「testing test」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

In the self-propelled testing machine which performs a test by inserting a test rod 10 into the ground, the testing apparatus A is constituted in such a manner as to be separable and manually transferable.例文帳に追加

地中に試験用ロッド１０を挿入して試験する自走式試験機１において試験装置Ａを分離し手動で移送できる構成とした。 - 特許庁

TESTING APPARATUS AND METHOD FOR PREVENTING OVERLOAD OF RECEIVER IN TRANSCEIVER TEST例文帳に追加

トランシーバ試験の際にレシーバの過負荷を防止する試験装置及び方法。 - 特許庁

The test time can be shortened by simultaneously testing the memory part and the logic part.例文帳に追加

メモリ部とロジック部とを同時にテストすることでテスト時間を短縮する。 - 特許庁

HIGH PRESSURE MATERIAL STRENGTH TESTING DEVICE AND HIGH PRESSURE MATERIAL STRENGTH TEST METHOD例文帳に追加

高圧材料強度試験装置および高圧材料強度試験方法 - 特許庁

TEST METHOD OF CONCRETE WATERPROOF LAYER, AND TESTING MACHINE USING SAME例文帳に追加

コンクリート防水層の試験方法およびこの方法で使用する試験装置 - 特許庁

To execute testing upon acquiring a clock signal output from a device under test.例文帳に追加

被試験デバイスから出力されるクロック信号を取得して試験する。 - 特許庁

TESTING DEVICE OF EXISTENCE OF CABLE DISCONNECTION AND TEST METHOD OF EXISTENCE OF CABLE DISCONNECTION例文帳に追加

ケーブル断線の有無試験装置およびケーブル断線の有無試験方法 - 特許庁

HEAT-CYCLE CREEP FATIGUE TEST PIECE AS WELL AS APPARATUS AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

熱サイクルクリープ疲労の試験片、その試験装置、及び、その試験方法 - 特許庁

The electronic component testing device includes a workstation, a tester body, and a test head.例文帳に追加

電子部品試験装置は、ワークステーション、テスタ本体、及びテストヘッドを備える。 - 特許庁

BUSINESS PROCESS TEST DESIGN SUPPORT DEVICE, BUSINESS PROCESS TESTING METHOD AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

ビジネスプロセステスト設計支援装置、ビジネスプロセス試験方法、及びコンピュータプログラム - 特許庁

PIN ELECTRONICS USED WITHIN AUTOMATIC TEST DEVICE FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

集積回路をテストするための自動テスト装置内で使用するピンエレクトロニクス - 特許庁

FUSE-CUT TEST CIRCUIT AND FUSE-CUT TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR CIRCUIT例文帳に追加

ヒューズ切断テスト回路及びヒューズ切断テスト方法並びに半導体回路 - 特許庁

TEST METHOD FOR MATERIAL EVALUATION OF COMPONENT OF INJECTION MOLDING APPARATUS AND TESTING DEVICE例文帳に追加

射出成形機部品用材料評価試験方法及び試験装置 - 特許庁

To provide a method for testing the corrosion resistance of a work, capable of executing a stable corrosion resistance test in a high test accelerative manner, and to provide an apparatus for testing corrosion resistance.例文帳に追加

高い試験加速性をもって安定した耐食試験を実施することのできるワークの耐食試験方法および耐食試験装置を提供する。 - 特許庁

MOUNT FOR ROTATING EQUIPMENT VIBRATION TEST, AND VIBRATION TESTING METHOD OF ROTATING EQUIPMENT例文帳に追加

回転機器振動試験用マウント及び回転機器の振動試験方法 - 特許庁

To provide a testing apparatus by which a throughput of the test can be improved.例文帳に追加

試験のスループットを向上させることができる試験装置を提供する。 - 特許庁

The array testing device includes a test part supporting a substrate to be tested.例文帳に追加

本発明のアレイテスト装置は、テストされる基板を支持するテスト部を備える。 - 特許庁

SERIAL COMMUNICATION APPARATUS, TEST DEVICE THEREOF AND METHOD FOR TESTING SERIAL COMMUNICATION APPARATUS例文帳に追加

シリアル通信装置、その試験装置及びシリアル通信装置の試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, TEST PROGRAM, AND SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置の試験方法、試験プログラム及び半導体記憶装置 - 特許庁

A test program for specifying the operation of a semiconductor testing device 2 for testing a semiconductor device DUT is generated in language for generating a test program.例文帳に追加

半導体デバイスＤＵＴを試験する半導体試験装置２の動作を規定するテスト・プログラムは、テスト・プログラム作成用言語で作成されている。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of shortening a test time.例文帳に追加

テスト時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

Testing index.phpTo test the front index.php page of your application: 例文帳に追加

index.php のテストアプリケーションの最初の index.php ページをテストするには、次の手順に従います。 - NetBeans

MANUFACTURING METHOD, MANUFACTURING DEVICE, TESTING DEVICE, TEST METHOD, AND SUBSTRATE FOR CONNECTION例文帳に追加

製造方法、製造装置、試験装置、試験方法および接続用基板 - 特許庁

This invention is obtained by improving the test system for sampling the test data from a test result memory in which the test results data of an IC test device for testing a plurality of test objects are stored.例文帳に追加

本発明は、複数の被試験対象の試験を行うＩＣ試験装置による試験結果データが格納される試験結果記憶部から、試験結果データをサンプリングするテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁

To provide a test circuit structure capable of executing the test of an I/O part and the test of an internal test in parallel in order to shorten the testing time in a semiconductor integrated circuit equipped with scan test function, and a test method therefor.例文帳に追加

スキャンテスト機能を備えた半導体集積回路において、テスト時間短縮のため、Ｉ/Ｏ部のテストと内部回路のテストの並列実行が可能なテスト回路構成やそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

The ATM transmission testing device to which the test request is sent generates an ATM cell for transmission test corresponding to the test mode of the test request and transmits the ATM cell to the opposite node.例文帳に追加

試験要求が出されたＡＴＭ伝送試験装置は、試験要求の試験モードに応じた伝送試験用ＡＴＭセルを生成し、対向するノードに送信する。 - 特許庁

To provide a vehicle testing device applicable to a composite test of a brake test and a speed test of a vehicle and capable of stopping the rotation of drive rollers even when carrying out the brake test.例文帳に追加

車両のブレーキテストとスピードテストの複合試験に適用できて、ブレーキテスト時にも駆動ローラの回転の停止を可能にした車両試験装置を提供する。 - 特許庁

To shorten the time for testing a test circuit, and to improve the reliability of the test performed for a circuit under test, by performing detection of the malfunction of the test circuit.例文帳に追加

テスト回路の故障検出をおこなうことにより、テスト回路の試験時間の短縮化および試験対象回路におこなう試験の信頼性の向上を図ること。 - 特許庁

To provide a miniaturizable inverter testing device capable of switching collectively connection between an inverter which is a test object and a withstand voltage testing circuit or a function testing circuit.例文帳に追加

被試験体であるインバータと耐圧試験回路、機能試験回路との接続を一括で切り換えでき、かつ小型化できるインバータ試験装置を得る。 - 特許庁

The self-testing system 10 executes various testing programs in a testing set, and maintains a history record of a test result from the set in a nonvolatile memory 30.例文帳に追加

自己試験システムは、試験セットにおける様々な試験プログラムを実行し、以前の試験セットからの試験結果の履歴レコードを不揮発性メモリに維持する。 - 特許庁

To provide an endurance performance testing apparatus performing both an endurance test and a performance test of a mechanical component, or the like.例文帳に追加

機械部品等の耐久試験と性能試験との両方を行う耐久性能試験装置を提供する。 - 特許庁

Test pattern data are preliminarily stored in the test pattern memory means 130 of this semiconductor testing device 100.例文帳に追加

半導体試験装置１００のテストパターン記憶手段１３０には、予めテストパターンデータが記憶されている。 - 特許庁

To provide a test terminal and a test method capable of easily testing a circuit or operation of a protection relay device.例文帳に追加

保護継電装置の回路や動作の試験を容易に実施できる試験端子と試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a testing device which can conduct an environmental test with a plurality of modules under different test conditions.例文帳に追加

複数のモジュールの環境試験を異なる試験条件で行うことができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To test a semiconductor device in a testing environment using a low-speed test device having few terminals.例文帳に追加

端子数が少なく且つ低速な試験装置を用いた試験環境で半導体装置を試験できるようにする。 - 特許庁

Further, an inspection device is provided to the food testing system to test the test target positioned on the upstream side of the second belt conveyor 7.例文帳に追加

また、検査装置を備え、第２のベルトコンベア７より上流に位置する検査対象物を検査する。 - 特許庁

To reduce the number of testing members required for a test in conducting an instrumentation loop test of a digital controller or the like.例文帳に追加

デジタル制御装置等の計装ループ試験を行なう場合に、その試験に必要な試験員の人数を減らす。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of generating the test patterns of test signals at faster speed.例文帳に追加

試験信号の試験パターンをより速い速度で発生することのできる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing method capable of simultaneously performing a function test and a power supply voltage test.例文帳に追加

ファンクションテストと電源電圧試験とを同時に行うことの可能な半導体装置方法を提供する。 - 特許庁

To more easily perform a fatigue test in a hydrogen atmosphere and a fatigue test in the atmosphere by one fatigue testing machine.例文帳に追加

水素雰囲気中での疲労試験と大気中での疲労試験を１台の疲労試験機により容易に行う。 - 特許庁

To provide a fatigue testing machine capable of starting a test without applying an unnecessary impact to a test piece.例文帳に追加

供試体に不必要な衝撃を与えることなく試験を開始することができる疲労試験機を提供する。 - 特許庁

This semiconductor testing system is provided with a semiconductor test equipment for feeding test signal to the device under test and testing the device under test, the performance board for electrically connecting the semiconductor test equipment with the device under test, and a carrier device for conveying the device under test to electrically connect it with the performance board.例文帳に追加

半導体試験システムは、被試験デバイスに試験信号を供給し、被試験デバイスの試験を行う半導体試験装置と、半導体試験装置と被試験デバイスとを電気的に接続するパフォーマンスボードと、被試験デバイスを搬送し、パフォーマンスボードに被試験デバイスを電気的に接続させる搬送装置とを備える。 - 特許庁

MOUNTED BOARD TESTING JIG AND TEST PIN INSERTION METHOD THEREFOR例文帳に追加

実装基板試験用治具とこの実装基板試験用治具のテストピン挿入方法 - 特許庁

METHOD FOR REDUCING FLAW WHEN TESTING SMD TYPE PASSIVE ELEMENT AND TEST SYSTEM例文帳に追加

ＳＭＤ型受動素子を試験する際の傷の減少方法及び試験システム - 特許庁

This road noise test road 1 is used for testing the road noise of a vehicle 10.例文帳に追加

車両１０のロードノイズの試験に使用されるロードノイズ試験路１である。 - 特許庁