「testing test」に関連した英語例文の一覧と使い方(59ページ目) - Weblio英語例文検索

To obtain a composite semiconductor integrated circuit device and its connection testing method which does not need any additional circuits inside LSIs, is consequentially capable of using existing LSI chips, suppresses increase in the number of external terminals (number of device pins) to a minimum, and dramatically improves a test function.例文帳に追加

ＬＳＩ内部に何ら付加的回路を必要とせず、したがって、既存のＬＳＩチップを用いることが可能であるとともに、外部端子数（デバイスピン数）の増加も最小限に抑えて、テスト機能を飛躍的に向上させた複合半導体集積回路装置、並びに、その接続試験方法を提供する。 - 特許庁

In the testing method, the abrasion gage is mounted on test fixtures, a tape is positioned to adjust an overlapping angle in the end of the abrasion surface, desired tape tension, a speed, and operation time are selected, and the tape is run preferably in a single direction in effective contact with the abrasion surface for the desired operation time.例文帳に追加

テスト方法は、テスト治具に磨耗ゲージを装着し、テープを位置決めして磨耗表面の端部におけるオーバラップ角を調節し、所望のテープ張力、速度、及び動作時間を選定し、テープを所望の動作時間の間、磨耗表面と実効的に接触したまま、望ましくは単一方向に走らせる。 - 特許庁

A resin layer of 200 μm or less, an inner layer circuit board having an inner layer circuit pattern for evaluating the insulation and a fluorescent layer are laminated one on top of the other, in the order, and a part of the resin layer is removed to expose terminal parts of the circuit pattern, thereby forming a test piece for testing and evaluating the insulation reliability and its manufacturing method.例文帳に追加

２００μm以下の樹脂層、絶縁性評価用の内層回路パターンを形成した内層回路板及び蛍光性層を、順に積層させ、そして該樹脂層の一部を除去して、該内層回路パターンの端子部分を露出させた、絶縁性信頼評価試験用の試験片及びその作成方法である。 - 特許庁

The screw characteristic testing device is made portable by providing a hydraulic generation means (hydraulic pump 3), a load-generating means (a cylinder 21 and a piston 22) given to amplify oil pressure from the hydraulic generation means 3 on a test screw (bolt 4), and a load display means (oil pressure gage 4) for displaying load given to the screw 9 on the same substrate 10.例文帳に追加

油圧発生手段（油圧ポンプ３）と、試験用ねじ（ボルト４）に油圧発生手段３からの油圧を増幅して付与する荷重発生手段（シリンダ２１，ピストン２２）と、ねじ９に付与された荷重を表示する荷重表示手段（油圧計４）とを同一の基板１０上に設けて持ち運び可能とした。 - 特許庁

In June 2009, Japan relayed its concerns to the Korean Institute for Technology and Standards that the trial test imposed and, with almost no preparation time, organizations were limited to a few domestic testing and inspection agencies so it had the potential to prevent exports from Japan. Japan worked with South Korea's chief negotiator during the OECD Trade and Industry Council. The WTO ・ TBT committee also expressed concerns in continued talks with the South Korean government.例文帳に追加

我が国は、2009年6月、韓国技術標準院に上記懸念を伝達し、さらに同月、OECD閣僚理事会の際に経済産業大臣から韓国通商交渉本部長へ働きかけを行い、その後、WTO・TBT委員会においても各国と共に懸念を表明し、韓国政府と協議を続けた。 - 経済産業省

The soil pollutant elution testing method is constituted so as to measure the elution amount of the soil pollutant from a soil sample by performing an elution test for eluting the soil pollutant into water from the solid sample containing the soil pollutant and characterized in that the solid sample is aged under an atmosphere of a mixed gas containing carbon dioxide in a concentration of ≥0.1 vol.% before the elution test.例文帳に追加

土壌汚染物質が含有されている固体試料から前記土壌汚染物質を水中に溶出させる溶出試験を実施することにより前記固体試料からの土壌汚染物質溶出量を測定する土壌汚染物質溶出試験方法であって、前記溶出試験前に、二酸化炭素濃度が０．１体積％以上の混合気体の雰囲気下で前記固体試料を養生することを特徴とする土壌汚染物質溶出試験方法による。 - 特許庁

The soil pollutant elution testing method is constituted so as to measure the elution amount of the soil pollutant from a solid sample by performing an elution test for eluting the soil pollutant into water from the solid sample containing the soil pollutant and characterized in that the solid sample is aged under an atmosphere of a mixed gas containing an oxidizable gas in a concentration of ≥22 vol.% before the elution test.例文帳に追加

土壌汚染物質が含有されている固体試料から前記土壌汚染物質を水中に溶出させる溶出試験を実施することにより前記固体試料からの土壌汚染物質溶出量を測定する土壌汚染物質溶出試験方法であって、前記溶出試験前に、酸化性気体濃度が２２体積％以上の混合気体の雰囲気下で前記固体試料を養生することを特徴とする土壌汚染物質溶出試験方法による。 - 特許庁

In the system composed of a plurality of devices 2 and a plurality of terminals 3 connected to the plurality of devices 2 while connecting the plurality of devices 2 via switching network 1, when testing the line between the devices 2 by using a test packet 11, it is performed by using the MAC addresses of the users of the respective terminals under the control of the devices.例文帳に追加

複数の装置２と、該複数の装置２に接続された複数の端末３よりなり、前記複数の装置間２がスイッチング網１で接続されたシステムにおいて、試験パケット１１を用いて前記装置２間の回線試験を行なう場合に、装置配下にある各端末のユーザのＭＡＣアドレスを用いて行なうように構成する。 - 特許庁

The LSI tester and the test system for testing respective LSIs formed on a wafer is characterized by that the LSI tester is structured so as to forecast and calculate an ending time of measurement of all of the LSIs in real time every time the respective LSI tests are ended, and that the plurality of the LSI testers are connected by a network.例文帳に追加

ウェハ上に形成されている個々のＬＳＩのテストを行うＬＳＩテスタおよびテストシステムであって、全てのＬＳＩの測定が終了する時刻を個々のＬＳＩのテストが終了するごとにリアルタイムに予測算出するように構成されたＬＳＩテスタおよびこれら複数のＬＳＩテスタをネットワークで接続したことを特徴とするもの。 - 特許庁

To provide a sample support structure for hollow torsional shear testing apparatus, by which when the shear strength of a sample is large and a large torque is repeatedly applied to a cap, the torque is transmitted uniformly to the top of the sample, and the bottom of the sample can be fixed by the fixing force from a pedestal, and as a result of which, an accurate torsional shear test can be performed.例文帳に追加

供試体のせん断強度が大きい場合に、キャップに大きなトルクを繰返し加えたときでも、供試体の上端にトルクを均一に伝達できるとともに、ペデスタルからの固定力で供試体の下端を固定でき、その結果、正確なねじりせん断試験を実施できる中空ねじりせん断試験装置の供試体支持構造を提供する。 - 特許庁

In the case of the display test, a testing operator makes a voltage to be outputted to a terminal of the remote monitoring controller TC using the voltage output device 2, and confirms the voltage state of the terminal of the remote monitoring controller TC displayed on the master station simulator TCT as the voice output and display by the voltage output device 2 being a trigger.例文帳に追加

表示試験の際に、試験作業員は、電圧出力装置２を用いて遠隔監視制御装置ＴＣの端子に電圧を出力し、電圧出力装置２による音声出力及び表示をトリガとして、親局模擬装置ＴＣＴに表示された、遠隔監視制御装置ＴＣの当該端子の電圧状態を確認する。 - 特許庁

To provide a member for image display which hardly causes curling or cracking of a polarizing film laminated body in an environmental testing, especially in a demanding high temperature resistance test, even in a structure that aims to impart high functions, that is, in a structure of the polarizing film laminated body having a functional resin layer such as crosslinked coating film and/or a functional sheet laminated/adhered onto a polarizing film.例文帳に追加

高機能付与を目的とする構成、即ち、偏光フィルムに架橋塗膜等の機能樹脂層、及び／又は、機能シートを積層／貼合する偏光フィルム積層体の構成に於いても、環境試験、特に過酷な高温耐熱試験で、偏光フィルム積層体のカール及びクラックが生じることのない画像表示用部材を提供する。 - 特許庁

A detachable test fixture 11 formed with a groove in the peripheral surface thereof is provided to be interposed between a sheave 1 and a rope 8 when testing an emergency stop means 3 of an elevator for holding a guide rail in emergency to hinder elevation of an elevator car 2 to reduce traction ability of the sheave 1 in relation to the rope 8 in comparison with that of the normal operation.例文帳に追加

非常時にガイドレールを把持して乗かご２の昇降を阻止するエレベータの非常止め手段３の試験時に、綱車１とロープ８との間に介在され、その外周面に溝が形成される着脱可能な試験用治具１１を備え、綱車１のロープ８に対するトラクション能力をエレベータ通常運転時よりも小さくする。 - 特許庁

To provide a highly reliable testing method of cans and a device realizing it by analyzing echo vibration having a vibration waveform which becomes gradually complicated because of the increase in noise constituents along with the lapse of time in hammering test of a two-piece can, providing a precise frequency spectrum, and accurately grasping the frequency which matches a can internal pressure.例文帳に追加

本発明の課題は、時間と共にノイズ成分が多くなり複雑な振動波形となっている２ピース缶の打検における反響振動を解析して、精度のよい周波数スペクトルを得て缶内圧力に対応する周波数を正確に把握し、信頼性が高い缶の検査法並びにそれを実現する検査装置を提供することにある。 - 特許庁

In an LSI test system for testing a plurality of LSI devices to be tested DUT1 through DUT4 at one sitting, between the signal lines connecting the LSI devices to be tested DUT1 through DUT4 and the LSI tester 100, each of delay units DLY1 through DLY4 with different delay times is provided to each LSY devices DUT1 through DUT4.例文帳に追加

複数の被試験デバイスＤＵＴ１〜ＤＵＴ４を一度にテストする半導体集積回路装置のテストシステムにおいて、被試験デバイスＤＵＴ１〜ＤＵＴ４とＬＳＩテスタ１００とを結ぶ信号線の間に、被試験デバイスＤＵＴ１〜ＤＵＴ４ごとにそれぞれ遅延時間の異なる遅延ユニットＤＬＹ１〜ＤＬＹ４を設ける。 - 特許庁

To provide a data processor and method for testing stability of a cell using a reliable, effective and practical (in connection with test time period) mechanism for detecting a defective memory cell that may malfunction in normal use due to unstableness of the cell caused by a hysteresis effect in a body region of transistors configuring the memory cell in a memory device.例文帳に追加

メモリ・デバイス内のメモリ・セルを構成するトランジスタのボディ領域の履歴効果が引き起こすセルの不安定性により通常の使用中に誤動作するかもしれない欠陥メモリ・セルの検出のための信頼できる効果的で現実的な（テスト時間に関して）メカニズムを用いて、セルの安定性をテストするデータ処理装置と方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a new airtightness testing method, capable of inspecting fine leaks and gross leaks of an electronic component sealed airtightly in a shorter time than hitherto, showing a high leak detection capability, coping with miniaturization of the electronic component, and surely detecting the leak, without omission over a wide range, and an in-line airtightness test device for realizing the method.例文帳に追加

気密封止された電子部品のファインリーク及びグロスリークを従来よりも短時間で検査し、電子部品の小型化に対応して高いリーク検出能力を発揮し、広い範囲に亘って確実にかつ漏れなくリークを検出し得る新規な気密試験方法、及びそれを実現するインライン化された気密試験装置を提供する。 - 特許庁

To a semiconductor tester 10 for general use constituted with test signal generation means 52, 53, 54 and 55, a data supply means, a data reading means, judging means and a control means 11, a special control signal generation means 12 and an interface means 13 for testing a semiconductor integrated circuit 16 incorporated BIST circuits 31 to 35 are provided.例文帳に追加

試験信号発生手段５２，５３，５４，５５、データ供給手段、データ読出手段、判定手段及び制御手段１１から構成される汎用的な半導体試験装置１０に対してＢＩＳＴ回路３１〜３５を内蔵した半導体集積回路１６を試験するための専用の制御信号発生手段１２及びインターフェイス手段１３を別個設けた。 - 特許庁

Adaptively adjusting the impulse response of the optical signal output from the laser in this way allows the optical TX to dynamically adapt to and compensate for a wide range of factors that typically cause performance degradation and result in reduced product yields, increased testing times, and increased test complexity, and higher costs.例文帳に追加

このようにレーザから出力される光信号のインパルス応答を適用性良く調整することにより、性能の低下やその結果生じる製品収量の減少、試験時間の増加や試験の複雑性の増加、及びより高いコストを一般にもたらす広範囲の要素に対して、光ＴＸは動的に適応及び補償できるようにされる。 - 特許庁

To provide a high pressure gas fatigue testing method and an apparatus which have the advantages of preventing hydrogen gas from leaking from a gasket between a pressure vessel as a specimen and a pull rod, implementing fatigue test of a material in a short cycle time, evaluating the fatigue characteristics and easily controlling the temperature of the specimen, etc.例文帳に追加

被試験体の圧力容器とプルロッド間のパッキン部分からの水素ガスの漏洩を生じることなく、更に短いサイクルタイムで材料の疲労試験を行なって疲労特性を評価することが可能であり、また更に被試験体の温度制御が容易である、等の利点を有する高圧気体疲労試験方法及び装置の提供を目的とする。 - 特許庁

This molten aluminum container for a pinhole test used in a pinhole testing machine for determining easily hydrogen gas in the molten aluminum is provided with a container main body 21 made of stainless steel, and a step difference 22 provided in a sidewall of the container main body 21, and for storing the molten aluminum of a fixed amount in the container main body 21.例文帳に追加

アルミニウム溶湯中の水素ガスを簡易に判定するピンホール試験機に使用されるピンホール試験用アルミ溶湯容器であって、ステンレス製の容器本体２１と、この容器本体２１の側壁に設けられ，容器本体２１に一定量のアルミニウム溶湯を収容するための段差２２とを具備することを特徴とするピンホール試験用アルミ溶湯容器。 - 特許庁

In a test mode for testing whether output voltage OUT at a predetermined output current is within a standard or not, operation of an internal circuit 1 is stopped, and switches 15 and 17 are set to off-state and on-state, and only current carried to PMOS transistors 13_1, 13_2 and 13_3 of a current supply circuit 13 is supplied to a resistance element 16.例文帳に追加

所定の出力電流時における出力電圧_ＯＵＴが規格内にあるか否かのテストを行なうテストモードにおいて、内部回路１の動作を停止するとともにスイッチ１５，１７をオフ状態，オン状態に設定し、電流供給回路１３のＰＭＯＳトランジスタ１３＿１，１３＿２，１３＿３に流れる電流のみ抵抗素子１６に供給する。 - 特許庁

In this system for testing a plurality of dies 21, 22 on a semiconductor wafer, a communication system 23 is installed which connects mutually the plurality of dies 21, 22 on the semiconductor wafer 20 in order to transmit test data from at least one die out of the plurality of dies to at least the other one die out of the plurality of dies.例文帳に追加

上記課題は、半導体ウエハ上の複数のダイ２１、２２を試験するシステムであって、前記複数のダイの少なくとも１つから前記複数のダイのその他の少なくとも１つに試験データを伝達するべく前記半導体ウエハ２０上の複数のダイ２１、２２を相互接続する通信システム２３を有することを特徴とするシステムにより解決される。 - 特許庁

In this semiconductor device testing device, a waiting time proportional to the stopping time of a device power source up to the application timing of power source to the auxiliary circuit and the device to be tested is generated from the application timing, and the test is started after the delay of this waiting time, whereby the influence of the jitter generated in the auxiliary device is removed.例文帳に追加

補助回路と被試験半導体デバイスに電源を印可したタイミングからその印可タイミングに至るまでにデバイス電源が停止していた時間に比例する待ち時間を発生させ、この待ち時間の遅延後に試験を開始させることにより補助回路で発生するジッタの影響を除去する構成とした半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for accurately testing the ejection state of a recording processing liquid in an ink-jet recording apparatus for continuously ejecting an ink and colorless transparent recording processing liquid, and mixing them on a recording medium for fixing the ink on the recording medium, capable of improving the water resistance of the ink and capable of preventing blurring, and an ejection test film used in the method.例文帳に追加

インクと無色透明な記録処理液とを連続して吐出し、記録媒体上でこれらを混合してインクを記録媒体に定着させ、該インクの耐水性を向上し、にじみを防止するインクジェット記録装置の、該記録処理液の吐出状況を正確に検査する方法と該方法に用いる吐出検査フィルムを提供する。 - 特許庁

A rotational speed of a gas blower 9 provided in a gas supply pipe 10B between a radiator 1 and a transformer body 2 is controlled, so that testing, a flow rate of a gas circulated through the radiator 1 and transformer body 2 matches with the flow rate of the gas flowing therethrough in an actual operation mode, under the state in which a temperature increasing test is carried out.例文帳に追加

放熱器１と変圧器本体２との間の送ガス管１０Ｂに介装されたガスブロア９の回転速度を制御することにより、試験時に放熱器１と変圧器本体２とを循環するガスの流速を実際の運転時に流れるガスの流速と一致するように調整した状態で温度上昇試験を行う。 - 特許庁

In this testing method, one or more out of excess air, oxygen gas and insert gas is flow-regulated and supplied to bring the atmosphere in the tubular part of the heat-resistant tubular member into the atmosphere exposed with actual exhaust gas, in a test for making a high temperature of combustion gas flow into the tubular part of the heat-resistant tubular member to heat the heat-resistant tubular member.例文帳に追加

耐熱管状部材の管状部内に高温の燃焼ガスを流して耐熱管状部材を加熱する試験であって、試験方法は、耐熱管状部材の管状部内の雰囲気が実際の排気ガスに曝された雰囲気となるように過剰空気、酸素ガス、不活性ガスの何れか１つ以上を流量を調節して送給する。 - 特許庁

To provide a device for testing local load smaller than a conventional apparatus, easily carried, conveniently measuring a strength in a desired depth from an artificial structure or all ground levels, reducing a damage applied to the artificial structure or the ground to the minimum, and overcoming a troublesome operation, and also to provide a test method.例文帳に追加

従来よりも小型で持ち運びに便利で、人工構造物または地盤のあらゆる面から所望の深さ位置での強度を簡便に計測することができ、さらに人工構造物または地盤に与える損傷を最小限にとどめ、また操作の煩雑さを解消することができる局部載荷試験装置および試験方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a premixed gas supply testing device capable of reducing waiting time and improving test efficiency by reducing abrupt expansion of volume of premixed gas in a combustion vessel when supplying gas for stabilizing temperature and pressure of the premixed gas, and capable of stabilizing fuel concentration in the premixed gas immediately after starting to supply gas and temperature of the premixed gas.例文帳に追加

給気時における燃焼容器内での予混合気の急激な体積膨張を軽減して、該予混合気の温度と圧力を安定化し得、又、給気開始直後の予混合気中の燃料濃度並びに予混合気の温度を安定化し得、待ち時間の短縮と試験効率向上を図り得る予混合気供給試験装置を提供する。 - 特許庁

In addition, the semiconductor integrated circuit used for the scan testing method has a separation means to isolate each of the plurality of blocks to be tested from other blocks during the scan test, and an input terminal to input the scan clock with deviated phase for each block to be tested.例文帳に追加

更に、このスキャンテスト方法に用いられる半導体集積回路であって、スキャンテスト時に複数の複数のテスト対象ブロックが各々排他的に他のブロックとアイソレーションする分離手段と、上記テスト対象ブロック毎に位相をずらしたスキャンクロックを入力する入力端子とを有することを特徴とする半導体集積回路を提示する。 - 特許庁

To provide a load cell correction jig capable of correcting bentness of a load cell so as to be not influenced by bentness of the load cell, without generation of noise due to reflection wave, when, for example, high-speed tension test is performed of low strength of resin and thereby to provide a high-speed tension testing machine capable of implementing easy and correct measurement.例文帳に追加

例えば樹脂などの低強度の高速引張り試験を行う際に、反射波によるノイズを発生させることなく、ロードセルの曲がりによる影響を受けないようにロードセルの曲がりを矯正することが可能なロードセル矯正治具およびこれを用いて、簡易に正確な測定が可能な高速引張り試験機等を提供する。 - 特許庁

Article 149 The employer shall, when carrying out a rotating test of a high speed rotating body (meaning the rotor of a turbine rotor, a basket of a centrifugal separator, etc., having the circumferential speed exceeding 25 m/sec.; hereinafter the same shall apply in this Section), carry out the test inside of a purpose-built sound building or at place isolated by sound barriers, etc., in order to prevent dangers due to the destruction of the rotating body. However, this shall not apply to the case where a rotating test of the high speed rotating body other than those set forth in the next Article is carried out, and when taking measures such as providing a sound cover in the testing facilities for preventing dangers due to destruction of the said rotating body. 例文帳に追加

第百四十九条　事業者は、高速回転体（タービンローター、遠心分離機のバスケツト等の回転体で、周速度が毎秒二十五メートルをこえるものをいう。以下この節において同じ。）の回転試験を行なうときは、高速回転体の破壊による危険を防止するため、専用の堅固な建設物内又は堅固な障壁等で隔離された場所で行なわなければならない。ただし、次条の高速回転体以外の高速回転体の回転試験を行なう場合において、試験設備に堅固な覆いを設ける等当該高速回転体の破壊による危険を防止するための措置を講じたときは、この限りでない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The method for testing a memory by writing and reading test date in and from the memory comprises a comparing step of comparing one of two data continuously read of data sequentially read in synchronization with a clock with another as expected data, and a decision step of deciding a fault of the memory based on a comparison result obtained by the comparison step.例文帳に追加

テストデータをメモリに書き込んで読み出すことでメモリを試験するメモリ試験方法において、クロックに同期して順次読み出されるデータのうち、連続して読み出される２つのデータのうち一方を期待データとして他方と比較する比較ステップと、比較ステップで得られる比較結果に基づいてメモリの不良を判定する判定ステップとを含むように構成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor module and its tester facilitating high-density mounting of electronic components, structural designing, testing, and failure analysis of semiconductor modules and to provide a small semiconductor module having a high frequency circuit capable of preventing or reducing deterioration of high frequency characteristics due to influence of internal wiring and excelling in test convenience.例文帳に追加

電子部品の高密度実装や半導体モジュールの構造設計、検査および故障解析などが容易である半導体モジュールとその検査装置を提供し、さらには、高周波回路を有する小型の半導体モジュールにおいて、内部配線の影響による高周波特性の劣化が防止あるいはより低減され且つ検査の利便性に優れた半導体モジュールを提供すること。 - 特許庁

The testing device includes a test signal supply circuit 20, a comparison circuit 30 for comparing an output signal output from the output terminal with a reference voltage, a reference voltage setting part 40 for setting the reference voltage at a voltage of a high level side or a low level side, and a load voltage supply circuit 50 for supplying a load voltage to the output signal when the control signal is applied.例文帳に追加

試験装置は、テスト信号供給回路２０と、出力端子から出力された出力信号と基準電圧とを比較する比較回路３０と、基準電圧をハイレベル側またはローレベル側の電圧に設定する基準電圧設定部４０と、制御信号が印加されたとき、出力信号に負荷電圧を供給する負荷電圧供給回路５０とを有する。 - 特許庁

Conducting an electrical test as a job lot by arranging contact pins 102 of the contact-fixing board 103 of a semiconductor testing device 106 corresponding to the all electrodes of solder bumps 108 of a plurality of semiconductor devices 107 on a wafer level CSP body 101 makes possible the use of the same board 103 to the other smiconductor devices.例文帳に追加

半導体テスト装置１０６のコンタクト固定基板１０３におけるコンタクトピン１０２を、ウエハレベルＣＳＰ本体１０１上の複数の半導体デバイス１０７における半田バンプ１０８の全電極に対応して配置することにより、一括して電気的試験を行うことにより、同じコンタクト固定基板１０３を他の半導体デバイスに対しても使用可能にする。 - 特許庁

An ESD testing apparatus 1 includes an ESD generator 11 for generating electrostatic discharge for a resistance test, ESD waveform measuring device 21, 22 for measuring waveform characteristics of the electrostatic discharge, a counter 23 for counting generation frequency of the electrostatic discharge, and a controller 16 for measuring the waveform characteristics of the electrostatic discharge when the generation frequency reaches a threshold.例文帳に追加

本発明に係るＥＳＤ試験装置１は、耐性試験用の静電気放電を発生させるＥＳＤ発生手段１１と、静電気放電の波形特性を測定するＥＳＤ波形測定手段２１，２２と、静電気放電の発生回数をカウントするカウンタ２３と、該発生回数が閾値に達した場合に静電気放電の波形特性の測定を行う制御手段１６とを備える。 - 特許庁

A method for producing a probe test head for testing a semiconductor integrated circuit includes a step in which a plurality of probes 81 are defined for one or a plurality of masks, a step in which a plurality of probes are produced by using the masks, and a step in which a plurality of probes 81 are arranged by inserting them into the corresponding holes of a first die 42 and a second die 44.例文帳に追加

半導体集積回路をテストするためのプローブ・テスト・ヘッドを製造する方法は、１つ又は複数のマスクとして、複数のプローブ８１の形状を画成するステップと、該マスクを使用して、複数のプローブを製造するためのステップと、第１のダイ４２と第２のダイ４４内の対応するホールを通して複数のプローブ８１を配置するステップとを含んでいる。 - 特許庁

This firmware test automation method includes performing the forced writing of set data to be set in the normal operation time of an edge sensor as object equipment, input data to be input from a sensor head 1 in the normal operation time and internal variables as data to be generated by firmware during the execution of the a program corresponding to the set data and the input data from an external computer 3 in testing the firmware.例文帳に追加

ファームウェアテスト自動化方法は、対象機器であるエッジセンサの通常の動作時に設定される設定データと、通常の動作時にセンサヘッド１から入力される入力データと、この設定データと入力データに応じたプログラムの実行中にファームウェアが生成するデータである内部変数とに対して、ファームウェアのテスト時に外部のコンピュータ３から強制書き込みする。 - 特許庁

This method for identifying potential herbicides comprises testing a compound in an AMP (adenosine monophosphate) deaminase inhibition assay and, if a measurable reduction of AMP deaminase is observed, subsequently subjecting the compound to conventional test(s) to confirm the in vivo herbicidal activity, wherein the measurable reduction is at least 25% reduction of AMP deaminase when tested against an enzyme preparation at 100 μM or less.例文帳に追加

AMPデアミナーゼ阻害試験で化合物を試験し、AMPデアミナーゼの測定可能な減少が観察される場合、次にそれを慣用の試験（複数可）に付して生体内の除草活性を確認することからなり、この測定可能な減少は100μM以下で酵素試料に対して試験した時のAMPデアミナーゼの少なくとも25％の減少である、潜在的な除草剤を識別する方法である。 - 特許庁

A method of testing an integrated circuit device includes a step of applying a magnetic field to the integrated circuit device during application of one or more of test signals wherein the applied magnetic field induces magnetostriction effect in one or more materials including the integrated circuit device and a step of determining the existence of inconvenience caused by the applied magnetic field in the integrated circuit device.例文帳に追加

集積回路デバイスを試験するための方法は、１つ以上の試験信号の印加中に前記集積回路デバイスに印加磁界を与えるステップであって、印加磁界が集積回路デバイスを含む１つ以上の材料において磁気ひずみ効果を誘発する、ステップと、集積回路デバイス内において印加磁界に起因する不具合の存在を判定するステップと、を含む。 - 特許庁

The semiconductor device comprises a reset terminal inputting a reset control signal for resetting an internal circuit; a reset detection part generating, according to the input reset control signal, a reset release signal for releasing reset of the internal circuit; and a mode capture part retaining, based on the signal input to the reset terminal, a test mode for testing operations of the internal circuit.例文帳に追加

半導体装置は、内部回路をリセットするためのリセット制御信号を入力するリセット端子と、前記入力されたリセット制御信号に応じて、前記内部回路のリセットを解除するリセット解除信号を生成するリセット検出部と、前記リセット端子に入力される信号に基づいて、前記内部回路の動作をテストするテストモードを保持するモードキャプチャ部とを備える。 - 特許庁

In this deterioration testing device 100, which is a device for performing the deterioration test of a specimen by generating deterioration by irradiating a liquid crystal panel (specimen) 15 with laser light outputted from a laser device 10, an optical correction element 26 for uniformizing illuminance of the laser light is provided between the laser device 10 for outputting the laser light and the liquid crystal panel 15.例文帳に追加

本発明に係る劣化試験装置１００は、レーザ装置１０から出力されたレーザ光を液晶パネル（被検物）１５に照射して劣化を生じさせ、当該被検物の劣化試験を行う装置であり、レーザ光を出力するレーザ装置１０と前記液晶パネル１５との間に、前記レーザ光の照度を均一化する光学補正素子２６が設けられている。 - 特許庁

The method for testing a semiconductor integrated circuit having a novolatile memory element and a peripheral circuit part other than the novolatile memory element comprises a first step for applying a high voltage to all memory cells in the novolatile memory element and a second step for imparting a test pattern to the peripheral circuit part other than the novolatile memory element while applying a high voltage wherein both steps are performed simultaneously.例文帳に追加

不揮発性記憶素子と不揮発性記憶素子以外の周辺回路部を備えた半導体集積回路の試験方法において、不揮発性記憶素子の全メモリセルに高々電圧を印加する第１のステップと、不揮発性記憶素子以外の周辺回路部に高電圧を印加しながら試験パターンを付与する第２のステップとを有し、上記両ステップを同時に実施する。 - 特許庁

To provide an integrated circuit in which winings connecting a digital circuit and an analog circuit are inspected accurately and easily, and to provide a testing method therefor, for an integrated circuit, in which digital circuits are connected via a plurality of wirings and an analog circuit controlled, based on digital values supplied via a plurality of wirings is provided, and to provide a test method therefor.例文帳に追加

ディジタル回路とディジタル回路と複数の配線を介して接続され、複数の配線を介して供給されるディジタル値に基づいて制御されるアナログ回路とを有する集積回路及びその試験方法に関し、ディジタル回路とアナログ回路とを接続する配線の検査を正確、かつ、容易に行える集積回路及びその試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁