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testing, testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 14414件
GENETIC TESTING FOR DETERMINING RISK OF POUCHITIS DEVELOPMENT例文帳に追加
回腸嚢炎発症の危険性を決定するための遺伝子検査 - 特許庁
RELOCATABLE INSTRUMENTATION TAG FOR TESTING AND DEBUGGING OF COMPUTER PROGRAM例文帳に追加
コンピュータプログラムをテストし、デバッグするための再配置可能計測タグ - 特許庁
SIGNAL OUTPUT DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加
信号出力装置およびこれを用いた半導体試験装置 - 特許庁
PHOTOMASK FOR TESTING, METHOD OF EVALUATION ON FLARE, AND METHOD OF CORRECTION FOR FLARE例文帳に追加
試験用フォトマスク、フレア評価方法、及びフレア補正方法 - 特許庁
To provide a semiconductor testing circuit that can realize a high- speed test for semiconductor device even by using a low-speed testing device.例文帳に追加
低速の試験装置を使用しつつも半導体装置の高速試験を可能にした半導体試験回路を提供する。 - 特許庁
JITTER MEASURING DEVICE, JITTER MEASURING METHOD, TESTING DEVICE AND ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加
ジッタ測定装置、ジッタ測定方法、試験装置、及び電子デバイス - 特許庁
RANDOM NUMBER GENERATION CIRCUIT, ELECTRONIC DEVICE, AND METHOD OF TESTING I/O CELL例文帳に追加
乱数発生回路、電子機器、およびI/Oセルのテスト方法 - 特許庁
ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE, SOCKET BOARD ASSEMBLY, AND INTERFACE DEVICE例文帳に追加
電子部品試験装置、ソケットボード組立体、及びインタフェース装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED DEVICE AND NOISE TESTING METHOD USING THE SAME例文帳に追加
半導体集積装置およびそれを用いたノイズ試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加
半導体記憶装置のテスト方法及び半導体記憶装置 - 特許庁
To disclose a thread testing device that simulates a vehicle collision.例文帳に追加
車両衝突をシミュレートするスレッド試験装置を開示する。 - 特許庁
To provide a testing device which can test a high-speed multivalued signal.例文帳に追加
高速多値信号を試験可能な試験装置を提供する。 - 特許庁
HARD MACRO TEST CIRCUIT, TESTING METHOD THEREFOR, AND METHOD OF GENERATING TEST PATTERN例文帳に追加
ハードマクロテスト回路、そのテスト方法およびテストパタン生成方法 - 特許庁
TESTING DEVICE, SHIFT AMOUNT MEASURING DEVICE AND SHIFT AMOUNT MEASURING METHOD例文帳に追加
試験装置、シフト量測定装置およびシフト量測定方法 - 特許庁
CRASH TESTING DEVICE AND CRASH TEST METHOD FOR AUTOMOBILE BODY例文帳に追加
自動車車体の衝突試験装置及び衝突試験方法 - 特許庁
OPTICAL SIGNAL TRANSMISSION TESTING METHOD AND OPTICAL TRANSMISSION LINE SIMULATOR例文帳に追加
光信号伝送試験方法および光伝送路模擬装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING CORROSION CRACKING CAUSED BY WELDING RESIDUAL STRESS例文帳に追加
溶接残留応力の腐食割れ試験方法および装置 - 特許庁
To provide test equipment, testing method and program which can reduce dependency on measurements such as leak current for logic pattern of test vector in testing of devices under test.例文帳に追加
被試験デバイスの試験において、試験ベクタの論理パターンに対する、リーク電流等の測定値の依存性を低減する。 - 特許庁
ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE FOR TESTING OR TREATING SAMPLE例文帳に追加
試料を検査または処理するための荷電粒子ビーム装置 - 特許庁
PHYSICAL LAYER CHIP FOR IEEE1394 STANDARDS, AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加
IEEE1394規格の物理層チップ及びそのテスト方法 - 特許庁
COMPOSITION FOR PROVIDING LONG TERM STABILITY TO CELL FOR DIAGNOSTIC TESTING例文帳に追加
診断検査用細胞に長期安定性をもたらす組成物 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND METHOD OF TESTING THE SAME例文帳に追加
半導体装置、その製造方法およびその検査方法 - 特許庁
To provide a semiconductor testing device and a measuring device having high reliability of an electric characteristic test, capable of testing in a short time.例文帳に追加
電気的特性試験の信頼性が高く、短時間で試験可能な半導体試験装置および測定装置を提供する。 - 特許庁
COMPRESSOR TESTING DEVICE AND COMPRESSOR TENTING METHOD THEREWITH例文帳に追加
圧縮機試験装置およびそれによる圧縮機の試験方法 - 特許庁
To provide a transmission processing apparatus testing method for the testing development of transmission processing apparatus software correctly and efficiently.例文帳に追加
通信処理装置ソフトウェアの開発の試験を正確かつ効率的に実施する通信処理装置試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a wet road surface testing machine capable of measuring accurately a relation between water film thickness and a characteristic of a testing object.例文帳に追加
水膜厚さと試験対象物の特性との関係を正確に測定することができるウェット路面試験機を提供する。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND METHOD OF TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路装置および集積回路のテスト方法 - 特許庁
ELECTRONIC TESTING DEVICE AND METHOD OF DISPLAYING RESULT OF ELECTRONIC TEST例文帳に追加
電子試験装置、及び、電子試験の結果を表示する方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING STERILIZING POWER OF ORGANIC/INORGANIC ANTIBACTERIAL AGENT USING MICRO-PLATE例文帳に追加
有機・無機系抗菌剤のマイクロプレート殺菌力試験方法 - 特許庁
AUTOMATIC PENETRATION TESTING MACHINE AND ATTACHING METHOD OF EXTENSION ROD例文帳に追加
自動貫入試験機および延長用ロッドの取付け方法 - 特許庁
DEVICE FOR TESTING AC VOLTAGE CIRCUIT OF DISTRIBUTION BOARD, AND METHOD THEREOF例文帳に追加
配電盤の交流電圧回路試験装置およびその方法 - 特許庁
METHOD OF TESTING DATA PROCESSING SYSTEM, TEST PROGRAM, AND TEST APPARATUS例文帳に追加
データ処理システムの試験方法、試験プログラム及び試験装置 - 特許庁
To provide a technology for appropriately testing a call origination control apparatus.例文帳に追加
発呼制御装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁
PROBE CARD FIXING DEVICE, AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE PROVIDED THEREWITH例文帳に追加
プローブカード固定装置及びそれを備えた電子部品試験装置 - 特許庁
COUPLING DEVICE FOR TEST HEAD OF WAFER TESTING SYSTEM AND PROBE CARD例文帳に追加
ウェハ試験システムのテストヘッドとプロ—ブカ—ドとを結合する装置 - 特許庁
To provide a technology for appropriately testing a band control apparatus.例文帳に追加
帯域制御装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁
MEMORY ERROR CORRECTION AND DETECTION CIRCUIT TEST SYSTEM AND TESTING METHOD例文帳に追加
メモリ誤り訂正・検出回路試験システムおよび試験方法 - 特許庁
INTEGRATED CIRCUIT INCORPORATING TRACK HOLD CIRCUIT AND TESTING METHOD例文帳に追加
トラック・ホールド回路を内蔵した集積回路及び試験方法 - 特許庁
To provide a technique for testing a mail filtering device appropriately.例文帳に追加
メールフィルタリング装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁
FUEL CELL SYSTEM AND FLOODING TESTING METHOD IN DIFFUSION LAYER例文帳に追加
燃料電池システム及び拡散層内のフラッディング試験方法 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加
半導体集積回路装置の製造方法およびテスト方法 - 特許庁
DEVICE OF TESTING UNIFORMITY AND/OR DYNAMIC BALANCE OF TIRE WITH WHEEL例文帳に追加
ホイール付きタイヤのユニフォーミティ及び/または動釣合試験装置 - 特許庁
This visceral fat obesity testing apparatus 10 is provided with an ultrasonic probe 12, a testing apparatus body 14, and a personal computer 16.例文帳に追加
内臓脂肪肥満検査装置10は、超音波プローブ12と、検査装置本体14と、パーソナルコンピュータ16とを有する。 - 特許庁
NONDESTRUCTIVE METHOD AND NONDESTRUCTIVE APPARATUS FOR TESTING CERAMIC COATING FILM例文帳に追加
セラミックス被覆材の非破壊検査法及び非破壊検査装置 - 特許庁
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