「testing test」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

STANDARD TEST SPECIMEN FOR TESTING ANTIMICROBIAL PROPERTY, AND METHOD FOR TESTING ANTIMICROBIAL PROPERTY BY USING THE SAME例文帳に追加

抗菌性試験用標準試験片及びそれを用いた抗菌性試験方法 - 特許庁

TEST-CONDITION DATA GENERATING METHOD AND TESTING SYSTEM OF SEMICONDUCTOR-WAFER VISUAL TESTING APPARATUS例文帳に追加

半導体ウエーハ外観検査装置の検査条件データ生成方法及び検査システム - 特許庁

Testing functions by a BIST are increased by increasing the ways in the testing modes for the test.例文帳に追加

テストのためのアドレシングモードの多様化によりＢＩＳＴによるテストの高機能に資する。 - 特許庁

STANDARD TEST PIECE FOR TESTING ANTIBACTERIAL PROPERTY, METHOD FOR PRODUCING THE SAME AND METHOD FOR TESTING ANTIBACTERIAL PROPERTY例文帳に追加

抗菌性試験用標準試験片、その製造方法及び抗菌性試験方法 - 特許庁

PROBE CARD HAVING ZIF CONNECTOR AND ITS WAFER TESTING SYSTEM, AND TEST BOARD AND ITS TESTING SYSTEM例文帳に追加

ＺＩＦコネクタを有するプローブカードとそのウェハテストシステム、テストボードおよびそのテストシステム - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, TEST SUBSTRATE, TESTING SYSTEM OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置、テスト基板、半導体装置のテストシステム及び半導体装置のテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS, CONNECTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR TEST CIRCUIT, AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験回路の接続装置および半導体試験方法 - 特許庁

This testing system includes a pressure rise supply device 2 and a testing device 82 to test this device 2.例文帳に追加

昇圧供給装置２とこの装置を試験する試験装置８２を含む試験システム。 - 特許庁

To provide a test board and a testing method which enables high-speed testing, using simple configuration.例文帳に追加

簡単な構成で高速試験を可能にしたテスト基板とテスト方法を提供する。 - 特許庁

The evaluating condition output section 21 outputs the evaluating conditions of the test to the test pattern testing section 1 for carrying out testing of the test pattern.例文帳に追加

特に、評価条件出力部２１は、テストパターンの試験を行うテストパターン試験部１に、当該試験の評価条件を出力する。 - 特許庁

Inside the testing device part 32, a single/plurality of test piece/test pieces is/are stored.例文帳に追加

試験装置部３２内には、１個または複数個の試験片が収納される。 - 特許庁

BASE ROCK SHEAR TEST METHOD AND BASE ROCK SHEAR TESTING DEVICE例文帳に追加

岩盤せん断試験法および岩盤せん断試験装置 - 特許庁

LIGHT SENSOR TEST UNIT, METHOD OF TESTING LIGHT SENSOR, AND DISPLAY DEVICE例文帳に追加

光センサ検査ユニット、これの検査方法及び表示装置 - 特許庁

TIRE PERFORMANCE TEST-USE ROTATING DRUM AND TIRE PERFORMANCE TESTING SYSTEM例文帳に追加

タイヤ性能試験用回転ドラムとタイヤ性能試験装置 - 特許庁

WATERTIGHT TESTING DEVICE AND WATERTIGHT TEST METHOD OF GLAZING CHANNEL例文帳に追加

グレージングチャンネルの水密試験装置及び水密試験方法 - 特許庁

TEST METHOD AND TESTING DEVICE OF RUBBER ELASTICITY CHARACTERISTIC MATERIAL例文帳に追加

ゴム弾性特性材料の試験方法および試験装置 - 特許庁

TESTING DEVICE AND METHOD OF CONTROLLING THE SAME, AND TEST SYSTEM例文帳に追加

試験装置およびその制御方法、ならびに試験システム - 特許庁

CBB TEST METHOD AND TESTING TOOL USED FOR METHOD例文帳に追加

ＣＢＢ試験方法及びこの方法に用いる試験治具 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING MOTION SIMULATION OF TEST MODEL例文帳に追加

試験模型の移動シミュレーション試験方法及びその装置 - 特許庁

DATA TRANSFER TEST SYSTEM AND ITS DATA TRANSFER TESTING METHOD例文帳に追加

デ—タ転送試験システム及びそのデ—タ転送試験方法 - 特許庁

TESTING SYSTEM, TESTING METHOD, TEST PROGRAM AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM RECORDED WITH TEST PROGRAM例文帳に追加

試験システム及び試験方法及び試験プログラム及び試験プログラムを記録した計算機で読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

TESTING DEVICE, TEST METHOD, ELECTRONIC DEVICE AND DEVICE PRODUCTION METHOD例文帳に追加

試験装置、試験方法、電子デバイス、及びデバイス生産方法 - 特許庁

METHOD OF DISPLAYING COMMUNICATION TEST RESULT AND COMMUNICATION TESTING DEVICE例文帳に追加

通信試験結果表示方法および通信試験装置 - 特許庁

The test can thereafter be performed by a testing device 15.例文帳に追加

その後試験装置１５により試験を行うものである。 - 特許庁

GAS REMOVAL RATE TEST METHOD AND TESTING DEVICE OF CHEMICAL FILTER例文帳に追加

ケミカルフィルタのガス除去率試験方法および試験装置 - 特許庁

METHOD OF INTEGRATED TEST OF SEMICONDUCTOR AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体統合試験方法、および半導体試験装置 - 特許庁

To provide a test apparatus which performs testing with a read/write head, and also provide a testing method using the test apparatus.例文帳に追加

読取り／書込みヘッドを用いてテストを行うための試験装置及び試験装置でテストする方法を開示する。 - 特許庁

DURABILITY TESTING METHOD OF COATING MEMBER AND TEST DEVICE THEREFOR例文帳に追加

コーティング部材の耐久性試験方法および試験装置 - 特許庁

NANO-WIRE TENSION TEST DEVICE AND TESTING METHOD USING DEVICE例文帳に追加

ナノワイヤ引張試験デバイス及びそれを用いた試験方法 - 特許庁

CIRCUIT OPENING TEST SYSTEM AND CIRCUIT OPENING TESTING METHOD例文帳に追加

回線開通試験システムおよび回線開通試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING PINHOLE IN RUBBER GLOVE AND PINHOLE TEST SYSTEM例文帳に追加

ゴム手袋のピンホール検査方法及びピンホール検査装置 - 特許庁

TEST CORRESPONDING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

テスト対応型半導体集積回路及びそのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置および半導体装置の試験方法 - 特許庁

DICING SUBSTRATE FOR TEST, PROBE, AND SEMICONDUCTOR WAFER TESTING APPARATUS例文帳に追加

試験用個片基板、プローブ、及び半導体ウェハ試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験システム及び半導体デバイスの試験方法 - 特許庁

To efficiently perform a test for calculating a J_1C value, in a material testing device.例文帳に追加

Ｊ_１Ｃ値を求めるための試験を効率よく行う。 - 特許庁

ADHESIVE WEAR TESTING DEVICE AND ADHESIVE WEAR TEST METHOD例文帳に追加

凝着摩耗試験装置および凝着摩耗試験方法 - 特許庁

In this semiconductor integrated circuit test device having a test station 21 and a test station 31, when the test station 31 is in the standby state of being ready for testing during testing of the test station 21, testing of the test station 21 is forcibly ended, and then testing at the test station 21 and the test station 31 is simultaneously started.例文帳に追加

テストステーション２１とテストステーション３１とを備える半導体集積回路試験装置において、テストステーション２１が試験を行っている最中にテストステーション３１がテストをすることが可能な待機状態になった場合に、テストステーション２１のテストを強制的に終了した後で、テストステーション２１及びテストステーション３１における試験を同時に開始する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of a test with an irregular test pattern by adding a simple constitution to a semiconductor testing device for testing with a regular test pattern.例文帳に追加

規則的なテストパターンでテストを行うための半導体試験装置に簡易な構成を付加することで不規則テストパターンでのテストが可能となる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The system for testing the semiconductor device comprises the steps of referring to a table 710 of a test pattern signal, by using a test result of a sample testing unit 110, and outputting testing conditions to a wafer level burn-in testing unit 210.例文帳に追加

サンプルテスト試験装置１１０の試験結果を用いて、テストパターン信号のテーブル７１０を参照し、テスト条件をウェハレベルバーンインテスト試験装置２１０に出力する。 - 特許庁

SOCKET FOR TEST, ITS MANUFACTURE, TESTING METHOD USING SOCKET FOR TEST, AND MEMBER TO BE TESTED例文帳に追加

テスト用ソケット、その製造方法、テスト用ソケットを用いたテスト方法、及び被テスト部材 - 特許庁

The control test support system 1 is provided with the testing tool 3 and a test device body 4.例文帳に追加

制御テスト支援システム１は、テスト治具３と、テスト装置本体４とを備えている。 - 特許庁

THIN FILM TEST PIECE STRUCTURE, ITS MANUFACTURING METHOD, ITS TENSILE TEST METHOD, AND TENSILE TESTING DEVICE例文帳に追加

薄膜試験片構造体、その製造方法、その引張試験方法及び引張試験装置 - 特許庁

To provide a testing apparatus which can efficiently perform a setup test or hold test.例文帳に追加

セットアップ試験又はホールド試験を効率よく行うことのできる試験装置を提供する。 - 特許庁

HOLDING DEVICE FOR ELECTRONIC PART TEST, ELECTRONIC PART TESTING DEVICE AND ELECTRONIC PART TEST METHOD例文帳に追加

電子部品試験用保持装置、電子部品試験装置および電子部品試験方法 - 特許庁