「testing test」に関連した英語例文の一覧と使い方(56ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a high-reliability IC testing device by using a semiconductor relay, and to provide a semiconductor integrated circuit enabling a high speed test by applying a voltage to terminals to suppress the capacity between output terminals at the off-time of the semiconductor relay.例文帳に追加

半導体リレーを用いることで、信頼性の高いＩＣ試験装置を提供すること及び、半導体リレーがＯＦＦ時に端子に電圧を印加し、出力端子間容量を抑えることで、高速な試験を可能とする半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit and method of a semiconductor integrated circuit capable of testing whether a through via formed in a single chip on a wafer is defective, and whether a through via formed in a semiconductor integrated circuit packaged is defective.例文帳に追加

ウェハ上の単一チップに形成された貫通ビアの不良の可否をテストすることができ、またパッケージングされた半導体集積回路に形成された貫通ビアの不良の可否をテストすることができる半導体集積回路のテスト回路及び方法を提供する。 - 特許庁

Namely, the displacement detector 60 detects the moving amount of the load transmission shaft 36 to measure the amount (recessed depth) of an indenter 21 which is connected to a distal end of the load transmission shaft 36, being pushed in with a test piece 100 by applying the testing force.例文帳に追加

すなわち、この変位検出器６０は、負荷伝達軸３６の移動量を検出することで、負荷伝達軸３６の先端に接続された圧子２１が、試験力が与えられたことにより試験片１００に押し込まれた量（くぼみ深さ）を計測している。 - 特許庁

To provide a friction test device capable of correctly analyzing μ-S characteristic between an object to be tested and a road surface having various conditions, and particularly accurately analyzing the relationship between the object to be tested having a high temperature dependence and the road surface on a testing machine.例文帳に追加

被試験体と様々な条件の路面との間のμーＳ特性を正確に解析し、特に温度依存性の高い被試験体と路面との関係を精度良く、試験機上にて解析することができる摩擦試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To evaluate the lift amount of a coil without manufacturing a test piece by utilizing an electromagnetic analysis device, and to obtain a material constant directly from the testing material to dealing with the time sequential change of the metallic material or the material difference adjacent to a crack.例文帳に追加

試験片を製作することなく、電磁気解析装置を利用し、テストコイルの浮き上がり量を評価すること、また、金属材料の時系列変化、あるいはき裂近傍の材料の違いにも対応するために、被検査材から直接材料定数を求めること。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 1 is provided with a controller 11, a converter 12, and a pin electronics section 13 which functions as an interface to a DUT 40 and tests the DUT 40, on the basis of signals obtained by applying test signals to the DUT 40.例文帳に追加

半導体試験装置１は、制御装置１１、変換装置１２、及びＤＵＴ４０に対するインターフェイスとして機能するピンエレクトロニクス部１３を備えており、ＤＵＴ４０に試験信号を印加して得られる信号に基づいてＤＵＴ４０の試験を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor apparatus which is downsized and can perform a test of electric signal between semiconductor apparatuses as a stack structure, in relation to a semiconductor apparatus whose testing terminal is formed on a substrate on which a semiconductor chip is mounted.例文帳に追加

本発明は、半導体チップが実装される基板にテスト用端子が配設された半導体装置に関し、小型化を図ると共に、スタック構造とされた半導体装置間の電気的信号のテストを行うことのできる半導体装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a lubricity test method of a lubricant and a friction testing device, capable of evaluating simply and quantitatively the lubricity of the lubricant by reproducing the lubrication state on a friction face between a tool and a processing material during processing.例文帳に追加

加工中における工具と加工材料との摩擦面における潤滑状態を再現し、潤滑剤の潤滑性能を簡単かつ定量的に評価することができる潤滑剤の潤滑性能試験方法および摩擦試験装置を提供する。 - 特許庁

A dicing substrate 30 for test which is used for testing a semiconductor wafer includes: a main body portion 31; thin portions 321 and 322 extending from the main body portion 31 and being relatively thinner than the main body portion; and a bump 33 provided in the thin portions 321 and 322.例文帳に追加

半導体ウェハの試験に用いられる試験用個片基板３０は、本体部３１と、本体部３１から延在すると共に、本体部よりも相対的に薄い薄肉部３２１，３２２と、薄肉部３２１，３２２に設けられたバンプ３３と、を備えている。 - 特許庁

An MPU 8 watches the state of an ejecting button 5 under the condition that a test compact disk is not loaded at startup, and when it is detected that the ejecting button 5 is pushed continuously or multiply within a prescribed period of time, the optical disk device 1 is laid under a testing operation.例文帳に追加

ＭＰＵ８は起動時にテスト用のコンパクトディスクが搭載されていない状態でイジェクト釦５の状態を監視し、所定時間内に連続又は多重にイジェクト釦５が押されたことが検出されると、光ディスク装置１は試験動作状態となる。 - 特許庁

In the case of starting IP connection service from a service provider to a user home via an ATM network 100, an ATM line simple IP connection testing device 10 is directly connected to an ATM line connected to the user home to execute an IP connection test.例文帳に追加

サービスプロバイダから、ユーザ宅へＡＴＭ回線網１００を介してＩＰ接続サービスを開始するとき、ユーザ宅に導入されているＡＴＭ回線にＡＴＭ回線簡易ＩＰ接続試験装置１０を直接接続し、ＩＰ接続試験を実施する。 - 特許庁

In the abnormal test for short-circuiting a terminal T1 of a primary coil L1 and a terminal T5 of a secondary coil L2 in a transformer 10, a limiting resistor R1 for limiting a current flowing in a testing resistor R10 is provided between the secondary coil L2 and the terminal T5.例文帳に追加

トランス１０の１次側コイルＬ１の端子Ｔ１と２次側コイルＬ２の端子Ｔ５とを短絡させる異常試験において、試験用抵抗Ｒ１０に流れる電流を制限するための制限抵抗Ｒ１を、２次側コイルＬ２と、端子Ｔ５との間に設ける。 - 特許庁

Thereby, since all the processes to be performed up to the bump formation can be implemented in a fab line, the problems of contamination etc. will not occur; and tests for electrical characteristics can be preformed, using inexpensive probe cards by using the bumps for testing as test objects.例文帳に追加

これにより、バンプ形成までの全ての過程がファブライン（ｆａｂ ｌｉｎｅ）で成されるため、汚染などの問題が発生せず、テスト用バンプをテスト対象にすることによって、低廉なテスト用プローブカードを用いて電気的な特性テストを遂行することができる。 - 特許庁

This semiconductor testing apparatus is provided with a plurality of holding implements 11 for respectively holding a plurality of semiconductor packages 10, a test board 12 where the plurality of holding implements 11 are arranged, and a fluid feed portion 13 for feeding fluid F for heating or cooling the semiconductor packages 10.例文帳に追加

複数の半導体パッケージ１０をそれぞれ保持する複数の保持治具１１と、複数の保持治具１１が配置されるテストボード１２と、半導体パッケージ１０を加熱又は冷却するための流体Ｆを供給する流体供給部１３とを備える。 - 特許庁

The charge and discharge control terminal and a testing fuse are used to select one of voltage levels "L", "H", and "M" input to the charge and discharge control terminal so as to switch among the normal application state, charge and discharge inhibiting state and the test state.例文帳に追加

充放電制御用端子とテスト用ヒューズを用いて、該制御端子に入力された電圧のレベル「Ｌ」、「Ｈ」、「Ｍ」のいずれかを選択することによって、通常応用状態、充放電禁止状態とテスト状態のいずれかに切り替えを可能になる。 - 特許庁

To provide a probe card capable of testing the electrical property of an object under test correctly by contacting all the probe pins surely corresponding electrode pads when overdriven, without damage of probe pins and semiconductor elements, even when the object, such as an IC chip, is integrated highly and grown in size.例文帳に追加

ICチップ等の被検査体が高集積化、大型化しても、プローブピンや半導体素子が損傷を受けることなく、オーバードライブ時に全てのプローブピンを対応する電極パッドに確実に接触させて、被検査体の電気的特性の検査を正確に行うこと。 - 特許庁

The NQR testing method which enables the test of a sample having at least one NQR characteristic to be changed together with a given environmental parameter is composed of a method which enables the sample to be excited so as to energize NQR resonance and an NQR response signal to be detected.例文帳に追加

所与の環境パラメータと共に変化する少なくとも１つのＮＱＲ特性を有する試料をテストするＮＱＲテスト方法において、試料に励起を与えてＮＱＲ共鳴を付勢し、ＮＱＲ応答信号を検出することからなる方法。 - 特許庁

To solve the problem that a testing circuit in a chip applied by a conventional test facilitation designing technique must inspect whether an input/ output circuit for outputting a signal to an external terminal or capturing a signal from an external terminal is normally operated or not by using a circuit tester.例文帳に追加

従来のテスト容易化設計技術を適用してチップ内にテスト回路の構成では、外部端子へ信号を出力したり外部からの信号を取り込む入出力回路が正常に動作するか否かの検査はテスタを用いて行なわざるを得ない。 - 特許庁

To make an immunoassay analyzer for analyzing electrochemically an immunoassay, and a chip electrode and a test chip used for the immunoassay analyzer suitable for a POCT (point of care testing), and to keep running costs thereof low.例文帳に追加

本発明は、イムノアッセイを電気化学的に分析するイムノアッセイ分析装置、並びに、そのイムノアッセイ分析装置に用いるチップ電極および検査チップに関し、ＰＯＣＴ（ｐｏｉｎｔ ｏｆ ｃａｒｅ ｔｅｓｔｉｎｇ）に適するとともに、ランニングコストを安価に抑える。 - 特許庁

One of the rules of XP is to test small software components as often and early as possible, this way you will not have to fix bugs and errors in the API while setting up and testing larger applications which depend on the class. 例文帳に追加

XP においては、小さなソフトウエアコンポーネントを可能な限り早期に頻繁に試験すること、というルールが定められています。 こうすることで、アプリケーション全体を設定し試験する際になってまで、コンポーネント内部のバグやエラーを修正する破目にならなくてすみます。 - PEAR

An inner pressure fluctuation absorption apparatus 3 comprises a pressure regulation section 21 including a pressure regulation space AS, and a duct 20 capable of connecting a testing device body 2 and the pressure regulation section 21 so as to communicate a test space and the pressure regulation space AS.例文帳に追加

内圧変動吸収装置３は、圧力調整用空間ＡＳを有する圧力調整部２１と、試験空間と圧力調整用空間ＡＳとを連通させるように試験装置本体２と圧力調整部２１を接続可能なダクト２０と、を備える。 - 特許庁

To improve accuracy in timing calibration for making uniform the signal propagation time of each pattern signal propagation path of a semiconductor device testing device, constituted in such a way as to be provided with a plurality of channel pattern signal propagation paths for providing test pattern signals for a semiconductor device to be tested.例文帳に追加

被試験半導体デバイスに試験パターン信号を与える複数のチャンネルのパターン信号伝送路を具備して構成される半導体デバイス試験装置の各パターン信号伝送路の信号伝播時間を揃えるためのタイミング校正の精度を向上する。 - 特許庁

To set a test mode by using only one user terminal without providing any terminal dedicated to mode setting since the securement of a terminal for testing is a major task in the case of an LSI with a small number of terminals mounted on a system such as an IC card.例文帳に追加

ＩＣカード等のシステムに搭載される端子数の少ないＬＳＩにおいては、テスト用端子の確保が大きな課題であり、本発明は、モード設定専用端子を設けることなくユーザー端子１本のみでテストモード設定を可能にすることを目的とする。 - 特許庁

To provide a connector of which a yield ratio and a workability can be improved by improving life of a connector pin through restraint of abrasion of a tip of the connector pin as a first purpose and facilitating contacting work of a test pin to a testing face part as a second purpose.例文帳に追加

第１の目的は、コネクタピン先端の摩耗を抑制して当該コネクタピンの寿命を向上させ、第２の目的は、テスト用面部へのテストピンの当接作業を容易とし、歩留まり及び作業性を向上させることができるコネクタを提供する。 - 特許庁

In the semiconductor storage device 101, in addition to a BIST circuit 103 for testing a memory, a RA circuit 104 is incorporated to obtain a saving solution for replacing a defective cell by a redundant circuit based on a test result (fail data) obtained by the BIST circuit 103.例文帳に追加

半導体記憶装置１０１内に、メモリをテストするＢＩＳＴ回路１０３の他に、ＢＩＳＴ回路１０３が求めたテスト結果（フェイルデータ）に基づいて不良セルを冗長回路に置き換える救済解を求めるＲＡ回路１０４を内蔵する。 - 特許庁

The test machine is provided with a moving member guiding means 8 for keeping the attitude of the moving member 7, wherein the moving member guide means 8 is inhibiting an attitude change while allowing the positional change of the moving member 7 which is provided with the engaging part 6 for connecting with the operation lever 5 of the testing object 2 and a cam plate mounting part 4.例文帳に追加

試験対象物２の操作レバー５に接続する係合部６とカム板取付部４とを備えた移動部材７の位置変化を許容して姿勢変化を禁止する移動部材ガイド手段８を設け、移動部材７の姿勢を保持する。 - 特許庁

To dispense with a troublesome operation for inserting a pair of electrodes into sample liquid stored in each storage recessed part, to prevent the pair of electrodes from being brought into contact with each other in the sample liquid, and to test many sample liquids efficiently and stably, in a testing device using a test plate where many storage recessed parts for storing the sample liquid are provided.例文帳に追加

サンプル液を収容させる収容凹部が多数設けられた試験用プレートを用いた試験用装置において、各収容凹部内に収容されたサンプル液中に一対の電極を挿入させるという面倒な操作を行う必要がなく、またサンプル液中において一対の電極が接触するのを防止し、多数のサンプル液の試験が効率よく安定して行えるようにする。 - 特許庁

The synchronization control means 2 is constituted of an external circuit which distributes/outputs a clock signal CLK from a testing apparatus body 1 to the plurality of semiconductor integrated circuits, receives respective test result outputs from the plurality of semiconductor integrated circuits, and suspends outputting of the distributed clock signal CLK, from respective test result output timings to the slowest timing.例文帳に追加

同期化制御手段２は、テスト装置本体１からのクロック信号ＣＬＫを複数の半導体集積回路に分配して出力するとともに、複数の半導体集積回路から夫々テスト結果の出力を受け付けて、分配したクロック信号ＣＬＫの出力を各テスト結果の出力タイミングから最も遅いタイミングまで停止する外付け回路で構成されている。 - 特許庁

The gaseous corrosion testing device is such that each set value of temperature, humidity and corrosion gas concentration, at which dew is not formed on the wall surface of the test tank, is set in at least one condition, and the hygrothermal cycle test is performed in which the tests under the set condition are repeated, at each predetermined temperature transition time once or in combination of a plurality of number of times.例文帳に追加

この発明は、ガス腐食試験機において、試験槽の壁面に結露を発生させないようにする温度と、湿度と、腐食ガスの濃度との設定値を各々少なくとも１つの条件で設定し、設定した条件の試験を１回または複数回組合せて所定の温度移行時間ごとに繰り返す温湿度サイクル試験を行うことを特徴とする。 - 特許庁

The semiconductor device manufacturing method comprises a test step of performing a predetermined testing by contacting a probe terminal with a bonding pad A of a semiconductor device, and a pad surface treatment step of performing, after the test step, processing of dissolving a surface of the bonding pad by using chemical or processing of solidifying a melted portion of the bonding pad after melted by heating the bonding pad surface using a furnace.例文帳に追加

半導体装置のボンディングパッドＡにプローブ端子を接触させ、所定の試験を行う試験工程と、試験工程の後、薬液を用いてボンディングパッド表面を溶かす処理、または、加熱炉を用いて加熱することでボンディングパッド表面を溶かした後、溶かした部分を固化する処理を行うパッド表面処理工程と、を有する半導体装置の製造方法。 - 特許庁

The system comprises a storing device 4 having a means that classifies the test data 2 of an LSI acquired by a semiconductor testing apparatus 1 into lots/wafer/chips/measurement data/categories and a means that organically connects them to store by setting connection information from among classified items; and a displaying device 5 having a means of searching the stored test data and a means of displaying the searched results.例文帳に追加

半導体試験装置１にて収集されたＬＳＩのテストデータ２を、ロット・ウエハ・チップ・測定データ・カテゴリ単位に分類する手段及び分類した項目の中で連結情報を設定することで有機的に結合させて蓄積する手段を有する蓄積装置４と、蓄積されたテストデータを検索する手段及び検索結果を表示する手段を有する表示装置５とからなる。 - 特許庁

The method includes the step of preparing an object file management framework for establishing a standard interface between a vender-supplied pattern compiler and the module type test system, receiving a pattern source file, preparing a pattern object metafile on the basis of the pattern source file by using the object file management framework, and testing the device to be tested, through the test module by using the pattern object metafile.例文帳に追加

ベンダ供給パターンコンパイラとモジュール式試験システムとの間に標準インターフェースを確立するためのオブジェクトファイル管理フレームワークを作成すること、パターンソースファイルを受信すること、オブジェクトファイル管理フレームワークを用いて、パターンソースファイルに基づいてパターンオブジェクトメタファイルを作成すること、及びパターンオブジェクトメタファイルを用いて試験モジュールを通して被試験デバイスを試験する。 - 特許庁

A content reproducing apparatus 1 stores an appliance identifier ID for identifying the content reproducing apparatus 1 so as not to be rewritten, and also stores an appliance identifier test value VM corresponding to the appliance identifier ID and a right information test value VR for testing right information INF of acquired content data D so as not to be read out separately.例文帳に追加

コンテンツ再生装置１は、このコンテンツ再生装置１を識別するための機器識別子ＩＤを、書き換えられないように記憶すると共に、当該機器識別子ＩＤに対応する機器識別子検査値ＶＭと、取得したコンテンツデータＤの権利情報ＩＮＦを検査するための権利情報検査値ＶＲとを、分離して読み出されないように記憶するようにした。 - 特許庁

To enable accurate test data to be generated at the time of testing semiconductors, mutual conversion between simulation data and test data to be easily performed and the accuracy verification of simulation data and of a tester for semiconductors and the verification of indeterminate events and I/O dead band to be carried out.例文帳に追加

半導体装置のテスト時に正確なテストデータの生成及びシュミレーションデータとテストデータとの相互間の変換が容易に可能であり、シュミレーションデータ精度と半導体装置用テスタ精度との検証，不確定イベント及びＩ／Ｏデットバンドの検証を行なうことが可能となる半導体試験用データ処理装置及び方法並びに半導体試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

This frame work system and the test method for testing a server having a mixed workload is provided with a workload case constitution utility interface including a function for allowing a frame work to call the workload constitution utility of a third party and a workload interface including a function for the setup and control and monitor of the workload for the purpose of defining a workload case according to various test targets.例文帳に追加

本発明は、混合ワークロードを有するサーバをテストするためのフレームワーク・システムおよびそのテスト方法を開示し、これは、様々なテスト目的でワークロード・ケースを定義するために、フレームワークにサード・パーティのワークロード構成ユーティリティを呼び出させる機能を含むワークロード・ケース構成ユーティリティ・インターフェースと、ワークロードのセットアップ、制御、および監視の機能を含むワークロード・インターフェースとを含んでいる。 - 特許庁

The tester comprises a section 11 generating a waveform being employed for testing an electric part, a section 20 producing an expected value to be outputted from an electric part applied with a test waveform, and a section 14 for comparing the output value from the electric part applied with a test waveform with the expected value to decide whether the electric part 16 is acceptable or not.例文帳に追加

電気部品の試験に用いる試験波形を生成する波形生成部１１と、試験波形を印加された電気部品から出力されるべき期待値を試験波形に基づいて出力する期待値出力部２０と、試験信号を印加された電気部品の出力値と、期待値とを比較して電気部品１６の良否を判定する比較部１４とを備える。 - 特許庁

The nonvolatile memory card has a NAND type EEPROM 11 having a cell array of electrically rewritable nonvolatile memory cells arranged repeatedly in row and column directions, test information 18 stored in a predetermined address of the NAND type EEPROM 11, and a controller 12 for testing the NAND type EEPROM 11 according to the test information 18.例文帳に追加

本発明の不揮発性メモリカードは、電気的に書き換え可能な不揮発性メモリセルが行および列方向に繰り返し配置されたセルアレイを有するＮＡＮＤ型ＥＥＰＲＯＭ１１と、ＮＡＮＤ型ＥＥＰＲＯＭ１１の所定のアドレスに格納されたテスト情報１８と、テスト情報１８に基づいて、ＮＡＮＤ型ＥＥＰＲＯＭ１１をテストするコントローラ１２を有する。 - 特許庁

To provide a mechanical characteristics testing machine of transmission lines with optical components which performs accurate test, without reducing the mass of both a capstan for holding the transmission line and a capstan-holding part for freely holding the capstan, in the mechanical characteristics testing machine which impresses tensile load on the transmission line which extends from the optical component, and tests various mechanical characteristics of the transmission line with the optical component.例文帳に追加

光部品から延出している伝送線に引っ張り荷重を加えて、上記光部品付伝送線の機械的諸特性を試験可能な光部品付伝送線の機械的試験機において、上記伝送線を保持するキャプスタンとこのキャプスタンを保持自在なキャプスタン保持部との質量を軽減することなく、正確な試験をすることができる光部品付伝送線の機械的試験機を提供する。 - 特許庁

The present invention relates to the manufacturing process, the system and the method, which senses closed loop pressure, and easily assembles and tests the feedback integrated fluid manifold, and the system for testing the fluid manifold of the present invention includes: reservoir for storing a fluid; a pump for moving selectively the fluid toward the manifold; and a testing mechanism communicated with the manifold, and accessing a specified test data.例文帳に追加

本発明は、クローズドループ圧力感知及びフィードバック一体型流体マニホールドの組み立て及び試験を容易とすることができる製造プロセス、システム、及び方法に関するものであり、本発明に係るマニホールド試験システムは、流体を貯蔵するリザーバと、流体をマニホールドエリアに向けて選択的に移動させるポンプと、マニホールドに連通され、規定の試験データにアクセスする試験機構と、を含んでいる。 - 特許庁

To precisely conduct measurement of an analog device, by using not only a periphery of a test board but also a central part which is conventionally a hole part, as a mounting area for wafer measuring components, in a wafer measuring board for constituting a wafer testing system together with a prober and a tester.例文帳に追加

プローバ，テスタと共にウエハテストシステムを構成するウエハ測定用ボードにおいて、テストボードの周辺だけでなく、従来穴部であった中央部をもウエハ測定用部品類の実装エリアとして使用できるようにして、アナログ系デバイスの測定をより精度よく行うこと。 - 特許庁

When an internal enable signal 13 is outputted from the PLL circuit 3 to the BIST circuit 5, a test at the actual operation speed is started, corresponding to the phase lock time of the PLL circuit mounted in each IC, thus preventing useless idle time during the self testing of function.例文帳に追加

ＰＬＬ回路３が内部イネーブル信号１３をＢＩＳＴ回路５に出力することにより、ＩＣ個々に搭載されるＰＬＬ回路の位相ロック時間に対応して実動作速度によるテストが開始されるので、自己機能テスト中に無駄な空き時間が発生しない。 - 特許庁

To provide a timer or the like for taking examination, capable of performing reexamination or correction of answers in a stage of the latter half of test time, while paying attention to the remaining time of a second unit by preparing the answers, while intuitively grasping a rough situation of progress, at the intermediate stage of the testing period.例文帳に追加

試験時間中盤の段階では大まかな進捗状況を直感的に把握しながら答案を作成でき、試験時間後半の段階では答案の見直しや修正を秒単位の残時間に気を配りながら行うこともできる受験用タイマー等を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, in which an increase of a chip area is restricted, failure of a depression type MOS transistor for output of a step-down circuit is prevented, and is capable of realizing an operation lower limit test of an internal circuit that operates by voltage lower than operating voltage of an external interface circuit, and a method of testing thereof.例文帳に追加

チップ面積の増加を抑え、また降圧回路の出力用デプレッション型ＭＯＳトランジスタの破壊を防ぎ、外部インタフェース回路の動作電圧より低い電圧で動作する内部回路の動作下限テストを実現することができる半導体装置、およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

A life of the dropping weight body 11 is prolonged because the collision part 13 constituting the dropping weight body 11 and colliding with the body 10 to be tested is arranged separately in the lower part, an impact test cost is thereby restrained from getting high, and an operation rate of the dropping weight type impact testing machine is also restrained thereby from getting low.例文帳に追加

落錘体１１を構成する、被試験体１０に衝突する衝突部１３を、支持部１２の下部に分けて配置するので、落錘体１１の延命を図ることができ、これにより、衝撃試験コストの上昇や落錘衝撃試験機の稼働率の低下をいずれも抑制できる。 - 特許庁

To provide a semiconductor device and a method of testing the same, wherein a test mode entry can easily and securely be performed without making circuits in the semiconductor device large in scale nor lowering the degree of integration without reference to whether the semiconductor device is a synchronous type or an asynchronous type.例文帳に追加

本発明は、半導体装置及びその試験方法に関し、半導体装置が同期型であるか非同期型であるかに関わらず、半導体装置内の回路を大規模化及び集積度の低下を招くことなく、簡単、且つ、確実にテストモードエントリを行うことを可能とすることを目的とする。 - 特許庁