「testing test」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索

TRAY FOR ELECTRONIC PART SUBSTRATE, TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF ELECTRONIC PART SUBSTRATE例文帳に追加

電子部品基板用トレイ、電子部品基板の試験装置および試験方法 - 特許庁

To shorten testing time in a product test of a semiconductor storage device.例文帳に追加

半導体記憶装置の製品テストにおけるテスティング時間の短縮化を図る。 - 特許庁

METHOD FOR GENERATING TEST STREAM TO SUPPORT VARIOUS STANDARDS AND TESTING LEVELS AND APPARATUS例文帳に追加

様々な標準やテストレベルを支援するテストストリームの作成方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND SUBSTRATE FOR TESTING SEMICONDUCTOR ELEMENT AND METHOD FOR MANUFACTURING TEST SUBSTRATE例文帳に追加

半導体素子のテスト方法、そのテスト基板及びそのテスト基板の製造方法 - 特許庁

AUTOMATIC FAILURE TESTING OF LOGICAL BLOCK USING INTERNAL AT-SPEED LOGIC BUILT IN SELF TEST例文帳に追加

内部アットスピード論理ＢＩＳＴを用いた論理ブロックの自動故障試験 - 特許庁

To provide a test system for efficiently testing a tested device.例文帳に追加

被試験装置の試験を効率良く行うことができる試験システムを提供する。 - 特許庁

To relieve a load on a person generating test data in the case of testing a communication terminal.例文帳に追加

通信端末を試験する際にテストデータの作成者の負担を軽減する。 - 特許庁

TEST CHART FOR SOLID-STATE IMAGING APPARATUS, METHOD OF USING THE SAME, CHART BOARD, AND TESTING APPARATUS例文帳に追加

固体撮像装置用テストチャート及びその使用方法、チャート盤、テスト装置 - 特許庁

To provide a program testing apparatus to test a program under programmable conditions.例文帳に追加

プログラマブルな条件でプログラム試験が行えるプログラム試験装置を提供する - 特許庁

To improve test productivity when testing a fuel battery power-generating system.例文帳に追加

燃料電池発電システムの試験を行う際の生産性を向上させること。 - 特許庁

TEST RESERVATION SYSTEM AND METHOD INCORPORATED WITH AUTOMATIC TESTING DATE DECISION FUNCTION例文帳に追加

検査日時自動決定機能組み込み検査予約システム及び検査予約方法 - 特許庁

VAPOR-LIQUID TWO-PHASE FLOW SIMULATION TESTING DEVICE, AND VAPOR-LIQUID TWO-PHASE FLOW SIMULATION TEST METHOD例文帳に追加

気液二相流模擬試験装置および気液二相流模擬試験方法 - 特許庁

The test program 200 executes processing for testing an operation of a communication device 125.例文帳に追加

テストプログラム２００は、通信デバイス１２５の動作をテストする処理を実行する。 - 特許庁

FATIGUE STRENGTH TESTING DEVICE AND FATIGUE STRENGTH TEST METHOD FOR BRAKE PISTON MADE OF RESIN例文帳に追加

樹脂製ブレーキピストンの疲労強度試験装置および疲労強度試験方法 - 特許庁

HANDLING EQUIPMENT FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT, IC TEST HANDLER, AND PUMP FOR LIQUID NITROGEN例文帳に追加

電子部品の試験用取扱装置，ＩＣテストハンドラ及び液体窒素用ポンプ - 特許庁

To provide an apparatus for testing a semiconductor device capable of shortening the test time.例文帳に追加

試験時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

ANALYTICAL METHOD FOR SCAN TEST CIRCUIT, TESTING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED-CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

スキャンテスト回路の解析方法、テスト装置、および半導体集積回路装置 - 特許庁

SCAN TEST CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR DEVICE EQUIPPED WITH THE SAME AND SCAN TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加

スキャンテスト回路およびそれを備えた半導体装置ならびにスキャンテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE TESTING METHOD, TEST CONTROL DEVICE, AND SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置のテスト方法、テスト制御装置および半導体記憶装置 - 特許庁

Chapter 3 Implementation system for hepatitis testing and improvement in test performance例文帳に追加

第３ 肝炎検査の実施体制及び検査能力の向上に関する事項 - 厚生労働省

Unit testing usually entails a set of test cases independent from each other. 例文帳に追加

単体テストでは通常、それぞれが独立した一連のテストケースが必要です。 - NetBeans

Testing frameworks can use the following methods to collect information on the test:例文帳に追加

テストフレームワークは、テスト情報を収集するために以下のメソッドを使用します: - Python

TESTING SYSTEM AND TEST METHOD FOR MOBILE COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加

移動体通信システムの試験システムおよび移動体通信システムの試験方法 - 特許庁

To provide a test method and a test system of a semiconductor integrated circuit capable of easily testing contact between a test probe and a pad.例文帳に追加

テスト用のプローブとパッドとの接触を容易にテストすることが可能な半導体集積回路のテスト方法およびテストシステムを提供する。 - 特許庁

A test mode signal TM is inputted from a test mode determining circuit 30 to the POR circuit 25 in the test mode for testing the operation of an internal circuit.例文帳に追加

内部回路の動作をテストするテストモードにおいて、テストモード判定回路３０からテストモード信号ＴＭをＰＯＲ回路２５に入力する。 - 特許庁

TEST CLOCK CONTROL STRUCTURE TO GENERATE CONFIGURABLE TEST CLOCK FOR SCAN-BASED TESTING OF ELECTRONIC CIRCUITS USING PROGRAMMABLE TEST CLOCK CONTROLLER例文帳に追加

プログラム可能テストクロックコントローラを使用した電子回路のスキャンベーステスト用に構成可能なテストクロックを生成するためのテストクロック制御構造 - 特許庁

To provide a holder capable of easily and reliably holding a test piece in a tensile testing machine, a fatigue testing machine, or the like.例文帳に追加

引張り試験機や疲労試験機等における試験片の把持を、簡便かつ確実に把持できる把持具を提供する。 - 特許庁

This testing device for testing a DUT (Device Under Test) comprises a first electric terminal and a first optical terminal.例文帳に追加

第１の電気端子及び第１の光端子を備えた、ＤＵＴを試験するための試験デバイスが提供される。 - 特許庁

To provide a material testing machine which improves ease of use and saves the labor of testing by facilitating setting a test condition.例文帳に追加

材料試験機において、試験条件の設定を容易にすることで、使い勝手をよくし、試験の手間を省く。 - 特許庁

To realize a test system capable of testing a tested object for decoding encode data with an IC testing device.例文帳に追加

エンコードデータをデコードする被試験対象を、ＩＣ試験装置で試験が行えるテストシステムを実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide an IC testing device capable of preventing a test cost from increasing in accompaniment to enhancement of performance in a testing object.例文帳に追加

試験対象の性能向上にともなう試験コストの増大を防ぐことが可能なＩＣ試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a pressurization excitation testing machine capable of suppressing a running cost of the pressurization excitation testing machine in a pressurization excitation test extending in long hours.例文帳に追加

長時間に及ぶ加圧加振試験における加圧加振試験機のランニングコストを抑える加圧加振試験機を提供する。 - 特許庁

To provide an air filter testing device capable of testing precisely performance, and allowing an efficient test.例文帳に追加

高精度の性能試験を行うことができ、また能率のよい試験を行うことができるエアフィルタ試験装置を提供する。 - 特許庁

To test one item of test data by one pattern when inputting test data at the testing of combinational circuits, to simplify the circuit configuration of a test circuit, and to shorten test time.例文帳に追加

組合わせ回路をテストする際のテストデータの入力に際し、１つのテストデータを１パターンでテストすることを可能とし、テスト回路の回路構成を簡略化し、かつテスト時間の短縮を可能にする。 - 特許庁

This testing device is equipped with a testing device body for applying a prescribed load repeatedly on the test piece having a notch for cracking to develop a crack on the test piece, and an imaging means for imaging the cracking surface of the test piece mounted on the testing device body and served for a fatigue crack test.例文帳に追加

亀裂発生用の切欠きを備えた試験片に所定の負荷を繰り返し加えて該試験片に亀裂を生起する試験装置本体と、この試験装置本体に装着されて疲労亀裂試験に供されている試験片の亀裂発生面を撮像する撮像手段とを備える。 - 特許庁

To test a semiconductor circuit, first, a basic format for test pattern including at least one argument and a test program for testing a semiconductor circuit to be tested is created and stored in a testing device.例文帳に追加

半導体回路のテスト方法は、まず、少なくとも１つの引数と、テスト対象の半導体回路のテストを行うためのテストプログラムとを含むテストパタンの基本フォーマットを生成し、テスト装置内に記憶する。 - 特許庁

To provide an automatic testing apparatus for a remote monitoring control device and a testing method in which a test is enabled with a little job-site handling personnel and test procedures or test data can be prepared.例文帳に追加

少ない現場対応要員で試験が可能であり、予め試験手順や試験データを準備できることのできる遠方監視制御装置の自動試験装置と試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a material strength testing device and a material strength test method capable of testing a plurality of test pieces simultaneously, and acquiring accurate data of each test piece.例文帳に追加

複数の試験片を同時に試験することができるとともに、試験片ごとの正確なデータを取得することができる材料強度試験装置および材料強度試験方法を提供する。 - 特許庁

A test device 10 for testing an information processor using test data generated at random and test commands includes a program generating means which generates a test procedure made by mixing at random the test commands selected at random from the plurality of test commands and command patterns constituted by combining the plurality of test commands and creates a test program for testing the test procedure and the test data.例文帳に追加

ランダムに生成した試験データ及び試験命令を用いて情報処理装置の試験を行う試験装置１０であって、複数の試験命令からランダムに選択した試験命令と、試験命令を複数組み合わせて構成した命令列パタンとをランダムに混在させた試験手順を生成し、試験手順と試験データとから試験を行うための試験プログラムを生成するプログラム生成手段を備える。 - 特許庁

A semiconductor testing system has: a semiconductor testing apparatus 1 for executing a predetermined test on a semiconductor device 11a; and a control apparatus 2 for setting testing conditions and instructing the semiconductor testing apparatus 1 to execute the test.例文帳に追加

半導体試験システムは、半導体デバイス１１ａに対して所定の試験を行う半導体試験装置１と、試験条件を設定するとともにこの試験の実行を半導体試験装置１に対して指示する制御装置２とを有する。 - 特許庁

A test frame (a) is transmitted from a testing apparatus 6 to the MAC bridge network, and when the test frame (a) is returned to the testing apparatus 6, a loop generating direction judgment apparatus is started.例文帳に追加

試験装置６から試験フレームａをMACブリッジングネットワークに送信し、該試験フレームａが試験装置６に戻ってきた時にループ発生方向判定装置を起動する。 - 特許庁

To facilitate a shift to a test mode and a test of a functional block without requiring a terminal dedicated for testing, a terminal also used for testing, and a decoding circuit for selecting a target functional block.例文帳に追加

テスト専用端子、テスト兼用端子および対象機能ブロックを選択するデコード回路を不要とし、テストモードへの移行および機能ブロックのテストを容易に行う。 - 特許庁

CONNECTION TESTING APPARATUS FOR COMMUNICATION DEVICE, CONNECTION TEST SOFTWARE, COMPUTER READABLE STORAGE MEDIUM WITH THE SOFTWARE STORED THEREON, CONNECTION TESTING METHOD AND CONNECTION TEST COMPUTER SYSTEM例文帳に追加

通信装置の接続試験装置、接続試験ソフトウエア、該ソフトウエアを格納したコンピュータ読み取り可能な記憶媒体、接続試験方法及び接続試験コンピュータシステム - 特許庁

When test input data 5 are inputted from a client 2 for testing, the test input data 5 are transmitted to a server 3 for testing by a data transmission means 1b.例文帳に追加

テスト用クライアント２からテスト入力データ５が入力されると、データ送信手段１ｂにより、そのテスト入力データ５がテスト用サーバ３に対して送信される。 - 特許庁

To provide a compressor performance testing device to serve for an operating characteristics test of a centrifugal or an axial flow type compressor capable of enhancing the testing accuracy and decreasing the test time.例文帳に追加

遠心力式又は軸流式圧縮機の動作特性試験における試験精度の向上と試験時間の削減を図った圧縮機性能試験装置を提供する。 - 特許庁