「testing test」に関連した英語例文の一覧と使い方(51ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an IC tester and an IC testing method which make it possible to perform frequency analysis only by current variation by the use of a test pattern signal more easily, without changing a pattern signal to be inputted.例文帳に追加

入力するパターン信号を変更することなく、より容易に試験パターン信号による電流変動のみの周波数分析を行なうことを可能とするＩＣテスタ、及びＩＣ試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test item extraction device by which one can easily generate minimum necessary and sufficient testing items based on use environments and operational conditions even if one has poor experience in developing object software or a system.例文帳に追加

対象となるソフトウェアあるいはシステムの開発経験が乏しくても、利用環境や運用条件に基づいて必要十分なテスト項目を容易に生成可能なテスト項目抽出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device wherein a test voltage of a gate withstand voltage is not restricted by a clamping voltage of a protection element, without having to enlarge chip size to the utmost, and to provide its testing method.例文帳に追加

本発明の課題は、極力、チップサイズを大きくすることなく、ゲート耐圧のテスト電圧が保護素子のクランプ電圧の制約を受けることのない半導体装置およびそのテスト方法を提供することである。 - 特許庁

Consequently in a state before the sheet-like member 11 is pasted on the device body, the test signal terminal 16 is exposed outside via a through-hole, thereby testing signal characteristics using the terminal 16.例文帳に追加

従って、シート状部材１１が装置本体に貼られる前の状態であれば、試験用信号端子１６が、透孔を介して外部に露出しており、その端子１６を使った信号特性の試験が可能になる。 - 特許庁

This vibration testing device 1 is constituted so that acceleration data (test data) is collected by fetching the acceleration data at every fixed time and successively storing the fetched acceleration data in a storage area of a storage device 11.例文帳に追加

一定時間毎に加速度データ（試験データ）を取り込み、該取り込んだ加速度データを順次記憶装置１１の記憶領域に記憶していくことによって加速度データを収集可能な振動試験装置１である。 - 特許庁

To provide an automatic testing system of communication resources in a mobile communication system, which detects abnormal resources by observing the traffic of communication resources, automatically performs a test and finds the abnormality in hardware on software at an early stage.例文帳に追加

通信リソースのトラヒックを観測して異常リソースを検出し、自動的に試験を行ない、ハードあるいはソフトの異常を早期に発見する移動通信システムの通信リソース自動試験方式を提供する。 - 特許庁

To provide a nondestructive method and a nondestructive apparatus for testing a ceramic coating film, which can test cracks causing separation of the ceramic coating film and measure the thickness of the ceramic coating film.例文帳に追加

セラミックス被覆材の剥離を引き起こし得る亀裂の検査と、好ましくはセラミックス被覆材の膜厚の測定も行うことができるセラミックス被覆材の非破壊検査法及び非破壊検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing apparatus capable of, under a plurality of measurement conditions, easily and promptly setting a confirmation threshold value to be compared with a measurement value in order to detect any abnormality in an electrification body such as a test probe.例文帳に追加

テストプローブなどの通電体の異常を検出するために測定値と比較を行う確認用閾値を、複数の測定条件で簡便かつ迅速に設定することができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To restrain variation in sample temperature due to changes in the testing environment, in which a sample is exposed in a cold thermal shock test and variations in heat stress applied to the sample to a minimum.例文帳に追加

冷熱衝撃試験において試料がさらされる試験環境の切り替えに伴う試料温度や試料に付与される熱ストレスのバラツキを最小限に抑制可能な冷熱衝撃試験装置の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a fatigue testing device capable of automatically and quickly giving the amplitude of a servo motor rotary shaft angle to be set in conducting a test with a constant range of fluctuations in force that is applied to a work.例文帳に追加

ワークに加える力の変動幅を一定に揃えて試験を行う際に設定されるべきサーボモータの回転軸の角度の振幅を自動的且つ速やかに得ることのできる疲労試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an elastic wave propagation velocity measuring and operating method of a solid capable of acquiring a highly-reliable and highly-accurate test result easily and rationally, and a nondestructive compressive strength testing device using the method.例文帳に追加

容易且つ合理的に信頼性と精度の高い試験結果を得ることができる固体の弾性波伝播速度測定演算方法及び該方法を用いた非破壊圧縮強度試験装置を提供する。 - 特許庁

To certainly detect a flaw by combining the merits of a plurality of test systems in a substrate inspection apparatus for testing a substrate for a semiconductor circuit element, a liquid crystal display element, or the like.例文帳に追加

本発明は、半導体回路素子や液晶表示素子等の基板を検査する基板検査装置に関し、複数の検査方式の長所を組み合わせて欠陥検出を確実に行うことを目的とする。 - 特許庁

To provide a reinforcing bar pull-out testing apparatus capable of performing pull-out test without having to construct joint bars of extra reinforcing bars, facilitating building work during its installation, and efficiently performing accurate installation.例文帳に追加

余分な鉄筋の差し筋施工をすることなく引抜き試験を行うことができ、また設置時の組み上げ作業が容易であり、正確な設置を効率的に行うことのできる鉄筋引き抜き試験装置を提供する。 - 特許庁

To constitute a removable detection module so that radiation light from a light emitting device in an oven is guided to the outside of an oven without affecting a high temperature environment in a testing device in a screening test of the light emitting device.例文帳に追加

取外し可能な検知モジュールにおいて、発光素子の選別試験で試験装置内の高温環境に影響を与えずにオーブン内の発光素子からの放射光をオーブン外部に誘導するように構成する。 - 特許庁

To simplify the constitution of a testing device, to facilitate the measuring procedure and to shorten test time regarding the measurement of the reception sensitivity of the radio telephone terminal of a code division multiple access type.例文帳に追加

本発明の課題は、符号分割多元接続式の無線電話端末の受信感度の測定に関して、試験装置の構成が簡単で、その測定手順の容易化及び試験時間の短縮を図ることにある。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of performing a test in a state that a maximum delay occurs in data transfer because a maximum load is applied to a bus, and to provide a maximum delay testing method of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

バスに最大負荷がかかり、データ転送に最大の遅延が生じた状態でのテストを可能にする半導体集積回路及び半導体集積回路の最大遅延試験定方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a device and a method for inserting an additional delay time to the timing data of a specific event in an event type semiconductor test system for testing an electronic device to be tested by generating events of various timing.例文帳に追加

各種のタイミングのイベントを発生して被試験電子デバイスをテストするためのイベント型半導体テストシステムにおいて、特定のイベントのタイミングデータに追加の遅延時間を挿入する装置および方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit and a test generation program for testing a buried core efficiently while separating a custom logic section and a buried core section in a semiconductor integrated circuit having a custom logic section and a buried core.例文帳に追加

カスタムロジック部と埋め込みコアを有する半導体集積回路において、カスタムロジック部と埋め込みコア部とを分離して効率よく埋め込みコアをテストする半導体集積回路およびテスト生成プログラムを得ること。 - 特許庁

To provide a circuit for testing the operation of switching gain control signals, which controls the gain of each amplifier, in a semiconductor integrated circuit provided with a plurality of gain-controllable amplifiers, and to shorten the test time.例文帳に追加

ゲイン制御可能な複数のアンプを備える半導体集積回路において、各アンプのゲインを制御するゲイン制御信号の切り換え動作をテストするための回路を設け、かつテスト時間の短縮化を図る。 - 特許庁

If pressure water is supplied from a pump 20 in a state that the kelep 11 is brought into contact with a valve seat 53a, testing pressure water is supplied to the piping connected to the cut-off valve 53 or the water supply equipment to perform the water-pressure test.例文帳に追加

ケレップ11を弁座53a に当接させた状態でポンプ20から圧力水を供給すれば、止水弁53に連続した配管や給水設備にテスト用の圧力水を供給することができ、水圧テストを行える。 - 特許庁

To provide a confirmation testing method and a system for easily confirming a throughput on a target board at the time of performing a test by a real machine in the software development of a portable telephone set.例文帳に追加

携帯電話機のソフトウェア開発における実機による試験において、ターゲットボード上で、容易にスループットを確認することができるスループット確認試験方法およびスループット確認試験システムを提供する。 - 特許庁

A detection circuit 5 is provided for detecting the electrical load factors, affecting test results occurring at testing of a semiconductor device 4 from the electrical signal applied to input/output terminals of the semiconductor device 4.例文帳に追加

半導体装置４の試験時に発生する試験結果に影響を与える電気的負荷要因を、半導体装置４の入出力端子に印加する電気信号から検出する検出回路５を設ける。 - 特許庁

The test apparatus comprises a head load mechanism for receiving and positioning the read/write head during testing, and a multi-channel preamplifier arranged to interface plural channels to a measurement system.例文帳に追加

前記試験装置は、テスト中に、前記読取り／書込みヘッドを受容する及び位置決めするためのヘッドロード機構、及び複数のチャネルが測定システムとインターフェースで接続するように配置されたマルチチャネル前置増幅器を具備する。 - 特許庁

To provide a card bending testing device used for determining whether a set strength standard is satisfied or not by applying a prescribed external force to a card, especially a PC card or the like, concerning a card mechanical strength test.例文帳に追加

本発明はカードの機械的強度試験に関し、特にＰＣカード等のカードに規定の外力を加え、定められた強度基準を満たすかどうかの判定に用いられるカードの曲げ試験装置に関する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device and a control method of a semiconductor memory device by which a testing time can be shortened at the time of a test, while keeping low current consumption operation at the time of normal access operation.例文帳に追加

通常のアクセス動作時における低消費電流動作を維持しながら、試験時において、試験時間を短縮することが可能な半導体記憶装置及び半導体記憶装置の制御方法を提供すること - 特許庁

At least one dilution chamber can be disposed adjacent to chambers, used for testing a patient sample that are provided on the immunodiagnostic test card or can be provided separately.例文帳に追加

少なくとも１つの希釈チャンバーは、免疫診断テストカードに提供されるか、または別々に提供されることができる、患者サンプルを試験するために使用されるチャンバーに隣接して配置されることができる。 - 特許庁

To provide a method for restoring the state of algorithmic control at that by returning a branch to a proper position in a test program when an error occurs within a DUT during testing the DUT by a memory tester.例文帳に追加

メモリテスタでのＤＵＴの試験中にＤＵＴ内でエラーが生じた場合に、テストプログラム中の適正な位置に分岐を戻し、アルゴリズム的制御のその時点の状態を回復するための方法を提供する。 - 特許庁

To provide a technology for testing by specifying an element likely to generate malfunction among sensing system circuits in an wafer burn-in test while protecting this element, and to provide a semiconductor storage device provided with such a technical thought.例文帳に追加

ウェハ・バーンイン・テストにおいてセンス系回路のうちで不具合の生じそうな素子を特定し、当該素子を保護しつつテストを行う技術及びその技術思想を実装した半導体記憶装置を提供すること。 - 特許庁

The test head 11 for a testing device includes a pin card 16, a back board 17 connected to the pin card 16, and a pogopin head 26 for mounting a plurality of pogopins 29 contacting to the contacting terminals of the probe card 43.例文帳に追加

ピンカード１６と、当該ピンカード１６が接続されるバックボード１７と、プローブカード４３の接触端子に接触するポゴピン２９が複数取り付けられたポゴピンヘッド２６とを備えた試験装置用テストヘッド１１である。 - 特許庁

To provide a probe, and an inspection device using it which enhance the degree of freedom of the arrangement of test terminals in an inspecting object, and also facilitate handling of inspection of a plurality of kinds of boards whose terminal positions for testing are different.例文帳に追加

検査対象物におけるテスト端子配置の自由度が増し、また、テストを行う端子位置の異なる複数種類の基板検査への対応も容易になるプローブ及びこれを用いた検査装置を提供する。 - 特許庁

To obtain the method and device for transmission line capacitance measurement of a packet switching network which can measure the capacitance of a transmission line at a distance from a testing device sending test packets, specially, transmission capacitance of the line beyond a bottleneck.例文帳に追加

テストパケットを送信する試験装置から離れた伝送路の容量、特に、ボトルネック以遠の伝送路容量も測定可能なパケット交換網の伝送路容量測定方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a suspension for testing a characteristic of a magnetic head slider, capable of easily attaching/detaching a magnetic head slider to/from a suspension and holding the magnetic head slider not to come off due to an impact, etc., in handling in a characteristic test and a manufacturing process.例文帳に追加

磁気ヘッドスライダをサスペンションに取付け・取外しすることが容易で、特性試験及び製造工程での取扱いに際し衝撃等で磁気ヘッドスライダが脱落しないように保持できる構造が必要である。 - 特許庁

The controller for testing 50 delivers operation commands to a device for driving load 60 acting as a tested device during an operating test, and receives predetermined data, indicating the status of the device for driving load 60 from the loads 60, as well.例文帳に追加

試験用コントローラ５０は、動作試験時、被試験装置である負荷駆動装置６０へ動作指令を出力するとともに、負荷駆動装置６０の状態を示す所定のデータを負荷駆動装置６０から受ける。 - 特許庁

To provide a performance test for deciding the performance for removing fine particles in a membrane, and to provide a new method for testing the integrity to verify whether the membrane, after use is within a preset range in the performance for removing fine particles.例文帳に追加

膜の微粒子除去能を確定する性能試験および使用後の膜が微粒子除去性能においてあらかじめ設定内であることを確認する完全性試験の新しい方法を提供する。 - 特許庁

To provide a card torsion testing device used for determining whether a set strength standard is satisfied or not by applying a prescribed external force to a card, especially a PC card or the like, concerning a card mechanical strength test.例文帳に追加

本発明はカードの機械的強度試験に関し、特にＰＣカード等のカードに規定の外力を加え、定められた強度基準を満たすかどうかの判定に用いられるカードのねじり試験装置に関する。 - 特許庁

To provide a testing machine used for a test of an insulated bearing in a main motor of a rolling stock or the like, capable of evaluating the insulation performance of the individual insulated bearing in the state similar to the actual machine using state.例文帳に追加

鉄道車両の主電動機等における絶縁軸受の試験に用いられ、実機使用状態に近似した状態での個々の絶縁軸受の絶縁性能を評価できる試験機を提供する。 - 特許庁

The process is made so that the information of a defective memory cell under previous testing condition is transcribed or transferred to the buffer memory from the fail memory while being in parallel with a write-in to a memory to be tested of a back pattern under the next test condition.例文帳に追加

先の試験条件における不良メモリセル情報を次の試験条件における背面パターンの被試験メモリへの書き込みと並行してフェイルメモリからバッファメモリに転写あるいは転送する。 - 特許庁

To perform the evaluation of the noise resisting performance resulted from a DC power source in the noise test of an electric applied device loaded with a switching type DC power source which could not be performed by the application of a noise from an external noise testing device.例文帳に追加

スイッチング方式の直流電源を搭載した電気応用装置のノイズ試験に、外部のノイズ試験装置からノイズを印加するのでは、直流電源に起因する耐ノイズ性能評価ができない。 - 特許庁

A governor 60 to be controlled and an ECU 10 are connected by connecting the ECU 10 and a first cable unit 56, and a reception test is performed by giving a simulation signal by program processing of a testing device 34.例文帳に追加

ＥＣＵ１０と第１ケーブルユニット５６とを接続することにより、模擬制御対象のガバナ６０とＥＣＵ１０とを接続し、検査装置３４のプログラム処理により模擬信号を与えて受入検査を行う。 - 特許庁

Even in the case the small lens to be a test object is a small eccentric lens, a standard pattern image for testing can be easily detected y moving the CCD camera 291 along the direction of curvature of the small lens.例文帳に追加

測定対象となる小レンズが、小（偏心）レンズであっても、ＣＣＤカメラ２９１を小レンズの曲率方向に沿って移動させることで、検査用基準パターン画像を検出することを容易にできる。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing semiconductor devices and capable of reliably reducing overcurrent of when an element to be measure made of a semiconductor device is broken when short-circuit destruction withstanding capability test is performed on the element to be measured.例文帳に追加

半導体装置でなる被測定素子の短絡破壊耐量試験時において、被測定素子が破壊したときの過電流を確実に抑制することができる半導体装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

To measure an error rate by performing a loopback test by LSI itself when testing high-speed serial transmission LSI that cannot be coped with a data speed in terms of throughput, and to determine the quality of the LSI.例文帳に追加

データ速度の処理能力上、対応不可能な高速シリアル伝送ＬＳＩのテストにおいてＬＳＩ自身によるループバック試験を行うことによりエラーレートを測定し、ＬＳＩの良否を判定することを実現する。 - 特許庁

To provide a torsional fatigue testing machine which loads even a test target low in torsional rigidity with torque to be applied, achieves space saving and the reduction of noise, has excellent maintainabilities and achieves cost reduction.例文帳に追加

捩り剛性の低いものであっても負荷すべきトルクを負荷でき、また省スペース化および低騒音化等が図れ、さらにはメンテナンス性に優れるととともに、低コスト化も達成できる捩り疲労試験機を提供する。 - 特許庁

To prevent the generation of pseudo-leakage in a helium gas test conducted by a helium leakage detector, in a method for testing a semiconductor device which uses a ceramic wiring board with a common conductor layer on a side face removed after plating.例文帳に追加

側面の共通導体層がメッキ後に除去されてなるセラミック製の配線基板を用いた半導体装置の検査方法で、ヘリウムリークディテクターによるヘリウムガス試験における擬似リークの発生を防止する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit where a scan pass test circuit having no malfunction is realized without taking time for designing, instantaneous current in the scan pass testing time is reduced, and shortage of current supply of the tester hardly occurs.例文帳に追加

設計に時間をかけずに誤動作のないスキャンパス・テスト回路を実現することと、スキャンパス・テスト時の瞬時電流を削減し、テスターの電流供給不足が発生しにくい半導体集積回路を提供する。 - 特許庁