0 Unportedでライセンスされています。 |
原題:”Cracking DES: Secrets of Encryption Research, Wiretap Politics, and Chip Design ” 邦題:『DESのクラック:暗号研究と盗聴政策、チップ設計の秘密』 | This work has been released into the public domain by the copyright holder. This applies worldwide. 日本語版の著作権保持者は ©1999 山形浩生<hiyori13@alum.mit.edu>である。この翻訳は、全体、部分を問わず、使用料の支払いなしに複製が認められる。 |
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