「testing, testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(112ページ目) - Weblio英語例文検索

The preferred type of testing script system to use is PHPUnit or .phpt. 例文帳に追加

テスト用スクリプトは、PHPUnit あるいは .phpt を用いることを推奨します。 - PEAR

This boilerplate code allows the testing suite to be run by test.regrtest as well as on its own as a script.The goal for regression testing is to try to break code. This leads to a few guidelines to be followed:例文帳に追加

回帰テストの目的はコードの分解です。 そのためには以下のいくつかのガイドラインに従ってください: - Python

BUFFER EFFECT TESTING METHOD FOR FIBER PRODUCT WITH RESPECT TO PH IRRITATION例文帳に追加

ｐＨ刺激に対する繊維製品の緩衝効果試験方法 - 特許庁

LEAD PIN PITCH/LEVELNESS TESTING DEVICE USING TWO- DIMENSIONAL LASER DISPLACEMENT SENSOR例文帳に追加

２次元レーザ変位センサによるリードピンピッチ・平面度検査装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING NETWORK REPEATER, AND THE NETWORK REPEATER例文帳に追加

ネットワーク中継装置の試験方法及びネットワーク中継装置 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT, TESTING TECHNIQUE THEREOF, AND INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

集積回路およびそのテスト方法ならびに集積回路装置 - 特許庁

OPERATIONAL TESTING SYSTEM AND DATA TRANSFER METHOD USED THEREIN例文帳に追加

運用試験用システムおよびこれに利用するデータ転送方法 - 特許庁

TESTING DEVICE OF HYBRID SYSTEM AND POWER SUPPLY UNIT THEREWITH例文帳に追加

ハイブリッドシステムの試験装置及びそれに用いられる電源装置 - 特許庁

When testing to find the defective bits, the fuse selection circuit selects a fuse block to program next and the selected fuse block holds address signals inputted at testing in a register circuit.例文帳に追加

電気ヒューズへのプログラム後の確認を書き込まれたアドレス情報のみの確認で良品判断が可能となる。 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT, TESTING METHOD FOR THE SAME AND INTEGRATED-CIRCUIT COMPONENT例文帳に追加

集積回路、集積回路の試験方法、集積回路部品 - 特許庁

Testing is easy and should only take a few minutes of your time.例文帳に追加

検査は簡単で、わずか数分間のお時間をとるだけです。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文

They have by testing achieved military and political objectives.例文帳に追加

両国は実験によって軍事的、政治的目的を達成した。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文

METHOD AND DEVICE FOR TESTING CIRCUIT BOARD例文帳に追加

回路基板を試験する方法およびこの方法を実施する装置 - 特許庁

To provide a technology for properly testing a virus detection device.例文帳に追加

ウィルス検出装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR NONDESTRUCTIVE INSULATION TESTING OF SMALL-SIZED ELECTRIC MACHINE例文帳に追加

小型電気機械の非破壊絶縁試験方法および装置 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING MEMORY USING DMA例文帳に追加

ＤＭＡを使用してメモリをテストするためのシステムおよび方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, ITS MANUFACTURING METHOD, AND TESTING METHOD例文帳に追加

半導体集積回路および製造方法並びにテスト方法 - 特許庁

To provide an inexpensive material testing method resistant to outside vibration and capable of grasping the testing force at the initial stage of destruction in accurate timing.例文帳に追加

安価で外部振動に強く、破壊初期の試験力を正確なタイミングで捉えられる材料試験方法を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体記憶装置及び半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁

To provide an accelerated weathering resistant testing method whose correlativity with respect to an exposure to weather is high and whose testing time is shortened.例文帳に追加

自然曝露との相関性が高く、試験時間を大幅に短縮することができる促進耐候性試験方法を提供する。 - 特許庁

Generally very positive feedback on overall road testing experience 例文帳に追加

概して非常にポジティブなフィードバックがロードテスト全体から得られた - 経済産業省

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING SECONDARY BATTERY CAPACITY例文帳に追加

二次電池容量試験システム及び二次電池容量試験方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING MAGNETIC TRANSFER SIGNAL例文帳に追加

磁気転写信号試験方法および装置ならびに磁気媒体 - 特許庁

Winglet testing will be conducted over a period of three years.例文帳に追加

ウィングレットの実験は３年間にわたって行われる予定だ。 - 浜島書店 Catch a Wave

This month, Narita International Airport begins testing Megahonyaku.例文帳に追加

今月，成田国際空港はメガホンヤクの試験運用を開始する。 - 浜島書店 Catch a Wave

To provide a data transfer circuit and a semiconductor testing device equipped therewith which are capable of significantly reducing the waiting time during the semiconductor testing, and performing arithmetic operation processings on the data for testing which are now measured during the testing period.例文帳に追加

本発明は、半導体試験における待ち時間を大幅に削減し、かつ試験中に現在測定している試験のデータの演算処理を行うことができるデータ転送回路、およびこれを備えた半導体試験装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide an immunity testing method and immunity testing device capable of realizing evaluation on the immunity characteristics in an arbitrary direction of a specimen with enough reliability, and a rotary magnetic field generating device used in the testing method and testing device.例文帳に追加

十分な信頼度で試供体の任意方向におけるイミュニティ特性の評価を実現することのできる、新規なイミュニティ試験方法及びイミュニティ試験装置、並びにこれらの試験方法及び試験装置に用いる回転電磁界発生装置を提供する。 - 特許庁

The audiometric testing apparatuses 3 and 3' stores: a sound file for an audiometric testing to which testing sound of a prescribed frequency and sound pressure is set for carrying out the audiometric testing; and an audiometric model showing the average audiometric level of each frequency of a normal hearing listener.例文帳に追加

聴力検査装置３，３’には、聴力検査を実行するために所定の周波数及び音圧の検査音が設定された聴力検査用サウンドファイルと、健聴者の各周波数毎の平均的聴力レベルを示す聴力モデルとが記憶される。 - 特許庁

To provide a game machine testing system capable of appropriately testing a game machine without greatly changing a hardware constitution of a conventional testing apparatus of game machines; and to provide a game machine.例文帳に追加

従来の遊技台の試験装置におけるハード構成を大幅に変更する必要がなく、遊技台の試験を的確に実施することができる遊技台試験システムおよび遊技台を提供する。 - 特許庁

The testing control unit selects one testing voltage source from among a plurality of voltage sources, outputs a testing voltage-source selection commanding signal to an input/output pad, and outputs a target voltage to a single pad.例文帳に追加

試験制御装置は複数の電圧源からテスト電圧源を１つ選択し、テスト電圧源選択指示信号を入出力パッドに出力し、目標電圧を単一パッドに出力する。 - 特許庁

When the first testing device is connected to the system, this method includes the step of making the first testing device operatable with an interface(320) for the system, in which the first testing device can be connected to an object device to be tested.例文帳に追加

第１の試験装置がシステムに接続されていた場合、本方法は、第１の試験装置が試験対象デバイスに接続可能なシステムのインタフェース(320)と共に動作できるようにするステップを含む。 - 特許庁

To provide an evaluation method suitable for exhaustively testing a large number of testing substances in high cost-performance to find out a substance having an effect to impart a living body with moistness among the testing substances.例文帳に追加

被検査物質の中から生体に潤いを与える効果を有する物質を見出すため、コストパフォーマンスに優れ、また、多くの被検査物質を網羅的に試験するのに適した評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a optical line testing system and a optical line testing method which can easily perform system modification by reducing modifying steps and confirming steps of software, when devices are added, and testing procedures are changed.例文帳に追加

従来の光線路試験システムにおいては、設備管理センタ５から指示された光線路試験の種別に応じて、システム内の各試験装置の動作順序と試験指示をコマンドで直接記述している。 - 特許庁

To brake a testing device in emergency braking without supplying power to a load electric motor in the testing device of a prime mover conducting performance testing by absorbing the output of the prime mover with the load electric motor.例文帳に追加

原動機の出力を負荷電動機により吸収して、性能試験を行う原動機の試験装置において、緊急制動時に前記負荷電動機に電力を供給せずに、制動を行う。 - 特許庁

To provide a device for testing a molded container which can save its installation space and a method for testing the molded container which can save a space necessary for testing the molded container.例文帳に追加

その設置スペースを小さなものとすることができる成形容器の検査装置、および成形容器の検査に必要なスペースを小さなものとすることができる成形容器の検査方法を提供する。 - 特許庁

To manage testing processes by exchanging information by allocating IP addresses for a management server and a plurality of testing devices for the management of the plurality of testing processes to products on a production line.例文帳に追加

生産ライン上の製品に対する複数の試験工程の管理について、管理サーバと複数の試験装置とをＩＰアドレスの割り振りによって情報交換し試験工程管理を行うこと。 - 特許庁

To provide a method of testing an A-D conversion circuit for testing a high-resolution (multi-bit) A-D conversion circuit in a short time and at low cost, and the A-D conversion circuit suitable for implementing the testing method.例文帳に追加

高分解能（多ビット）Ａ／Ｄ変換回路の試験を短時間且つ低コストで実現するＡ／Ｄ変換回路の試験方法、及びその試験方法の実施に適したＡ／Ｄ変換回路の提供。 - 特許庁

To provide an image quality correction processing apparatus and method, and a program thereof for reducing a time required for testing without degrading the quality of testing to the utmost extent in an image testing processing for manually correcting the correction of an automatically corrected image as required.例文帳に追加

自動補正された画像に対し必要に応じてその補正を手動で修正する画像検定処理において、検定の質を極力落とさず検定の所要時間を短縮する。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 1 includes a tester controller 10 for controlling the semiconductor testing apparatus 1 in an integral manner, and a redundancy system 20 which performs redundancy operations using the result of testing a semiconductor device.例文帳に追加

半導体試験装置１は、半導体試験装置１を統括制御するテスタコントローラ１０と、半導体デバイスの試験結果を用いてリダンダンシ演算を行うリダンダンシシステム２０とを備える。 - 特許庁

To provide a program device, a program testing method and a program testing program capable of performing program testing with a programmable condition and prohibiting occurrence of a program error.例文帳に追加

本発明は、プログラマブルな条件でプログラム試験が行え、プログラムエラーの発生を未然に防ぐことができるプログラム装置、プログラム試験方法およびプログラム試験用プログラムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a testing machine for enabling a user to easily edit and prepare contents of a confirmation message in accordance with the configuration or the like of the testing machine even after software for testing machines is installed.例文帳に追加

試験機用ソフトウエアがインストールされた後においても、ユーザが試験機の構成等に応じて容易に確認メッセージの内容を編集および作成することが可能な試験機を提供する。 - 特許庁

The nonvolatile semiconductor storage is provided with a memory cell array 2 having plural memory cells and a testing cell array 3 having plural testing cells, and the testing cells are connected to the memory cell array 2 with bit lines.例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置は複数のメモリセルを有するメモリセルアレイ２と複数のテスト用セルを有するテスト用セルアレイ３とを有し、メモリセルアレイにテスト用セルがビット線で接続されている。 - 特許庁

To provide an electronic circuit testing device suitable for testing an electronic circuit for conducting inter-substrate communication by inductive coupling, and capable of testing the electronic circuit without using a pad for a test.例文帳に追加

誘導性結合によって基板間通信を行う電子回路を試験するのに好適で、テスト用のパッドを使わなくても電子回路を試験することができる電子回路試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device, where a testing unit optimal to a memory macro can be tested on an optimal testing condition in the case of testing the memory macro mounted in the semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

半導体集積回路装置に搭載されたメモリマクロの試験の際、メモリマクロに最適な試験単位を最適な試験条件で試験することが可能な半導体集積回路装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a pad for probe sensing for testing electrically the semiconductor device without attacking the device, a substrate having a semiconductor device, a method of testing the semiconductor device and a tester for testing the semiconductor device.例文帳に追加

半導体素子にアタックを加えなく素子を電気的にテストするためのプローブセンシング用パッド、半導体素子の搭載された基板、半導体素子検査方法及び半導体素子テスターを提供する。 - 特許庁