| 例文 |
testing, testingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 14414件
METHOD AND DEVICE FOR TESTING FUEL-CLADDING TUBE例文帳に追加
燃料被覆管の試験方法および装置 - 特許庁
ELECTRIC FIELD STRENGTH MEASURING DEVICE FOR TESTING EMC例文帳に追加
ＥＭＣ試験用電界強度測定装置 - 特許庁
TESTING APPARATUS AND METHOD FOR FILM THICKNESS UNEVENNESS例文帳に追加
膜厚むらの検査装置および検査方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING TOXICITY IN UNDERWATER CONTAMINANT例文帳に追加
水中汚染物質の有害性試験方法 - 特許庁
DATA TRANSFER DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加
データ転送装置及び半導体試験装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF TESTING CHARACTERISTICS THEREOF例文帳に追加
半導体素子及びその特性検査方法 - 特許庁
PROGRAM PRODUCTION SYSTEM OF SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加
半導体試験装置のプログラム作成方式 - 特許庁
To propose an environment testing device allowing the temperature of a testing object to quickly reach a prescribed temperature by uniformly cooling or heating the testing object without nonuniformity of a temperature and capable of stabilizing the testing object in that state.例文帳に追加
被試験品を温度むらなく一様に冷却或いは加熱して所定温度に迅速に到達させ、その状態に安定させることのできる環境試験装置を提案すること。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS TESTING PROCEDURES例文帳に追加
半導体記憶装置およびその検査手法 - 特許庁
BEARING TESTING DEVICE AND BEARING TEST METHOD例文帳に追加
軸受試験装置および軸受試験方法 - 特許庁
RADIO BASE STATION TESTING METHOD AND TESTER例文帳に追加
無線基地局試験方法及び試験装置 - 特許庁
UNINTERRUPTIBLE POWER SUPPLY AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
無停電電源装置およびその試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加
半導体記憶装置及びそのテスト方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING CRYSTALLINITY OF SEMICONDUCTOR THIN FILM例文帳に追加
半導体薄膜の結晶性検査方法 - 特許庁
The apparatus mainly comprises an image testing measuring unit and an inner hole testing measuring unit, the image testing measuring unit is located above a tape reel and the inner hole testing measuring unit tests and measures the inner hole of the tape reel.例文帳に追加
主に画像検査測定器、中孔検査測定器を包含し、該画像検査測定器はテープリールの上方に位置し、該中孔検査測定器はテープリールの中孔を検査測定する。 - 特許庁
TRAVELING SUPPORTING DEVICE AND OPERATION CAPABILITY TESTING DEVICE例文帳に追加
走行支援装置、運転能力試験装置 - 特許庁
EXTREME-ULTRAVIOLET RAY MICROSCOPE AND TESTING METHOD例文帳に追加
極端紫外線顕微鏡及び検査方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体検査方法および半導体装置 - 特許庁
TEST RESULT VERIFICATION SERVER FOR SPECIMEN TESTING SYSTEM例文帳に追加
検体検査システムの検査結果検証サーバ - 特許庁
PROGRAM EXECUTION SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加
半導体試験装置のプログラム実行方式 - 特許庁
BURN-IN TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路のバーンイン試験装置 - 特許庁
To provide a tablet testing device of high reliability and high processing speed capable of monitoring testing data even after tablets are delivered to a patient, and reducing testing labor of a testing pharmacist.例文帳に追加
信頼性が高く、処理速度が速いうえ、患者に手渡された後でも検査データを監視することができ、検査調剤師の検査労力を緩和できる錠剤検査装置を提供する。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
半導体記憶装置およびその検査方法 - 特許庁
VIDEO MEMORY TESTING AND DIAGNOSING METHOD AND DEVICE例文帳に追加
ビデオメモリ試験診断方法およびその装置 - 特許庁
INSTRUMENT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR CIRCUIT例文帳に追加
半導体回路試験装置及び試験方法 - 特許庁
SPECIMEN TESTING METHOD AND DYNAMO CONTROLLER例文帳に追加
供試体試験方法およびダイナモ制御装置 - 特許庁
Compare: Testing Using a Simple Assertion (JUnit 4) 例文帳に追加
比較: 単純なアサーションを使用したテスト (JUnit 4) - NetBeans
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