「testing test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

TEST BOARD AND TESTING METHOD例文帳に追加

テスト基板とテスト方法 - 特許庁

TEST BOARD TESTING DEVICE AND TEST BOARD TEST METHOD例文帳に追加

テストボード試験装置、及びテストボード試験方法 - 特許庁

TESTING APPARATUS, METHOD OF TESTING, AND TEST PROGRAM例文帳に追加

テスト装置、テスト方法及びテストプログラム - 特許庁

TESTING DEVICE, TESTING METHOD, AND TEST PROGRAM例文帳に追加

テスト装置、テスト方法およびテストプログラム - 特許庁

TESTING APPARATUS FOR TABLET ELUTION TEST例文帳に追加

錠剤溶出試験機 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR DROP IMPACT TEST例文帳に追加

落下衝撃試験装置 - 特許庁

TEST TOOL, TESTING DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

試験具、試験装置及び試験方法 - 特許庁

TEST BOARD FOR TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体試験用テストボード - 特許庁

TESTING SYSTEM, TESTING METHOD, AND TEST PROGRAM例文帳に追加

試験システム、試験方法、及び試験プログラム - 特許庁

TEST PROGRAM AND TESTING DEVICE例文帳に追加

試験プログラム及び試験装置 - 特許庁

TESTING APPARATUS AND TEST PROGRAM例文帳に追加

試験装置及び試験プログラム - 特許庁

TEST METHOD AND TESTING EQUIPMENT例文帳に追加

試験方法及び試験装置 - 特許庁

TEST EQUIPMENT AND TESTING METHOD例文帳に追加

試験装置及び試験方法 - 特許庁

TEST METHOD AND TESTING FIXTURE例文帳に追加

試験方法及び試験用治具 - 特許庁

TEST-USE PROGRAM, TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD例文帳に追加

検査用プログラム、検査システム並びに検査方法 - 特許庁

TEST HEAD OF SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置のテストヘッド - 特許庁

CANCER EXAMINATION TEST DRUG AND TESTING METHOD例文帳に追加

ガン検査薬および検査方法 - 特許庁

TEST CIRCUIT AND CIRCUIT TESTING METHOD例文帳に追加

テスト回路及び回路テスト方法 - 特許庁

TEST HEAD FOR SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置用テストヘッド - 特許庁

a car that is run for testing purposes, called {test-run car} 例文帳に追加

試験的に走らせる車 - EDR日英対訳辞書

TESTING DEVICE, TESTING METHOD OF FATIGUE TEST, AND CRACK EVOLUTION TESTING METHOD例文帳に追加

試験装置、疲労試験の試験方法、およびき裂進展試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE, TEST METHOD AND TEST CONTROL PROGRAM例文帳に追加

試験装置、試験方法、及び試験制御プログラム - 特許庁

FATIGUE TESTING MACHINE FOR FINE TEST PIECE例文帳に追加

微小試験片用疲労試験機 - 特許庁

TEST DISK AND DRIVE TESTING METHOD例文帳に追加

テストディスクおよびドライブ検査方法 - 特許庁

TEST BASAL PAPER AND TESTING METHOD例文帳に追加

検査用基紙および検査方法 - 特許庁

TEST PROGRAM UNIT SYSTEM AND TESTING APPARATUS例文帳に追加

テストユニット装置および試験装置 - 特許庁

TEST APPARATUS AND TESTING METHOD USING TEST APPARATUS例文帳に追加

試験装置及び試験装置を用いた試験方法 - 特許庁

MEMORY TEST CIRCUIT AND MEMORY TESTING METHOD例文帳に追加

メモリテスト回路及びメモリテスト方法 - 特許庁

TESTING APPARATUS, TEST METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

テスト装置、テスト方法、およびプログラム - 特許庁

DROP IMPACT TESTING MACHINE, AND TESTING METHOD FOR DROP IMPACT TEST例文帳に追加

落下衝撃試験機および落下衝撃試験方法 - 特許庁

RELAXATION TEST METHOD, TESTING DEVICE AND TESTING TOOL例文帳に追加

リラクゼーション試験方法及び試験装置、並びに試験治具 - 特許庁

TEST SECTION UNIT, TEST HEAD, AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE例文帳に追加

テスト部ユニット、テストヘッドおよび電子部品試験装置 - 特許庁

MATERIAL TESTING MACHINE FOR FINE TEST PIECE例文帳に追加

微小試験片用材料試験機 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND TEST SYSTEM例文帳に追加

半導体試験装置及びテストシステム - 特許庁

TEST EQUIPMENT, TESTING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

試験装置、試験方法、および、プログラム - 特許庁

TEST METHOD OF MEMORY, TEST DEVICE AND MEMORY MODULE FOR TESTING例文帳に追加

メモリのテスト方法、テスト装置及びテスト用メモリモジュール - 特許庁

COMBINATION TEST METHOD AND TESTING DEVICE例文帳に追加

組合せ試験方法及び試験装置 - 特許庁

HEAT TRANSFER BODY, TEST BOARD, AND TESTING DEVICE例文帳に追加

伝熱体、テストボード、及び試験装置 - 特許庁

TEST PIECE GRASPING DEVICE FOR MATERIAL TESTING MACHINE例文帳に追加

材料試験機用試験片つかみ具 - 特許庁

TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF IC例文帳に追加

ＩＣの試験装置及び試験方法 - 特許庁

AUTOMATIC TEST METHOD AND AUTOMATIC TESTING MACHINE例文帳に追加

自動試験方法及び自動試験機 - 特許庁

WITHSTAND VOLTAGE TESTING DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

耐電圧試験装置及び試験方法 - 特許庁

FATIGUE TESTING FIXTURE FOR MICRO TEST PIECE例文帳に追加

超小型試験片用疲労試験治具 - 特許庁

SPLIT TESTING DEVICE AND SPLIT TEST METHOD例文帳に追加

割裂試験装置及び割裂試験方法 - 特許庁

TEST CHAMBER FOR ELECTRONIC DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加

電子機器用テスト・チャンバ及び方法 - 特許庁